小林和淑 Kobayashi Kazutoshi

研究者番号	70252476
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所属 (現在)	2024年度: 京都工芸繊維大学, 電気電子工学系, 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2016年度 – 2022年度: 京都工芸繊維大学, 電気電子工学系, 教授 2015年度: 京都工芸繊維大学, その他部局等, 教授 2012年度: 京都工芸繊維大学, 大学院・工芸科学研究科, 教授 2009年度 – 2011年度: 京都工芸繊維大学, 工芸科学研究科, 教授 2007年度 – 2008年度: 京都大学, 情報学研究科, 准教授 … もっと見る 2006年度: 京都大学, 情報学研究科, 助教授 2004年度: 京都大学, 情報学研究科, 助教授 2002年度 – 2003年度: 東京大学, 大規模集積システム設計教育研究センター, 助教授 2002年度: 東京大学, 大規模集積システム設計教育センター, 助教授 2001年度: 京都大学, 情報学研究科, 助教授 2000年度: 京都大学, 情報学研究科, 助手 1999年度: 京都大学, 大学院・情報学研究科, 助手 1999年度: 京都大学, 大学院・情報研究科, 助手 1999年度: 京都大学, 工学研究科, 助手 1998年度: 京都大学, 情報学研研究科, 助手 1998年度: 京都大学, 情報学研究科, 助手 1995年度 – 1997年度: 京都大学, 工学研究科, 助手 1993年度 – 1994年度: 京都大学, 工学部, 助手隠す
審査区分/研究分野	研究代表者情報通信工学 / 計算機システム・ネットワーク / 計算機科学 / 計算機システム研究代表者以外電子デバイス・機器工学 / 計算機科学 / 計算機システム・ネットワーク / 小区分60040:計算機システム関連 / 計算科学 / 情報工学 / 理工系
キーワード	研究代表者 VLSI / 機能メモリ / 信頼性 / 一時故障 / 超並列処理 / FPGA / スタックトランジスタ / バルク / FDSOI / パワエレ … もっと見る / BTI / ランダムテレグラフノイズ / RTN / NBTI / 永久故障 / パワーエレクトロニクス / 経年劣化 / ソフトエラー / IoT / Variation aware / ばらつき / コンフィギャラブル / プロセッサ / 微細プロセス / ハードウエア設計 / System C / 協調設計 / 動作合成 / SystemC / 期待値比較 / EBプローバ / LSIテスタ / テストベクタ / テスト / シミュレーション / 低ビットレート / 画像圧縮 / 高速バス / 並列処理 / FMPP / SIMD / 並列プロセッサ / ベクトル量子化 / 動画像処理 / 再構成可能性 / 柔軟な処理 … もっと見る研究代表者以外 VLSI / LSI / ASIC / Parallel Processing / 並列処理 / 集積回路 / 低消費電力化 / SerDes / DSP / Statistical Analysis / Image Compression / 低ビットレート / 画像圧縮 / 高速バス / 機能メモリ / FMPP / Analog Circuit / アナログ回路 / Symbolic Layout / アナログCAD / シンボリックレイアウト / ばらつき / スタンダードセル / 統計的遅延解析 / ばらつき考慮設計 / 経年劣化 / 製造容易化設計 / 製造ばらつき / 動き補償 / IoT / 特性ゆらぎ / 信頼性 / 常時起動デバイス / デバイスシミュレーション / 数値計算手法 / ブレークダウン / 局所打切り誤差 / 主要応答時定数 / 正帰還系シミュレーション / 負の主要応答時定数 / ホモトピー法 / バイアス電圧増分量制限法 / 時間刻み幅制御 / 局所的打切り誤差 / 過渡解析 / ハードブレークダウン / スナップバック / 負の時定数 / Signal Transmission / 応答局面法 / スパイラルインダクタ / ドライバ駆動力 / 配線構造 / 伝送線路 / LSI配線 / RLC抽出 / 性能予測 / リング型PLL / LC型PLL / PLL / オンチップ伝送線路 / 高速信号伝達 / 配線特性 / 高速信号伝送 / Hierarchical Design / Inter-Chip Variability / Intra-Chip Variability / Statistical Timing Analysis / Manufacturing Variability / モンテカルロ解析 / 統計モデリング / 設計容易化技術 / ロバスト設計 / 歩留り最大化 / 統計的解析 / 階層設計 / チップ間ばらつき / チップ内ばらつき / 統計解析 / Video Compression / Low Power / Memory Distribution / Design Techniques / Architecture / Motion Estimation / プロセッサアレー / 設計手法 / 低消費電力 / アーキテクチャ / プロセッサアレー / 動画像圧縮 / Low-rate / Multimedia / マルチメディア / Input reordering / Gate sizing / Standard cell library / Library generation / Cell-base design / High speed design / Low power design / optimization of detailed design / 最適化設計 / CMOS理論ゲート / 遅延時間モデル / 消費電力モデル / 遅延最適化 / 物理設計 / システムLSI / ディープサブミクロンプロセス / 遅延最小化 / クロストーク / 詳細設計 / 接続最適化 / ゲート寸法最適化 / スタンダードセルライブラリ / ライブラリ生成 / セルベース設計 / 高速化設計 / 低消費電力化設計 / 詳細設計最適化 / Worst Case Analysis / Circuit Simulation / Matching Analysis / Parameter Extraction / Intermediate Model / Statistical Modeling / Scaled MOSFET / 共通モデル / 歩留り / 統計的設計最適化 / パラメータ抽出 / 統計的モデル化 / ばらつきモデル / ワ-ストケース解析 / 回路シミュレーション / 統計的回路解析 / 比精度解析 / モデルパラメータ抽出 / 中間モデル / 統計モデル / MOSFET / Low Bit-rate / Vector Quantization / CAM / Functional Memory / 光通信 / 超並列処理 / Analog HDL / Analog CAD / Circuit Design / Layout Design / Optimization / Analog Layout / アナログHDL / 回路設計 / レイアウト設計 / 最適化 / アナログレイアウト / Gate Array / Standard Cell / LSI Design / Comprehenseve Benchmarks / LSI CAD / Standard Library / ゲートアレー / LSI設計 / 総合ベンチマークセット / LSIのCAD / 標準ライブラリ / LSI Design System / Reuse of Design Knowledge / Knowledge Aquisition / Analog ASIC / Design Methodology of Analog LSI / Analog LSI / Reuse of Design Procedure / アナログ回路最適化 / アナログレイアウト合成 / アナログ回路合成 / モジュールジェネレータ / 設計知識獲得 / LSI設計システム / 知識再利用 / 知識獲得 / アナログASIC / アナログ回路設計手法 / アナログLSI / 設計方法の再利用 / Geometrical processing / Content addressable memory / Hardware engine / Layout verification / LSI layout / Design rule check / ハードウエアエンジン / 図形演算 / 連想メモリ / ハードウェアエンジン / デザインルールチェック / レイアウト検証 / LSIレイアウト / 図形処理専用計算機 / システムオンチップ / ディペンダブルLSI / 低消費電力設計 / LSI設計技術 / ディペンダブル VLSI / 耐ばらつき設計 / 低電圧動作 / 製造容易性 / DFY / DFM / NBTI / 歩留まり / ディペンダブルVLSI / 高信頼化 / 動画像 / 動きベクトル / ジャイロセンサ隠す

