藤原幸雄 Fujiwara Yukio

研究者番号	60415742
所属 (現在)	2025年度: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, 計量標準総合センター, 上級主任研究員
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2022年度 – 2023年度: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, 計量標準総合センター, 上級主任研究員 2018年度 – 2021年度: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, 計量標準総合センター, 研究グループ長 2017年度: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, 計量標準総合センター, 主任研究員 2015年度 – 2016年度: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, 分析計測標準研究部門, 主任研究員 2014年度: 独立行政法人産業技術総合研究所, 分析計測標準研究部門, 主任研究員 … もっと見る 2010年度 – 2013年度: 独立行政法人産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 主任研究員 2008年度: 独立行政法人産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 研究員 2007年度: 産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 研究員隠す
審査区分/研究分野	研究代表者分析化学 / 小区分80040:量子ビーム科学関連 / 小区分34020:分析化学関連 / 薄膜・表面界面物性
キーワード	研究代表者表面分析 / クラスター / 二次イオン質量分析 / イオン液体 / イオンビーム / SIMS / 質量分析 / エレクトロスプレー / 二次イオン / 負イオン … もっと見る / プロトン化 / クラスターイオン / プロトン / 分析化学 / プロトン付加 / ビーム / 帯電液滴 / イオン源 / 放射線、X線、粒子線 / 放射線、Ｘ線、粒子線 / 分析科学 / 表面・界面物性 / ソフトイオン化 / 負イオンビーム / 大質量陰イオン / クラスタービーム / 二次イオン質量分析法(SIMS) / ビーム応用隠す

研究課題
(6件)
研究成果
(34件)

新規クラスター負イオンビーム源の開発：反応性プロトン含有ＦＩＢ技術のＳＩＭＳ展開研究代表者
- 研究代表者
  
  藤原幸雄
- 研究期間 (年度)
  2022 – 2024
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分80040:量子ビーム科学関連
- 研究機関
  国立研究開発法人産業技術総合研究所
高感度・高面分解能な有機系二次イオン質量分析の実現：新規クラスタービーム源の開発研究代表者
- 研究代表者
  
  藤原幸雄
- 研究期間 (年度)
  2019 – 2022
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分34020:分析化学関連
- 研究機関
  国立研究開発法人産業技術総合研究所
プロトン性イオン液体を用いたビーム源の開発：有機系ＳＩＭＳの感度と面分解能の向上研究代表者
- 研究代表者
  
  藤原幸雄
- 研究期間 (年度)
  2016 – 2018
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  分析化学
- 研究機関
  国立研究開発法人産業技術総合研究所
イオン液体を用いた高集束性液滴ビーム源の開発：有機系試料の高精度SIMSへの展開研究代表者
- 研究代表者
  
  藤原幸雄
- 研究期間 (年度)
  2013 – 2015
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  分析化学
- 研究機関
  国立研究開発法人産業技術総合研究所
表面脱離有機分子の新規ソフトイオン化法の開発:高感度イメージング質量分析への展開研究代表者
- 研究代表者
  
  藤原幸雄
- 研究期間 (年度)
  2010 – 2012
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  分析化学
- 研究機関
  独立行政法人産業技術総合研究所
溶液中の大質量陰イオンの負イオンビーム化と二次イオン質量分析(SIMS)への展開研究代表者
- 研究代表者
  
  藤原幸雄
- 研究期間 (年度)
  2007 – 2008
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  薄膜・表面界面物性
- 研究機関
  独立行政法人産業技術総合研究所

[雑誌論文] Temperature effects on electrospray current from an externally wetted EMI-Im ionic liquid ion source2023
- 著者名/発表者名
  Fujiwara Yukio
- 雑誌名
  
  Journal of Vacuum Science & Technology B
  
  巻: 41 号: 6 ページ: 064204-064204
- DOI
  10.1116/6.0003088
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K12666
[雑誌論文] Negative ion beam bombardment of a protic ionic liquid: Alleviating surface charging and damage and analyzing the surface of organic insulating materials2022
- 著者名/発表者名
  Yukio Fujiwara and Naoaki Saito
- 雑誌名
  
  Journal of Vacuum Science & Technology A
  
  巻: 40 号: 5 ページ: 053203-053203
- DOI
  10.1116/6.0001999
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K05535
[雑誌論文] Negative-cluster ion beam production from the tip of a sharp needle: Suppression of surface charging and surface analysis of an insulated sample2021
- 著者名/発表者名
  Yukio Fujiwara and Naoaki Saito
- 雑誌名
  
