牧野博之 Makino Hiroshi

研究者番号	50454038
所属 (現在)	2025年度: 大阪学院大学, 情報学部, 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2022年度 – 2023年度: 大阪工業大学, 情報科学部, 教授 2015年度 – 2020年度: 大阪工業大学, 情報科学部, 教授 2013年度: 大阪工業大学, 情報科学部, 教授 2011年度 – 2012年度: 大阪工業大学, 情報科学部, 准教授
審査区分/研究分野	研究代表者小区分60040:計算機システム関連 / 電子デバイス・電子機器
キーワード	研究代表者ばらつき / しきい値電圧 / SRAM / モンテカルロシミュレーション / リングオシレータ / 集積回路 / 一次元縮退モデル / データ保持動作 / 読み出し動作 / 書き込み動作 … もっと見る / 閾値電圧 / 動作限界 / ロジック回路 / プロセッサ / 論理回路 / 適応的電圧制御 / ゲート酸化膜厚 / 読み出し / 書き込み / 電圧 / しきい値 / 電圧発生器 / スピードセンサ / 動作安定化 / 電子デバイス隠す

研究課題
(4件)
研究成果
(33件)

SRAMのモンテカルロシミュレーションにおける一次元縮退モデルの妥当性検証研究代表者
- 研究代表者
  
  牧野博之
- 研究期間 (年度)
  2022 – 2024
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  大阪工業大学
モンテカルロシミュレーションによるSRAMの動作限界見極めに関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  牧野博之
- 研究期間 (年度)
  2018 – 2020
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  大阪工業大学
適応的電圧最適化によるLSIの動作歩留まり向上に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  牧野博之
- 研究期間 (年度)
  2015 – 2017
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  電子デバイス・電子機器
- 研究機関
  大阪工業大学
ばらつきに対応したＳＲＡＭの動作安定化に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  牧野博之
- 研究期間 (年度)
  2011 – 2013
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  電子デバイス・電子機器
- 研究機関
  大阪工業大学

すべて 2023 2022 2021 2020 2019 2018 2016 2015 2014 2013 2012 2011

すべて雑誌論文学会発表図書

[図書] 半導体LSI技術2012
- 著者名/発表者名
  牧野博之、益子洋治、山本秀和
- 総ページ数
  287
- 出版者
  共立出版
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423
[雑誌論文] Increase in Read Noise Margin of Single-bit-line SRAM using Adiabatic Change of Word Line Voltage2014
- 著者名/発表者名
  Shunji Nakata, Hiroki Hanazono, Hiroshi Makino, Hiroki Morimura, Masayuki Miyama, and Yoshio Matsuda
- 雑誌名
  
  IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
  
  巻: Volume 22, Issue 3 号: 3 ページ: 686-690
- DOI
  10.1109/tvlsi.2013.2247642
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423
[雑誌論文] ANALYSIS OF VOLTAGE, CURRENT AND ENERGY DISSIPATION OF STEPWISE ADIABATIC CHARGING OF A CAPACITOR USING A NONRESONANT INDUCTOR CURRENT2014
- 著者名/発表者名
  Shunji Nakata, Hiroshi Makino, Ryota Honda, Masayuki Miyama, and Yoshio Matsuda
- 雑誌名
  
  Journal of Circuits, Systems, and Computers
  
  巻: Volume 23, No. 3 号: 03 ページ: 1450039-1450039
- DOI
  10.1142/s021812661450039x
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423
[雑誌論文] Improved Evaluation Method for the SRAM Cell Write Margin by Word Line Voltage Acceleration2012
- 著者名/発表者名
  Hiroshi Makino, Naoya Okada, Tetsuya Matsumura, Koji Nii, Tsutomu Yoshimura, Shuhei Iwade and Yoshio Matsuda
- 雑誌名
  
  Circuits and Systems in Online Journal of Scientific Research Publishing (SCIRP)
  
  巻: Volume 3, No. 3 号: 03 ページ: 242-251
- DOI
  10.4236/cs.2012.33034
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423
[雑誌論文] Utilising the normal distribution of the write noise margin to easily predict the SRAM write yield2012
- 著者名/発表者名
  Hiroshi Makino, Shunji Nakata, Hirotsugu Suzuki, Shin’ichiro Mutoh, Masayuki Miyama, Tsutomu Yoshimura, Shuhei Iwade and Yoshio Matsuda
- 雑誌名
  