高信頼性を要求される常時起動デバイスの特性変動の実測評価と動作レベルのモデル化
- 研究代表者
  
  松本高士
- 研究期間 (年度)
  2018 – 2023
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  東京大学
少数主要時定数近似を利用したインテリジェント制御デバイスシミュレーション
- 研究代表者
  
  熊代成孝
- 研究期間 (年度)
  2017 – 2020
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  計算科学
- 研究機関
  京都工芸繊維大学
高効率かつ高信頼で長時間動作可能な「もの」のインターネット機器の実現研究代表者
- 研究代表者
  
  小林和淑
- 研究期間 (年度)
  2015 – 2018
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  京都工芸繊維大学
低電圧安定動作を実現する集積回路ハードウェア設計技術
- 研究代表者
  
  小野寺秀俊
- 研究期間 (年度)
  2010 – 2012
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  京都大学
一時故障を低コストで補償する回路方式の検討研究代表者
- 研究代表者
  
  小林和淑
- 研究期間 (年度)
  2009 – 2011
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  京都工芸繊維大学
ばらつきや欠陥を克服する集積回路ハードウェア設計技術
- 研究代表者
  
  小野寺秀俊
- 研究期間 (年度)
  2007 – 2009
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  京都大学
微細プロセスにおいても製造容易なコンフィギャラブルプロセッサ研究代表者
- 研究代表者
  
  小林和淑
- 研究期間 (年度)
  2006 – 2008
- 研究種目
  
  若手研究(A)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  京都大学
ハードソフト同時設計によるシステムLSIの設計効率化・開発期間短期化研究代表者
- 研究代表者
  
  小林和淑
- 研究期間 (年度)
  2002 – 2003
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  情報通信工学
- 研究機関
  東京大学
集積回路における高速信号伝送技術の研究
- 研究代表者
  
  小野寺秀俊
- 研究期間 (年度)
  2002 – 2004
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  電子デバイス・機器工学
- 研究機関
  京都大学
動き補償を利用した動画像の実時間背景・対象物分離アルゴリズムとハードウエアの開発
- 研究代表者
  
  小野寺秀俊
- 研究期間 (年度)
  2001 – 2002
- 研究種目
  
  特定領域研究
- 審査区分
  
  理工系
- 研究機関
  京都大学
設計者のための統合型VLSIテスト環境の開発研究代表者
- 研究代表者
  
  小林和淑
- 研究期間 (年度)
  2000 – 2001
- 研究種目
  
  奨励研究(A)
- 研究分野
  
  情報通信工学
- 研究機関
  京都大学
大規模集積回路の統計的特性解析・最適化手法の開発
- 研究代表者
  
  小野寺秀俊
- 研究期間 (年度)
  1999 – 2001
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  電子デバイス・機器工学
- 研究機関
  京都大学
機能メモリ上でのベクトル量子化を用いた画像圧縮法の検討研究代表者
- 研究代表者
  
  小林和淑
- 研究期間 (年度)
  1998 – 1999
- 研究種目
  
  奨励研究(A)
- 研究分野
  
  情報通信工学
- 研究機関
  京都大学
低ビットレート・マルチメディア伝送を行う機能素子LSIの開発
- 研究代表者
  
  小野寺秀俊, 田丸啓吉
- 研究期間 (年度)
  1998 – 2000
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  電子デバイス・機器工学
- 研究機関
  京都大学
実時間動き補償用メモリ混載型低消費電力プロセッサの開発
- 研究代表者
  
  MOSHNYAGA Vasily
- 研究期間 (年度)
  1998 – 1999
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  電子デバイス・機器工学
- 研究機関
  福岡大学
超微細構造集積回路の詳細設計最適化手法
- 研究代表者
  
  小野寺秀俊
- 研究期間 (年度)
  1997 – 1998
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  電子デバイス・機器工学
- 研究機関
  京都大学
機能メモリ上でのベクトル量子化を用いた画像圧縮手法の検討研究代表者
- 研究代表者
  
  小林和淑
- 研究期間 (年度)
  1996
- 研究種目
  
  奨励研究(A)
- 研究分野
  
  計算機科学
- 研究機関
  京都大学
微細MOSFET統計的モデル化手法の開発
- 研究代表者
  
  小野寺秀俊
- 研究期間 (年度)
  1996 – 1997
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 研究分野
  
  電子デバイス・機器工学
- 研究機関
  京都大学
演算機能を持つメモリLSIを用いたプロセッサボードの制御方式の検討研究代表者
- 研究代表者
  
  小林和淑
- 研究期間 (年度)
  1995
- 研究種目
  
  奨励研究(A)
- 研究分野
  
  計算機科学
- 研究機関
  京都大学
機能メモリ型並列プロセッサを用いた計算機システムの開発
- 研究代表者
  
  田丸啓吉 (田丸啓一)
- 研究期間 (年度)
  1995 – 1997
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 研究分野
  
  計算機科学
- 研究機関
  京都大学
LSI設計CAD評価用総合ベンチマークセットの開発
- 研究代表者
  
  小野寺秀俊
- 研究期間 (年度)
  1994 – 1995
- 研究種目
  
  試験研究(B)
- 研究分野
  
  計算機科学
- 研究機関
  京都大学
回路特性制約を考慮したアナログ回路の素子値/レイアウト同時設計法の研究
- 研究代表者
  
  小野寺秀俊
- 研究期間 (年度)
  1994 – 1995
- 研究種目
  
  一般研究(C)
- 研究分野
  
  計算機科学
- 研究機関
  京都大学
設計方法の獲得・再利用化による効率的なアナログLSI設計手法に関する研究
- 研究代表者
  
  田丸啓吉
- 研究期間 (年度)
  1993 – 1995
- 研究種目
  
  一般研究(B)
- 研究分野
  
  電子デバイス・機器工学
- 研究機関
  京都大学
LSIレイアウト図形処理専用計算機の開発
- 研究代表者
  
  田丸啓吉
- 研究期間 (年度)
  1992 – 1994
- 研究種目
  
  試験研究(B)
- 研究分野
  
  情報工学
- 研究機関
  京都大学

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すべて雑誌論文学会発表産業財産権

[雑誌論文] Universal NBTI Compact Model Replicating AC Stress/Recovery from a Single-shot Long-term DC Measurement2020
- 著者名/発表者名
  Hosaka Takumi、Nishizawa Shinichi、Kishida Ryo、Matsumoto Takashi、Kobayashi Kazutoshi
- 雑誌名
  
  IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology
  
  巻: 13 号: 0 ページ: 56-64
- DOI
  10.2197/ipsjtsldm.13.56
- NAID
  130007887399
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11210
[雑誌論文] An Efficient and Accurate Time Step Control Method for Power Device Transient Simulation Utilizing Dominant Time Constant Approximation2020
- 著者名/発表者名
  Kumashiro Shigetaka、Kamei Tatsuya、Hiroki Akira、Kobayashi Kazutoshi
- 雑誌名
  
  IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
  
  巻: 39 号: 2 ページ: 451-463
- DOI
  10.1109/tcad.2018.2889673
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K05142
[雑誌論文] Evaluation of plasma-induced damage and bias temperature instability depending on type of antenna layer using current-starved ring oscillators2018
- 著者名/発表者名
  Kishida Ryo、Furuta Jun、Kobayashi Kazutoshi
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 57 号: 4S ページ: 04FD12-04FD12
- DOI
  10.7567/jjap.57.04fd12
- NAID
  210000148889
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[雑誌論文] A Low-Power Radiation-Hardened Flip-Flop with Stacked Transistors in a 65 nm FDSOI Process2018
- 著者名/発表者名
  MARUOKA Haruki、HIFUMI Masashi、FURUTA Jun、KOBAYASHI Kazutoshi
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Electronics
  
  巻: E101.C 号: 4 ページ: 273-280
- DOI
  10.1587/transele.E101.C.273
- NAID
  130006602277
- ISSN
  0916-8524, 1745-1353
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[雑誌論文] Replication of Random Telegraph Noise by Using a Physical-Based Verilog-AMS Model2017
- 著者名/発表者名
  T. Komawaki, M. Yabuuchi, R. Kishida, J. Furuta, T. Matsumoto, and K. Kobayashi
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
  
  巻: E100.A 号: 12 ページ: 2758-2763
- DOI
  10.1587/transfun.E100.A.2758
- NAID
  130006236533
- ISSN
  0916-8508, 1745-1337
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[雑誌論文] A Radiation-Hardened Non-Redundant Flip-Flop, Stacked Leveling Critical Charge Flip-Flop in a 65 nm Thin BOX FD-SOI Process2016
- 著者名/発表者名
  J. Furuta, J. Yamaguchi, and K. Kobayashi
- 雑誌名
  
  IEEE Trans. on Nuclear Science
  
  巻: 63 号: 4 ページ: 2080-2086
- DOI
  10.1109/tns.2016.2543745
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[雑誌論文] Size Optimization Technique for Logic Circuits that Considers BTI and Process Variations2016
- 著者名/発表者名
  M. Yabuuchi, and K. Kobayashi
- 雑誌名
  
  IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology
  
  巻: 9 号: 0 ページ: 72-78
- DOI
  10.2197/ipsjtsldm.9.72
- NAID
  130005255788
- ISSN
  1882-6687
- 言語
  英語
- 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[雑誌論文] A Perpetuum Mobile 32bit CPU on 65nm SOTB CMOS Technology with Reverse-Body-Bias Assisted Sleep Mode2015
- 著者名/発表者名
  石橋, 杉井, 蒲原, 宇佐美, 天野, 小林, Pham Cong-Kha
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. on Electronics
  
  巻: E98-C ページ: 536-543
- NAID
  130005086141
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[雑誌論文] Impact of Cell Distance and Well-contact Density on Neutron-induced Multiple Cell Upsets2015
- 著者名/発表者名
  古田, 小林, 小野寺
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Electronics
  
  巻: E98.C 号: 4 ページ: 298-303
- DOI
  10.1587/transele.E98.C.298
- NAID
  130005061834
- ISSN
  0916-8524, 1745-1353
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[雑誌論文] Impact of Body-Biasing Technique on Random Telegraph Noise Induced Delay Fluctuation2013
- 著者名/発表者名
  Takashi Matsumoto, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics (JJAP)
  
  巻: vol 52, no 4 号: 4S ページ: 1-3
- DOI
  10.7567/jjap.52.04ce05
- NAID
  210000142035
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300016
[雑誌論文] Variation-sensitive Monitor Circuits for Estimation of Global Process Parameter Variation2012
- 著者名/発表者名
  Islam A.K.M. Mahfuzul, Akira Tsuchiya, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 雑誌名
  
  IEEE Trans. Semiconductor Manufacturing
  
  巻: vol 25, no 4 号: 4 ページ: 571-580
- DOI
  10.1109/tsm.2012.2198677
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300016
[雑誌論文] Multicore Large-Scale Integration Lifetime Extention by Negative Bias Temperature Instability Recovery-Based Self-Healing2012
- 著者名/発表者名
  Takashi Matsumoto, Hiroaki Makino, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: vol.51(印刷中)
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300016
[雑誌論文] A 65 nm Complementary Metal-Oxide-Semiconductor 400 ns Measurement Delay Negative-Bias-Temperature-Instability Recovery Sensor with Minimum Assist Circuit2011
- 著者名/発表者名
  松本, 牧野, 小林, 小野寺
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: vol.50 号: 4S ページ: 04DE06-04DE06
- DOI
  10.1143/jjap.50.04de06
- NAID
  210000070301
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300014
[雑誌論文] A 65 nm Complementary Metal-Oxide-Semiconductor 400 ns Measurement Delay Negative-Bias-Temperature-Instability Recovery Sensor with Minimum Assist Circuit2011
- 著者名/発表者名
  Takashi Matsumoto, Hiroaki Makino, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: vol.50
- NAID
  210000070301
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300016
[雑誌論文] Variation-Tolerance of a 65-nm Error-Hardened Dual-Modular-Redundancy Flip-Flop Measured by Shift-Register-Based Monitor Structures2011
- 著者名/発表者名
  濱中, 山本, 古田, 久保田, 小林, 小野寺
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
  
  巻: E94-A 号: 12 ページ: 2669-2675
- DOI
  10.1587/transfun.E94.A.2669
- NAID
  10030533865
- ISSN
  0916-8508, 1745-1337
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300014
[雑誌論文] An Area-efficient 65 nm Radiation-Hard Dual-Modular Flip-Flop to Avoid Multiple Cell Upsets2011
- 著者名/発表者名
  山本, 濱中, 古田, 小林, 小野寺
- 雑誌名
  
  IEEE Trans. on Nuclear Science
  
  巻: vol.58 号: 6 ページ: 3053-3059
- DOI
  10.1109/tns.2011.2169457
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300014
[雑誌論文] Effect of Regularity-Enhanced Layout on Variability and Circuit Performance of Standard Cells2010
- 著者名/発表者名
  H.Sunagawa, H.Terada, A.Tsuchiya, K.Kobayashi, H.Onodera
- 雑誌名
  
