山末耕平 Yamasue Kohei

研究者番号	70467455
その他のID
所属 (現在)	2025年度: 東北大学, 電気通信研究所, 准教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2015年度 – 2024年度: 東北大学, 電気通信研究所, 准教授 2010年度 – 2016年度: 東北大学, 電気通信研究所, 助教 2009年度: 京都大学, 大学院・工学研究科, 助教 2008年度 – 2009年度: 京都大学, 工学研究科, 助教
審査区分/研究分野	研究代表者中区分29:応用物理物性およびその関連分野 / 小区分29020:薄膜および表面界面物性関連 / 薄膜・表面界面物性 / 電子デバイス・電子機器 / 通信・ネットワーク工学研究代表者以外電子・電気材料工学 / 電子デバイス・電子機器 / 電力工学・電力変換・電気機器 / 工学 / 理工系
キーワード	研究代表者走査型非線形誘電率顕微鏡 / 走査型非線形誘電率ポテンショメトリ / 走査型プローブ顕微鏡 / MOSFET / プローブ顕微鏡 / ワイドバンドギャップ半導体 / パワーエレクトロニクス / 原子層材料 / キャリア物性 / 界面物性 … もっと見る / 層状物質 / グラフェン / 永久双極子 / 自発分極 / 強誘電体記録 / 走査プローブ顕微鏡 / 査定型プローブ顕微鏡 / 非線形動力学 / 走査プローブ顕微鏡・非線形動力学 / 表面・界面物性 / 時間遅れフィードバック制御 / 振動制御 / 制御工学 / マイクロ・ナノデバイス / カオス制御 … もっと見る研究代表者以外走査型非線形誘電率顕微鏡 / 超高次非線形誘電率顕微鏡法 / 局所DLTS法 / 界面電荷輸送現象 / 超高次非線形誘電率顕微鏡法 / 走査型非線形誘電率ポテンショメトリ / 超高密度記録 / 強誘電体記録 / 走査型非線形誘電率ポテンショメリ / Dit分布観測 / 時間分解SNDM / 超高次SNDM法 / 走査型非線形誘電率顕微鏡法 / 時間分解SNDM法 / 次世代パワー半導体 / MOS界面 / 界面順位密度 / パワーデバイス / ワイドギャップ半導体 / 移動度 / 界面準位密度 / 時間分解走査型非線形誘電率顕微鏡 / MOS界面欠陥 / 走査型非線形誘電率ポテンショメリ / 超高次非線形誘電率顕微鏡 / 半導体デバイス計測 / 半導体原子計測 / 原子双極子モーメント / 半導体計測技術 / 原子分解能SNDM / オペランド計測． / SiCーMOSFET / 太陽電池 / グラフェン / 化合物パワー半導体デバイス / 超高次走査型非線形誘電率顕微鏡 / パラメトリック共振 / Arnoldの舌 / カンチレバー / MEMS / 微小エネルギー / ナノ・マイクロ機構 / 共振 / SNDM / プローブメモリ / ドメイン / 分極ドメイン / 強誘電体 / 高密度記録隠す

SNDMを用いた次世代パワーエレクトロニクスの創出に資する革新的評価技術の開発研究代表者
- 研究代表者
  
  山末耕平
- 研究期間 (年度)
  2024 – 2027
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 審査区分
  
  中区分29:応用物理物性およびその関連分野
- 研究機関
  東北大学
走査型非線形誘電率顕微鏡による原子層材料・デバイスのナノ・原子スケール物性評価研究代表者
- 研究代表者
  
  山末耕平
- 研究期間 (年度)
  2020 – 2023
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 審査区分
  
  小区分29020:薄膜および表面界面物性関連
- 研究機関
  東北大学
界面電荷輸送現象解明のための高機能走査型非線形誘電率顕微鏡群の研究開発
- 研究代表者
  
  長康雄
- 研究期間 (年度)
  2016
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 研究分野
  
  電子・電気材料工学
- 研究機関
  東北大学
非線形誘電率顕微鏡法を用いた界面電荷輸送現象における諸問題の起源解明
- 研究代表者
  
  長康雄
- 研究期間 (年度)
  2016 – 2020
- 研究種目
  
  基盤研究(S)
- 研究分野
  
  電子・電気材料工学
- 研究機関
  東北大学
走査型非線形誘電率ポテンショメトリの開発とその電子材料・デバイス評価への応用研究代表者
- 研究代表者
  
  山末耕平
- 研究期間 (年度)
  2015 – 2017
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  薄膜・表面界面物性
- 研究機関
  東北大学
走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたエネルギーアシスト方式強誘電体記録研究代表者
- 研究代表者
  
  山末耕平
- 研究期間 (年度)
  2012 – 2014
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  電子デバイス・電子機器
- 研究機関
  東北大学
非線形誘電率顕微鏡の高機能化及び電子デバイスへの応用
- 研究代表者
  
  長康雄
- 研究期間 (年度)
  2011 – 2015
- 研究種目
  
  基盤研究(S)
- 研究分野
  
  電子デバイス・電子機器
- 研究機関
  東北大学
共振を利用したナノ・マイクロ機構の操作及び微小エネルギーの収集機構の開発
- 研究代表者
  
  引原隆士
- 研究期間 (年度)
  2009 – 2011
- 研究種目
  
  挑戦的萌芽研究
- 研究分野
  
  電力工学・電力変換・電気機器
- 研究機関
  京都大学
ダイナミックモード原子間力顕微鏡におけるカンチレバーの非線形振動制御研究代表者
- 研究代表者
  
  山末耕平
- 研究期間 (年度)
  2008 – 2010
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  通信・ネットワーク工学
- 研究機関
  東北大学
   京都大学
非線形誘電率顕微鏡を用いた次世代超高密度強誘電体記録
- 研究代表者
  
  長康雄
- 研究期間 (年度)
  2006 – 2010
- 研究種目
  
  特別推進研究
- 審査区分
  
  理工系
   工学
- 研究機関
  東北大学

[図書] Nonlinear Dynamics of Nanosystems2010
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Takashi Hikihara
- 出版者
  WILEY-VCH
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21656074
[図書] Nonlinear dynamics in atomic force microscopy and its control for nanoparticle manipulation, Chapter 9 in Nonlinear dynamics of nanosystems2010
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Takashi Hikihara
- 出版者
  Wiley-VCH
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20760238
[図書] Nonlinear dynamics in atomic force microscopy and its control for nanoparticle manipulation, Chapter 9 inNonlinear Dynamics of Nanosystems2010
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Takashi Hikihara
- 出版者
  Wiley-VCH
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20760238
[雑誌論文] Microscopic Evaluation of Al2O3/p-Type Diamond (111) Interfaces Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2022
- 著者名/発表者名
  Yu Ogata, Kohei Yamasue, Xufang Zhang,Tsubasa Matsumoto, Norio Tokuda and Yasuo Cho
- 雑誌名
  