  Journal of Vacuum Science & Technology A
  
  巻: 39 号: 6 ページ: 063218-063218
- DOI
  10.1116/6.0001431
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K05535
[雑誌論文] Electrochemical Reactions of Ionic Liquid in Vacuum and Their Influence on Ion-Beam Production by Electrospray2020
- 著者名/発表者名
  Yukio Fujiwara
- 雑誌名
  
  Journal of The Electrochemical Society
  
  巻: 167 号: 16 ページ: 166504-166504
- DOI
  10.1149/1945-7111/abcb3f
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K05535
[雑誌論文] Ion beam generation from a protic ionic liquid source with an externally wetted tungsten needle2019
- 著者名/発表者名
  Yukio Fujiwara, Naoaki Saito
- 雑誌名
  
  Journal of Applied Physics
  
  巻: 126 号: 24 ページ: 244901-244901
- DOI
  10.1063/1.5133821
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K05535
[雑誌論文] Cluster ion beam generation from a wetted needle emitter for organic secondary ion mass spectrometry (organic SIMS) using a protic ionic liquid, propylammonium nitrate2018
- 著者名/発表者名
  Yukio Fujiwara , Naoaki Saito
- 雑誌名
  
  Rapid Commun Mass Spectrom.
  
  巻: 32 号: 21 ページ: 1867-1874
- DOI
  10.1002/rcm.8256
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16K05832
[雑誌論文] Time-of-flight secondary ion mass spectrometry using a new primary ion beam generated by vacuum electrospray of a protic ionic liquid, propylammonium nitrate2017
- 著者名/発表者名
  Fujiwara Yukio、Saito Naoaki
- 雑誌名
  
  Rapid Communications in Mass Spectrometry
  
  巻: 31 号: 22 ページ: 1859-1867
- DOI
  10.1002/rcm.7960
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16K05832
[雑誌論文] Effects of a proton-conducting ionic liquid on secondary ion formation in time-of-flight secondary ion mass spectrometry2016
- 著者名/発表者名
  Y. Fujiwara, N. Saito
- 雑誌名
  
  Rapid Commun. Mass Spectrom.
  
  巻: 30 号: 1 ページ: 239-249
- DOI
  10.1002/rcm.7439
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25410163
[雑誌論文] Increasing the intensity of protonated secondary ions in time-of-flight secondary ion mass spectrometry using a proton-conducting ionic liquid, diethylmethylammonium trifluoromethanesulfonate2015
- 著者名/発表者名
  Y. Fujiwara, N. Saito
- 雑誌名
  
  Applied Physics Express
  
  巻: 8 号: 7 ページ: 076601-076601
- DOI
  10.7567/apex.8.076601
- NAID
  210000137595
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25410163
[雑誌論文] Development of an Ionic-liquid Ion Beam Source for Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)2014
- 著者名/発表者名
  Yukio Fujiwara, Naoaki Saito
- 雑誌名
  
  e-Journal of Surface Science and Nanotechnology
  
  巻: 12 号: 0 ページ: 119-123
- DOI
  10.1380/ejssnt.2014.119
- NAID
  130004933808
- ISSN
  1348-0391
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25410163
[雑誌論文] Emission characteristics of a charged-droplet beam source using vacuum electrospray of an ionic liquid2013
- 著者名/発表者名
  Yukio Fujiwara, Naoaki Saito, Hidehiko Nonaka, Shingo Ichimura
- 雑誌名
  
