• 研究課題をさがす
  • 研究者をさがす
  • KAKENの使い方
  1. 前のページに戻る

萩原 芳彦  HAGIWARA Yoshihiko

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 70061546
その他のID
外部サイト
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 1999年度 – 2005年度: 武蔵工業大学, 工学部, 教授
審査区分/研究分野
研究代表者以外
機械材料・材料力学 / 機械材料・材料力学
キーワード
研究代表者以外
X-ray stress measurement / X線応力測定 / Crystallite size / Surface energy / Synchrotron radiation / Residual stress / Thin films / Cu / 界面応力 / 表面エネルギー … もっと見る / 真性応力 / Cu薄膜 / 結晶子サイズ / 界面エネルギー / シンクロトロン放射光 / 残留応力 / 薄膜 / Plane stress components / Multi-regression analysis / Position sensitive detector / Diffraction ring / 平面応力成分 / 重回帰分析 / 位置検出型比例計数管 / 回折環 / Residual stress distribution / Internal crack / Surface crack / Actual stress distribution / Detection of fatigue crack / Single exposure technique / 圧縮残留応力 / ショットピーニング処理 / 片持ち回転曲げ疲労試験 / 疲労強度 / 残留応力分布 / 内部疲労き裂 / 表面疲労き裂 / 実応力分布 / 疲労き裂検出 / 単一入射法 隠す
  • 研究課題

    (3件)
  • 研究成果

    (4件)
  • 共同研究者

    (3人)
  •  低エネルギー放射光による薄膜界面近傍の残留応力測定

    • 研究代表者
      大谷 眞一, 秋田 貢一
    • 研究期間 (年度)
      2003 – 2005
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      武蔵工業大学
  •  背面X線回折環全体を利用した平面応力成分測定法

    • 研究代表者
      大谷 眞一
    • 研究期間 (年度)
      2002 – 2004
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      武蔵工業大学
  •  動的X線応力測定法を適用した疲労試験稼動中のき裂検出法

    • 研究代表者
      大谷 眞一
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2001
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      武蔵工業大学

すべて 2004 2002

すべて 雑誌論文

  • [雑誌論文] 背面反射回折X線像を用いた応力測定装置の開発2004

    • 著者名/発表者名
      大谷眞一, 秋田貢一, 萩原芳彦, 下羽悠一, 吉川光俊
    • 雑誌名

      日本非破壊検査協会第35回応力・ひずみ測定と強度評価シンポジウム講演論文集

      ページ: 133-138

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14550088
  • [雑誌論文] DEVELOPMENT OF STRESS ANALYZER USING WHOLE X-RAY DIFFRACTION RING2004

    • 著者名/発表者名
      Y.Shitaba, M.Yoshikawa, S.Ohya, K.Akita, Y.Hagiwara
    • 雑誌名

      Proceedings of The 35^<th> Symposium on Stress-strain Measurement and Strength Evaluation, The Japanese Soc.for Non-Destructive Inspection

      ページ: 133-1138

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14550088
  • [雑誌論文] 背面回折X線像を用いた応力測定2002

    • 著者名/発表者名
      吉川光俊, 大谷眞一, 秋田貢一, 萩原芳彦, 長谷川賢一
    • 雑誌名

      日本材料学会第38回X線材料強度に関するシンポジウム講演論文集

      ページ: 7-12

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14550088
  • [雑誌論文] Stress Measurement Using Whole X-ray Diffraction Ring2002

    • 著者名/発表者名
      M.Yoshikawa, S.Ohya, K.Akita, Y.Hagiwara, K.Hasegawa
    • 雑誌名

      Proceedings of The 38^<th> Symposium on X-ray Studies on Mechanical Behaviour of Materials, Soc.of Material Science, Japan

      ページ: 7-12

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14550088
  • 1.  大谷 眞一 (80120864)
    共同の研究課題数: 4件
    共同の研究成果数: 4件
  • 2.  秋田 貢一 (10231820)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 4件
  • 3.  杉山 好弘 (60061511)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

URL: 

この研究者とORCID iDの連携を行いますか?
※ この処理は、研究者本人だけが実行できます。

Are you sure that you want to link your ORCID iD to your KAKEN Researcher profile?
* This action can be performed only by the researcher himself/herself who is listed on the KAKEN Researcher’s page. Are you sure that this KAKEN Researcher’s page is your page?

サービス概要 検索マニュアル よくある質問 お知らせ 利用規程 科研費による研究の帰属

Powered by NII kakenhi