  Materials Science Forum
  
  巻: 1062 ページ: 298-303
- DOI
  10.4028/p-n0z51t
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K18706, KAKENHI-PROJECT-16H06360
[雑誌論文] Boxcar averaging scanning nonlinear dielectric microscopy2022
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 雑誌名
  
  Nanomaterials
  
  巻: 12 号: 5 ページ: 794-794
- DOI
  10.3390/nano12050794
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K18706, KAKENHI-PROJECT-20H02613
[雑誌論文] Local capacitance-voltage profiling and deep level transient spectroscopy of SiO2/SiC interfaces by scanning nonlinear dielectric microscopy2022
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue Yasuo Cho
- 雑誌名
  
  Microelectronics Reliability
  
  巻: 135 ページ: 114588-114588
- DOI
  10.1016/j.microrel.2022.114588
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K18706, KAKENHI-PROJECT-16H06360
[雑誌論文] Surface Potential Fluctuations of SiO2/SiC Interfaces Investigated by Local Capacitance-Voltage Profiling Based on Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2022
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 雑誌名
  
  Materials Science Forum
  
  巻: 1062 ページ: 335-340
- DOI
  10.4028/p-2t7zak
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K18706, KAKENHI-PROJECT-16H06360
[雑誌論文] 走査型非線形誘電率顕微鏡の原理と半導体ナノスケール物性評価への応用2022
- 著者名/発表者名
  山末耕平
- 雑誌名
  
  半導体・集積回路技術シンポジウム講演論文集
  
  巻: 86
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H02613
[雑誌論文] Atomic Resolution Studies on Surface Dipoles by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy and Potentiometry2020
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 雑誌名
  
  Proceedings of the 2020 Joint Conference of the IEEE International Frequency Control Symposium and International Symposium on Applications of Ferroelectrics (IFCS-ISAF)
  
  巻: －ページ: 1-4
- DOI
  10.1109/ifcs-isaf41089.2020.9234884
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H02613
[雑誌論文] Nanoscale characterization of unintentional doping of atomically thin layered semiconductors by scanning nonlinear dielectric microscopy2020
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 雑誌名
  
  Journal of Applied Physics
  
  巻: 128 号: 7 ページ: 074301-074301
- DOI
  10.1063/5.0016462
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H02613
[雑誌論文] Optimization of signal intensity in intermittent contact scanning nonlinear dielectric microscopy2019
- 著者名/発表者名
  Yamasue K.、Cho Y.
- 雑誌名
  
  Microelectronics Reliability
  
  巻: 100-101 ページ: 113345-113345
- DOI
  10.1016/j.microrel.2019.06.037
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[雑誌論文] Two-dimensional defect mapping of the SiO2/4H-SiC interface2019
- 著者名/発表者名
  Woerle Judith、Johnson Brett C.、Bongiorno Corrado、Yamasue Kohei、Ferro Gabriel、Dutta Dipanwita、Jung Thomas A.、Sigg Hans、Cho Yasuo、Grossner Ulrike、Camarda Massimo
- 雑誌名
  
  Physical Review Materials
  
  巻: 3 号: 8 ページ: 084602-084602
- DOI
  10.1103/physrevmaterials.3.084602
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[雑誌論文] Local carrier distribution imaging on few-layer MoS2 exfoliated on SiO2 by scanning nonlinear dielectric microscopy2018
- 著者名/発表者名
  Yamasue Kohei、Cho Yasuo
- 雑誌名
  
  Applied Physics Letters
  
  巻: 112 号: 24 ページ: 243102-243102
- DOI
  10.1063/1.5032277
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[雑誌論文] 走査型非線形誘電率顕微鏡（SNDM）の紹介と電子デバイス・材料評価への応用2017
- 著者名/発表者名
  山末耕平，茅根慎通，長康雄
- 雑誌名
  
  電気学会誌
  
  巻: 137 号: 10 ページ: 697-700
- DOI
  10.1541/ieejjournal.137.697
- NAID
  130006109857
- ISSN
  1340-5551, 1881-4190
- 言語
  日本語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K04673
[雑誌論文] Graphene on C-terminated face of 4H-SiC observed by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2016
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Keiichiro Tashima, Maki Suemitsu, and Yasuo Cho
- 雑誌名
  
  Jpn. J. Appl. Phys.
  
  巻: 55 号: 8S1 ページ: 08NB02-08NB02
- DOI
  10.7567/jjap.55.08nb02
- NAID
  210000146969
- 査読あり / 謝辞記載あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008, KAKENHI-PROJECT-15K04673, KAKENHI-PROJECT-16H06360
[雑誌論文] Interfacial charge states in graphene on SiC studied by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2015
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, and Yasuo Cho
- 雑誌名
  
  Physical Review Letters
  
  巻: 114 号: 22 ページ: 226103-226103
- DOI
  10.1103/physrevlett.114.226103
- 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K04673, KAKENHI-PROJECT-23000008, KAKENHI-PROJECT-23226008
[雑誌論文] Experimental study of electric dipoles on an oxygen-adsorbed Si(100)-2×1 surface by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy2015
- 著者名/発表者名
  Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, and Yasuo Cho
- 雑誌名
  
  Appl. Phys. Lett.
  
  巻: 107 号: 3
- DOI
  10.1063/1.4927244
- 査読あり / 謝辞記載あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[雑誌論文] Scanning nonlinear dielectric potentiometry2015
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 雑誌名
  
  Review of Scientific Instruments
  
  巻: 86 号: 9 ページ: 093704-093704
- DOI
  10.1063/1.4930181
- 査読あり / 謝辞記載あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K04673, KAKENHI-PROJECT-23226008
[雑誌論文] Improved study of electric dipoles on the Si(100)-2x1 surface by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy2014
- 著者名/発表者名
  M. Suzuki, K. Yamasue, M. Abe, Y. Sugimoto, and Y. Cho
- 雑誌名
  
  Applied Physics Letters
  
  巻: 105 号: 10 ページ: 1016031-3
- DOI
  10.1063/1.4895031
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-14F03355, KAKENHI-PROJECT-24656027, KAKENHI-PUBLICLY-26110516, KAKENHI-PROJECT-26600015, KAKENHI-PROJECT-23226008
[雑誌論文] Atomic-dipole-moment induced local surface potential on Si(111)-(7x7) surface studied by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy2014
- 著者名/発表者名
  K. Yamasue, M. Abe, Y. Sugimoto, and Y. Cho
- 雑誌名
  
  Applied Physics Letters
  
  巻: 105 号: 12 ページ: 1216011-5
- DOI
  10.1063/1.4896323
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-14F03355, KAKENHI-PROJECT-24656027, KAKENHI-PUBLICLY-26110516, KAKENHI-PROJECT-26600015, KAKENHI-PROJECT-23226008
[雑誌論文] Simultaneous measurement of tunneling current and atomic dipole moment on Si(111) -(7×7) surface by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy2013
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Yasuo Cho
- 雑誌名
  
  J. Appl. Phys.
  
  巻: 113 号: 1
- DOI
  10.1063/1.4772705
- 査読あり / 謝辞記載あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008, KAKENHI-PROJECT-24656027
[雑誌論文] Atomic dipole moment distribution on a hydrogen-adsorbed Si(111) - (7×7) surface observed by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy2013
- 著者名/発表者名
  Daisuke Mizuno, Kohei Yamasue, Yasuo Cho
- 雑誌名
  
  Appl. Phys. Lett.
  
