松本高士 Matsumoto Takashi

研究者番号	70417369
所属 (現在)	2025年度: 東京大学, 大学院工学系研究科(工学部), 助教
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2019年度 – 2023年度: 東京大学, 大学院工学系研究科(工学部), 助教 2017年度 – 2018年度: 東京大学, 大規模集積システム設計教育研究センター, 助教
審査区分/研究分野	研究代表者小区分60040:計算機システム関連研究代表者以外計算機システム
キーワード	研究代表者 IoT / 特性ゆらぎ / 経年劣化 / 信頼性 / 常時起動デバイス研究代表者以外スタックトランジスタ / バルク / FDSOI / パワエレ / BTI … もっと見る / ランダムテレグラフノイズ / 信頼性 / RTN / NBTI / 永久故障 / 一時故障 / パワーエレクトロニクス / 経年劣化 / ソフトエラー / IoT 隠す

高信頼性を要求される常時起動デバイスの特性変動の実測評価と動作レベルのモデル化研究代表者
- 研究代表者
  
  松本高士
- 研究期間 (年度)
  2018 – 2023
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  東京大学
高効率かつ高信頼で長時間動作可能な「もの」のインターネット機器の実現
- 研究代表者
  
  小林和淑
- 研究期間 (年度)
  2015 – 2018
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  京都工芸繊維大学

すべて 2020 2019 2017 2015

すべて雑誌論文学会発表

[雑誌論文] Universal NBTI Compact Model Replicating AC Stress/Recovery from a Single-shot Long-term DC Measurement2020
- 著者名/発表者名
  Hosaka Takumi、Nishizawa Shinichi、Kishida Ryo、Matsumoto Takashi、Kobayashi Kazutoshi
- 雑誌名
  
  IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology
  
  巻: 13 号: 0 ページ: 56-64
- DOI
  10.2197/ipsjtsldm.13.56
- NAID
  130007887399
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11210
[雑誌論文] Replication of Random Telegraph Noise by Using a Physical-Based Verilog-AMS Model2017
- 著者名/発表者名
  T. Komawaki, M. Yabuuchi, R. Kishida, J. Furuta, T. Matsumoto, and K. Kobayashi
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
  
  巻: E100.A 号: 12 ページ: 2758-2763
- DOI
  10.1587/transfun.E100.A.2758
- NAID
  130006236533
- ISSN
  0916-8508, 1745-1337
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] Compact Modeling of NBTI Replicationg AC Stress / Recovery from a Single-shot Long-term DC Measurement2019
- 著者名/発表者名
  Shinichi NISHIZAWA, Takumi HOSAKA, Ryo KISHIDA, Takashi MATSUMOTO, Kazutoshi KOBAYASHI
- 学会等名
  25th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11210
[学会発表] 単発DCストレス測定による負バイアス温度不安定性のAC特性を再現可能なモデル2019
- 著者名/発表者名
  保坂　巧、西澤真一、岸田　亮、松本高士、小林和淑
- 学会等名
  電子情報通信学会　デザインガイア2019
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11210
[学会発表] Circuit-level Simulation Methodology for Random Telegraph Noise by Using Verilog-AMS2017
- 著者名/発表者名
  T. Komawaki, M. Yabuuchi, R. Kishida, J. Furuta, T. Matsumoto, and K. Kobayashi
- 学会等名
  Circuit-level Simulation Methodology for Random Telegraph Noise by Using Verilog-AMS
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] The Impact of RTN-Induced Temporal Performance Fluctuation Against Static Performance Variation2017
- 著者名/発表者名
  T. Matsumoto, K. Kobayashi, and H. Onodera
- 学会等名
  Electron Devices Technology and Manufacturing
- 発表場所
  Toyama, Japan
- 年月日
  2017-03-01
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] Impact of Random Telegraph Noise on Ring Oscillators Evaluated by Circuit-level Simulations2015
- 著者名/発表者名
  大島, Pieter Weckx, Ben Kaczer, 小林, 松本
- 学会等名
  International Conference on IC Design and Technology
- 発表場所
  Leuven, Belgium
- 年月日
  2015-06-02
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677

1. 小林和淑 (70252476)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 6件
2. 西澤真一 (40757522)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 3件
3. 古田潤 (30735767)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 1件
4. 吉河武文 (60636702)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
5. Stoffels Steve

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
6. Posthuma Niels

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
7. Li Xiangdong

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
8. Decoutere Stefaan

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件

松本 高士 Matsumoto Takashi

研究課題

研究成果

共同研究者

高信頼性を要求される常時起動デバイスの特性変動の実測評価と動作レベルのモデル化研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

高効率かつ高信頼で長時間動作可能な「もの」のインターネット機器の実現

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[雑誌論文] Universal NBTI Compact Model Replicating AC Stress/Recovery from a Single-shot Long-term DC Measurement2020

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

データソース

[雑誌論文] Replication of Random Telegraph Noise by Using a Physical-Based Verilog-AMS Model2017

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

ISSN

言語

データソース

[学会発表] Compact Modeling of NBTI Replicationg AC Stress / Recovery from a Single-shot Long-term DC Measurement2019

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] 単発DCストレス測定による負バイアス温度不安定性のAC特性を再現可能なモデル2019

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] Circuit-level Simulation Methodology for Random Telegraph Noise by Using Verilog-AMS2017

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] The Impact of RTN-Induced Temporal Performance Fluctuation Against Static Performance Variation2017

著者名/発表者名

学会等名

発表場所

年月日

データソース

[学会発表] Impact of Random Telegraph Noise on Ring Oscillators Evaluated by Circuit-level Simulations2015

著者名/発表者名

学会等名

発表場所

年月日

データソース

松本高士 Matsumoto Takashi