史又華 SHI Youhua

研究者番号	70409655
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所属 (現在)	2025年度: 早稲田大学, 理工学術院, 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2018年度 – 2020年度: 早稲田大学, 理工学術院, 教授 2015年度 – 2016年度: 早稲田大学, 理工学術院, 准教授 2012年度 – 2014年度: 早稲田大学, 高等研究所, 准教授 2011年度: 早稲田大学, 理工学術院, 助教 2008年度 – 2009年度: 早稲田大学, IT研究機構, 講師 2007年度: 早稲田大学, 理工学術院, 助手
審査区分/研究分野	研究代表者計算機システム・ネットワーク / 小区分60040:計算機システム関連 / 計算機システム研究代表者以外電子デバイス・電子機器
キーワード	研究代表者ディペンダブルコンピューティング / LSI設計 / 自立電源 / 圧電素子 / エネルギーハーベスティング回路 / 自電源回路 / 低周波 / 広帯域 / 高効率インターフェース回路 / 振動発電 … もっと見る / 広帯域化 / 自己駆動型スイッチング制御回路 / インターフェース回路 / Energy harvesting / Energy Harvesting / 低消費エネルギー / ばらつき耐性 / LSI設計技術 / タイミングエラー / 信頼化設計 / ソフトエラー / 製造ばらつき / 高信頼化 / VLSI 設計技術とCAD / VLSI設計技術とCAD / 遅延解析 / 低消費電力化 / 高信頼設計 / 低消費電力設計 / 過剰テスト / 合成システム / タイミング解析 / テストアーキテクチャ / テスト設計 / システムLSIテスト / フォールスパス解析 / 設計自動化システム / 回路設計・CAD / VLSI設計技術 / 回路とシステム / 設計自動化 … もっと見る研究代表者以外 SD-SFF / スキャンベース攻撃 / 暗号処理LSI / スキャンチェイン / テスト容易化設計 / LSI設計隠す

高効率な自立電源エネルギーハーベスティング回路の研究開発研究代表者
- 研究代表者
  
  史又華
- 研究期間 (年度)
  2018 – 2020
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  早稲田大学
タイミングエラー予測によるばらつき耐性を有するLSI設計技術に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  史又華
- 研究期間 (年度)
  2014 – 2016
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  早稲田大学
超低消費電力設計における遅延テスト設計技術に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  史又華
- 研究期間 (年度)
  2011 – 2013
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  早稲田大学
暗号処理向け組み込みLSIとそのテスト設計環境の構築
- 研究代表者
  
  柳澤政生
- 研究期間 (年度)
  2009 – 2011
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  電子デバイス・電子機器
- 研究機関
  早稲田大学
フォールパス自動検出および過剰テスト緩和の合成システムに関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  史又華
- 研究期間 (年度)
  2007 – 2009
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  早稲田大学

すべて 2019 2018 2017 2016 2015 2014 2013 2012 2010 2009 2008 2007

すべて雑誌論文学会発表産業財産権

[雑誌論文] Timing monitoring paths selection for wide voltage IC2016
- 著者名/発表者名
  Weiwei Shan, Wentao Dai, Youhua Shi, Peng Cao, and Xiaoyan Xiang
- 雑誌名
  
  IEICE Electronics Express
  
  巻: 13 号: 8 ページ: 20160095-20160095
- DOI
  10.1587/elex.13.20160095
- NAID
  130005147724
- ISSN
  1349-2543
- 言語
  英語
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330073
[雑誌論文] An Effective Suspicious Timing-Error Prediction Circuit Insertion Algorithm Minimizing Area Overhead2015
- 著者名/発表者名
  Shinnosuke Yoshida, Youhua Shi, Masao Yanagisawa and Nozomu Togawa
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
  
  巻: E98.A 号: 7 ページ: 1406-1418
- DOI
  10.1587/transfun.E98.A.1406
- NAID
  130005085793
- ISSN
  0916-8508, 1745-1337
- 言語
  英語
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330073
[雑誌論文] Floorplan Driven Architecture and High-level Synthesis Algorithm for Dynamic Multiple Supply Voltages2013
- 著者名/発表者名
  Shin-ya Abe, Youhua Shi, Kimiyoshi Usami, Masao Yanagisawa, and Nozomu Togawa
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
  