  IET Circuits, Devices & Systems
  
  巻: Volume 6, Issue 4 号: 4 ページ: 260-270
- DOI
  10.1049/iet-cds.2012.0090
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423
[雑誌論文] General Stability of Stepwise Waveform of an Adiabatic Charge Recycling Circuit With Any Circuit Topology2012
- 著者名/発表者名
  Shunji Nakata, Ryota Honda, Hiroshi Makino, Shin’ichiro Mutoh, Masayuki Miyama and Yoshio Matsuda
- 雑誌名
  
  IEEE Transactions on Circuits and Systems-I:Regular Papers
  
  巻: Volume 59, Issue 10 号: 10 ページ: 2301-2314
- DOI
  10.1109/tcsi.2012.2189054
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423
[雑誌論文] Reexamination of SRAM Cell Write Margin Definitions in view of Predicting the Distribution2011
- 著者名/発表者名
  H. Makino, S. Nakata, H. Suzuki, S. Mutoh, M. Miyama, T. Yoshimura, S. Iwade, and Y. Matsuda
- 雑誌名
  
  IEEE Transactions on Circuits and Systems-II Express Briefs
  
  巻: Volume 58, Issue 4 号: 4 ページ: 230-234
- DOI
  10.1109/tcsii.2011.2124531
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423
[学会発表] SRAMのデータ保持時の不良率予測における一次元縮退モデルの妥当性検証2023
- 著者名/発表者名
  堀内大、牧野博之
- 学会等名
  令和5年電気関係学会関西連合大会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K11963
[学会発表] SRAMの書き込み不良率推定における一次元縮退モデルの妥当性に関する考察2022
- 著者名/発表者名
  松本慎輝、牧野博之
- 学会等名
  令和4年電気関係学会関西連合大会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K11963
[学会発表] 不良出現を加速させたモンテカルロシミュレーションによるSRAMの動作限界推定2021
- 著者名/発表者名
  鶴薗陸人，居石壮平，牧野博之
- 学会等名
  2021年電子情報通信学会総合大会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11229
[学会発表] ばらつきを加速させたモンテカルロシミュレーションによるSRAMのデータ保持限界推定2020
- 著者名/発表者名
  居石壮平，鶴薗陸人，牧野博之
- 学会等名
  令和２年電気関係学会関西連合大会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11229
[学会発表] SRAMのデータ保持限界見極めに関する研究2019
- 著者名/発表者名
  上村貴史、武村健太、牧野博之
- 学会等名
  令和元年電気関係学会関西連合大会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11229
[学会発表] ばらつきを加速させたモンテカルロシミュレーションによるSRAMの書き込み限界推定2019
- 著者名/発表者名
  武村健太、上村貴史、牧野博之
- 学会等名
  2019 年電子情報通信学会総合大会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11229
[学会発表] 多段階出力DC-DCコンバータの設計2018
- 著者名/発表者名
  原佑一、牧野博之
- 学会等名
  平成30年電気関係学会関西連合大会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11229
[学会発表] RAMの書き込み限界見極めに関する研究　―モンテカルロシミュレーションの回数削減の検討―2018
- 著者名/発表者名
  上村貴史、武村健太、牧野博之
- 学会等名
  平成30年電気関係学会関西連合大会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11229
[学会発表] ばらつきを考慮した論理回路の電圧最適化に関する検討2016
- 著者名/発表者名
  橘凌太，遠藤寛明，池田裕樹，櫻井拓，牧野博之，布村泰浩，吉村勉，岩出秀平，松田吉雄
- 学会等名
  2016年度電気関係学会関西連合大会
- 発表場所
  大阪府立大学、中百舌鳥キャンパス
- 年月日
  2016-11-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K06042
[学会発表] トランジスタのVthおよびTox検知用プロセッサの設計2016
- 著者名/発表者名
  遠藤寛明，橘凌太，池田裕樹，櫻井拓，牧野博之，布村泰浩，吉村勉，岩出秀平，松田吉雄
- 学会等名
  2016年度電気関係学会関西連合大会
- 発表場所
  大阪府立大学、中百舌鳥キャンパス
- 年月日
  2016-11-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K06042
[学会発表] トランジスタの閾値およびゲート酸化膜厚検知手法の検討2015
- 著者名/発表者名
  池田裕樹，櫻井拓，牧野博之，布村泰浩，吉村勉，岩出秀平，松田吉雄
- 学会等名
  2015年度電気関係学会関西連合大会
- 発表場所
  摂南大学　寝屋川キャンパス
- 年月日
  2015-11-14
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K06042
[学会発表] トランジスタの閾値検知用プロセッサの設計2015
- 著者名/発表者名
  櫻井拓，池田裕樹，牧野博之，布村泰浩，吉村勉，岩出秀平，松田吉雄
- 学会等名
  2015年度電気関係学会関西連合大会
- 発表場所
  摂南大学　寝屋川キャンパス
- 年月日
  2015-11-14
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K06042
[学会発表] Estimation of Threshold Voltage from Frequency of Ring Oscillator2014
- 著者名/発表者名
  Takuya Matsumoto, Hroshi Makino, Tsutomu Yoshimura, Shuhei Iwade, Yoshio Matsuda
- 学会等名
  IEEE The 2014 International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai(IMFEDK2014)
- 発表場所
  Ryukoku University Avanti Kyoto Hall, Kyoto(to be presented at)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423
