• 研究課題をさがす
  • 研究者をさがす
  • KAKENの使い方
  1. 前のページに戻る

山田 郁彦  YAMADA Fumihiko

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 50527926
その他のID
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2013年度: 豊田工業大学, 工学(系)研究科(研究院), 研究員
2012年度 – 2013年度: 豊田工業大学, 工学(系)研究科(研究院), 研究補助者
審査区分/研究分野
研究代表者
ナノ構造科学
キーワード
研究代表者
組成分析 / 膜厚分析 / 誘電率測定 / 膜厚測定 / 表面ナノ構造 / EFM / AFM / 誘電率 / 膜厚 / 静電気力 / 走査型プローブ顕微鏡
  • 研究課題

    (1件)
  • 研究成果

    (20件)
  •  走査型プローブ顕微鏡による基板表面下埋没構造の画像化研究代表者

    • 研究代表者
      山田 郁彦
    • 研究期間 (年度)
      2012 – 2013
    • 研究種目
      若手研究(B)
    • 研究分野
      ナノ構造科学
    • 研究機関
      豊田工業大学

すべて 2013 2012

すべて 雑誌論文 学会発表

  • [雑誌論文] Subsurface measurement of nanostructures on GaAs by electrostatic force microscopy2013

    • 著者名/発表者名
      Fumihiko Yamada, Itaru Kamiya
    • 雑誌名

      Applied Surface Science

      巻: Vol. 271 ページ: 131-135

    • DOI

      10.1016/j.apsusc.2013.01.146

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24710109
  • [学会発表] Workfunction mapping of interface between crystalline Si and metal paste electrode using KFM2013

    • 著者名/発表者名
      Fumihiko Yamada, Manabu Yoshida, Mari Aoki, Hideo Tokuhisa, Uichi Itoh, Isao Sumita, Shigenobu Sekine, Itaru Kamiya and Yoshio Ohshita
    • 学会等名
      EU PVSEC 2014 29th European PV Solar Energy Conference and Exhibition
    • 発表場所
      Parisフランス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24710109
  • [学会発表] nm-scaled workfunction mapping of interface between crystalline Si and metal paste electrode using KFM2013

    • 著者名/発表者名
      Fumihiko Yamada, Manabu Yoshida, Hideo Tokuhisa, Mari Aoki , Uichi Itoh, Isao Sumita, Shigenobu Sekine, Itaru Kamiya and Yoshio Ohshita
    • 学会等名
      7th International Workshop on Crystalline Silicon Solar Cells
    • 発表場所
      福岡
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24710109
  • [学会発表] KFMを用いたSi-電極界面のナノスケールにおける仕事関数測定2013

    • 著者名/発表者名
      山田郁彦,吉田学,青木真理,伊東宇一,住田勲勇,関根重信,神谷格,大下祥雄
    • 学会等名
      日本応用物理学会第74回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      京都
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24710109
  • [学会発表] nm-scaled workfunction mapping of interface between crystalline Si and metal paste electrode using KFM2013

    • 著者名/発表者名
      Fumihiko Yamada, Manabu Yoshida, Hideo Tokuhisa, Mari Aoki , Uichi Itoh, Isao Sumita, Shigenobu Sekine, Itaru Kamiya, Yoshio Ohshita
    • 学会等名
      7th International Workshop on Crystalline Silicon Solar Cells
    • 発表場所
      福岡、 九州大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24710109
  • [学会発表] Workfunction mapping of Si-metal paste interface on an atomic scale using KFM2013

    • 著者名/発表者名
      Fumihiko Yamada, Manabu Yoshida, Mari Aoki, Hideo Tokuhisa, Itoh Uichi, Isao Sumita, Shigenobu Sekine, Itaru Kamiya and Yoshio Ohshita
    • 学会等名
      4th Workshop on Metallization for Crystalline Silicon Solar Cells
    • 発表場所
      Constance, Germany
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24710109
  • [学会発表] Workfunction mapping of Si-metal paste interface on an atomic scale using KFM2013

    • 著者名/発表者名
      Fumihiko Yamada, Manabu Yoshida, Mari Aoki, Hideo Tokuhisa, Uichi Itoh, Isao Sumita, Shigenobu Sekine, Itaru Kamiya and Yoshio Ohshita
    • 学会等名
      4th Workshop on Contacting Silicon Solar Cells
    • 発表場所
      Constance, Germany
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24710109
  • [学会発表] KFMを用いたSi-電極界面のナノスケールにおける仕事関数測定2013

    • 著者名/発表者名
      山田 郁彦,吉田 学,青木 真理, 伊東 宇一,住田 勲勇,関根 重信,神谷 格,大下 祥雄
    • 学会等名
      第74回応用物理学会秋季学術講演会
    • 発表場所
      京都、 同志社大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24710109
  • [学会発表] Workfunction mapping of Si-metal paste interface on an atomic scale using KFM2013