  巻: vol.E96-A, no.12 ページ: 2597-2611
- NAID
  130003385313
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[雑誌論文] Rubust Secure Scan Design against Scan-Based Differential Cryptanalysis2012
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
- 雑誌名
  
  IEEE Trans.on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
  
  巻: 20 号: 3 ページ: 176-181
- DOI
  10.1109/tvlsi.2012.2187408
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21560370
[雑誌論文] MH<sup>4</sup> : multiple-supply-voltages aware high-level synthesis for high-integrated and high-frequency circuits for HDR architectures2012
- 著者名/発表者名
  Shin-ya Abe, Youhua Shi, Masao Yanagisawa, Nozomu Togawa
- 雑誌名
  
  IEICE Electronics Express
  
  巻: 9 号: 17 ページ: 1414-1422
- DOI
  10.1587/elex.9.1414
- NAID
  130001921526
- ISSN
  1349-2543
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[雑誌論文] Robust Secure Scan Design against Scan-based Differential Cryptanalysis2012
- 著者名/発表者名
  Y. Shi
- 雑誌名
  
  IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems (TVLSI)
  
  巻: 20 号: 1 ページ: 176-181
- DOI
  10.1109/tvlsi.2011.2120635
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[雑誌論文] Rubust Secure Scan Design against Scan-Based Differential Cryptanalysis2012
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, and Tatsuo Ohtsuki
- 雑誌名
  
  IEEE Trans. on Very Large Scale Integration(VLSI) Systems
  
  巻: vol.20, no.1 ページ: 176-181
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21560370
[雑誌論文] X-Handling for Current X-Tolerant Compactors with More Unknowns and Maximal Compaction2009
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. on Fundamentals of Electronics Communications and Computer Science Vol.E92-A, No.12
  
  ページ: 3119-3127
- NAID
  10026861520
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19700045
[雑誌論文] X-Handling for Current X-Tolerant Compactors with More Unknowns and Maximal Compaction2009
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. on Fundamentals of Electronics Communications and Computer Science Vol.E92-A,No.12
  
  ページ: 3119-3127
- NAID
  10026861520
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19700045
[雑誌論文] A Unified Test Compression Technique for Scan Stimulus and Unknown Masking Data with No Test Loss2008
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, and Tatsuo Ohtsuki
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. on Fundamentals of Elebtronics Communications and Computer Science Vol E91-A, No.12
  
  ページ: 3514-3523
- NAID
  10026853923
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19700045
[雑誌論文] A Secure Test Technique for Pipelined Advanced Encryption Standard2008
- 著者名/発表者名
  Y. Shi, N. Togawa, N. Yanagisawa and T. Ohtsuki
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics Communications and Computer Science E91-D, 3
  
  ページ: 776-780
- NAID
  10026802210
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19700045
[雑誌論文] A Secure Test Technique for Pipelined Advanced Encryption Standard2008
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. on Fundamentals of Electronics Communications and Computer Science Vol.E91-D,No.3
  
  ページ: 776-780
- NAID
  10026802210
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19700045
[雑誌論文] A Unified Test Compression Technique for Scan Stimulus and Unknown Masking Data with No Test Loss2008
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. on Fundamentals of Electronics Communications and Computer Science Vol.E91-A,No.12
  
