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五味 健二  Gomi Kenji

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 60281408
その他のID
外部サイト
所属 (現在) 2025年度: 東京電機大学, 工学部, 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2007年度 – 2008年度: 東京電機大学, 工学部, 准教授
2006年度: 東京電機大学, 工学部, 助教授
2005年度: 東京電機大学, 工学部, 講師
2004年度: 東京電機大, 工学部, 講師
2003年度: 東京電機大学, 工学部, 講師 … もっと見る
2000年度 – 2001年度: 東京電機大学, 工学部, 助手
1998年度 – 1999年度: 東京電機大学, 工学部・機械工学科, 助手
1996年度: 東京電機大学, 工学部, 助手 隠す
審査区分/研究分野
研究代表者
機械材料・材料力学 / 機械材料・材料力学
研究代表者以外
機械材料・材料力学
キーワード
研究代表者
電子デバイス / 可視化 / Laser Photoelasticity / Photoelastic Modulator / Experimental Stress Analysis / 光学素子・装置・材料 / 画像・光情報処理 / 光計測 / 評価 / 物性 … もっと見る / プロセス / 材料設計 / 共焦点顕微鏡 / 応用光学 / 再生医療 / レーザパッケージ / レーザ光弾性法 / サファイア単結晶 / 半導体レーザ / 長距離大容量通信システム / 消光比異常 / Experimental stress Analysis / 光弾性実験 / NDI / EPD / LEC法 / ひずみ光学定数 / GaAs / Laser-aided Diagnostics / Optical Measurement / Nondestructive inspection / Crystal Gliding / Residual Stress / Gallium Arsenide Semiconductor / Material Testing / Nondestructive Inspection … もっと見る
研究代表者以外
Reflecting Type Photoelasticitv / Thin Film / Laser Photoelasticitv / Stress Measurement / 高分子膜 / 偏光計測 / レーザー / 光弾性 / 皮膜応力 / レーザ- / 反射型光弾性 / 光弾性変調器 / 皮膜 / レーザー光弾性 / 応力測定 隠す
  • 研究課題

    (6件)
  • 研究成果

    (30件)
  • 共同研究者

    (5人)
  •  廉価型の高速応力顕微鏡の開発と多積層集積回路の応力評価および故障回避への応用研究代表者

    • 研究代表者
      五味 健二
    • 研究期間 (年度)
      2007 – 2008
    • 研究種目
      若手研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東京電機大学
  •  高速度多点同時測定型応力顕微鏡の開発と細胞の応力場測定への応用研究代表者

    • 研究代表者
      五味 健二
    • 研究期間 (年度)
      2005 – 2006
    • 研究種目
      若手研究(A)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東京電機大学
  •  サファイアの複屈折測定と半導体レーザの通信速度向上技術への応用研究代表者

    • 研究代表者
      五味 健二
    • 研究期間 (年度)
      2003 – 2004
    • 研究種目
      若手研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東京電機大学
  •  反射型偏光レーザ顕微鏡の開発とウエハ上高分子皮膜の応力評価

    • 研究代表者
      新津 靖
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2001
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東京電機大学
  •  GaAsウエハの残留応力場とウエハ熱処理時に誘起される転位の関係研究代表者

    • 研究代表者
      五味 健二
    • 研究期間 (年度)
      1998 – 1999
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東京電機大学
  •  赤外線レーザ光弾性法による半導体用単結晶の光弾性物性の測定研究代表者

    • 研究代表者
      五味 健二
    • 研究期間 (年度)
      1996
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東京電機大学

すべて 2008 2007 2006 2005

すべて 雑誌論文 学会発表 産業財産権

  • [雑誌論文] 簡単な偏光測定による微小な複屈折分布の評価2008

    • 著者名/発表者名
      五味健二, 鈴木智之, 一瀬謙輔, 新津靖
    • 雑誌名

      数理科学会論文集 Vol.10

      ページ: 15-20

    • NAID

      40016662082

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • [雑誌論文] 簡単な偏光測定による微小な複屈折分布の評価2008

    • 著者名/発表者名
      五味健二、鈴木智之、一瀬謙輔、新津靖
    • 雑誌名

      数理科学会論文集 第7巻

      ページ: 15-20

    • NAID

      40016662082

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • [雑誌論文] 簡便な複屈折測定装置の開発2007

    • 著者名/発表者名
      鈴木智之、五味健二、鈴木隼、一瀬謙輔
    • 雑誌名

      材料試験技術 第52-4巻

      ページ: 218-212

    • NAID

      40015691462

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • [雑誌論文] 新しい簡便な複屈折分布測定法2007

    • 著者名/発表者名
      五味健二、一瀬謙輔、鈴木智之
    • 雑誌名

      東京電機大学総合研究所中間報告書2007 第2007巻

      ページ: 15-16

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • [雑誌論文] 簡便な複屈折測定装置の開発2007

    • 著者名/発表者名
      鈴木智之, 五味健二, 鈴木隼, 一瀬謙輔
    • 雑誌名

      材料試験技術 52-4

      ページ: 208-212

    • NAID

      40015691462

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • [雑誌論文] 簡便な偏光測定による新しい複屈折測定法2007