  IPSJ Trans.System LSI Design Methodology 3
  
  ページ: 130-139
- NAID
  130000251502
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300014
[雑誌論文] Effect of Regularity-Enhanced Layout on Variability and Circuit Performance of Standard Cells2010
- 著者名/発表者名
  H.Sunagawa, H.Terada, A.Tsuchiya, K.Kobayashi, H.Onodera
- 雑誌名
  
  IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology Vol. 3
  
  ページ: 130-139
- NAID
  130000251502
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19300010
[雑誌論文] An Area/Delay Efficient Dual-modular Flip-Flop with Higher SEU/SET Immunity2010
- 著者名/発表者名
  J.Furuta, K.Kobayashi., et.al
- 雑誌名
  
  IEICE Trans.Electron. E93-C
  
  ページ: 340-346
- NAID
  10026824857
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300014
[雑誌論文] Effect of Regularity-Enhanced Layout on Variability and Circuit Performance of Standard Cells2010
- 著者名/発表者名
  Hiroki Sunagawa, Haruhiko Terada, Akira Tsuchiya, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 雑誌名
  
  IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology vol.3
  
  ページ: 130-139
- NAID
  130000251502
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19300010
[雑誌論文] Micro/nanoimprinting of Glass under High Temperature Using a CVD Diamond Mold2008
- 著者名/発表者名
  M. Komori, H. Uchiyama, H. Takebe, T. Kusuura, K. Kobayashi, H. Kuwahara, T. Tsuchiya
- 雑誌名
  
  JOURNAL OF MICROMECHANICS AND MICROENGINEERING no.18
  
  ページ: 65013-65013
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[雑誌論文] A 90nm 8x16 FPGA Enhancing Speed and Yield Utilizing Within-Die Variations2007
- 著者名/発表者名
  Yuuri Sugihara, Manabu Kotani, Kazuya Katsuki, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 雑誌名
  
  12th Asia and South Pacific Design Automation Conference
  
  ページ: 122-123
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[雑誌論文] A 90nm 48x48 LUT-Based FPGA Enhancing Speed and Yield Utilizing Within-Die Delay Variations2007
- 著者名/発表者名
  K. Kobayashi, K. Katsuki, M. Kotani, Y.Sugihara, Y. Kume, H. Onodera
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. on Electronics vol.E90-C, no.10
  
  ページ: 1919-1926
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[雑誌論文] A 90 nm LUT Array for Speed and Yield Enhancement by Utilizing Within-Die Delay Variations2007
- 著者名/発表者名
  Kazuya Katsuki, Manabu Kotani, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. on Electronics vol.E90-C, no.4
  
  ページ: 699-707
- NAID
  110007522167
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[雑誌論文] A 90 nm LUT Array for Speed and Yield Enhancement by Utilizing Within-Die Delay Variations2007
- 著者名/発表者名
  K. Katsuki, M. Kotani, K. Kobayashi, H. Onodera
- 雑誌名
  
  IEICE Transacition on Electronics vol E90-C
  
  ページ: 699-707
- NAID
  110007522167
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[雑誌論文] A 90nm 48x48 LUT-Based FPGA Enhancing Speed and Yield Utilizing Within-Die Delay Variations2007
- 著者名/発表者名
  K. Kobayashi, K. Katsuki, M. Kotani, Y. Sugihara, Y. Kume, H. Onodera
- 雑誌名
  
  IEICE Transacition on Electronics vol E90-C
  
  ページ: 1919-1926
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[雑誌論文] A 90 nm LUT Array for Speed and Yield Enhancement by Utilizing Within-Die Delay Variations2007
- 著者名/発表者名
  Kazuya Katsuki, Manabu Kotani, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi
- 雑誌名
  
  IEICE Trans.on Electronics Vol.E90-C, No.4
  
  ページ: 699-707
- NAID
  110007522167
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[雑誌論文] A Leakage Reduction Scheme for Sleep Transistors with Decoupling Capacitors in the Deep Submicron Era2006
- 著者名/発表者名
  K.Kobayashi, A.Higuchi, H.Onodera
- 雑誌名
  
  IEICE Transaction on Electronics Vol.E89-C, No.6
  
  ページ: 838-843
- NAID
  110007503175
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[雑誌論文] A 90nm 8x16 LUT-based FPGA Enhancing Speed and Yield Utilizing Within-Die Variations2006
- 著者名/発表者名
  M.Kotani, K.Katsuki, K.Kobayashi, H.Onodera
- 雑誌名
  
  European Solid State Circuit Conference
  
  ページ: 110-113
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[雑誌論文] A Yield and Speed Enhancement Technique Using Reconfigurable Devices against Within-Die Variations on2006
- 著者名/発表者名
  K.Kobayashi, M.Kotani, et al.
- 雑誌名
  
  International Conference on Field Programmable Logic and Applications
  
  ページ: 761-764
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[雑誌論文] A Leakage Reduction Scheme for Sleep Transistors with Decoupling Capacitors in the Deep Submicron Era2006
- 著者名/発表者名
  K. Kobayashi, A. Higuchi, H. Onodera
- 雑誌名
  
