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佐藤 宣夫  Sato Nobuo

研究者番号 70397602
その他のID
  • ORCIDhttps://orcid.org/0000-0001-7052-7164
所属 (現在) 2025年度: 千葉工業大学, 工学部, 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2022年度 – 2025年度: 千葉工業大学, 工学部, 教授
2019年度 – 2020年度: 千葉工業大学, 工学部, 教授
2015年度 – 2016年度: 千葉工業大学, 工学部, 教授
2014年度: 千葉工業大学, 工学部, 准教授
2007年度 – 2011年度: 京都大学, 工学研究科, 助教
2009年度 – 2010年度: 京都大学, 大学院・工学研究科, 助教
2006年度: 京都大学, 工学研究科, 産学官連携研究員
審査区分/研究分野
研究代表者
電力工学・電力変換・電気機器 / 構造・機能材料 / 理工系 / 薄膜・表面界面物性
研究代表者以外
中区分25:社会システム工学、安全工学、防災工学およびその関連分野 / 理工系 / 電子・電気材料工学 / 電力工学・電力変換・電気機器
キーワード
研究代表者
表面・界面物性 / 周波数変調 / プローブ顕微鏡 / パワーデバイス / 高周波駆動 / 高速スイッチング / 高周波スイッチング / フライバックコンバータ / 電力変換回路 / パワー半導体デバイス … もっと見る / 走査プローブ技術 / 赤外線分光 / ナノプローブ / 強誘電体薄膜 / 光機能材料 / センサー材料 / ナノプローブ工学 / 制御工学 / ナノ材料 / 光学物性 / 微小変位検出 / 表面物性 / 圧電カンチレバー / 散逸力 / 光誘起相互作用力 / 近接場光 / ナノスケール評価 / ノイズ解析 / 光誘起相互作用 / 散逸エネルギー計測 / 周波数変調方式 / 近接場光学 … もっと見る
研究代表者以外
非破壊検査 / 周波数シフト帰還型レーザー / テラヘルツ波 / 走査型プローブ顕微鏡 / 距離計測 / 周波数シフト帰還レーザー / 非破壊診断 / 国際情報交換(アゼルバイジャン) / 近接場顕微鏡 / タリウム化合物 / プローブ顕微鏡 / ナノドメインの可視化 / 近接場光顕微鏡 / 構造相転移 / ナノ変調構造 / ナノドメイン / コメンシュレート相 / ナノ空間変調構造 / タリウム系化合物 / パラメトリック共振 / Arnoldの舌 / カンチレバー / MEMS / 微小エネルギー / ナノ・マイクロ機構 / 共振 / 点接触AFM / 表面電位 / 高分解能マルチプローブ計測 / AFMポテンショメトー / 高分解能マルチプローブ技術 / 走査ゲート顕微鏡 / AFMポテンショメトリー / 表面電位計測 / 3次元フォースマップ / 誘電泳動 / 密度勾配遠心分離 / 高分解能マルチプローブAFM / 周波数変調(FM)検出法 / ケルビンプローブAFM / 原子間力顕微鏡(AFM) / カーボンナノチューブ / ナノ材料 / ナノ加工 / 真空紫外 / 微細組立 / 自己集積化単分子膜 / ナノ粒子 / リソグラフィ / 微細加工 隠す
  • 研究課題

    (10件)
  • 研究成果

    (68件)
  • 共同研究者

    (22人)
  •  周波数シフトテラヘルツ波による建築物非破壊診断の応用展開

    • 研究代表者
      水津 光司
    • 研究期間 (年度)
      2022 – 2026
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 審査区分
      中区分25:社会システム工学、安全工学、防災工学およびその関連分野
    • 研究機関
      千葉工業大学
  •  周波数シフトテラヘルツ波による建築物非破壊診断

    • 研究代表者
      水津 光司
    • 研究期間 (年度)
      2018 – 2020
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 審査区分
      中区分25:社会システム工学、安全工学、防災工学およびその関連分野
    • 研究機関
      千葉工業大学
  •  ワイドバンドギャップ・パワー半導体を用いた高速スイッチング電源の開発研究代表者