  巻: 103 号: 10
- DOI
  10.1063/1.4820348
- 査読あり / 謝辞記載あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008, KAKENHI-PROJECT-24656027
[雑誌論文] High resolution imaging in cross-section of a metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor using super-higher-order nonlinear dielectric microscopy2013
- 著者名/発表者名
  N. Chinone, K. Yamasue, K. Honda, Y. Cho
- 雑誌名
  
  Journal of Physics : Conference Series
  
  巻: 471 ページ: 012023-012023
- DOI
  10.1088/1742-6596/471/1/012023
- 査読あり / 謝辞記載あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008, KAKENHI-PROJECT-24656027
[雑誌論文] Observation of Nanoscale Ferroelectric Domains Using Super-Higher-Order Nonlinear Dielectric Microscopy2012
- 著者名/発表者名
  Norimichi Chinone, Kohei Yamasue, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho
- 雑誌名
  
  Jpn. J. Appl. Phys
  
  巻: Vol.51 号: 9S1 ページ: 09LE07-09LE07
- DOI
  10.1143/jjap.51.09le07
- NAID
  210000141273
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008, KAKENHI-PROJECT-24656027
[雑誌論文] Atomic Scale Imaging of TiO2(100) Reconstructed Surfaces by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2012
- 著者名/発表者名
  Nobuhiro Sawai
- 雑誌名
  
  Jpn. J. Appl Phys.
  
  巻: Vol.51 号: 12R ページ: 121801-121801
- DOI
  10.1143/jjap.51.121801
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008, KAKENHI-PROJECT-24656027
[雑誌論文] Observation of Polarization Distribution on Si(111) Surface by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2011
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue
- 雑誌名
  
  Jpn. J. Appl. Phys.
  
  巻: Vol.50 号: 9S2 ページ: 09NE12-09NE12
- DOI
  10.1143/jjap.50.09ne12
- NAID
  210000071318
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[雑誌論文] 遅延帰還を用いたダイナミックモード原子間力顕微鏡のカンチレバー振動の安定化2010
- 著者名/発表者名
  山末耕平, 引原隆士
- 雑誌名
  
  顕微鏡
  
  巻: 45(2) ページ: 137-139
- NAID
  130007788953
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20760238
[雑誌論文] 遅延帰還を用いたダイナミックモード原子間力顕微鏡のカンチレバー振動の安定化2010
- 著者名/発表者名
  山末耕平, 引原隆士
- 雑誌名
  
  顕微鏡
  
  巻: 45 ページ: 137-139
- NAID
  130007788953
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20760238
[雑誌論文] 遅延帰還を用いたダイナミックモード原子間力顕微鏡のカンチレバー振動の安定化2010
- 著者名/発表者名
  山末耕平, 引原隆士
- 雑誌名
  
  顕微鏡
  
  巻: 45 ページ: 137-139
- NAID
  130007788953
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21656074
[雑誌論文] 原子間力顕微鏡における制御応用とその展望2009
- 著者名/発表者名
  山末耕平, 引原隆士
- 雑誌名
  
  システム／制御／情報
  
  巻: 53(6) ページ: 236-242
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20760238
[雑誌論文] 原子間力顕微鏡における制御応用とその展望2009
- 著者名/発表者名
  山末耕平, 引原隆士
- 雑誌名
  
  システム/制御/情報:システム制御情報学会誌 53
  
  ページ: 236-242
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20760238
[雑誌論文] Controlling chaos in dynamic-mode atomic force microscope2009
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Kei Kobayashi, Hirofumi Yamada, Kazumi Matsushige, Takashi Hikihara
- 雑誌名
  
  Physics Letters A 373(35)
  
  ページ: 3140-3144
- NAID
  120002353771
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21656074
[雑誌論文] Controlling chaos in dynamic-mode atomic force microscope2009
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Kei Kobayashi, Hirofumi Yamada, Kazumi Matsushige, Takashi Hikihara
- 雑誌名
  
  Physics Letters A
  
  巻: 373(35) ページ: 3140-3144
- NAID
  120002353771
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21656074
[雑誌論文] Controlling chaos in dynamic-mode atomic force microscope2009
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Kei Kobayashi, Hirofumi Yamada, Kazumi Matsushige, and Takashi Hikihara
- 雑誌名
  
  Physics Letters A
  
  巻: 373(35) ページ: 3140-3144
- NAID
  120002353771
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20760238
[雑誌論文] Controlling chaos in dynamic-mode atomic force microscope2009
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Kei Kobayashi, Hirofumi Yamada, Kazumi Matsushige, Takashi Hikihara
- 雑誌名
  