[学会発表] Estimation of Threshold Voltage from Frequency of Ring Oscillator2014
- 著者名/発表者名
  Takuya Matsumoto, Hroshi Makino, Tsutomu Yoshimura, Shuhei Iwade, and Yoshio Matsuda
- 学会等名
  IEEE The 2014 International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai(IMFEDK2014)
- 発表場所
  Ryukoku University
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423
[学会発表] Expansion of SRAM Operation Margin by Adaptive Voltage Supply2013
- 著者名/発表者名
  Kyohei Kishida, Tomohiro Tsujii, Hroshi Makino, Tsutomu Yoshimura, Shuhei Iwade, Yoshio Matsuda
- 学会等名
  Proceedings of IEEE The 2013 International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai(IMFEDK2013)
- 発表場所
  Kansai University, Osaka
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423
[学会発表] 2013年度電気関係学会関西連合大会2013
- 著者名/発表者名
  松本拓也, 大東士朗, 牧野博之, 吉村勉, 岩出秀平, 松田吉雄
- 学会等名
  トランジスタの閾値電圧検知手法の提案
- 発表場所
  大阪電気通信大学(G9-0025)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423
[学会発表] Expansion of SRAM Operation Margin by Adaptive Voltage Supply2013
- 著者名/発表者名
  Kyohei Kishida, Tomohiro Tsujii, Hroshi Makino, Tsutomu Yoshimura, Shuhei Iwade, and Yoshio Matsuda
- 学会等名
  IEEE The 2013 International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai(IMFEDK2013)
- 発表場所
  Kansai University
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423
[学会発表] トランジスタの閾値電圧検知手法の提案2013
- 著者名/発表者名
  松本拓也、大東士朗、牧野博之、吉村勉、岩出秀平、松田吉雄
- 学会等名
  2013年度電気関係学会関西連合大会
- 発表場所
  大阪電気通信大学
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423
[学会発表] エネルギー散逸のないステップ電圧生成回路を用いたキャパシタの高効率充電2013
- 著者名/発表者名
  細川淳平、中田俊司、牧野博之、吉村勉、岩出秀平、深山正幸、松田吉雄
- 学会等名
  2013年度電気関係学会北陸支部連合大会
- 発表場所
  金沢大学
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423
[学会発表] ばらつきを考慮したSRAMメモリセルの動作範囲拡大の検討2012
- 著者名/発表者名
  岸田京平, 牧野博之, 吉村勉, 岩出秀平, 松田吉雄
- 学会等名
  2012年電気関係学会関西連合大会
- 発表場所
  関西大学(9pmD-27)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423
[学会発表] 断熱充電回路を用いた高効率エネルギー蓄電技術の開発2012
- 著者名/発表者名
  中田俊司、本田良太、牧野博之、深山正幸、松田吉雄
- 学会等名
  2012年度電子情報通信学会ソサイエティ大会
- 発表場所
  富山大学
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423
[学会発表] Energy Dissipation Reduction during Adiabatic Charging and Discharging with Controlled Inductor Current2012
- 著者名/発表者名
  Shunji. Nakata, Ryota Honda., Hiroshi. Makino, Hiroki. Morimura, and Yoshio. Matsuda
- 学会等名
  IEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems 2012 (MWSCAS)
- 発表場所
  Boise, Idaho, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423
[学会発表] WL 電圧シフトによる電圧シフトによる書込みマージンの加速評価法2012
- 著者名/発表者名
  岡田尚也、牧野博之、中田俊司、吉村勉、岩出秀平、深山正幸、松田吉雄
- 学会等名
  2012年度電気関係学会北陸支部連合大会
- 発表場所
  富山県立大学
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423
[学会発表] ばらつきを考慮したSRAMメモリセルの動作範囲拡大の検討2012
- 著者名/発表者名
  岸田京平、牧野博之、吉村勉、岩出秀平、松田吉雄
- 学会等名
  2012年電気関係学会関西連合大会
- 発表場所
  関西大学
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423
[学会発表] Accelerated Evaluation Method for the SRAM Cell Write Margin using Word Line Voltage Shift2011
- 著者名/発表者名
  H. Makino, Shunji Nakata, H. Suzuki, H. Morimura, S. Mutoh, M. Miyama, T. Yoshimura, S. Iwade, and Y. Matsuda
- 学会等名
  IEEE International Symposium on Integrated Circuits 2011 (ISIC)
- 発表場所
  Suntec International Convention and Exhibition Centre, Singapore
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423
[学会発表] Increasing Static Noise Margin of Single-bit-line SRAM by Lowering Bit-line Voltage during Reading2011
- 著者名/発表者名
  S. Nakata, H. Suzuki, H. Makino, S. Mutoh, M. Miyama, and Y. Matsuda
- 学会等名
  IEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems 2011 (MECAS)
- 発表場所
  Yonsei University, Seoul, Korea
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23560423