    • 研究代表者
      佐藤 宣夫
    • 研究期間 (年度)
      2014 – 2016
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      電力工学・電力変換・電気機器
    • 研究機関
      千葉工業大学
  •  走査型プローブ顕微鏡によるタリウム化合物のナノ空間変調構造の可視化

    • 研究代表者
      脇田 和樹
    • 研究期間 (年度)
      2014 – 2016
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      電子・電気材料工学
    • 研究機関
      千葉工業大学
  •  共振を利用したナノ・マイクロ機構の操作及び微小エネルギーの収集機構の開発

    • 研究代表者
      引原 隆士
    • 研究期間 (年度)
      2009 – 2011
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      電力工学・電力変換・電気機器
    • 研究機関
      京都大学
  •  FM検出型AFMに基づく超精密プローブ制御による光誘起相互作用力計測研究代表者

    • 研究代表者
      佐藤 宣夫
    • 研究期間 (年度)
      2008
    • 研究種目
      特定領域研究
    • 審査区分
      理工系
    • 研究機関
      京都大学
  •  赤外線照射下における周波数変調方式AFMによる高感度分子振動検出研究代表者

    • 研究代表者
      佐藤 宣夫
    • 研究期間 (年度)
      2008 – 2009
    • 研究種目
      若手研究(B)
    • 研究分野
      構造・機能材料
    • 研究機関
      京都大学
  •  単分子膜リソグラフィによる微細加工・微細組立

    • 研究代表者
      杉村 博之
    • 研究期間 (年度)
      2007 – 2010
    • 研究種目
      特定領域研究
    • 審査区分
      理工系
    • 研究機関
      京都大学
  •  新規ナノプローブ計測法によるカーボンナノチューブの電気・力学物性評価

    • 研究代表者
      山田 啓文
    • 研究期間 (年度)
      2007 – 2011
    • 研究種目
      特定領域研究
    • 審査区分
      理工系
    • 研究機関
      京都大学
  •  周波数変調方式AFMを用いた光誘起相互作用力計測に基づく近接場光検出研究代表者

    • 研究代表者
      佐藤 宣夫
    • 研究期間 (年度)
      2006 – 2007
    • 研究種目
      若手研究(B)
    • 研究分野
      薄膜・表面界面物性
    • 研究機関
      京都大学

すべて 2023 2022 2021 2020 2019 2018 2016 2015 2014 2010 2009 2008 2007 その他

すべて 雑誌論文 学会発表 図書 産業財産権

  • [図書] 有機デバイスのための界面評価と制御技術2009

    • 著者名/発表者名
      佐藤宣夫(分担)
    • 出版者
      シーエムシー出版
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20760469
  • [図書] 有機デバイスのための界面評価と制御技術2009

    • 著者名/発表者名
      佐藤宣夫(分担執筆)
    • 出版者
      シーエムシー出版
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20760469
  • [雑誌論文] ダウンコンバージョン法を用いた高周波磁場の計測と電流経路可視化2023

    • 著者名/発表者名
      角 真輝, 鶴岡 智彦, 田村 知孝, 佐藤 宣夫
    • 雑誌名

      電気学会論文誌D(産業応用部門誌)

      巻: 143 号: 3 ページ: 236-241

    • DOI

      10.1541/ieejias.143.236

    • ISSN
      0913-6339, 1348-8163
    • 年月日
      2023-03-01
    • 言語
      日本語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22H00249
  • [雑誌論文] 窒化ガリウム高電子移動度トランジスタの内部構造評価2022

    • 著者名/発表者名
      加藤 圭一郎, 山本 秀和, 佐藤 宣夫
    • 雑誌名

      電気学会論文誌E(センサ・マイクロマシン部門誌)

      巻: 142 号: 12 ページ: 316-324

    • DOI

      10.1541/ieejsmas.142.316

    • ISSN
      1341-8939, 1347-5525
    • 年月日
      2022-12-01
    • 言語
      日本語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22H00249
  • [雑誌論文] Evaluation of silicon carbide Schottky barrier diode within guard ring by multifunctional scanning probe microscopy2020

    • 著者名/発表者名
      Keita Nakayama, Sho Masuda, Nobuo Satoh and Hidekazu Yamamoto
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 59 号: SN ページ: SN1014-SN1014