  Physics Letters A 373
  
  ページ: 3140-3144
- NAID
  120002353771
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20760238
[学会発表] Correlation analysis on local capacitance-voltage profiles of a SiO2/SiC interface observed by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy2023
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  7th IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing(EDTM) Conference 2023
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] 走査型非線形誘電率顕微鏡によるSiO2上機械剥離MoS2の局所DLTS測定2023
- 著者名/発表者名
  石塚太陽，山末耕平
- 学会等名
  第70回応用物理学会春季学術講演会 16p-B414-3，上智大学四谷キャンパス+オンライン，Mar. 15-18 (2023)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H02613
[学会発表] Local capacitance-voltage profiling on MoS2/SiO2 and MoS2/h-BN/SiO2 by scanning nonlinear dielectric microscopy assisted with an insulating tip2022
- 著者名/発表者名
  Taiyo Ishizuka, Kohei Yamasue, and Yasuo Cho
- 学会等名
  2022 6th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 5C-MA1-4, virtual, March 6-9(2022)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H02613
[学会発表] Comparative study on carrier distribution of mechanically exfoliated WSe2/SiO2 and suspended WSe2 by scanning nonlinear dielectric microscopy2022
- 著者名/発表者名
  Koki Takano, Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiro Kaneko and Yasuo Cho
- 学会等名
  THE 22ND INTERNATIONAL VACUUM CONGRESS IVC-22
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] 時間分解SNDMを用いた半導体のナノスケール評価に関する最近の展開2022
- 著者名/発表者名
  山末耕平
- 学会等名
  ISSP workshop/東京大学物性研究所短期研究会 "Frontier of scanning probe microscopy and related nano science”「機能的走査プローブ顕微鏡の新展開」, オンライン, March 30-31(2022)
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H02613
[学会発表] 走査型非線形誘電率顕微鏡の原理と半導体ナノスケール物性評価への応用2022
- 著者名/発表者名
  山末耕平
- 学会等名
  電気化学会電子材料委員会第86回半導体・集積回路技術シンポジウム, オンライン, August 30-31 (2022)
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H02613
[学会発表] Scanning nonlinear dielectric microscopic investigation of mechanically exfoliated WSe2/SiO2 and suspended WSe22022
- 著者名/発表者名
  Koki Takano, Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiro Kaneko, and Yasuo Cho
- 学会等名
  2022 MRS Fall Meeting & Exhibit, NM02.10.18, Boston, Massachusetts, USA, Nov. 27-Dec. 2 (2022)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H02613
[学会発表] Real-space analysis on surface potential fluctuations of Al2O3/GaN interfaces by scanning nonlinear dielectric microscopy2022
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  International Workshop on Nitride Semiconductor(IWN2022)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Scanning Nonlinear Dielectric Microscopic Investigation of Mechanically Exfoliated WSe2/SiO2 and Suspended WSe22022
- 著者名/発表者名
  Koki Takano, Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiaki Kato and Yasuo Cho
- 学会等名
  2022 MRS Fall Meeting & Exhibit
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Comparative study on carrier distribution of mechanically exfoliated WSe2/SiO2 and suspended WSe2 by scanning nonlinear dielectric microscopy2022
- 著者名/発表者名
  Koki Takano, Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiro Kaneko, and Yasuo Cho
- 学会等名
  The 22nd International Vacuum Congress (IVC-22), Mon-J1-4, Sapporo Convention Center, Sapporo, Japan, Sep. 11-16 (2022).
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H02613
[学会発表] Nanoscale characterization techniques for ultra-thin van der Waals semiconductors based on scanning nonlinear dielectric microscopy2021
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  The 5th international symposium on “Elucidation of Next Generation Functional Materials, Surface and Interface Properties", Osaka University, Osaka, Japan, Oct. 7-9(2021)
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H02613
[学会発表] Microscopic carrier distribution imaging of atomically-thin van der Waals semiconductors by scanning nonlinear dielectric microscopy2021
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  2021 MRS Fall Meeting & Exhibit, EQ20.12.01, Boston, Massachusetts, USA, Nov. 29-Dec. 2 (2021)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H02613
[学会発表] Nanoscale analysis of unintentional p- to n-type transition on ultrathin MoS2 layers2021
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  2021 International Conference on Nanoscience + Technology (ICN+T 2021), virtual, July 12-15 (2021)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H02613
[学会発表] Nanoscale comparative study of electric field effects in atomically-thin WSe2 on SiO2 and suspended WSe22021
- 著者名/発表者名
  Koki Takano, Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiro Kaneko, and Yasuo Cho
- 学会等名
  2021 International Conference on Nanoscience + Technology (ICN+T 2021), virtual, July 12-15 (2021)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H02613
[学会発表] Atomic Resolution Studies on Surface Dipoles by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy and Potentiometry2020
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  2020 Joint Conference of the IEEE International Frequency Control Symposium and International Symposium on Applications of Ferroelectrics (IFCS-ISAF)
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H02613
[学会発表] Nanoscale comparison of bias dependent carrier distributions in mechanically exfoliated WSe2/SiO2 and suspended WSe2 by scanning nonlinear dielectric microscopy2020
- 著者名/発表者名
  Koki Takano, Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiro Kaneko, and Yasuo Cho
- 学会等名
  51st IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference (SISC), Virtual conference, Dec. 16-19
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H02613
[学会発表] SNDM の半導体応用に関する新技術－時間分解SNDMによる界面欠陥準位の可視化と絶縁膜付き探針を用いた層状構造半導体の観察－2020
- 著者名/発表者名
  長康雄，山末耕平
- 学会等名
  日本学術振興会産学協力研究委員会，ナノプローブテクノロジー第167委員会
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H02613
[学会発表] Spatially Resolved Defect Mapping of the SiO2/4H-SiC Interface2019
- 著者名/発表者名
  Judith Woerle, Brett Johnson, Corrado Bongiorno, Kohei Yamasue, Gabriel Ferro, Dipanwita Dutta, Yasuo Cho, Ulrike Grossner, Massimo Camarda
- 学会等名
  International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2019
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Optimization of signal intensity in intermittent contact scanning nonlinear dielectric microscopy2019
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  The 30th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Influence of non-uniform interface defect distribution on channel mobility in SiC MOSFETs investigated by local deep level transient spectroscopy and device simulation2019
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue Yuji Yamagishi, Yasuo Cho
- 学会等名
  International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2019
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Carrier profiling of the 10-nm-order structure in a 3D Flash memory cell using scanning nonlinear dielectric microscopy2019
- 著者名/発表者名
  Jun Hirota, Ken Hoshino, Tsukasa Nakai, Kohei Yamasue, and Yasuo Cho
- 学会等名
  International Symposium for Testing and Failure Analysis 2019
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Boxcar averaging based scanning nonlinear dielectric microscopy and its application to carrier distribution imaging on 2D semiconductors2019
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Yasuo Cho
- 学会等名
  2019 International Integrated Reliability Workshop
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] A study on evaluation of interface defect density on high-κ/SiO2/Si and SiO2/Si gate stacks using scanning nonlinear dielectric microscopy2019
- 著者名/発表者名
  Koharu Suzuki, Kohei Yamasue, Yasuo Cho
- 学会等名
  2019 International Integrated Reliability Workshop
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Nanoscale carrier distribution imaging on atomically-thin layered semiconductors by scanning nonlinear dielectric microscop2019
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  The 4th international symposium on “Elucidation of Property of Next Generation Functional Materials and Surface/Interface
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] 2D Interface Defect Density Evaluation on Macrostepped SiO2/SiC Using Local Deep Level Transient Spectroscopy Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2019
- 著者名/発表者名
  A. Hosaka, K. Yamasue, J. Woerle, G. Ferro, U. Grossner, M. Camarda, and Y. Cho
- 学会等名
  50th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Spatially-resolved evaluation of interface defect density on macrostepped SiO2/SiC using local deep level transient spectroscopy2019
- 著者名/発表者名
  Anna Hosaka, Kohei Yamasue, Judith Woerle, Gabriel Ferro, Ulrike Grossner, Massimo Camarda, Yasuo Cho
- 学会等名
  2019 International Integrated Reliability Workshop
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Improvement of Signal-to-Noise Ratio in Carrier Distribution Imaging in Intermittent Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Based on Boxcar Integration2019
