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篠原 尋史  Shinohara Hirofumi

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 50531810
その他のID
所属 (現在) 2025年度: 京都大学, 情報学研究科, 研究員
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2024年度: 京都大学, 情報学研究科, 研究員
2021年度 – 2023年度: 早稲田大学, 理工学術院(情報生産システム研究科・センター), 特任教授
2017年度 – 2019年度: 早稲田大学, 理工学術院(情報生産システム研究科・センター), 特任教授
審査区分/研究分野
研究代表者
小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連 / 電子デバイス・電子機器
キーワード
研究代表者
認証 / ストロングPUF / ハードウェアセキュリティ / ビットエラー率 / TRNG / PUF / IoTセキュリティ / モデリング攻撃 / 機械学習攻撃 / 暗号・認証等 … もっと見る / セキュア・ネットワーク / 電子デバイス・機器 / ホットエレクトロン注入 / 乱数 隠す
  • 研究課題

    (3件)
  • 研究成果

    (13件)
  •  ストロングPUFと真乱数発生回路による確率論的レスポンス認証研究代表者

    • 研究代表者
      篠原 尋史
    • 研究期間 (年度)
      2024 – 2026
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連
    • 研究機関
      京都大学
  •  暗号レスでIoT認証を軽量にするストロングPUFの研究研究代表者

    • 研究代表者
      篠原 尋史
    • 研究期間 (年度)
      2021 – 2023
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連
    • 研究機関
      早稲田大学
  •  初期状態設定によるセキュリティー用自然由来データの高品質化の研究研究代表者

    • 研究代表者
      篠原 尋史
    • 研究期間 (年度)
      2017 – 2019
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      電子デバイス・電子機器
    • 研究機関
      早稲田大学

すべて 2023 2022 2021 2020 2019 2018

すべて 雑誌論文 学会発表

  • [雑誌論文] A 0.5-V Hybrid SRAM Physically Unclonable Function Using Hot Carrier Injection Burn-In for Stability Reinforcement2021

    • 著者名/発表者名
      Liu Kunyang、Chen Xinpeng、Pu Hongliang、Shinohara Hirofumi
    • 雑誌名

      IEEE Journal of Solid-State Circuits

      巻: 56 号: 7 ページ: 2193-2204

    • DOI

      10.1109/jssc.2020.3035207

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K04201
  • [雑誌論文] A 373-F? 0.21%-Native-BER EE SRAM Physically Unclonable Function With 2-D Power-Gated Bit Cells and VSS Bias-Based Dark-Bit Detection2020

    • 著者名/発表者名
      Liu Kunyang、Min Yue、Yang Xuan、Sun Hanfeng、Shinohara Hirofumi
    • 雑誌名

      IEEE Journal of Solid-State Circuits

      巻: 5 ページ: 1719-1732

    • DOI

      10.1109/jssc.2019.2963002

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17K06404
  • [学会発表] Vss-Bias-Based Measurement of Random Telegraph Noise in Hybrid SRAM PUF after Hot Carrier Injection Burn-In2023

    • 著者名/発表者名
      Kunyang Liu, Yichen Tang, Shufan Xu, and Hirofumi Shinohara
    • 学会等名
      2023 IEEE Int. Conf. Microelectronic Test Structures (ICMTS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K04201
  • [学会発表] Effect of Quadruple Size Transistor on SRAM Physically Unclonable Function Stabilized by Hot Carrier Injection2023

    • 著者名/発表者名
      Shufan Xu, Kunyang Liu, Yichen Tang, Ruilin Zhang, and Hirofumi Shinohara
    • 学会等名
      2023 IEEE Int. Conf. Microelectronic Test Structures (ICMTS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K04201
  • [学会発表] A 2.17-pJ/b 5b-Response Attack-Resistant Strong PUF with Enhanced Statistical Performance2023

    • 著者名/発表者名
      Kunyang Liu, Gen Li, Zihan Fu, Xuanzhen Wang, and Hirofumi Shinohara
    • 学会等名
      IEEE, 48th Europian Solid state Circuits Conference (ESSCIRC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K04201
  • [学会発表] Statistical Modeling of SRAM PUF Cell Mismatch Shift Distribution After Hot Carrier Injection Burn-In2022

    • 著者名/発表者名
      Kunyang Liu, Kiyoshi Takeuchi, and Hirofumi Shinohara
    • 学会等名
      2022 IEEE International conference on Microelectronics Test Structures (ICMTS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K04201
  • [学会発表] A 0.5-V 2.07-fJ/b 497-F2 EE/CMOS Hybrid SRAM Physically Unclonable Function with < 1E-7 Bit Error Rate Achieved through Hot Carrier Injection Burn-in2020

    • 著者名/発表者名
      Kunyang Liu, Hongliang Pu and Hirofumi Shinohara
    • 学会等名
      IEEE 2020 Custom Integrated Circuits Conf. (CICC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17K06404
  • [学会発表] High-Throughput & Power Efficiency 8 Bits Von Neumann Post-Processing with Waiting Strategy for True Random Number Generators2019

    • 著者名/発表者名
      Ruilin Zhang and Hirofumi Shinohara
    • 学会等名
      TJCAS 2019
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17K06404
  • [学会発表] A 373 F2 2D Power-Gated EE SRAM Physically Unclonable Function With Dark-Bit Detection Technique2018

    • 著者名/発表者名
      Kunyang Liu, Yue Min, Xuan Yang, Hanfeng Sun and Hirofumi Shinohara
    • 学会等名
      IEEE 2018 A-SSCC, pp.161-164, Nov. 2018.
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17K06404
  • [学会発表] 情報セキュリティのためのランダム回路2018

    • 著者名/発表者名
      篠原 尋史
    • 学会等名
      電子情報通信学会、ICD研究会
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17K06404
  • [学会発表] High-Throughput Von Neumann Post-Processing for Random Number Generator2018

    • 著者名/発表者名
      Ruilin Zhang, Sijia Chen, Chao Wan, Hirofumi Shinohara
    • 学会等名
      IEEE, 2018 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), D3-1, April 2018.
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17K06404
  • [学会発表] Compensation of Temperature Induced Flipping-Bits in CMOS SRAM PUF by NMOS Body-Bias2018

    • 著者名/発表者名
      Xuanhao Zhang, Xiang Chen, Hanfeng Sun and, Hirofumi Shinohara
    • 学会等名
      IEICE Technical Report, HWS2018-38, pp. 333-336, July 2018
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17K06404
  • [学会発表] 情報セキュリティのためのランダム回路2018

    • 著者名/発表者名
      篠原尋史
    • 学会等名
      信学技報、ICD2018-11, pp. 45-46, 2018年 4月
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17K06404

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