    • DOI

      10.35848/1347-4065/ab9629

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H03827
  • [雑誌論文] Cross-sectional observation in nanoscale for Si power MOSFET by atomic force microscopy/Kelvin probe force microscopy/scanning capacitance force microscopy2019

    • 著者名/発表者名
      Atsushi Doi, Mizuki Nakajima, Sho Masuda, Nobuo Satoh and Hidekazu Yamamoto
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 58 号: SI ページ: SIIA04-SIIA04

    • DOI

      10.7567/1347-4065/ab1642

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H03827
  • [雑誌論文] Terahertz imaging for multiple reflectors using time-domain correlating synthesis method2018

    • 著者名/発表者名
      Kazuma Sato, Ryo Toh and Koji Suizu
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 57 号: 12 ページ: 122502-122502

    • DOI

      10.7567/jjap.57.122502

    • NAID

      210000149858

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H03827
  • [雑誌論文] Investigation of the depletion layer by scanning capacitance force microscopy with Kelvin probe force microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      T. Uruma, N. Satoh and H. Yamamoto
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 55 号: 8S1 ページ: 08NB10-08NB10

    • DOI

      10.7567/jjap.55.08nb10

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420246
  • [雑誌論文] 走査型プローブ顕微鏡によるサファイア基板上窒化ガリウム層の表面形状及び表面電位観測2016

    • 著者名/発表者名
      潤間 威史, 佐藤 宣夫, 石川 博康
    • 雑誌名

      電気学会論文誌E(センサ・マイクロマシン部門誌)

      巻: 136 号: 4 ページ: 96-101

    • DOI

      10.1541/ieejsmas.136.96

    • NAID

      130005141444

    • ISSN
      1341-8939, 1347-5525
    • 言語
      日本語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420246
  • [雑誌論文] Optical and mechanical detection of near-field light by atomic force microscopy using a piezoelectric cantilever2016

    • 著者名/発表者名
      N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 55 号: 8S1 ページ: 08NB04-08NB04

    • DOI

      10.7567/jjap.55.08nb04

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420246
  • [雑誌論文] Surface Potential Investigation of Fullerene Derivative Film on Platinum Electrode under UV Irradiation by Kelvin Probe Force Microscopy Using a Piezoelectric Cantilever2015

    • 著者名/発表者名
      N. Satoh, S. Katori, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige, H. Yamada
    • 雑誌名

      e-Journal of Surface Science and Nanotechnology

      巻: 13 号: 0 ページ: 102-106

    • DOI

      10.1380/ejssnt.2015.102

    • NAID

      130004933845

    • ISSN
      1348-0391
    • 言語
      英語
    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420246
  • [雑誌論文] 直下入射方式の光てこ変位検出によるツインプローブ原子間力顕微鏡2015

    • 著者名/発表者名
      佐藤 宣夫, 常見 英加, 小林 圭, 小松原 隆司, 樋口 誠司, 松重 和美, 山田 啓文
    • 雑誌名

      電気学会論文誌E(センサ・マイクロマシン部門誌)

      巻: 135 号: 4 ページ: 135-141

    • DOI

      10.1541/ieejsmas.135.135

    • NAID

      130005061969

    • ISSN
      1341-8939, 1347-5525
    • 言語
      日本語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420246
  • [雑誌論文] Surface Potential Measurement of Fullerene Derivative/Copper Phthalocyanine on Indium Tin Oxide Electrode by Kelvin Probe Force Microscopy2015

    • 著者名/発表者名
      N. Satoh, M. Yamaki, K. Noda, S. Katori, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada
    • 雑誌名

      pn. J. Appl. Phys.