  IEICE Transaction on Electronics vol.E89-C, no.6
  
  ページ: 838-843
- NAID
  110007503175
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[産業財産権] 入出力回路、及びフリップフロップ回路2015
- 発明者名
  小林，古田，山口
- 権利者名
  国立大学法人京都工芸繊維大学
- 産業財産権種類
  特許
- 産業財産権番号
  2015-160642
- 出願年月日
  2015-08-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[産業財産権] フリップフロップ回路2010
- 発明者名
  古田潤、小林和淑、小野寺秀俊
- 権利者名
  京都工芸繊維大学
- 産業財産権番号
  2010-134066
- 出願年月日
  2010-06-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300014
[産業財産権] フリップフロップ回路2010
- 発明者名
  古田潤、小林和淑、小野寺秀俊
- 権利者名
  京都工芸繊維大学
- 出願年月日
  2010-06-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300014
[産業財産権] 半導体デバイス2008
- 発明者名
  小林和淑, 杉原有理, 久米洋平, 小野寺秀俊
- 権利者名
  国立大学法人京都大学
- 産業財産権番号
  2008-026588
- 出願年月日
  2008-02-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[産業財産権] 多重化実行に対してスケーラブルなプロセッサのパイプライン2008
- 発明者名
  嶋田創, 姚駿, 小林和淑
- 権利者名
  国立大学法人京都大学
- 産業財産権番号
  2008-214900
- 出願年月日
  2008-08-25
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[産業財産権] 半導体デバイス2008
- 発明者名
  小林和淑他
- 権利者名
  京都大学
- 産業財産権番号
  2008-026588
- 出願年月日
  2008-02-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] Compact Modeling of NBTI Replicationg AC Stress / Recovery from a Single-shot Long-term DC Measurement2019
- 著者名/発表者名
  Shinichi NISHIZAWA, Takumi HOSAKA, Ryo KISHIDA, Takashi MATSUMOTO, Kazutoshi KOBAYASHI
- 学会等名
  25th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11210
[学会発表] 単発DCストレス測定による負バイアス温度不安定性のAC特性を再現可能なモデル2019
- 著者名/発表者名
  保坂　巧、西澤真一、岸田　亮、松本高士、小林和淑
- 学会等名
  電子情報通信学会　デザインガイア2019
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11210
[学会発表] Matrix Exponential法を用いた過渡解析の時間刻み制御とニュートン反復回数の削減2018
- 著者名/発表者名
  亀井達也, 熊代成孝, 小林和淑, 廣木彰, 古田潤
- 学会等名
  第31回回路とシステムワークショップ
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K05142
[学会発表] Matrix Exponential法を用いたパワーMOSFETの過渡解析の高速化2018
- 著者名/発表者名
  亀井達也、熊代成孝、小林和淑
- 学会等名
  電子情報通信学会ICD研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K05142
[学会発表] Sensitivity to Soft Errors of NMOS and PMOS Transistors Evaluated by Latches with Stacking Structures in a 65 nm FDSOI Proces2018
- 著者名/発表者名
  K. Yamada, H. Maruoka, J. Furuta, and K. Kobayashi
- 学会等名
  IEEE International Reliability Physics Symposium
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] Circuit-level Simulation Methodology for Random Telegraph Noise by Using Verilog-AMS2017
- 著者名/発表者名
  T. Komawaki, M. Yabuuchi, R. Kishida, J. Furuta, T. Matsumoto, and K. Kobayashi
- 学会等名
  Circuit-level Simulation Methodology for Random Telegraph Noise by Using Verilog-AMS
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] The Impact of RTN-Induced Temporal Performance Fluctuation Against Static Performance Variation2017
- 著者名/発表者名
  T. Matsumoto, K. Kobayashi, and H. Onodera
- 学会等名
  Electron Devices Technology and Manufacturing
- 発表場所
  Toyama, Japan
- 年月日
  2017-03-01
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] Radiation-Hardened Flip-Flops with Low Delay Overheads Using PMOS Pass-Transistors to Suppress a SET Pulse in a 65 nm FDSOI Process2017
- 著者名/発表者名
  K. Yamada, H. Maruoka, J. Furuta, and K. Kobayashi
- 学会等名
  The conference on Radiation and its Effects on Components and Systems
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] A Flip-Flop with High Soft-error Tolerance and Small Power and Delay Overheads2017
- 著者名/発表者名
  K. Yamada, H. Maruoka, J. Furuta, and K. Kobayashi
- 学会等名
  Symposium on Low-Power and High-Speed Chips (COOL Chips)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] 行列指数法によるデバイス過渡シミュレーションの正確な時間刻み指標2017
- 著者名/発表者名
  熊代成孝、亀井達也、廣木彰、小林和淑
- 学会等名
  電子情報通信学会SDM研究会
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K05142
[学会発表] Degradation Caused by Negative Bias Temperature Instability Depending on Body Bias on NMOS or PMOS in 65 nm Bulk and Thin-BOX FDSOI Processes2017
- 著者名/発表者名
  R. Kishida, and K. Kobayashi
- 学会等名
  Electron Devices Technology and Manufacturing
- 発表場所
  Toyama, Japan
- 年月日
  2017-03-01
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] An Accurate Metric to Control Time Step of Transient Device Simulation by Matrix Exponential Method2017
- 著者名/発表者名
  Shigetaka Kumashiro, Tatsuya Kamei, Akira Hiroki, Kazutoshi Kobayashi
- 学会等名
  SISPAD 2017
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K05142
[学会発表] Highly-reliable Integrated Circuits for Ground and Space Applications2017
- 著者名/発表者名
  ,K. Kobayashi
- 学会等名
  International Conference on ASIC
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] Plasma Induced Damage Depending on Antenna Layers in Ring Oscillators2017
- 著者名/発表者名
  R. Kishida, J. Furuta, and K. Kobayashi
- 学会等名
  International Conference on Solid State Devices and Materials
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] A 16 nm FinFET Radiation-hardened Flip-Flop, Bistable Cross-coupled Dual-Modular-Redundancy FF for Terrestrial and Outer-Space Highly-reliable Systems2017
- 著者名/発表者名
  K. Kobayashi, J. Furuta, H. Maruoka, M. Hifumi, S. Kumashiro, T. Kato, and S. Kohri
- 学会等名
  IEEE International Reliability Physics Symposium
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] Influence of Layout Structures to Soft Errors Caused by Higher-energy Particles on 28/65 nm FDSOI Flip-Flops2017
- 著者名/発表者名
  M. Hifumi, H. Maruoka, S. Umehara, K. Yamada, J. Furuta, and K. Kobayashi
- 学会等名
  IEEE International Reliability Physics Symposium
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] A Radiation-hard Layout Structure to Control Back-Gate Biases in a 65 nm Thin-BOX FDSOI Process2016
- 著者名/発表者名
  J. Yamaguchi, J. Furuta, and K. Kobayashi
- 学会等名
  SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference
- 発表場所
  Burlingame, CA, USA
- 年月日
  2016-10-10
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] A Non-Redundant Low-Power Flip Flop with Stacked Transistors in a 65 nm Thin BOX FDSOI Process2016
- 著者名/発表者名
  H. Maruoka, M. Hifumi, J. Furuta, and K. Kobayashi
- 学会等名
  The conference on Radiation and its Effects on Components and Systems
- 発表場所
  Bremen, Germany
- 年月日
  2016-09-19
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] Impact of Random Telegraph Noise on Ring Oscillators Evaluated by Circuit-level Simulations2015
- 著者名/発表者名
  大島, Pieter Weckx, Ben Kaczer, 小林, 松本
- 学会等名
  International Conference on IC Design and Technology
- 発表場所
  Leuven, Belgium
- 年月日
  2015-06-02
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] A Radiation-Hardened Non-redundant Flip-Flop, Stacked Leveling Critical Charge Flip-Flop in a 65 nm Thin BOX FD-SOI Process2015
- 著者名/発表者名
  山口, 古田, 小林
- 学会等名
  The conference on Radiation and its Effects on Components and Systems
- 発表場所
  Moscow, Russia
- 年月日
  2015-09-10
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] Analysis of the Soft Error Rates on 65-nm SOTB and 28-nm UTBB FD-SOI Structures by a PHITS- TCAD Based Simulation Tool2015
- 著者名/発表者名
  張, 神田, 山口, 古田, 小林
- 学会等名
  International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices
- 発表場所
  Washington DC, USA
- 年月日
  2015-09-10
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] Defect-Oriented Degradations in Recent VLSIs: Random Telegraph Noise, Bias Temperature Instability and Total Ionizing Dose2015
- 著者名/発表者名
  小林
- 学会等名
  International Workshop on Radiation Effects on Semiconductor Devices for Space Applications, pp. 110-113
- 発表場所
  Kiryu, Gunma, Japan
- 年月日
  2015-11-12
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] ランダム・テレグラフ・ノイズに起因したディジタル回路遅延ゆらぎについて2011
- 著者名/発表者名
  松本高士, 伊東恭佑, 小林和淑, 小野寺秀俊
- 学会等名
  DAシンポジウム
- 発表場所
  下呂市
- 年月日
  2011-08-31
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300016
[学会発表] Impact of RTN and NBTI on Synchorous Circuit Reliability2011
- 著者名/発表者名
  Takashi Matsumoto, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  IEEE/ACM Workshop on Variability Modeling and Characterization
- 発表場所
  San Jose(アメリカ合衆国)