  ページ: 3514-3523
- NAID
  10026853923
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19700045
[産業財産権] 信号処理装置および信号処理方法2014
- 発明者名
  史又華、戸川望、柳澤政生、五十嵐博昭
- 権利者名
  学校法人早稲田大学
- 産業財産権種類
  特許
- 出願年月日
  2014-02-18
- 外国
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[産業財産権] 信号処理装置および信号処理方法2014
- 発明者名
  史又華, 戸川望, 柳澤政生，五十嵐博昭
- 権利者名
  史又華, 戸川望, 柳澤政生，五十嵐博昭
- 産業財産権種類
  特許
- 出願年月日
  2014-02-18
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[産業財産権] 信号処理装置および信号処理方法2013
- 発明者名
  史又華、戸川望、柳澤政生、五十嵐博昭
- 権利者名
  学校法人早稲田大学
- 産業財産権種類
  特許
- 産業財産権番号
  2013-037620
- 出願年月日
  2013-02-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[学会発表] Static Error Analysis and Optimization of Faithfully Truncated Adders for Area-Power Efficient FIR Designs2019
- 著者名/発表者名
  J. Ye, N. Togawa, M. Yanagisawa and Y. Shi
- 学会等名
  IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11227
[学会発表] 低周波圧電エネルギーハーベスティングにおけるMOSs SP-SSHI手法2018
- 著者名/発表者名
  杉山貴紀, 戸川望, 柳澤政生, 史又華
- 学会等名
  電子情報通信学会第31回回路とシステムワークショップ
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11227
[学会発表] 最大エラー距離に基づくGeAr回路の最適化2017
- 著者名/発表者名
  早水謙, 戸川望, 柳澤政生, 史又華
- 学会等名
  回路とシステムワークショップ
- 発表場所
  北九州国際会議場
- 年月日
  2017-05-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330073
[学会発表] C-element を用いたソフトエラー耐性をもつSHCラッチの設計2017
- 著者名/発表者名
  田島咲季, 史又華, 戸川望, 柳澤政生
- 学会等名
  回路とシステムワークショップ
- 発表場所
  北九州国際会議場
- 年月日
  2017-05-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330073
[学会発表] 内部ノードを利用したソフトエラー検出ラッチの設計2017
- 著者名/発表者名
  中垣直道, 戸川望, 柳澤政生, 史又華
- 学会等名
  回路とシステムワークショップ
- 発表場所
  北九州国際会議場
- 年月日
  2017-05-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330073
[学会発表] 高速かつ低電力なソフトエラー耐性をもつFast-SEHラッチの設計2016
- 著者名/発表者名
  田島咲季, 史又華, 戸川望, 柳澤政生
- 学会等名
  回路とシステムワークショップ
- 発表場所
  北九州国際会議場
- 年月日
  2016-05-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330073
[学会発表] 15nmプロセスにおける低電力な耐ソフトエラーラッチの設計2015
- 著者名/発表者名
  田島咲季, 史又華, 戸川望, 柳澤政生
- 学会等名
  デザインガイア2015
- 発表場所
  長崎県勤労福祉会館
- 年月日
  2015-12-02
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330073
[学会発表] An effective robust design using improved monitoring-path selection algorithm for suspicious timing error prediction2015
- 著者名/発表者名
  Shinnosuke Yoshida, Youhua Shi, Masao Yanagisawa, and Nozomu Togawa
- 学会等名
  IEEE International Conference on ASIC (ASICON)
- 発表場所
  Chengdu, China
- 年月日
  2015-11-05
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330073
[学会発表] A low-power soft error tolerant latch scheme2015
- 著者名/発表者名
  Saki Tajima, Youhua Shi, Nozomu Togawa, and Masao Yanagisawa
- 学会等名
  IEEE International Conference on ASIC (ASICON)
- 発表場所
  Chengdu, China
- 年月日
  2015-11-04
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330073
[学会発表] A universal delay line circuit for variation resilient IC with self-calibrated time-to-digital converter2015
- 著者名/発表者名
  Shuai Shao, Youhua Shi, Wentao Dai, Jianyi Meng and Weiwei Shan
- 学会等名
  IEEE Conference on Electron Devices and Solid-State Circuits (EDSSC)
- 発表場所
  Singapore
- 年月日
  2015-06-02
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330073
[学会発表] 低電力耐ソフトエラーラッチの設計2015
- 著者名/発表者名
  田島咲季, 史又華, 戸川望, 柳澤政生
- 学会等名
  VLD研究会
- 発表場所
  沖縄県青年会館
- 年月日
  2015-03-03
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330073
[学会発表] DTMOSを用いたサブスレッショルド回路の高速化設計2014
- 著者名/発表者名
  福留祐治, 史又華, 戸川望, 宇佐美公良, 柳澤政生
- 学会等名
  デザインガイア
- 発表場所
  ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター）
- 年月日
  2014-11-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330073
[学会発表] InTimeTune: A Throughput Driven Timing Speculation Architecture for Overscaled Designs2014
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Hiroaki Igarashi, Nozomu Togawa, and Masao Yanagisawa
- 学会等名
  ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference，Work-in-process session
- 発表場所
  San Francisco, CA, USA
- 年月日
  2014-06-04
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330073
[学会発表] In-situ Timing Monitoring Methods for Variation-Resilient Designs2014
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi and Nozomu Togawa
- 学会等名
  IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS)
- 発表場所
  Ishigaki, Okinawa, Japan
- 年月日
  2014-11-20
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330073
[学会発表] サブスレッショルド回路における遅延・エネルギーの温度依存性に関する実験および考察2014
- 著者名/発表者名
  櫛田浩樹, 史又華, 戸川望, 宇佐美公良, 柳澤政生
- 学会等名
  電子情報通信学会　VLSI設計技術研究会
- 発表場所
  沖縄県青年会館 (沖縄県那覇市)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[学会発表] InTimeTune: A Throughput Driven Timing Speculation Architecture for Overscaled Designs2014
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Hiroaki Igarashi, Nozomu Togawa, and Masao Yanagisawa
- 学会等名
  ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference
- 発表場所