      巻: 54 号: 8S1 ページ: 08KF06-08KF06

    • DOI

      10.7567/jjap.54.08kf06

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420246, KAKENHI-PROJECT-25286057
  • [雑誌論文] CdS:O薄膜のナノ構造の評価2015

    • 著者名/発表者名
      中嶋将大, 浅葉亮, 鈴木昭典, 佐藤宣夫, 脇田和樹, 沈用球, Kh. Khalilova, N. Mamedov, A. Bayramov, E. Huseynov
    • 雑誌名

      平成26年度応用物理学会 多元系化合物・太陽電池研究会成果報告集

      巻: 27

    • オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420278
  • [雑誌論文] Surface Potential Measurement of Organic Multi-layered Films on Electrodes by Kelvin Probe Force Microscopy2015

    • 著者名/発表者名
      N. Satoh, S. Katori, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada
    • 雑誌名

      IEICE TRANSACTIONS on Electronics

      巻: E98-C ページ: 91-97

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420246
  • [雑誌論文] Study of nano-crystals in CdS:O thin films by Kelvin probe force microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      M. Nakajima, R. Asaba, A. Suzuki, N. Sato, Y. Shim, K. Wakita, Kh. Khalilova, N. Mamedov, A. Bayramov, and E. Huseynov
    • 雑誌名

      Technical digest of the 6th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion

      巻: 24

    • オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420278
  • [雑誌論文] Scanning near-field optical microscopy system based on frequency-modulation atomic force microscopy using a piezoelectric cantilever2014

    • 著者名/発表者名
      N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige, H. Yamada
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys.

      巻: 53 号: 12 ページ: 125201-125201

    • DOI

      10.7567/jjap.53.125201

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420246
  • [雑誌論文] Surface Potential Measurement of Fullerene/Copper Phthalocyanine Films on Indium Tin Oxide Electrode by Kelvin Probe Force Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      N. Satoh, S. Katori, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys.

      巻: 53 号: 5S1 ページ: 05FY03-05FY03

    • DOI

      10.7567/jjap.53.05fy03

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420246
  • [雑誌論文] Observation of Two Peculiar Types of Electronic Dispersive Structures in Thallium Selenide Studied by Angle-Resolved Photoemission Spectroscopy2014

    • 著者名/発表者名
      S. Motonami, M. Arita, H. Anzai, K. Wakita, S. Hamidov, Z. Jahangirli, Y. Taguchi, H. Namatame, M. Taniguchi, G. Orudzhev, N. Mamedov, and K. Mimura
    • 雑誌名

      Journal of the Physical Society of Japan (Letters)

      巻: 83 号: 5 ページ: 053707-053707

    • DOI

      10.7566/jpsj.83.053707

    • NAID

      210000133066

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24540381, KAKENHI-PROJECT-26420278
  • [雑誌論文] Multi-probe atomic force microscopy using piezoelectric cantilevers2007

    • 著者名/発表者名
      N. Satoh, E. Tsunemi, Y. Miyato, K. Kobayashi, S. Watanabe, K. Matsushige, H. Yamada
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics 46

      ページ: 5543-5547

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18760030
  • [産業財産権] 走査型プローブ顕微鏡の出力処理方法および走査型プローブ顕微鏡2008

    • 発明者名
      常見英加, 佐藤宣夫, 小林圭, 山田啓文, 松重和美
    • 権利者名
      常見英加, 佐藤宣夫, 小林圭, 山田啓文, 松重和美
    • 出願年月日
      2008-12-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20760469
  • [学会発表] パルス幅変調方式を用いたDC-DCコンバータの磁場計測による電流経路可視化2023

    • 著者名/発表者名
      角 真輝,長嶋一真,田村知孝,佐藤宣夫
    • 学会等名
      電気学会全国大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22H00249
  • [学会発表] 原子間力顕微鏡1自由度モデルにおける周波数応答特性の理論解導出に関する一検討2023

    • 著者名/発表者名
      吉田崚人,佐藤宣夫,清水邦康
    • 学会等名
      電子情報通信学会 非線形問題研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22H00249
  • [学会発表] チタン酸バリウム系積層セラミックコンデンサの劣化解析に向けたSCFMによるキャリア分布観測2023

    • 著者名/発表者名
      角 真輝,大山 祐生,佐藤 宣夫
    • 学会等名
      第84回応用物理学会秋季学術講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22H00249
  • [学会発表] 多機能走査型プローブ顕微鏡を用いた直流電流起因磁場観測2023