    • 著者名/発表者名
      Fumihiko Yamada, Manabu Yoshida, Mari Aoki, Hideo Tokuhisa, Uichi Itoh, Isao Sumita, Shigenobu Sekine, Itaru Kamiya, Yoshio Ohshita
    • 学会等名
      4th Workshop on Metallization for Crystalline Silicon Solar Cells
    • 発表場所
      ドイツ、 コンスタンツ
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24710109
  • [学会発表] AFMを用いたSi-金属ペースト電極(銀及び銅)界面のポテンシャル測定2013

    • 著者名/発表者名
      山田 郁彦,吉田 学,青木 真理,伊東 宇一, 住田 勲勇,神谷 格,大下 祥雄
    • 学会等名
      2013年春季 第60回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      厚木, 神奈川県
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24710109
  • [学会発表] Workfunction mapping of interface between crystalline Si and metal paste electrode using KFM2013

    • 著者名/発表者名
      Fumihiko Yamada, Manabu Yoshida, Mari Aoki, Hideo Tokuhisa, Uichi Itoh, Isao Sumita, Shigenobu Sekine, Itaru Kamiya, Yoshio Ohshita
    • 学会等名
      EU PVSEC 2014 29th European PV Solar Energy Conference and Exhibition
    • 発表場所
      フランス、 パリ
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24710109
  • [学会発表] AFMを用いたSi-金属ペースト電極(銀及び銅)界面のポテンシャル測定2013

    • 著者名/発表者名
      山田郁彦,吉田学,青木真理,伊東宇一,住田勲男,神谷格,大下祥雄
    • 学会等名
      日本応用物理学会第60回春季応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      神奈川
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24710109
  • [学会発表] Electric Characterization of Interface between Si Substrate and Cu-based Metal Paste on an Atomic Scale using KFM2012

    • 著者名/発表者名
      Fumihiko Yamada, Manabu Yoshida, Uichi Itoh, Isao Sumita, Itaru Kamiya and Yoshio Oshita
    • 学会等名
      20^<th> International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    • 発表場所
      那覇
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24710109
  • [学会発表] Electronic Characterization of Interface between Si Substrate and Cu-Based Metal Paste on an Atomic Scale using KFM2012

    • 著者名/発表者名
      Fumihiko Yamada, Manabu Yoshida, Uichi Itoh, Isao Sumita, Itaru Kamiya and Yoshio Oshita
    • 学会等名
      20th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    • 発表場所
      那覇, 沖縄県
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24710109
  • [学会発表] Electrical property measurement of the interface between the Si solar cell and the metal electrode2012

    • 著者名/発表者名
      Fumihiko Yamada and Itaru Kamiya
    • 学会等名
      orea-Japan Top University League Workshop on Photovoltaics 2012
    • 発表場所
      ソウル韓国
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24710109
  • [学会発表] Electrical property measurement of the interface between the Si solar cell and the metal electrode using AFM2012

    • 著者名/発表者名
      Fumihiko Yamada and Itaru Kamiya
    • 学会等名
      Korea- Japan Top University League Workshop on Photovoltaics 2012
    • 発表場所
      韓国, ソウル
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24710109
  • [学会発表] Thickness mapping of subsurface nanostructures using FM-EFM2012

    • 著者名/発表者名
      Fumihiko Yamada, Ken-ichi Shimomura and Itaru Kamiya
    • 学会等名
      14th International Scanning Probe Microscopy Conference
    • 発表場所
      トロントカナダ
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24710109
  • [学会発表] Thickness mapping of subsurface nanostructures using FM-EFM2012

    • 著者名/発表者名
      Fumihiko Yamada, Ken-ichi Shimomura and Itaru Kamiya
    • 学会等名
      14th International Scanning Probe Microscopy Conference
    • 発表場所
      Toronto, Canada
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24710109
  • [学会発表] InAsドットを用いたEFM膜厚測定における定量性の検討2012

    • 著者名/発表者名
      山田郁彦, 下村憲一, 神谷格
    • 学会等名
      2012年秋季 第73回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      松山, 愛媛県
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24710109
  • [学会発表] InAsドットを用いたEFM膜厚測定における定量性の検討2012

    • 著者名/発表者名
      山田郁彦,下村憲一,神谷格
    • 学会等名
      日本応用物理学会第73回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      愛媛
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24710109

URL: 

この研究者とORCID iDの連携を行いますか?
※ この処理は、研究者本人だけが実行できます。

Are you sure that you want to link your ORCID iD to your KAKEN Researcher profile?
* This action can be performed only by the researcher himself/herself who is listed on the KAKEN Researcher’s page. Are you sure that this KAKEN Researcher’s page is your page?

サービス概要 検索マニュアル よくある質問 お知らせ 利用規程 科研費による研究の帰属

Powered by NII kakenhi