牧野 博之 Makino Hiroshi

研究課題

研究成果

SRAMのモンテカルロシミュレーションにおける一次元縮退モデルの妥当性検証研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

モンテカルロシミュレーションによるSRAMの動作限界見極めに関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

適応的電圧最適化によるLSIの動作歩留まり向上に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

ばらつきに対応したＳＲＡＭの動作安定化に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[図書] 半導体LSI技術2012

著者名/発表者名

総ページ数

出版者

データソース

[雑誌論文] Increase in Read Noise Margin of Single-bit-line SRAM using Adiabatic Change of Word Line Voltage2014

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] ANALYSIS OF VOLTAGE, CURRENT AND ENERGY DISSIPATION OF STEPWISE ADIABATIC CHARGING OF A CAPACITOR USING A NONRESONANT INDUCTOR CURRENT2014

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Improved Evaluation Method for the SRAM Cell Write Margin by Word Line Voltage Acceleration2012

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Utilising the normal distribution of the write noise margin to easily predict the SRAM write yield2012

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] General Stability of Stepwise Waveform of an Adiabatic Charge Recycling Circuit With Any Circuit Topology2012

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Reexamination of SRAM Cell Write Margin Definitions in view of Predicting the Distribution2011

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[学会発表] SRAMのデータ保持時の不良率予測における一次元縮退モデルの妥当性検証2023

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] SRAMの書き込み不良率推定における 一次元縮退モデルの妥当性に関する考察2022

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] 不良出現を加速させたモンテカルロシミュレーションによるSRAMの動作限界推定2021

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] ばらつきを加速させたモンテカルロシミュレーションによるSRAMのデータ保持限界推定2020

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] SRAMのデータ保持限界見極めに関する研究2019

著者名/発表者名

牧野博之 Makino Hiroshi

[学会発表] SRAMの書き込み不良率推定における一次元縮退モデルの妥当性に関する考察2022

[学会発表] RAMの書き込み限界見極めに関する研究　―モンテカルロシミュレーションの回数削減の検討―2018