    • 著者名/発表者名
      大山 祐生,角 真輝,佐藤 宣夫
    • 学会等名
      第84回応用物理学会秋季学術講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22H00249
  • [学会発表] FM-AFM/KFM/SCFMによるSiC製プレーナ型パワーMOSFETのナノスケール観測2022

    • 著者名/発表者名
      増田 匠,土井敦史,山本秀和,佐藤宣夫
    • 学会等名
      電気学会 産業応用部門大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22H00249
  • [学会発表] ダウンコンバージョン法と電流経路可視化技術によるアルミ電解コンデンサの定量劣化評価に向けた一検討2022

    • 著者名/発表者名
      長嶋一真,角 真輝,田村知孝,佐藤宣夫
    • 学会等名
      電気学会 産業応用部門大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22H00249
  • [学会発表] 走査型プローブ顕微鏡を用いたSiC製パワー半導体デバイスのナノスケール観測2021

    • 著者名/発表者名
      土井敦史,田中一光,佐藤宣夫,山本秀和
    • 学会等名
      令和3年電気学会全国大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H03827
  • [学会発表] 走査型プローブ顕微鏡用の電圧フィードバック制御回路の小型化とその周波数特性2021

    • 著者名/発表者名
      山田晃嵩,土井敦史,佐藤宣夫
    • 学会等名
      令和3年電気学会全国大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H03827
  • [学会発表] 走査型プローブ顕微鏡を用いた焦電素子のナノスケール観測2021

    • 著者名/発表者名
      出口雄一,佐藤宣夫
    • 学会等名
      令和3年電気学会全国大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H03827
  • [学会発表] Investigation of power semiconductor devices under applying voltage by multi-purpose scanning probe microscope2020

    • 著者名/発表者名
      N. Satoh, A. Doi, H. Yamamoto
    • 学会等名
      IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in ASIA 2020 (WiPDA-Asia)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H03827
  • [学会発表] Evaluation of internal structure of GaN high electron mobility transistor2020

    • 著者名/発表者名
      K. Kato, K. Nakayama, N. Satoh, H. Yamamoto
    • 学会等名
      28th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM28)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H03827
  • [学会発表] 走査型プローブ顕微鏡によるパワー半導体素子内部構造の観測2019

    • 著者名/発表者名
      土井敦史,増田翔,佐藤宣夫,山本秀和
    • 学会等名
      2019年電気学会 産業応用部門大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H03827
  • [学会発表] Observation of power semiconductor devices on cross-sectional surface by scanning probe microscope2019

    • 著者名/発表者名
      A. Doi, N. Satoh, H. Yamamoto, Y.M iyato, H. Nozaki, H. Nakamoto, and Y. Terui
    • 学会等名
      32nd International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC2019)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H03827
  • [学会発表] 電圧フィードバック制御回路の製作とその評価2019

    • 著者名/発表者名
      山田晃嵩,土井敦史,佐藤宣夫
    • 学会等名
      令和2年 電気学会全国大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H03827
  • [学会発表] Nanoscale observation of power semiconductor devices in operation state by scanning probe microscope2019

    • 著者名/発表者名
      K. Nakayama, S. Masuda, N. Satoh, and H. Yamamoto
    • 学会等名
      27th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM27)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H03827
  • [学会発表] 相関合成法を用いたテラヘルツ波イメージングにおける多重反射波の影響について2018

    • 著者名/発表者名
      佐藤数馬、陶良、水津光司
    • 学会等名
      電子情報通信学会超音波研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H03827
  • [学会発表] Near-field Light Detection as photo-induced force by Atomic Force Microscopy with Frequency Modulation2016

    • 著者名/発表者名
      N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada
    • 学会等名
      24th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM24)
    • 発表場所
      Hawaii(米国)
    • 年月日
      2016-12-14
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420246
  • [学会発表] Flyback Converter Using SiC Power-MOSFET to Achieve High Frequency Operation Over 10MHz2016

    • 著者名/発表者名
      Nobuo Satoh, Yasuyuki Nishida
    • 学会等名
      International Symposium on Nonlinear Theory and its Applications (NOLTA2016)
    • 発表場所
      Yugawara(静岡県熱海市)
    • 年月日
      2016-11-28
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420246
  • [学会発表] 走査型プローブ顕微鏡によるSapphire 基板上GaNの観測2015