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  8th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Unintentional n-Type Doping on Single Layer Nb-Doped MoS2 Observed by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2019
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  2019 MRS Fall Meeting & Exhibit
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Unintentional doping effects on atomically-thin Nb-doped MoS2 observed by scanning nonlinear dielectric microscopy2019
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  International Symposium for Testing and Failure Analysis 2019
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Surface dipole induced potentials on metals observed by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2019
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  The 17th International Conference on the Formation of Semiconductor Interfaces
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] A New Evaluation Technique for Interface Defect Density on High-κ/SiO2/Si and SiO2/Si Gate Stacks using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2019
- 著者名/発表者名
  K. Suzuki, K. Yamasue, and Y. Cho
- 学会等名
  50th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Scanning nonlinear dielectric microscopy study on nanoscale carrier distribution in two dimensional semiconductors2018
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  ICN+T2018
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] DC bias dependent nanoscale carrier distribution on a few-layer WSe2 on SiO2 observed by scanning nonlinear dielectric microscopy2018
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiro Kaneko and Yasuo Cho
- 学会等名
  ECOSS34
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] High-resolution observation of defects at nitride SiO2/4H-SiC interfaces by local deep level transient spectroscopy2018
- 著者名/発表者名
  Y. Yamagishi, K. Yamasue and Y. Cho
- 学会等名
  ECSCRM2018
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Nanoscale carrier distribution imaging of layered semiconductor materials using scanning nonlinear dielectric microscopy2018
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  45th Conference on the Physics and Chemistry of Surfaces and Interfaces (PCSI-45), Sheraton Kona Resort & Spa, Kona, Hawaii, USA, Jan. 14 - Jan. 18
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K04673
[学会発表] 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたSiO2上剥離WSe2観察におけるキャリア分布の直流バイアス依存性2018
- 著者名/発表者名
  山末耕平，加藤俊顕，金子俊郎，長康雄
- 学会等名
  第65回応用物理学春季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K04673
[学会発表] Scanning nonlinear dielectric microscopy in peak-force tapping mode and its application to transition metal dichalcogenides2018
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  ISPM2018
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Few-layer WSe2 on SiO2 Observed by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy and Electrostatic Force Microscopy2018
- 著者名/発表者名
  K. Yamasue, T. Kato, T. Kaneko and Y. Cho
- 学会等名
  ACSIN-14 & ICSPM26
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Nanoscale carrier distribution imaging of layered semiconductor materials using scanning nonlinear dielectric microscopy2018
- 著者名/発表者名
  K. Yamasue and Y. Cho
- 学会等名
  PCSI45
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Electric Field Effects on Few-Layer WSe2/SiO2 Investigated by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiro Kaneko and Yasuo Cho
- 学会等名
  2018 MRS Fall Meeting & Exhibit
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] 走査型非線形誘電率ポテンショメトリを用いたGaNの自発分極測定に関する実験的検討2017
- 著者名/発表者名
  山末耕平，長康雄
- 学会等名
  2017年第64回応用物理学春季学術講演会
- 発表場所
  パシフィコ横浜，横浜市
- 年月日
  2017-03-14
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K04673
[学会発表] Local Carrier Distribution Imaging of Two-Dimensional Semiconductors by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2017
- 著者名/発表者名
  K. Yamasue and Y. Cho
- 学会等名
  ICSPM25
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] 査型非線形誘電率顕微鏡によるSiO2/Si基板上の剥離二硫化モリブデンの観察2017
- 著者名/発表者名
  山末耕平，長康雄
- 学会等名
  第78回応用物理学秋季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K04673
[学会発表] Local carrier distribution imaging of two-dimensional semiconductors by scanning nonlinear dielectric microscopy2017
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  25th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM25), Atagawa Heights, Shizuoka, Japan, Dec. 7 - Dec. 9
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K04673
[学会発表] Atomic resolution imaging of MoS2 by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy2017
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  19th International Scanning Probe Microscopy Conference, Kyoto International Community House, Kyoto, Japan, May 16 - May 19
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K04673
[学会発表] Local carrier and charge distribution imaging on molybdenum disulfide by scanning nonlinear dielectric microscopy2017
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  8th International Symposium on Surface Science (ISSS-8), Tsukuba International Congress Center, Tsukuba, Japan, Oct. 22 - Oct. 26
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K04673
[学会発表] Atomic resolution imaging and carrier type determination of Molybdenum disulfide by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy2017
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  ECOSS 33
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] “Atomic Resolution Imaging of MoS2 by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2017
- 著者名/発表者名
  K.Yamasue and Y. Cho
- 学会等名
  The 19th International Scanning Probe Microscopy Conference
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Atomic resolution imaging and carrier type determination of molybdenum disulfide by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy2017
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  33rd European Conference on Surface Science (ECOSS-33), Szeged, Hungary, Aug. 27 - Sep. 1
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K04673
[学会発表] Local Carrier and Charge Distribution Imaging on Molybdenum Disulfide by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2017
- 著者名/発表者名
  K. Yamasue and Y. Cho
- 学会等名
  ISSS-8 2017
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] 非接触走査型非線形誘電率ポテンショメトリによるSi(111)-(7×7)表面における分極電荷密度の原子スケール観察2016
- 著者名/発表者名
  山末耕平，長康雄
- 学会等名
  2016年第77回応用物理学秋季学術講演会
- 発表場所
  朱鷺メッセ，新潟市
- 年月日
  2016-09-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K04673
[学会発表] Surface polarization measurement on a reconstructed Si(111) surface by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2016
- 著者名/発表者名
  K. Yamasue, and Y. Cho
- 学会等名
  NC-AFM 2016
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Polarization charge density measurement by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2016
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  24th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
- 発表場所
  Hawaii Convention Center, Honolulu, United States of America
- 年月日
  2016-12-14
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K04673
[学会発表] 走査型非線形誘電率ポテンショメトリによる表面自発分極の測定に関する検討2016
- 著者名/発表者名
  山末耕平，長康雄
- 学会等名
  2016年第62回応用物理学会春季学術講演会
- 発表場所
  東京工業大学大岡山キャンパス（東京都目黒区）
- 年月日
  2016-03-19
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K04673
[学会発表] Surface polarization on a Si(111) reconstructed surface measured by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2016
- 著者名/発表者名
  K. Yamasue, and Y. Cho
- 学会等名
  ecoss32
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Surface polarization measurement on a reconstructed Si(111) surface by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2016
- 著者名/発表者名
  K. Yamasue, and Y. Cho
- 学会等名
  NC-AFM 2016
- 発表場所
  Nottingham,UK
- 年月日
  2016-07-25
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] urface polarization on a Si(111) reconstructed surface measured by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2016
- 著者名/発表者名
  K. Yamasue, and Y. Cho
- 学会等名
  ecoss32
- 発表場所
  Grenoble, France
- 年月日
  2016-08-28
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Surface polarization on a Si(111) reconstructed surface measured by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2016
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  32nd European Conference on Surface Science
- 発表場所
  Alpexpo, Grenoble, France
- 年月日
  2016-08-28
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K04673
[学会発表] Surface polarization measurement on a reconstructed Si(111) surface by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2016
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  19th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy
- 発表場所
  East Midlands, Conference Centre, Nottingham, United Kingdom
- 年月日
  2016-07-25
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K04673
[学会発表] Polarization Charge Density Measurement by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Potentiometry2016
- 著者名/発表者名
  K. Yamasue, and Y. Cho
- 学会等名
  ICSPM24
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H06360