    • 著者名/発表者名
      五味健二
    • 雑誌名

      日本機械学会論文集 73-727,A

      ページ: 426-433

    • NAID

      110006242576

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17686011
  • [雑誌論文] 新しい簡便な複屈折分布測定法2007

    • 著者名/発表者名
      五味健二, 一瀬謙輔, 鈴木智之
    • 雑誌名

      東京電機大学総合研究所中間報告書2007 2007

      ページ: 15-16

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • [雑誌論文] 参照波長板を用いた新しい複屈折測定法2006

    • 著者名/発表者名
      五味健二, 清水健吾, 新津靖, 一瀬謙輔
    • 雑誌名

      日本機械学会論文集 72-719,A

      ページ: 1095-1099

    • NAID

      110004763326

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17686011
  • [雑誌論文] A New Technique of Minute Birefringence Measurement by using Simple Polarimetry2006

    • 著者名/発表者名
      Kenji Gomi, Kensuke Ichinose, Yasushi Niitsu
    • 雑誌名

      Proc. of 8th International Conference on Electronics Materials and Packaging(2006) Kowloon, (Hong Kong) IEEE Catalog Number: 06EX1631C

      ページ: 420-423

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17686011
  • [雑誌論文] 新しい複屈折位相差測定装置の開発2006

    • 著者名/発表者名
      鈴木隼, 一瀬謙輔, 五味健二
    • 雑誌名

      日本機械学会2006年度年次大会講演論文集,Vol.1計算力学,材料力学,機械材料,材料加工(MECJ-06) Vol.1

      ページ: 879-880

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17686011
  • [雑誌論文] レーザ光弾性法による電子デバイスの応力評価2006

    • 著者名/発表者名
      五味健二
    • 雑誌名

      第43回X線材料強度に関する討論会論文集

      ページ: 36-41

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17686011
  • [雑誌論文] A New Measurement Technique of Low-Level Strain Retardation in Optoelectronic Materials2006

    • 著者名/発表者名
      Kenji Gomi, Yasushi Niitsu, Kensue Ichinose
    • 雑誌名

      Proc. of international conference on electronic systemintegration technology (2006), (Dresden, Germany) 1-4244-0553-X/06/$20.00・2006 IEEE

      ページ: 257-262

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17686011
  • [雑誌論文] 参照波長板を用いた新しい光弾性法の開発2006

    • 著者名/発表者名
      後平, 一瀬, 五味
    • 雑誌名

      日本機械学会関東学生会第45回学生員卒業研究発表講演前刷集

      ページ: 49-50

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17686011
  • [雑誌論文] A New Method of Birefringence Measurement to Obtain Stress Field Using Photoelasticity2005

    • 著者名/発表者名
      K.GOMI, K.SHIMIZU, H.SUZUKI, S.GOHIRA, Y.NIITSU, K.ICHINOSE
    • 雑誌名

      Proc.of 7th International Conference on Electronics Materials and Packaging IEEE Catalog Number : O5EX1277

      ページ: 129-131

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17686011
  • [産業財産権] 複屈折測定装置及び複屈折測定方法2007

    • 発明者名
      五味健二
    • 権利者名
      学校法人東京電機大学
    • 産業財産権番号
      2006-023238
    • 出願年月日
      2007-06-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • [産業財産権] 複屈折測定装置及び複屈折測定方法2007

    • 発明者名
      五味健二
    • 権利者名
      学校法人東京電機大学
    • 産業財産権番号
      2006-232380
    • 出願年月日
      2007-06-14
    • 外国
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • [産業財産権] 複屈折測定装置及び複屈折測定方法2007

    • 発明者名
      五味健二
    • 権利者名
      学校法人東京電機大学
    • 出願年月日
      2007-06-14
    • 外国
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • [産業財産権] 複屈折測定装置及び複屈折測定方法2006

    • 発明者名
      五味健二
    • 権利者名
      東京電機大学
    • 産業財産権番号
      2006-232380
    • 出願年月日
      2006-08-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17686011
  • [学会発表] New simplified measuring method for distributed low-level birefringence2008

    • 著者名/発表者名
      Kenji Gomi, Tomoyuki Suzuki, Yasushi Niitsu, Kensuke Ichinose
    • 学会等名
      9th International Symposium on Laser Metrology
    • 発表場所
      Singapore Management Univ
    • 年月日
      2008-06-30
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • [学会発表] RESIDUAL STRESS ESTIMATION IN SIC WAFER USING IR POLARISCOPE(Proc. Of The 3^<rd> International Microsystems, Packaging, Assembly and Circuits Technology Conference and the 10^<th> International Symposium on Electronics Materials and Packaging Joint Conference、pp.550-552)2008