    • 著者名/発表者名
      潤間威史,佐藤宣夫,石川博康
    • 学会等名
      平成27年電気学会全国大会
    • 発表場所
      東京都市大学(東京都世田谷区)
    • 年月日
      2015-03-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420246
  • [学会発表] Optical and Mechanical Detection of Near-field Light by Atomic Force Microscopy using a Piezoelectric Cantilever2015

    • 著者名/発表者名
      N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe,T. Fujii, K. Matsushige, H. Yamada
    • 学会等名
      23rd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM23)
    • 発表場所
      ヒルトンニセコビレッジホテル (北海道虻田郡ニセコ町)
    • 年月日
      2015-12-10
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420246
  • [学会発表] リチウムイオン電池に対する電気二重層キャパシタおよびアルミ電解コンデンサの併用に関する検討2015

    • 著者名/発表者名
      牛崎 拓,佐藤宣夫
    • 学会等名
      平成27年電気学会全国大会
    • 発表場所
      東京都市大学(東京都世田谷区)
    • 年月日
      2015-03-24
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420246
  • [学会発表] First-principles study of incommensurate phase in TlInSe2 and TlInS22015

    • 著者名/発表者名
      Masato Ishikawa, Takahashi Nakayama, Kazuki Wakita, Nazim Mamedov
    • 学会等名
      International Conference on Thermoelectric Materials Science 2015
    • 発表場所
      名古屋大学 (愛知県名古屋市)
    • 年月日
      2015-11-09
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420278
  • [学会発表] Surface Potential Measurement ofα-NPD Thin Film Fabricated by Mist-Vapor Deposition and Vacuum Evaporation Methods2015

    • 著者名/発表者名
      S. Katori, A. Odaka, T. Uruma, N. Satoh
    • 学会等名
      Eighth International Conference on Molecular Electronics and Bioelectronics (M&BE8)
    • 発表場所
      タワーホール船堀 (東京都江東区)
    • 年月日
      2015-06-22
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420246
  • [学会発表] First-principles study of Nanostructure of TlInSe22015

    • 著者名/発表者名
      Masato Ishikawa, Takahashi Nakayama, Kazuki Wakita, Nazim Mamedov
    • 学会等名
      European Materials Research Society 2015 Fall Meeting, Symposium A: materials for Energy storage and conversion
    • 発表場所
      Warsaw, Poland
    • 年月日
      2015-09-15
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420278
  • [学会発表] Development of Multi-Probe Atomic Force Microscope and Probe Interaction2015

    • 著者名/発表者名
      Nobuo Satoh
    • 学会等名
      2015 International Symposium on Nonlinear Theory and its Applications (NOLTA2015)
    • 発表場所
      Hong Kong (China)
    • 年月日
      2015-12-03
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420246
  • [学会発表] Observation of the Schottky barrier diode under applied bias voltage with Kelvin probe force microscopy2015

    • 著者名/発表者名
      T. Uruma, N. Satoh
    • 学会等名
      23rd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM23)
    • 発表場所
      ヒルトンニセコビレッジホテル (北海道虻田郡ニセコ町)
    • 年月日
      2015-12-10
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420246
  • [学会発表] A Flyback Converter using Power MOSFET to Achieve High Frequency Operation beyond 13.56MHz2015

    • 著者名/発表者名
      N. Satoh, H. Otake, T. Nakamura, T. Hikihara
    • 学会等名
      The 41st Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society (IECON2015)
    • 発表場所
      パシフィコ横浜 (神奈川県横浜市)
    • 年月日
      2015-11-10
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420246
  • [学会発表] CdS:O薄膜のナノ構造の評価2014

    • 著者名/発表者名
      中嶋将大, 浅葉亮, 鈴木昭典, 佐藤宣夫, 脇田和樹, 沈用球, Kh. Khalilova, N. Mamedov, A. Bayramov, E. Huseynov
    • 学会等名
      平成26年度応用物理学会 多元系化合物・太陽電池研究会年末講演会
    • 発表場所
      龍谷大学 (京都府京都市)
    • 年月日
      2014-11-28
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420278
  • [学会発表] リチウムイオン電池に対する電気二重層キャパシタおよびアルミ電解コンデンサの併用効果の検討2014