- 年月日
  2011-11-10
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300016
[学会発表] ディジタル回路遅延の経年劣化とそのモデル化について2011
- 著者名/発表者名
  松本高士, 小林和淑, 小野寺秀俊
- 学会等名
  電子情報通信学会基礎・境界ソサイエティ大会
- 発表場所
  札幌
- 年月日
  2011-09-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300016
[学会発表] 微細化によるLSIの信頼性諸問題とその解決策2011
- 著者名/発表者名
  小林和淑
- 学会等名
  広島大学先端物質科学研究科半導体集積科学専攻講演会
- 発表場所
  東広島市(広島大学)(招待講演)
- 年月日
  2011-11-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300014
[学会発表] 微細化FPGAの信頼性諸問題2011
- 著者名/発表者名
  小林和淑
- 学会等名
  関西FPGAカンファレンス
- 発表場所
  大阪市(梅田センタービル)(招待講演)
- 年月日
  2011-10-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300014
[学会発表] FPGA配線構造におけるRTNモデルを用いたNBTI遅延解析手法の検討2011
- 著者名/発表者名
  籔内, 小林
- 学会等名
  DAシンポジウム
- 発表場所
  下呂
- 年月日
  2011-09-01
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300014
[学会発表] Correlations between Well Potential and SEUs Measured by Well-Potential Perturbation Detectors in 65nm2011
- 著者名/発表者名
  古田, 山本, 小林, 小野寺
- 学会等名
  Solid-State Circuits Conference
- 発表場所
  Jeju, Korea
- 年月日
  2011-11-16
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300014
[学会発表] Measurement of Neutron-induced SET Pulse Width Using Propagation-induced Pulse Shrinking2011
- 著者名/発表者名
  古田, 濱中, 小林, 小野寺
- 学会等名
  IEEE International Reliability Physics Symposium
- 発表場所
  Monterey, CA, USA
- 年月日
  2011-04-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300014
[学会発表] A 65nm Flip-Flop Array to Measure Soft Error Resiliency against High-Energy Neutron and Alpha Particles2011
- 著者名/発表者名
  古田, 濱中, 小林, 小野寺
- 学会等名
  Asia and South Pacific Design Automation Conference
- 発表場所
  Yokohama, Japan
- 年月日
  2011-01-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300014
[学会発表] NBTI回復現象を利用したマルチコアLSIの自己特性補償法2011
- 著者名/発表者名
  松本高士, 牧野紘明, 小林和淑, 小野寺秀俊
- 学会等名
  電子情報通信学会技術報告(集積回路設計)
- 発表場所
  宮崎
- 年月日
  2011-11-29
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300016
[学会発表] Variation-sensitive Monitor Circuits for Estimation of Die-to-Die Process Variation2011
- 著者名/発表者名
  Islam A.K.M Mahfuzul, Akira Tsuchiya, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  2011 IEEE International Conference on Microelectronic Test structure
- 発表場所
  Amsterdam(オランダ)
- 年月日
  2011-04-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300016
[学会発表] トランジスタレベルでの経年劣化補償技術におけるNBTI回復特性の利用について2011
- 著者名/発表者名
  松本高士、牧野裕明、小林和淑、小野寺秀俊
- 学会等名
  LSIとシステムのワークショップ2011
- 発表場所
  小倉
- 年月日
  2011-05-18
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300016
[学会発表] The Impact of RTN on Performance Fluctuation in CMOS Logic Circuits2011
- 著者名/発表者名
  伊東, 松本, 西澤, 砂川, 小林, 小野寺
- 学会等名
  IEEE International Reliability Physics Symposium
- 発表場所
  Monterey, CA, USA
- 年月日
  2011-04-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300014
[学会発表] Multi-core LSI Lifetime Extension by NBTI-Recovery-bases Self-healing2011
- 著者名/発表者名
  Takashi Matsumoto, Hiroaki Makino, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  International Conference on Solid state Devices and Materials
- 発表場所
  名古屋
- 年月日
  2011-09-29
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300016
[学会発表] トランジスタレベルでの経年劣化補償技術におけるNBTI回復特性の利用について2011
- 著者名/発表者名
  松本高士, 牧野紘明, 小林和淑, 小野寺秀俊
- 学会等名
  システムLSIワークショップ
- 発表場所
  北九州市
- 年月日
  2011-05-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300016
[学会発表] The Impact of RTN on Performance Flucuation in CMOS Logic Circuits2011
- 著者名/発表者名
  Kyosuke Ito, Takahi Matsumoto, Shinichi Nishizawa, Hiroki Sunagawa, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  2011 IEEE International Reliability Physics Symposium
- 発表場所
  Monterey(アメリカ合衆国)
- 年月日
  2011-04-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300016
[学会発表] Modeling of Random Telegraph Noise under Circuit Operation-Simulation and Measurement of RTN-induced delay fluctuation-2011
- 著者名/発表者名
  Kyosuke Ito, Takashi Matsumoto, Shinichi Nishizawa, Hiroki Sunagawa, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  2011 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
- 発表場所
  Santa Clara(アメリカ合衆国)
- 年月日
  2011-03-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300016
[学会発表] Modeling of Random Telegraph Noise under Circuit Operation-Simulation and Measurement of RTN-induced delay fluctuation2011
- 著者名/発表者名
  伊東, 松本, 西澤, 砂川, 小林, 小野寺
- 学会等名
  International Symposium on Quality Electronic Design
- 発表場所
  Santa Clala, CA, USA
- 年月日
  2011-03-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300014
[学会発表] パッケージとの接続抵抗を考慮したチップ内電源ネットワークの構成手法2011
- 著者名/発表者名
  西澤真一, 小林和淑, 小野寺秀俊
- 学会等名
  DAシンポジウム
- 発表場所
  下呂市
- 年月日
  2011-08-31
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300016
[学会発表] Variability Characterization Using an RO-array Test Structure2010
- 著者名/発表者名
  Shinichi Nishizawa, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  4th IEEE International Workshop on Design for Manufacturability & Yield
- 発表場所
  Anaheim(アメリカ合衆国)
- 年月日
  2010-06-14
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300016
[学会発表] 組み合わせ回路におけるランダム・テレグラフ・ノイズの影響の評価2010
- 著者名/発表者名
  伊東恭佑、松本高士、小林和淑、小野寺秀俊
- 学会等名
  DAシンポジウム2010
- 発表場所
  豊橋
- 年月日
  2010-09-03
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300016
[学会発表] A 65nm CMOS 400ns Measurement Delay NBTI-Recovery Sensor by Minimum Assist Circuit2010
- 著者名/発表者名
  松本, 牧野, 小林, 小野寺
- 学会等名
  International Conference on Solid State Devices and Materials
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2010-09-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300014
[学会発表] A 65nm CMOS 400ns Measurement Delay NBTI-Recovery Sensor by Minimum Assist Circuit2010
- 著者名/発表者名
  Takashi Matsumoto, Hiroaki Makino, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2010)
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2010-09-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300016
[学会発表] バッファチェインにおけるパルス幅縮小現象を利用したSETパルス幅測定回路2010
- 著者名/発表者名
  古田潤、小林和淑、小野寺秀俊
- 学会等名
  DAシンポジウム2010
- 発表場所
  豊橋
- 年月日
  2010-09-03
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300016
[学会発表] Process-sensitive Monitor Circuits for Estimation of Die-to-Die Process Variability2010
- 著者名/発表者名
  A.K.M. Mahfuzul Islam, Akira Tsuchiya, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  TAU Workshop 2010
- 発表場所
  San Francisco
- 年月日
  2010-03-18
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19300010
[学会発表] Evaluation of FPGA design guardband caused by inhomogeneous NBTI degradation considering process variations2010
- 著者名/発表者名
  籔内, 小林
- 学会等名
  International Conference on Field Programmable Technologies
- 発表場所
  Beijing, China
- 年月日
  2010-12-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300014
[学会発表] A 65nm Bistable Cross-coupled Dual Modular Redundancy Flip-Flop Capable of Protecting Soft Errors on the C-element2010
- 著者名/発表者名
  古田, 濱中, 小林, 小野寺
- 学会等名
  VLSI Circuits Symposium
- 発表場所
  Honolulu, Hawaii, USA
- 年月日
  2010-06-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300014
[学会発表] Modeling of Random Telegraph Noise under Circuit Operation-Simulation and Measurement of RTN-induced Delay Fluctuation2010
- 著者名/発表者名
  Kyosuke Ito, Takashi Matsumoto, Shinichi Nishizawa, Hiroki Sunagawa, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  Workshop on variability modeling and characterization (VMC)
- 発表場所
  San Jose, CA(アメリカ合衆国)
- 年月日
  2010-11-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300016
[学会発表] Embedded Delay Detectors to Choose the Fastest Route in FPGAs for Variation-aware Reconfiguration2009
- 著者名/発表者名
  Y. Kume, Y. Sugihara, C. Ngo, K. Kobayashi, H. Onodera
- 学会等名
  The 15th workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information technologies
- 発表場所
  Okinawa, Japan
- 年月日
  2009-03-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] リーク電流によるNBTI特性の実測による評価2009
- 著者名/発表者名
  牧野紘明、小林和淑、小野寺秀俊
- 学会等名
  2009年電子情報通信学会総合大会エレクトロニクス講演論文集2,no.C-12-18, pp.106
- 発表場所
  愛媛大学