  Surface and Interface Analysis
  
  巻: 45巻号: 1 ページ: 517-521
- DOI
  10.1002/sia.5071
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22550091
[学会発表] イオン液体で濡らした針先端からのプロトン含有クラスターイオンビームの生成：集束イオンビーム(FIB)用の液体金属イオン源を参考として2019
- 著者名/発表者名
  藤原幸雄、齋藤直昭
- 学会等名
  第67回質量分析総合討論会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K05535
[学会発表] 液体金属イオン源方式のプロトン性イオン液体ビーム源の開発：有機イメージング質量分析の感度と面分解能の向上2018
- 著者名/発表者名
  藤原幸雄、齋藤直昭
- 学会等名
  日本表面真空学会学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16K05832
[学会発表] 針型エミッターからのプロトン性イオン液体のビーム生成：高集束性かつ高感度なSIMS用クラスターイオン源を目指して2018
- 著者名/発表者名
  藤原幸雄、齋藤直昭
- 学会等名
  第65回応用物理学会春季学術講演会
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16K05832
[学会発表] A new primary ion beam source using vacuum electrospray of protic ionic liquids2017
- 著者名/発表者名
  Yukio Fujiwara, Naoaki Saito
- 学会等名
  The 21th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XXI)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16K05832
[学会発表] プロトン性イオン液体のイオンビーム化と二次イオン質量分析（SIMS）の高感度化2015
- 著者名/発表者名
  藤原幸雄、齋藤直昭
- 学会等名
  第6 回イオン液体討論会
- 発表場所
  同志社大学（京都府）
- 年月日
  2015-10-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25410163
[学会発表] Development of a vacuum-electrospray beam source using a proton-conducting ionic liquid [dema][TfO]: enhancing effect of protonated organic molecules2015
- 著者名/発表者名
  Y. Fujiwara, N. Saito
- 学会等名
  The 20th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XX)
- 発表場所
  The Westin Seattle、シアトル、米国
- 年月日
  2015-09-15
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25410163
[学会発表] クラスターイオンビームの二次イオン質量分析（SIMS）への応用2015
- 著者名/発表者名
  藤原幸雄、齋藤直昭
- 学会等名
  学術振興会第132委員会（荷電粒子ビームの工業への応用）第217回研究会
- 発表場所
  東京理科大学（東京都）
- 年月日
  2015-10-02
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25410163
[学会発表] イオン液体ビーム照射による有機系試料の二次イオン質量分析(SIMS)2015
- 著者名/発表者名
  藤原幸雄、齋藤直昭
- 学会等名
  第62回応用物理学会春季学術講演会
- 発表場所
  東海大学湘南キャンパス（神奈川県平塚市）
- 年月日
  2015-03-14
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25410163
[学会発表] 真空エレクトロスプレーを用いた二次イオン質量分析（SIMS）用イオン液体ビーム源の開発2014
- 著者名/発表者名
  藤原幸雄、齋藤直昭
- 学会等名
  第62回質量分析総合討論会
- 発表場所
  ホテル阪急エキスポパーク（大阪府吹田市）
- 年月日
  2014-05-14
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25410163
[学会発表] A new primary ion beam source for Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) using vacuum electrospray of ionic liquids2014
- 著者名/発表者名
  Yukio Fujiwara, Naoaki Saito
- 学会等名
  The 20th International Mass Spectrometry Conference
- 発表場所
  ジュネーブ国際会議場（スイス）
- 年月日
  2014-08-25
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25410163
[学会発表] Charged-droplet beam source using vacuum electrospray of an ionic liquid for secondary ion mass spectrometry (SIMS)2012
- 著者名/発表者名
  藤原幸雄
- 学会等名
  19th International Mass Spectrometry Conference (IMSC 2012)
- 発表場所
  国立京都国際会館(京都市)
- 年月日
  2012-09-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22550091
[学会発表] Development of an ion beam source for Cluster SIMS using vacuum electrospray of an ionic liquid2011
- 著者名/発表者名
  藤原幸雄
- 学会等名
  18th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry
- 発表場所
  伊国トレント
- 年月日
  2011-09-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22550091
[学会発表] Development of an ion beam source for Cluster SIMS using vacuum electrospray of an ionic liquid2011
- 著者名/発表者名
  藤原幸雄
- 学会等名
  18th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry
- 発表場所
  トレント市(伊国)
- 年月日
  2011-09-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22550091
[学会発表] Application of an electrospray technique to Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)2010
- 著者名/発表者名
  藤原幸雄
- 学会等名
  American Vacuum Society 57th International Symposium
- 発表場所
  米国アルバカーキ市
- 年月日
  2010-10-19
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22550091
[学会発表] Application of an electrospray technique to Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)2010
- 著者名/発表者名
  藤原幸雄
- 学会等名
  American Vacuum Society 57th International Symposium
- 発表場所
  アルバカーキ市(米国)
- 年月日
  2010-10-19
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22550091
[学会発表] A new liquid-type cluster-ion-beam source for Secondary Ion Mass Spectrometry using an electrospray ionization technique2008
- 著者名/発表者名
  藤原幸雄、渡辺幸次、野中秀彦、齋藤直昭、藤本俊幸、黒河明、一村信吾
- 学会等名
  56th ASMS Conference on Mass Spectrometry
- 発表場所
  デンバー(米国)
- 年月日
  2008-06-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19760029
[学会発表] A new liquid-type cluster-ion-beam source for Secondary Ion Mass Spectrometry using an electrospray ionization technique2008
- 著者名/発表者名
  藤原幸雄, 他
- 学会等名
  第56回米国質量分析学会
- 発表場所
  Colorado convention center(米国デンバー市)
- 年月日
  2008-06-04
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19760029
[学会発表] 溶液型クラスターイオンビーム源の開発-イオン液体のエレクトロスプレー特性-2008
- 著者名/発表者名
  藤原幸雄、渡辺幸次、野中秀彦、齋藤直昭、藤本俊幸、黒河明、一村信吾
- 学会等名
  第55 回応用物理学関係連合講演会
- 発表場所
  日本大学理工学部(船橋市)
- 年月日
  2008-03-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19760029
[学会発表] 溶液型クラスターイオンビーム源の開発-イオン液体のエレクト白スプレー特性-2008
- 著者名/発表者名
  藤原幸雄, 他
- 学会等名
  第55回応用物理学関係連合講演会
- 発表場所
  日本大学理工学部(船橋市)
- 年月日
  2008-03-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19760029
[学会発表] Development of an Ionic-liquid Ion Beam Source for Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
- 著者名/発表者名
  Yukio Fujiwara, Naoaki Saito
- 学会等名
  12th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures (ACSIN-12)
- 発表場所
  国際会議場（茨城県つくば市）
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25410163
[学会発表] Charged-droplet beam source using vacuum electrospray of an ionic liquid for secondary ion mass spectrometry (SIMS)
- 著者名/発表者名
  藤原幸雄
- 学会等名
  19th International Mass Spectrometry Conference (IMSC 2012)
- 発表場所
  国立京都国際会館（京都市）
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22550091
[学会発表] 真空エレクトロスプレーを用いたイオン液体ビーム源の開発と二次イオン質量分析（ＳＩＭＳ）への応用
- 著者名/発表者名
  藤原幸雄、齋藤直昭
- 学会等名
  第61回質量分析総合討論会
- 発表場所
  つくば国際会議場（茨城県つくば市）
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25410163
[学会発表] 真空エレクトロスプレーを用いたSIMS用イオン液体ビーム源の開発
- 著者名/発表者名
  藤原幸雄、齋藤直昭
- 学会等名
  第61回応用物理学会春季学術講演会
- 発表場所
  青山学院大学相模原キャンパス(神奈川県相模原市)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25410163