    • 著者名/発表者名
      牛崎 拓,佐藤宣夫
    • 学会等名
      平成26年電気学会 産業応用部門大会
    • 発表場所
      東京電機大学(東京都足立区)
    • 年月日
      2014-08-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420246
  • [学会発表] High-speed switching operation of wide band-gap semiconductor and its circuit application2014

    • 著者名/発表者名
      Nobuo Satoh
    • 学会等名
      International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM2014)
    • 発表場所
      つくば国際会議場(茨城県つくば市)
    • 年月日
      2014-09-08
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420246
  • [学会発表] FM-DFM/KFMを用いた有機分子積層膜の表面電位計測2010

    • 著者名/発表者名
      佐藤宣夫
    • 学会等名
      第57回 応用物理学関係連合講演会
    • 発表場所
      東海大学(神奈川県)
    • 年月日
      2010-03-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20760469
  • [学会発表] FM-DFM/KFMを用いた有機分子積層膜の表面電位計測2010

    • 著者名/発表者名
      佐藤宣夫, 香取重尊, 小林圭, 山田啓文, 松重和美
    • 学会等名
      第57回応用物理学関係連合講演会
    • 発表場所
      東海大学
    • 年月日
      2010-03-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20760469
  • [学会発表] 有機/無機複合型太陽電池のための表面電位観察2009

    • 著者名/発表者名
      佐藤宣夫, 山木理生, 香取尊重, 小林圭, 山田啓文, 松重和美
    • 学会等名
      平成21年電気学会全国大会
    • 発表場所
      北海道大学
    • 年月日
      2009-03-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20760469
  • [学会発表] Investigation of local surface properties by dynamic force microscopy using a piezo-electric cantilever2009

    • 著者名/発表者名
      Nobuo Satoh
    • 学会等名
      2009 MicRO Alliance in IMTEK
    • 発表場所
      Freiburg University
    • 年月日
      2009-07-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20760469
  • [学会発表] ツインプローブ原子間力顕微鏡の開発とプローブ間距離制御2009

    • 著者名/発表者名
      佐藤宣夫, 常見英加, 小林圭, 小松原隆司, 樋口誠司, 山田啓文, 松重和美
    • 学会等名
      平成21年電気関係学会関西支部連合大会
    • 発表場所
      大阪大学
    • 年月日
      2009-11-07
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20760469
  • [学会発表] Detection of Photo-induced Force by Frequency Modulation Detection-based Dynamic Force Microscopy2008

    • 著者名/発表者名
      Nobuo Satoh, Kei Kobayashi, Kazumi Matsushige, Hirofumi Yamada
    • 学会等名
      The 5th International Symposium on Surface Science and Nanotechnology
    • 発表場所
      Tokyo, Japan
    • 年月日
      2008-11-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20043018
  • [学会発表] Detection of Photo-induced Force by Frequency Modulation Detection-based Dynamic Force Microscopy2008

    • 著者名/発表者名
      Nobuo Satoh, Kei Kobayashi, Kazumi Matsushige, Hirofumi Yamada
    • 学会等名
      The 5th International Symposium on Surface Science and Nanotechnology
    • 発表場所
      早稲田大学
    • 年月日
      2008-11-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20760469
  • [学会発表] ツインプローブ原子間力顕微鏡の開発とその基本性能2008

    • 著者名/発表者名
      佐藤宣夫, 常見英加, 小林圭, 小松原隆司, 樋口誠司, 山田啓文, 松重和美
    • 学会等名
      平成20年電気関係学会関西支部連合大会
    • 発表場所
      京都工芸繊維大学
    • 年月日
      2008-11-09
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20760469
  • [学会発表] Local Electrical Measurement of Organic Thin Films with Two-probe AFM/ICFM2008

    • 著者名/発表者名
      E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada
    • 学会等名
      International Symposium on Surface Science and Nanotechnology (ISSS-5)
    • 発表場所
      Tokyo
    • 年月日
      2008-11-10
    • データソース
      KAKENHI-PLANNED-19054010
  • [学会発表] 金属電極に架橋したオリゴチオフェン分子薄膜のFM-KFM表面電位測定2008