    • 著者名/発表者名
      Kenji Gomi, Kensuke Ichinose and Yasushi Niitsu
    • 学会等名
      Proc. Of The 3^<rd> International Microsystems, Packaging, Assembly and Circuits Technology Conference and the 10^<th> International Symposium on Electronics Materials and Packaging Joint Conference
    • 発表場所
      Taiwan
    • 年月日
      2008-10-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • [学会発表] New simplified measuring method for distributed low-level birefringence(Proc. of 9th International Symposium on Laser Metrology on CD-ROM, edited by Chenggen Quan, Anand Asundi、SPIE Vol. 7155巻、pp.715510-1〜715510-8)2008

    • 著者名/発表者名
      Kenji Gomi、Tomoyuki Suzuki、Yasushi Niitsu and Kensuke Ichinose
    • 学会等名
      Proc. of 9th International Symposium on Laser Metrology on CD-ROM
    • 発表場所
      Singapore
    • 年月日
      2008-07-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • [学会発表] 偏光測定による微小複屈折分布評価(数理科学会第27回数理科学講演論文集、pp.89-90)2008

    • 著者名/発表者名
      五味健二、鈴木智之、一瀬謙輔、新津靖
    • 学会等名
      数理科学会
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2008-08-30
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • [学会発表] RESIDUAL STRESS ESTIMATION IN SIC WAFER USING IR POLARIS COPE2008

    • 著者名/発表者名
      Kenji Gomi, Kensuke Ichinose, Yasushi Niitsu
    • 学会等名
      3^<rd> and the 10^<th> EMAP Joint Conference
    • 発表場所
      Taipei, Taiwan
    • 年月日
      2008-10-22
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • [学会発表] 偏光測定による微小複屈折分布評価2008

    • 著者名/発表者名
      五味健二, 鈴木智之, 一瀬謙輔, 新津靖
    • 学会等名
      数理科学会
    • 発表場所
      東京電機大学工学部
    • 年月日
      2008-08-30
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • [学会発表] New Simplified Measuring Method for Birefringence Distribution2007

    • 著者名/発表者名
      Kenji Gomi, Tomoyuki Suzuki, Ken-suke Ichinose, Yasushi Niitsu
    • 学会等名
      9th International Symposium on Electronics Materials and Packaging
    • 発表場所
      Dae jeon, Korea
    • 年月日
      2007-11-20
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • [学会発表] 応力顕微鏡の開発2007

    • 著者名/発表者名
      鈴木智之, 五味健二, 一瀬謙輔, 新津靖
    • 学会等名
      日本実験力学会
    • 発表場所
      埼玉大学東京ステーションカレッジ
    • 年月日
      2007-08-07
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • [学会発表] 応力顕微鏡の開発(日本実験力学会講演論文集、第7巻、pp.387-390)2007

    • 著者名/発表者名
      鈴木智之、五味健二、一瀬謙輔、新津靖
    • 学会等名
      日本実験力学会
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2007-08-07
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • [学会発表] A New Automated measuring instrument for Minute Photoelasticity2007

    • 著者名/発表者名
      Kenji Gomi, Kensuke Ichinose, Yasushi Niitsu
    • 学会等名
      13th International Conference on Experimental Mechanics
    • 発表場所
      Alexandroupolis, Greece
    • 年月日
      2007-07-04
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • [学会発表] A New Automated measuring instrument for Minute Photoelasticity(Proc. Of 13th International Conference on Experimental Mechanics(2007)、ISBN : 978-1-4020-6238-4、CD-ROM Version(頁記載無し))2007

    • 著者名/発表者名
      Kenji Gomi、Kensuke Ichinose、Yasushi Niitsu
    • 学会等名
      Proc. Of 13th International Conference on Experimental Mechanics(2007)
    • 発表場所
      Greece
    • 年月日
      2007-07-04
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • [学会発表] New Simplified Measuring Method for Birefringence Distribution(Proc. Of 9th International Symposium on Electronics Materials and Packaging ISBN : 978-1-4244-1910-4、CD-ROM Version(頁記載無し))2007

    • 著者名/発表者名
      Kenji Gomi、Tomoyuki Suzuki、Kensuke Ichinose、Yasushi Niitsu
    • 学会等名
      Proc. Of 9th International Symposium on Electronics Materials and Packaging
    • 発表場所
      Korea
    • 年月日
      2007-11-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19760076
  • 1.  新津 靖 (70143659)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 2.  一瀬 健輔 (10057226)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 3.  池田 輝樹
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 4.  TERUKI Ikeda
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 5.  池田 照樹
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

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