[学会発表] Oxygen adsorption on a Si(100)-(2×1) surface studied by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy2015
- 著者名/発表者名
  M. Suzuki, K. Yamasue, and Y. Cho
- 学会等名
  nc AFM 2015
- 発表場所
  Cassis, France
- 年月日
  2015-09-07
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC POTENTIOMETRY：NEW STRATEGY FOR MESURING DIPOLE-INDUCED POTENTIALS IN ATOIMIC SCALE2015
- 著者名/発表者名
  Y. Cho, K. Yamasue
- 学会等名
  ISPM Conference 2015
- 発表場所
  RIO DE JANEIRO, Brazil
- 年月日
  2015-06-21
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Observation of graphene on C-terminated face of SiC using noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2015
- 著者名/発表者名
  K. Yamasue, H. Fukidome, K. Funakubo, M. Suemitsu, and Y. Cho
- 学会等名
  nc AFM 2015
- 発表場所
  Cassis, France
- 年月日
  2015-09-07
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] HYDROGEN-INTERCALATED GRAPHENE ON SiC STUDIED BY NONCONTACT SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC POTENTIOMETRY2015
- 著者名/発表者名
  Y. Cho, K. Yamasue, H. Fukidome,K. Funakubo, M. Suemitsu
- 学会等名
  ISPM Conference 2015
- 発表場所
  RIO DE JANEIRO, Brazil
- 年月日
  2015-06-21
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] 非接触走査型非線形誘電率ポテンショメトリによる4H-SiC(0001-)上グラフェンの観察2015
- 著者名/発表者名
  山末耕平，吹留博一，田島圭一郎，舩窪一智，末光眞希，長康雄
- 学会等名
  2015年第76回応用物理学会秋季学術講演会
- 発表場所
  名古屋国際会議場（愛知県名古屋市）
- 年月日
  2015-09-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K04673
[学会発表] Simultaneous Imaging of Atomically Resolved Topography and Potential of Graphene on C-Terminated Face of SiC Using Scanning Nonlinear Dielectric Potentiometry2015
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, Yasuo Cho
- 学会等名
  2015 MRS fall meeting
- 発表場所
  Boston, USA
- 年月日
  2015-11-29
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Observation of graphene on C-terminated face of SiC using noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2015
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Keiichiro Tashima, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, and Yasuo Cho
- 学会等名
  18th International Conference on non contact Atomic Force Microscopy
- 発表場所
  Oustau Calendal, Cassis, France
- 年月日
  2015-09-07
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K04673
[学会発表] Graphene on C-terminated face of 4H-SiC studied by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2015
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, Yasuo Cho
- 学会等名
  ECOSS-31
- 発表場所
  Barcelona, Spain
- 年月日
  2015-08-31
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Investigation of Oxygen Adsorbed Si(100)-(2x1) Surface Using Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2015
- 著者名/発表者名
  Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, Yasuo Cho
- 学会等名
  2015 MRS fall meeting
- 発表場所
  Boston, USA
- 年月日
  2015-11-29
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Graphene　on C-terminated Face of 4H-SiC Observed by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Potentiometry2015
- 著者名/発表者名
  K. Yamasue, H. Fukidome, K. Tashima, M. Suemitsu, Y. Cho
- 学会等名
  ICSPM23
- 発表場所
  ヒルトンニセコビレッジホテル，北海道虻田郡ニセコ町, Japan
- 年月日
  2015-12-10
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy study of oxygen-adsorption on a Si(100)-(2×1) surface2015
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Masataka Suzuki, Yasuo Cho
- 学会等名
  ECOSS-31
- 発表場所
  Barcelona, Spain
- 年月日
  2015-08-31
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Graphene on C-terminated face of 4H-SiC studied by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2015
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Keiichiro Tashima, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, and Yasuo Cho
- 学会等名
  The 31st European Conference on Surface Science
- 発表場所
  International Convention Center of Barcelona, Barcelona, Spain
- 年月日
  2015-08-31
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K04673
[学会発表] Graphene on C-terminated face of 4H-SiC observed by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2015
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Keiichiro Tashima, Maki Suemitsu, and Yasuo Cho
- 学会等名
  23rd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
- 発表場所
  ヒルトンニセコビレッジホテル（北海道虻田郡ニセコ町）
- 年月日
  2015-12-10
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K04673
[学会発表] High-Resolution Imaging of Hydrogen-Intercalated Graphene on 4H-SiC(0001) Using Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, H. Fukidome, K. Funakubo, M. Suemitsu, Y. Cho
- 学会等名
  ICN+T 2014
- 発表場所
  Vail, Colorado, USA
- 年月日
  2014-07-20
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Dipole-Induced Potential Measurement Using Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Yasuo Cho
- 学会等名
  2014 MRS fall meeting
- 発表場所
  Boston, USA
- 年月日
  2014-11-30
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Comparative Study on Pristine and Hydrogen-Intercalated Graphene on 4H-SiC(0001) Surface Using Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, Yasuo Cho
- 学会等名
  2014 MRS fall meeting
- 発表場所
  Boston, USA
- 年月日
  2014-11-30
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Study of Electric Dipole Moment Distribution on Si(100)-2×1 Surface by Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014
- 著者名/発表者名
  Masataka Suzuki, K. Yamasue, M. Abe, Y. Sugimoto, Y. Cho
- 学会等名
  ICN+T 2014
- 発表場所
  Vail, Colorado, USA
- 年月日
  2014-07-20
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Investigation of electric dipole moments on Si(100)-2×1 surface using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy2014
- 著者名/発表者名
  Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho
- 学会等名
  ECOSS30
- 発表場所
  Antalya, TURKEY
- 年月日
  2014-08-31
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Simultaneous Observation of Topography and Electric Dipole Moments on Si(100)-2×1 Surface Using Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014
- 著者名/発表者名
  Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho
- 学会等名
  2014 MRS fall meeting
- 発表場所
  Boston, USA
- 年月日
  2014-11-30
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Investigation of Hydrogen-Intercalated Graphene on 4H-SiC(0001) by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, Yasuo Cho
- 学会等名
  ECOSS30
- 発表場所
  Antalya, TURKEY
- 年月日
  2014-08-31
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] A Novel Method for Simultaneous Measurement of Topography and Dipole-Induced Local Surface Potential Based on Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014
- 著者名/発表者名
  K. Yamasue, Yasuo Cho
- 学会等名
  ICN+T 2014
- 発表場所
  Vail, Colorado, USA
- 年月日
  2014-07-20
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] A New Atomically Resolved Potentiometry for Dipole-Induced Local Surface Potential Based on Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Yasuo Cho
- 学会等名
  ECOSS30
- 発表場所
  Antalya, TURKEY
- 年月日
  2014-08-31
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Super Higher Order Nonlinear Dielectric Microscopy with Super High Resolution2012
- 著者名/発表者名
  Norimichi Chinone, Kohei Yamasue, Yoshiomi Hiranaga Koichiro Honda, Yasuo Cho
- 学会等名
  2012 MRS fall meeting
- 発表場所
  Boston, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Atomic dipole moments on hydrogen-adsorbed Si(111)-7×7 surface observed by using noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy2012
- 著者名/発表者名
  Daisuke Mizuno, Kohei Yamasue, Yasuo Cho
- 学会等名
  The 20th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
- 発表場所
  Naha, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Super-higher order nonlinear dielectric microscopy studies on ferroelectric materials and semiconductor devices2012
- 著者名/発表者名
  N.CHINONE, K. YAMASUE, Y. HIRANAGA, K.HONDA, Y. CHO
- 学会等名
  International Conference on Nanoscience + Technology 2012
- 発表場所
  Paris, FRANCE
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Non-contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Studies of Atomic Dipole Moments on Hydrogen-adsorbed Si(111)-7×7 Surface2012
- 著者名/発表者名
  Daisuke Mizuno, Kohei Yamasue, Yasuo Cho
- 学会等名
  2012 MRS fall meeting
- 発表場所
  Boston, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Resolution improvement of scanning nonlinear dielectric microscopy by measuring the super higher-order nonlinear dielectric constants2012
- 著者名/発表者名
  N.Chinone, K. Yamasue, Y. Hiranaga, K.Honda, Y. Cho
- 学会等名
  The 15th European Microscopy Congress
- 発表場所
  Manchester, UK
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Observation of dipole moments on hydrogen-adsorbed Si(111)-(7×7) surface by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy2012
- 著者名/発表者名
  Daisuke Mizuno, Kohei Yamasue, Yasuo Cho
- 学会等名
  15th International Conference on non-contact Atomic Force Microscopy
- 発表場所
  Cesky Krumlov, Czech Republic
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Simultaneous imaging of current and local dipole moments of Si(111)-(7×7) surface by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy2012
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Yasuo Cho
- 学会等名
  15th International Conference on non-contact Atomic Force Microscopy
