佐藤伸吾 Sato Shingo

研究者番号	60709137
その他のID
所属 (現在)	2025年度: 関西大学, システム理工学部, 准教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2021年度 – 2023年度: 関西大学, システム理工学部, 准教授
審査区分/研究分野	研究代表者小区分21050:電気電子材料工学関連
キーワード	研究代表者界面電荷密度 / 移動度 / シート抵抗 / 低電界移動度 / チャネル伝導 / 容量-電圧特性 / 伝送線路モデル / Kelvin法 / 積層半導体基板 / pseudo-MOS法

研究課題
(1件)
研究成果
(9件)

積層半導体基板におけるキャリア輸送特性の高精度抽出法に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  佐藤伸吾
- 研究期間 (年度)
  2021 – 2023
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分21050:電気電子材料工学関連
- 研究機関
  関西大学

すべて 2024 2023 2022 2021

すべて雑誌論文学会発表

[雑誌論文] Detailed analysis of the capacitance characteristic measured using the pseudo-metal–oxide–semiconductor method2024
- 著者名/発表者名
  Sato Shingo、Yuan Yifan
- 雑誌名
  
  Solid-State Electronics
  
  巻: 217 ページ: 108950-108950
- DOI
  10.1016/j.sse.2024.108950
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K04160
[雑誌論文] Detailed analysis of electrical components on a layered wafer via the AC pseudo-MOS method2023
- 著者名/発表者名
  Yuan Yifan、Sato Shingo
- 雑誌名
  
  Solid-State Electronics
  
  巻: 210 ページ: 108811-108811
- DOI
  10.1016/j.sse.2023.108811
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K04160
[雑誌論文] Detailing Influence of Contact Condition and Island Edge on Dual-Configuration Kelvin Pseudo-MOSFET Method2021
- 著者名/発表者名
  Mori Daigo、Nakata Iori、Matsuda Masayoshi、Sato Shingo
- 雑誌名
  
  IEEE Transactions on Electron Devices
  
  巻: 68 号: 6 ページ: 2906-2911
- DOI
  10.1109/ted.2021.3074115
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K04160
[学会発表] AC pseudo-MOS法による積層ウエハ上の電気的成分の詳細解析2024
- 著者名/発表者名
  袁一凡, 佐藤伸吾
- 学会等名
  先端科学技術シンポジウム2024
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K04160
[学会発表] Detailed analysis of electrical components on a layered wafer with an ac pseudo-MOS method2023
- 著者名/発表者名
  Y. Yuan, and S. Sato
- 学会等名
  9th Joint International EuroSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K04160
[学会発表] Detailed analysis of electrical components on a layered wafer with an ac pseudo-MOS method,2023
- 著者名/発表者名
  Y. Yuan, S. Sato
- 学会等名
  EuroSOI-ULIS’2023
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K04160
[学会発表] 高精度電気物性値抽出に向けた積層半導体基板評価技術の開発2023
- 著者名/発表者名
  袁一凡, 佐藤伸吾
- 学会等名
  第27回関西大学先端科学技術シンポジウム
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K04160
[学会発表] Detailed analysis of electrical components on SOI wafer with an ac pseudo-MOS method,2022
- 著者名/発表者名
  Y. Yuan, and S. Sato
- 学会等名
  The 2022 International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K04160
[学会発表] Modeling the propagation of ac signal on the channel of the pseudo-MOS method2021
- 著者名/発表者名
  Shingo Sato
- 学会等名
  2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K04160

佐藤 伸吾 Sato Shingo

研究課題

研究成果

積層半導体基板におけるキャリア輸送特性の高精度抽出法に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

[雑誌論文] Detailed analysis of the capacitance characteristic measured using the pseudo-metal&#8211;oxide&#8211;semiconductor method2024

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Detailed analysis of electrical components on a layered wafer via the AC pseudo-MOS method2023

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Detailing Influence of Contact Condition and Island Edge on Dual-Configuration Kelvin Pseudo-MOSFET Method2021

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[学会発表] AC pseudo-MOS法による積層ウエハ上の電気的成分の詳細解析2024

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] Detailed analysis of electrical components on a layered wafer with an ac pseudo-MOS method2023

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] Detailed analysis of electrical components on a layered wafer with an ac pseudo-MOS method,2023

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] 高精度電気物性値抽出に向けた積層半導体基板評価技術の開発2023

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] Detailed analysis of electrical components on SOI wafer with an ac pseudo-MOS method,2022

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] Modeling the propagation of ac signal on the channel of the pseudo-MOS method2021

著者名/発表者名

学会等名

データソース

佐藤伸吾 Sato Shingo

[雑誌論文] Detailed analysis of the capacitance characteristic measured using the pseudo-metal–oxide–semiconductor method2024