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] Soft-error Resiliency Evaluation on Delayed Multiple-modular Flip-Flops2009
- 著者名/発表者名
  Jun Furuta, Yusuke Moritani, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  The 15th Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information technologies (SASIMI 2009)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] Embedded Delay Detectors to Choose the Fastest Route in FPGAs for Variation-aware Reconfiguration2009
- 著者名/発表者名
  Yohei Kume, Yuuri Sugihara, Camlai Ngo, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  The 15th Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information technologies (SASIMI 2009)
- 発表場所
  Okinawa, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] A Scalable Pipeline Design for Modularizing High Dependable Framework via Spatial Redundancy2008
- 著者名/発表者名
  Jun Yao, Hajime Shimada, Kazutoshi Kobayashi
- 学会等名
  DA Symposium 2008
- 発表場所
  Hamamatsu, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] Performance Optimization by Track.Swapping on Critical Paths Utilizing Random Variations for FPGAs2008
- 著者名/発表者名
  Y. Sugihara, Y. Kume, K. Kobayashi. H. Onodera
- 学会等名
  International Conference on Field Programmable Logic and_Applications
- 発表場所
  Heidelberg, Germany
- 年月日
  2008-09-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] レイアウト規則性が回路性能とばらつきに及ぼす影響の評価2008
- 著者名/発表者名
  砂川洋輝, 寺田晴彦, 土谷亮, 小林和淑, 小野寺秀俊
- 学会等名
  DAシンポジウム2008
- 発表場所
  浜松
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] Performance Optimization by Track Swapping on Critical Paths Utilizing Random Variations for FPAs2008
- 著者名/発表者名
  Yuuri Sugihara, Yohei Kume, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  2008 International Conference on Field Programmable Logic and Applications
- 発表場所
  Heidelberg, Germany
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] SETパルスによる誤動作を防止する遅延挿入フリップフロップのソフトエラー耐性の検討2008
- 著者名/発表者名
  小林和淑, 森谷祐介, 小野寺秀俊
- 学会等名
  DAシンポジウム2008
- 発表場所
  浜松
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] Best Ways to Use Billions of Devices on a Chip-Error Predictive, Defect Tolerant and Error Recovery Designs2008
- 著者名/発表者名
  K. Kobayashi, K. Katsuki, M. Kotani, Y. Sugihara, Y. Kume, H.
- 学会等名
  ASP-DAC
- 発表場所
  ソウル
- 年月日
  2008-01-25
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] A Variation-aware Constant-Order Optimization Scheme Utilizing Delay Detectors to Search for Fastest Paths on FPGAs2008
- 著者名/発表者名
  Kazutoshi Kobayashi, Yohei Kume, Cam Lai Ngo, Yuuri Sugihara, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  2008 Internation Conference on Field Programmable Logic and Applications
- 発表場所
  Heidelberg, Germany
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] A Ring-Oscillator Array Circuit for Measurement and Modeling of Gate Delay Variability2008
- 著者名/発表者名
  Haruhiko Terada, Akira Tsuchiya, Kazutoshi Kobayashi. Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  Workshop on Test Structure Design for Variability Characterization
- 発表場所
  San Jose
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] 遅延比較器を用いた低コストなFPGAの速度・歩留まり向上手法2008
- 著者名/発表者名
  久米洋平, 杉原有理, Ngo Cam Lai, 小林和淑, 小野寺秀俊
- 学会等名
  電子情報通信学会技術報告, vol.VLD2007-163, ICD-2007-186
- 発表場所
  沖縄
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] リングオシレータアレイによるゲート遅延ばらつきの評価とモデル化2008
- 著者名/発表者名
  寺田晴彦, 土谷亮, 小林和淑, 小野寺秀俊
- 学会等名
  DAシンポジウム2008
- 発表場所
  浜松
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] Speed and Yield Enhancement by Track Swaing on Critical Paths Utilizing Random Variations for FPGAs2008
- 著者名/発表者名
  Yuuri Sugihara, Yohei Kume, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  FPGA
- 発表場所
  Monterey, California, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] Best Ways to Use Billions of Devices on a Chip - Error Predictive, Defect Tolerant and Error Recovery Designs2008
- 著者名/発表者名
  Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  The 13th Asia and South Pacific Design Automation Conference
- 発表場所
  Seoul
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] A Variation-aware Constant-Order Optimization Scheme Utilizing Delay Detectors to Search for Fastest Paths on FPGAs2008
- 著者名/発表者名
  K. Kobayashi, Y. Kume, C. L. Ngo, Y. Sugihara, H. Onodera
- 学会等名
  International Conference on Field Programmable Logic and Applications
- 発表場所
  Heidelberg, Germany
- 年月日
  2008-09-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] 卓上テスト環境によるばらつき測定の高速化2007
- 著者名/発表者名
  久米洋平, 小林和淑, 小野寺秀俊
- 学会等名
  電子情報通信学会総合大会予稿集
- 発表場所
  名城大学
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] A 90nm 8x16 FPGA Enhancing Speed and Yield Utilizing Within-Die Variations2007
- 著者名/発表者名
  Yuuri Sugihara, Manabu Kotani, Kazuya Katsuki, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  12th Asia and South Pacific Design Automation Conference
- 発表場所
  Yokohama
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] チップ内ばらつきを利用して歩留まりと速度を向上させるFPGA2007
- 著者名/発表者名
  久米洋平、杉原有理、香月和也、小林和淑、小野寺秀俊
- 学会等名
  第11回システムLSIワークショップ予稿集
- 発表場所
  北九州国際会議場
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] ランダムばらつきを利用したトラック入れ替えによるFPGAの速度と歩留まり向上2007
- 著者名/発表者名
  杉原有理、久米洋平、小林和淑、小野寺秀俊
- 学会等名
  電子情報通信学会技術報告(RECONF2007-34),vol.107, no.340
- 発表場所
  北九州国際会議場
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] Estimation of Yield Enhancement by Critical Path Reconfiguration Utilizing Random Variations on Deep-submicron FPGAs,2007
- 著者名/発表者名
  Yuuri Sugihara, Yohei Kume, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  SASIMI 2007
- 発表場所
  Sapporo, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] 配線自由度によるばらつきを利用したFPGAの速度向上2007
- 著者名/発表者名
  杉原有理、小林和淑、小野寺秀俊
- 学会等名
  DAシンポジウム2007
- 発表場所
  浜松
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] ダイアモンドシールドを用いたガラスマイクロ・ナノインプリントの加工法の研究2006
- 著者名/発表者名
  小森雅晴, 内山裕陽, 武部博倫, 楠浦崇央, 前川忠彦, 小林和淑
- 学会等名
  第6回生産加工・工作機械部門講演会講演論文集
- 発表場所
  神奈川
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] Extracting a Random Component of Variation from Measurement Results of a 90 nm LUT Array2006
- 著者名/発表者名
  Kazuya Katsuki, Manabu Kotani, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  SASIMI2006
- 発表場所
  Nagoya
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] FPGAのチップ内ばらつきを利用した再配置による高速化の検討2006
- 著者名/発表者名
  尾形幸亮, 小谷学, 香月和也, 小林和淑, 小野寺秀俊
- 学会等名
  信学技報リコンフィギャラブルシステム,vol.106, no.50(RECONF2006-14)
- 発表場所
  仙台
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] A 90nm 8x16 LUT-based FPGA Enhancing Speed and Yield Utilizing Within-Die Variations2006
- 著者名/発表者名
  M. Kotani, K. Katsuki, K. Kobayashi, H. Onodera
- 学会等名
  European Solid State Circuit Conference
- 発表場所
  Montreux, Switzerland
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] Deterministic/Probablistic Noise and Bit Error Rate Modeling on On-chip Global Interconnect2006
- 著者名/発表者名
  Yoichi Yuyama, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  SASIMI2006
- 発表場所
  Nagoya
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] VDEC利用者から見たスターシャトル2006
- 著者名/発表者名
  小林和淑
- 学会等名
  STARCフォーラム2006
- 発表場所
  横浜
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] 微細プロセスを用いたFPGA設計手法2006
- 著者名/発表者名
  小林和淑
- 学会等名
  信学技報リコンフィギャラブルシステム,vol.106, no.246(RECONF 2006-26)
- 発表場所
  熊本
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] チップ内ばらつきを考慮したFPGA内配線モデルの検討2006
- 著者名/発表者名
  杉原有理, 高務祐哲, 小林和淑, 小野寺秀俊
- 学会等名
  第19回回路とシステム軽井沢ワークショップ
- 発表場所
  軽井沢プリンスホテル
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005
[学会発表] A Yield and Speed Enhancement Technique Using Reconfigurable Devices against Within-Die Variations on the Nanometer Regime2006
- 著者名/発表者名
  K. Kobayashi, M. Kotani, K. Katsuki, Y. Takatsukasa, K. Ogata, Y. Sugihara, H. Onodera
- 学会等名
  2006 International Conference on Field Programmable Logic and Applications
- 発表場所
  Madrid, spain
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18680005