- 発表場所
  Cesky Krumlov, Czech Republic
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Observation of local dipole moments on cleaned Si(111) surface with defects by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy2011
- 著者名/発表者名
  Kohei YAMASUE
- 学会等名
  14th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy
- 発表場所
  Lindau, Germany
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] 非接触走査型非線形誘電率顕微鏡によるSi(111)表面のドメイン境界観察2011
- 著者名/発表者名
  山末耕平
- 学会等名
  第58回応用物理学関係連合講演会
- 発表場所
  神奈川工科大学(厚木市)
- 年月日
  2011-03-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18002005
[学会発表] タッピングモードAFMにおけるカンチレバー非線形振動に関する実験的検討2009
- 著者名/発表者名
  山末耕平, 小林圭, 山田啓文, 松重和美, 引原隆士
- 学会等名
  2009年秋季第70回応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  富山大学五福キャンパス(富山県)
- 年月日
  2009-09-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20760238
[学会発表] Chaotic cantilever oscillation and its control in amplitude modulation atomic force microscopy2009
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Kei Kobayashi, Hirofumi Yamada, Kazumi Matsushige, Takashi Hikihara
- 学会等名
  2nd Multifrequency AFM Conference
- 発表場所
  Holiday Inn Madrid(スペイン,マドリード)
- 年月日
  2009-09-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20760238
[学会発表] 時間遅れフィードバック制御の振幅変調型原子間力顕微鏡への応用2009
- 著者名/発表者名
  山末耕平, 小林圭, 山田啓文, 松重和美, 引原隆士
- 学会等名
  第58回理論応用力学講演会, OS24-1, カオスとその応用
- 発表場所
  日本学術会議
- 年月日
  2009-06-10
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20760238
[学会発表] 時間遅れフィードバック制御の振幅変調型原子間力顕微鏡への応用2009
- 著者名/発表者名
  山末耕平, 小林圭, 山田啓文, 松重和美, 引原隆士
- 学会等名
  第58理論応用力学講演会
- 発表場所
  日本学術会議
- 年月日
  2009-06-10
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20760238
[学会発表] Chaotic cantilever oscillation and its control in amplitude modulation atomic force microscopy2009
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Kei Kobayashi, Hirofumi Yamada, Kazumi Matsushige, and Takashi Hikihara
- 学会等名
  2nd Multifrequency AFM Conference
- 発表場所
  Holiday Inn Madrid, Madrid, Spain
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20760238
[学会発表] タッピングモードAFMにおけるカンチレバー非線形振動に関する実験的検討2009
- 著者名/発表者名
  山末耕平, 小林圭, 山田啓文, 松重和美, 引原隆士
- 学会等名
  2009年秋季第70回応用物理学会学術講演会, 8a-E-8
- 発表場所
  富山大学五福キャンパス
- 年月日
  2009-09-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20760238
[学会発表] Stabilization of cantilever oscillation in tapping-mode AFM using time-delayed feedback control2008
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Kei Kobayashi, Hirofumi Yamada, Kazumi Matsushige, and Takashi Hikihara
- 学会等名
  2008年秋季第69回応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  中部大学
- 年月日
  2008-09-04
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20760238
[学会発表] Experimental study on stabilization of chaotic cantilever oscillation in AM-AFM by time-delayed feedback control2008
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Kei Kobayashi, Hirofumi Yamada, Kazumi Matsushige, and Takashi Hikihara
- 学会等名
  11th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy (NCAFM-2008)
- 発表場所
  11th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy (NCAFM-2008)
- 年月日
  2008-09-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20760238
[学会発表] Stabilization of cantilever oscillation in tapping-mode AFM using time-delayed feedback control2008
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Kei Kobayashi, Hirofumi Yamada, Kazumi Matsushige, and Takashi Hikihara
- 学会等名
  2008年秋季第69回応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  中部大学, 愛知県春日井市
- 年月日
  2008-09-04
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20760238
[学会発表] Control of chaotic sensor oscillation in dynamic-mode atomic force microscopy2008
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Kei Kobayashi, Hirofumi Yamada, Kazumi Matsushige, and Takashi Hikihara
- 学会等名
  The 5th International Conference on Nonlinear Science (Dynamics Days Asia Pacific 5)
- 発表場所
  Nara, Japan
- 年月日
  2008-09-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20760238
[学会発表] Control of chaotic sensor oscillation in dynamic-mode atomic force microscopy2008
- 著者名/発表者名
  Kobel Yamasue, Kei KobayaShi, Hirofumi Yamada, Kazumi Matsushige, and Takashi Hikihara
- 学会等名
  The 5th International Conference on Nonlinear Science (Dynamics Days Asia Pacific 5)
- 発表場所
  Nara Prefectural New Public Hall, Nara, Japan
- 年月日
  2008-09-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20760238
[学会発表] Experimental study on stabilization of chaotic cantilever oscillation in AM-AFM by time-delayed feedback contro2008
- 著者名/発表者名
  Kohei. Yamasue, Kei Kobayashi, Hirofumi Yamada, Kazumi Matsushige, and Takashi Hikihara
- 学会等名
  11th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy (NCAFM-2008)
- 発表場所
  HOTEL Rafael-Atocha, Madrid, Spain
- 年月日
  2008-09-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20760238
[学会発表] Observation of atomic dipole moment on hydrogen and oxygen adsorbed Si(111)-7×7 surfaces by using noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy
- 著者名/発表者名
  Y. Cho, D. Mizuno, K. Yamasue
- 学会等名
  19th International Vacuum Congress
- 発表場所
  Paris, France
- 年月日
  2013-09-09 – 2013-09-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Bias voltage dependence of atomic dipole moment and topography on hydrogen-adsorbed Si(111)-(7× 7) surface studied by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Daisuke Mizuno, Yasuo Cho
- 学会等名
  NC-AFM 2013
- 発表場所
  University of Maryland College Park, Maryland, USA
- 年月日
  2013-08-05 – 2013-08-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] A new atomically resolved potentiometry for dipole-induced local surface potential based on noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  the 30th European Conference on Surface Science
- 発表場所
  Antalya, Turkey
- 年月日
  2014-08-31 – 2014-09-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24760263
[学会発表] A novel method for simultaneous measurement of topography and dipole-induced local surface potential based on noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  2014 International Conference on Nanoscience + Technology
- 発表場所
  Vail, Colorado, United States of America
- 年月日
  2014-07-20 – 2014-07-25
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24760263
[学会発表] Surface potentiometry based on scanning nonlinear dielectric microscopy
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  17th International Conference on non-contact Atomic Force Microscopy
- 発表場所
  Tsukuba, Japan
- 年月日
  2014-08-04 – 2014-08-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24760263
[学会発表] Atomic dipole moment induced variation of local surface potential on Si(111)-(7×7) surface studied by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue , Yasuo Cho
- 学会等名
  19th International Vacuum Congress
- 発表場所
  Paris, France
- 年月日
  2013-09-09 – 2013-09-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] High resolution imaging of cross section of metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor using super-higher-order nonlinear dielectric microscopy
- 著者名/発表者名
  N.Chinone, K.Yamasue, K.Honda,Y.Cho
- 学会等名
  18th Microscopy of Semiconducting Materials Meeting
- 発表場所
  University of Oxford, UK University of Oxford, UK Prague, Czech Republic University of Maryland College Park, Maryland, USA 発
- 年月日
  2013-04-07 – 2013-04-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Site-specific Measurement of Atomic Dipole Moment Induced Surface Potential on Si(111)-(7×7) by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue , Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho
- 学会等名
  ACSIN-12 & ICSPM21
- 発表場所
  Tsukuba, Japan
- 年月日
  2013-11-04 – 2013-11-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Investigation of physical and electrical properties of hydrogen-adsorbed Si(111)-7×7 surface by using noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy
- 著者名/発表者名
  Daisuke Mizuno, Kohei Yamasue, Yasuo Cho
- 学会等名
  18th Microscopy of Semiconducting Materials Meeting
- 発表場所
  University of Oxford, UK
- 年月日
  2013-04-07 – 2013-04-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Site Specific Measurement of Atomic Dipole Moment Induced Local Surface Potentials on Si(111)-(7× 7) Surface by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho
- 学会等名
  2013 MRS fall meeting
- 発表場所
  Boston, USA
- 年月日
  2013-12-01 – 2013-12-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008
[学会発表] Dipole-induced potential measurement using noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue and Yasuo Cho
- 学会等名
  2014 MRS Fall Meeting & Exhibit
- 発表場所
  Boston, Massachusetts, United States of America
- 年月日
  2014-12-01 – 2014-12-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24760263
[学会発表] Site specific measurement of surface potential shift on Si(111)-(7ｘ7) surface by noncontact scanning nonliear dielectric microscopy
- 著者名/発表者名
  Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho
- 学会等名
  NC-AFM 2013
- 発表場所
  University of Maryland College Park, Maryland, USA
- 年月日
  2013-08-05 – 2013-08-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23226008