藤原 幸雄 Fujiwara Yukio

研究課題

研究成果

新規クラスター負イオンビーム源の開発：反応性プロトン含有ＦＩＢ技術のＳＩＭＳ展開研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

高感度・高面分解能な有機系二次イオン質量分析の実現：新規クラスタービーム源の開発研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

プロトン性イオン液体を用いたビーム源の開発：有機系ＳＩＭＳの感度と面分解能の向上研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

イオン液体を用いた高集束性液滴ビーム源の開発：有機系試料の高精度SIMSへの展開研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

表面脱離有機分子の新規ソフトイオン化法の開発:高感度イメージング質量分析への展開研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

溶液中の大質量陰イオンの負イオンビーム化と二次イオン質量分析(SIMS)への展開研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[雑誌論文] Temperature effects on electrospray current from an externally wetted EMI-Im ionic liquid ion source2023

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Negative ion beam bombardment of a protic ionic liquid: Alleviating surface charging and damage and analyzing the surface of organic insulating materials2022

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Negative-cluster ion beam production from the tip of a sharp needle: Suppression of surface charging and surface analysis of an insulated sample2021

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Electrochemical Reactions of Ionic Liquid in Vacuum and Their Influence on Ion-Beam Production by Electrospray2020

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Ion beam generation from a protic ionic liquid source with an externally wetted tungsten needle2019

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Cluster ion beam generation from a wetted needle emitter for organic secondary ion mass spectrometry (organic SIMS) using a protic ionic liquid, propylammonium nitrate2018

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Time-of-flight secondary ion mass spectrometry using a new primary ion beam generated by vacuum electrospray of a protic ionic liquid, propylammonium nitrate2017

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Effects of a proton-conducting ionic liquid on secondary ion formation in time-of-flight secondary ion mass spectrometry2016

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Increasing the intensity of protonated secondary ions in time-of-flight secondary ion mass spectrometry using a proton-conducting ionic liquid, diethylmethylammonium trifluoromethanesulfonate2015

藤原幸雄 Fujiwara Yukio

[学会発表] 針型エミッターからのプロトン性イオン液体のビーム生成：高集束性かつ高感度なSIMS用クラスターイオン源を目指して2018