1. 小野寺秀俊 (80160927)

共同の研究課題数: 15件

共同の研究成果数: 23件
2. 田丸啓吉 (10127102)

共同の研究課題数: 9件

共同の研究成果数: 0件
3. VASILY Moshn (40243050)

共同の研究課題数: 7件

共同の研究成果数: 0件
4. 橋本昌宜 (80335207)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 0件
5. 安浦寛人 (80135540)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
6. 土谷亮 (20432411)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 5件
7. 西澤真一 (40757522)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 3件
8. 松本高士 (70417369)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 6件
9. 神原弘之

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
10. 上坂達生 (30213333)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
11. 鶴田直之 (60227478)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
12. 首藤公昭 (70078632)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
13. 熊代成孝 (60791473)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 5件
14. 古田潤 (30735767)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 13件
15. 吉河武文 (60636702)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
16. 吉田豊彦

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
17. 松澤昭

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
18. 寺井正幸

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
19. TERAI M

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
20. Stoffels Steve

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
21. Posthuma Niels

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
22. Li Xiangdong

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
23. Decoutere Stefaan

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件

小林 和淑 Kobayashi Kazutoshi

研究課題

研究成果

共同研究者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

高効率かつ高信頼で長時間動作可能な「もの」のインターネット機器の実現研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

一時故障を低コストで補償する回路方式の検討研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

微細プロセスにおいても製造容易なコンフィギャラブルプロセッサ研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

ハードソフト同時設計によるシステムLSIの設計効率化・開発期間短期化研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

設計者のための統合型VLSIテスト環境の開発研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

機能メモリ上でのベクトル量子化を用いた画像圧縮法の検討研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

小林和淑 Kobayashi Kazutoshi