  San Francisco, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[学会発表] InTimeTune : A Throughput Driven Timing Speculation Architecture for Overscaled Designs2014
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Hiroaki Igarashi, Nozomu Togawa, and Masao Yanagisawa
- 学会等名
  ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference
- 発表場所
  San Francisco, USA.(Work-in-process session (Poster))
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[学会発表] Throughput Driven Check Point Selection in Suspicious Timing Error Prediction based Designs2014
- 著者名/発表者名
  Hiroaki Igarashi, Youhua Shi, Masao Yanagisawa, and Nozomu Togawa
- 学会等名
  IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems
- 発表場所
  Santiago, Chile
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[学会発表] Throughput Driven Check Point Selection in Suspicious Timing Error Prediction based Designs2014
- 著者名/発表者名
  Hiroaki Igarashi, Youhua Shi, Masao Yanagisawa, and Nozomu Togawa
- 学会等名
  Proc. IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems (LASCAS)
- 発表場所
  Santiago, Chile
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[学会発表] An Area-Overhead-Oriented Monitoring-Path Selection Algorithm for Suspicious Timing Error Prediction2014
- 著者名/発表者名
  Shinnosuke Yoshida, Youhua Shi, Masao Yanagisawa, Nozomu Togawa
- 学会等名
  IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS)
- 発表場所
  Ishigaki, Okinawa, Japan
- 年月日
  2014-11-19
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330073
[学会発表] タイミングエラーへの耐性を持つフリップフロップ設計2014
- 著者名/発表者名
  鈴木大渡, 史又華, 戸川望, 宇佐美公良, 柳澤政生
- 学会等名
  デザインガイア
- 発表場所
  ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター）
- 年月日
  2014-11-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330073
[学会発表] サブスレッショルド回路における遅延・エネルギーの温度依存性に関する実験および考察2014
- 著者名/発表者名
  櫛田浩樹, 史又華, 戸川望, 宇佐美公良, 柳澤政生
- 学会等名
  信学技報
- 発表場所
  沖縄県青年会館
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[学会発表] Floorplan Driven architectures and High-level Synthesis algorithm for Dynamic Multiple Supply voltages2013
- 著者名/発表者名
  Shin-ya Abe, Youhua Shi, Kimiyoshi Usami, Masao Yanagisawa, and Nozomu Togawa
- 学会等名
  Work-in-process (Poster: #61.68), Design Automation Conference
- 発表場所
  Austin, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[学会発表] An Energy-efficient High-level Synthesis Algorithm Incorporating Interconnection Delays and Dynamic Multiple Supply Voltages2013
- 著者名/発表者名
  Shin-ya Abe, Youhua Shi, Kimiyoshi Usami, Masao Yanagisawa, and Nozomu Togawa
- 学会等名
  Proc. IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT)
- 発表場所
  Hsinchu, Taiwan(pp.54-57)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[学会発表] Suspicious Timing Error Detection and Recovery with In-Cycle Clock Gating2013
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Hiroaki Igarashi, Masao Yanagisawa, and Nozomu Togawa
- 学会等名
  Proc. IEEE International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
- 発表場所
  Santa Clara(pp.335-340)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[学会発表] チェックポイント観測によるタイミングエラー予測手法2013
- 著者名/発表者名
  五十嵐博昭,史又華,柳澤政生,戸川望
- 学会等名
  電子情報通信学会デザインガイア
- 発表場所
  鹿児島県文化センター(vol. 113, No.320, pp.39-44)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[学会発表] An Energy-efficient High-level Synthesis Algorithm Incorporating Interconnection Delays and Dynamic Multiple Supply Voltages2013
- 著者名/発表者名
  Shin-ya Abe, Youhua Shi, Kimiyoshi Usami, Masao Yanagisawa, and Nozomu Togawa
- 学会等名
  IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test
- 発表場所
  Hsinchu, Taiwan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[学会発表] Suspicious Timing Error Detection and Recovery with In-Cycle Clock Gating2013
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Hiroaki Igarashi, Masao Yanagisawa, and Nozomu Togawa
- 学会等名
  IEEE International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
- 発表場所
  Santa Clara, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[学会発表] Floorplan Driven Architectures and High-level Synthesis Algorithm for Dynamic Multiple Supply Voltages2013
- 著者名/発表者名
  Shin-ya Abe, Youhua Shi, Kimiyoshi Usami, Masao Yanagisawa, and Nozomu Togawa
- 学会等名
  ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference
- 発表場所
  Austin, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[学会発表] Predication based Timing Speculation Technique for Throughput Improvement2013
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Hiroaki Igarashi, Masao Yanagisawa, and Nozomu Togawa
- 学会等名
  Proc. International Conference on Integrated Circuits, Design, and Verification (ICDV)
- 発表場所
  Ho Chi Minh City, Vietnam(Invited Talk)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[学会発表] チェックポイント観測によるタイミングエラー予測手法2013
- 著者名/発表者名
  五十嵐博昭，史又華，柳澤政生，戸川望
- 学会等名
  電子情報通信学会デザインガイア
- 発表場所