1. 長康雄 (40179966)

共同の研究課題数: 5件

共同の研究成果数: 80件
2. 平永良臣 (70436161)

共同の研究課題数: 4件

共同の研究成果数: 4件
3. 廣瀬龍介 (60422143)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
4. 金暢大 (80418269)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
5. 引原隆士 (70198985)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 4件
6. 佐藤宣夫 (70397602)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
7. 加藤俊顕 (20502082)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 4件
8. 杉本宜昭

共同の研究課題数: 0件

共同の研究成果数: 2件

山末 耕平 Yamasue Kohei

研究課題

研究成果

共同研究者

SNDMを用いた次世代パワーエレクトロニクスの創出に資する革新的評価技術の開発研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

走査型非線形誘電率顕微鏡による原子層材料・デバイスのナノ・原子スケール物性評価研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

界面電荷輸送現象解明のための高機能走査型非線形誘電率顕微鏡群の研究開発

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

非線形誘電率顕微鏡法を用いた界面電荷輸送現象における諸問題の起源解明

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

走査型非線形誘電率ポテンショメトリの開発とその電子材料・デバイス評価への応用研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたエネルギーアシスト方式強誘電体記録研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

非線形誘電率顕微鏡の高機能化及び電子デバイスへの応用

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

共振を利用したナノ・マイクロ機構の操作及び微小エネルギーの収集機構の開発

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

ダイナミックモード原子間力顕微鏡におけるカンチレバーの非線形振動制御研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

非線形誘電率顕微鏡を用いた次世代超高密度強誘電体記録

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

[図書] Nonlinear Dynamics of Nanosystems2010

著者名/発表者名

出版者

データソース

[図書] Nonlinear dynamics in atomic force microscopy and its control for nanoparticle manipulation, Chapter 9 in Nonlinear dynamics of nanosystems2010

著者名/発表者名

出版者

データソース

[図書] Nonlinear dynamics in atomic force microscopy and its control for nanoparticle manipulation, Chapter 9 inNonlinear Dynamics of Nanosystems2010

著者名/発表者名

出版者

データソース

[雑誌論文] Microscopic Evaluation of Al2O3/p-Type Diamond (111) Interfaces Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2022

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

山末耕平 Yamasue Kohei