    • 著者名/発表者名
      小野山有亮, 小林 圭, 佐藤宣夫, 松重和美, 山田啓文
    • 学会等名
      2008年春季 第55回応用物理学関係連合講演会
    • 発表場所
      日本大学
    • 年月日
      2008-03-28
    • データソース
      KAKENHI-PLANNED-19054010
  • [学会発表] Investigation of local surface potential on highly ordered organic semiconductor film2007

    • 著者名/発表者名
      Y. Onoyama, K. Kobayashi, N. Satoh, K. Matsushige, H. Yamada
    • 学会等名
      Korea-Japan Joint Forum 2007 (KJF 2007)
    • 発表場所
      Seoul, Korea
    • 年月日
      2007-09-27
    • データソース
      KAKENHI-PLANNED-19054010
  • [学会発表] Local surface potential measurements of oligothiophene molecular films connected to nano-gap metallic electrodes by Kelvin probe force microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      N. Satoh, Y. Onoyama, K. Kaisei, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada
    • 学会等名
      CREST Workshop on Molecular Nano-Electronic Devices
    • 発表場所
      Kyoto, Japan
    • 年月日
      2007-11-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18760030
  • [学会発表] Local Surface Potential Measurements on Oligothiophene Molecular Films between Metallic Electrodes by Kelvin Probe Force Microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      Y. Onoyama, K. Kobayashi, N. Satoh, K. Matsushige and H. Yamada
    • 学会等名
      15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    • 発表場所
      Atagawa, Japan
    • 年月日
      2007-12-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18760030
  • [学会発表] Surface potentials of PCBM molecular films under light irradiation investigated by FM-DFM/KFM2007

    • 著者名/発表者名
      M. Yamaki, N. Satoh, S. Katori, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada
    • 学会等名
      15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    • 発表場所
      Atagawa, Japan
    • 年月日
      2007-12-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18760030
  • [学会発表] Development of multi-probe AFM with optical beam deflection method2007

    • 著者名/発表者名
      E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada
    • 学会等名
      Materials Research Society Fall Meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      2007-11-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18760030
  • [学会発表] 可視光入射によるFM-DFM/KFMを用いた有機分子薄膜の表面電位計測2007

    • 著者名/発表者名
      佐藤宣夫, 山木理生, 香取重尊, 小林 圭, 藤田静雄, 松重和美, 山田啓文
    • 学会等名
      第68回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      Sapporo, Japan
    • 年月日
      2007-09-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18760030
  • [学会発表] Study of nano-crystals in CdS:O thin films by Kelvin probe force microscopy

    • 著者名/発表者名
      M. Nakajima, R. Asaba, A. Suzuki, N. Sato, Y. Shim, K. Wakita, Kh. Khalilova, N. Mamedov, A. Bayramov, and E. Huseynov
    • 学会等名
      The 6th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion
    • 発表場所
      Kyoto, Japan (京都国際会館)
    • 年月日
      2014-11-23 – 2014-11-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26420278
  • 1.  水津 光司 (20342800)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 2件
  • 2.  長 敬三 (00633356)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 2件
  • 3.  内海 秀幸 (10316804)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 4.  中林 寛暁 (20296320)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 5.  枚田 明彦 (40500674)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 6.  陶 良 (60327161)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 8件
  • 7.  杉村 博之 (10293656)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 8.  邑瀬 邦明 (30283633)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 9.  一井 崇 (30447908)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 10.  山田 啓文 (40283626)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 3件
  • 11.  小林 圭 (40335211)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 3件
  • 12.  野田 啓 (30372569)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 13.  宮戸 祐治 (80512780)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 14.  引原 隆士 (70198985)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 15.  山末 耕平 (70467455)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 16.  脇田 和樹 (80201151)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 6件
  • 17.  石田 謙司 (20303860)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 18.  三村 功次郎 (40305652)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 1件
  • 19.  沈 用球 (20336803)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 4件
  • 20.  石原 沙織 (00589046)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 21.  石川 真人
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 2件
  • 22.  MAMEDOV Nazim
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 6件

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