  鹿児島県文化センター (鹿児島県鹿児島市)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[学会発表] Predication based Timing Speculation Technique for Throughput Improvement2013
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Hiroaki Igarashi, Masao Yanagisawa, and Nozomu Togawa
- 学会等名
  International Conference on Integrated Circuits, Design, and Verification
- 発表場所
  Ho Chi Minh City, Vietnam
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700065
[学会発表] State-dependent changeable scan architecture against scan-based side channel attacks2010
- 著者名/発表者名
  R.Nara, H.Atobe, Y.Shi, N.Togawa, M.Yanagisawa, T.Ohtsuki
- 学会等名
  IEEE ISCAS 2010
- 発表場所
  Paris, France
- 年月日
  2010-05-30
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21560370
[学会発表] Constant-scan-based attack and its countermeasure for crypto hardware implementations2010
- 著者名/発表者名
  Y.Shi, N.Togawa, M.Yanagisawa, T.Ohtsuki
- 学会等名
  情報処理学会DAシンポジウム2010
- 発表場所
  豊橋
- 年月日
  2010-09-02
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21560370
[学会発表] State-dependent Changeable Scan Architecture against Scan-based Side Channel Attacks2010
- 著者名/発表者名
  Ryuta Nara, Hiroshi Atobe, Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa and Tatsuo Ohtsuki
- 学会等名
  IEEE ISCAS 2010
- 発表場所
  Paris, France
- 年月日
  2010-05-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21560370
[学会発表] Constant-scan-based attack and its countermeasure for crypto hardware implementations2010
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa and Tatsuo Ohtsuki
- 学会等名
  情報処理学会DAシンポジウム2010
- 発表場所
  愛知県豊橋市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21560370
[学会発表] Design-for-Secure- Test for Crypto Cores2009
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
- 学会等名
  IEEE International Test Conference
- 発表場所
  Austin, USA
- 年月日
  2009-11-03
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19700045
[学会発表] Handling More X's Using Current X-Tolerant Compactors with Maximal Compaction2009
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
- 学会等名
  IEEE European Test Symposium (ETS)
- 発表場所
  Sevilla, SPAIN
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19700045
[学会発表] Design-for-Secure- Test for Crypto Cores2009
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
- 学会等名
  Proc. of IEEE International Test Conference (ITC)
- 発表場所
  Austin, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19700045
[学会発表] Handling More X' s Using Current X-Tolerant Cqnpactors with Maximal Compaction2009
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Nozomu Togawa, Nasao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
- 学会等名
  IEEE European Test Symposium
- 発表場所
  Sevilla, Spain
- 年月日
  2009-05-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19700045
[学会発表] X-Eliminator : A Technique to Mask All Unknown Responses with No Test Loss and Minimized Masking Data O verhead2008
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, and Tatsuo Ohtsuki
- 学会等名
  IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration
- 発表場所
  Rhodes, Greece
- 年月日
  2008-10-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19700045
[学会発表] X-Eliminator: A Technique to Mask All Unknown Responses with No Test Loss and Minimized Masking Data Overhead2008
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
- 学会等名
  Proc. of 16th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SOC)
- 発表場所
  Rhodes Island, Greece
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19700045
[学会発表] GECOM: Test Data Compression Combined with All Unknown Response Masking2008
- 著者名/発表者名
  Y. Shi, N. Togawa, M. Yanagisawa and T. Ohtsuki
- 学会等名
  IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference
- 発表場所
  Seoul, Korea
- 年月日
  2008-01-24
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19700045
[学会発表] GECOM: Test Data Compression Combined with All Unknown Response Masking2008
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
- 学会等名
  Proc. of IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)
- 発表場所
  Seoul, Korea
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19700045
[学会発表] Design for Secure Test - A Case Study on Pipelined Advanced Encryption Standard2007
- 著者名/発表者名
  Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
- 学会等名
  Proc. of IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
- 発表場所
  New Orleans, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19700045
[学会発表] CoDaMa: An XML-based Framework to Manipulate Control Data Flow Graphs2007
- 著者名/発表者名
  S. Kohara, Y. Shi, N. Togawa, M. Yanagisawa and T. Ohtsuki
- 学会等名
  Workshop on Synthesis and System Integration of Mixed Information technologies
- 発表場所
  Hokkaido, Japan
- 年月日
  2007-10-16
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19700045

1. 柳澤政生 (30170781)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
2. 奈良竜太 (30547047)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 2件
3. 佐藤政生

共同の研究課題数: 0件

共同の研究成果数: 6件

史 又華 SHI Youhua

研究課題

研究成果

共同研究者

高効率な自立電源エネルギーハーベスティング回路の研究開発研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

タイミングエラー予測によるばらつき耐性を有するLSI設計技術に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

超低消費電力設計における遅延テスト設計技術に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

暗号処理向け組み込みLSIとそのテスト設計環境の構築

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

フォールパス自動検出および過剰テスト緩和の合成システムに関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[雑誌論文] Timing monitoring paths selection for wide voltage IC2016

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

ISSN

言語

データソース

[雑誌論文] An Effective Suspicious Timing-Error Prediction Circuit Insertion Algorithm Minimizing Area Overhead2015

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

ISSN

言語

データソース

[雑誌論文] Floorplan Driven Architecture and High-level Synthesis Algorithm for Dynamic Multiple Supply Voltages2013

著者名/発表者名

雑誌名

NAID

データソース

[雑誌論文] Rubust Secure Scan Design against Scan-Based Differential Cryptanalysis2012

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] MH<sup>4</sup> : multiple-supply-voltages aware high-level synthesis for high-integrated and high-frequency circuits for HDR architectures2012

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

ISSN

言語

データソース

[雑誌論文] Robust Secure Scan Design against Scan-based Differential Cryptanalysis2012

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Rubust Secure Scan Design against Scan-Based Differential Cryptanalysis2012

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] X-Handling for Current X-Tolerant Compactors with More Unknowns and Maximal Compaction2009

著者名/発表者名

雑誌名

史又華 SHI Youhua