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佐々木 宏和  Sasaki Hirokazu

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 70649821
所属 (現在) 2025年度: 古河電気工業株式会社研究開発本部横浜研究所, 先端技術研究所, 主席
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2016年度: 古河電気工業株式会社研究開発本部横浜研究所, 先端技術研究所, 主席
2014年度 – 2016年度: 古河電気工業株式会社研究開発本部横浜研究所, その他部局等, 主席
2015年度: 古河電気工業株式会社研究開発本部横浜研究所, その他部局等, その他
2015年度: 古河電気工業株式会社, 研究開発本部横浜研究所, その他
審査区分/研究分野
研究代表者以外
ナノ材料工学 / 薄膜・表面界面物性
キーワード
研究代表者以外
電子線 / 回折顕微法 / 位相イメージング / 小角散乱 / ナノ電磁場 / 原子分解能 / 制限視野回折 / 電子回折顕微法 / 電子回折
  • 研究課題

    (2件)
  • 研究成果

    (13件)
  • 共同研究者

    (2人)
  •  原子からミクロンレベルまで観察可能な電子回折顕微法という新規結像分野の確立

    • 研究代表者
      山崎 順
    • 研究期間 (年度)
      2014 – 2016
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      薄膜・表面界面物性
    • 研究機関
      大阪大学
  •  電子線小角散乱からの新規位相イメージング法によるナノスケール電磁場の定量的可視化

    • 研究代表者
      山崎 順
    • 研究期間 (年度)
      2014 – 2015
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      ナノ材料工学
    • 研究機関
      大阪大学

すべて 2016 2015 その他

すべて 雑誌論文 学会発表

  • [雑誌論文] 電子回折位相イメージング法の開発とナノ電場の可視化2016

    • 著者名/発表者名
      山﨑 順, 島岡勇記, 佐々木宏和
    • 雑誌名

      まてりあ

      巻: 55 号: 12 ページ: 581-581

    • DOI

      10.2320/materia.55.581

    • NAID

      130005170196

    • ISSN
      1340-2625, 1884-5843
    • 言語
      日本語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26286049
  • [学会発表] Refined Phase Imaging by Electron Diffractive Imaging2016

    • 著者名/発表者名
      Jun Yamasaki, Yuki Shimaoka, and Hirokazu Sasaki
    • 学会等名
      Microscopy and Microanalysis 2016 Meeting
    • 発表場所
      Columbus, Ohio, USA
    • 年月日
      2016-07-24
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26286049
  • [学会発表] Analysis of GaAs compound semiconductors and the semiconductor laser diode using electron holography, Lorentz microscopy, electron diffraction microscopy and differential phase contrast STEM2016

    • 著者名/発表者名
      Hirokazu Sasaki, Shinya Otomo, Ryuichiro Minato, Junji Yoshida, Kazuo Yamamoto, Tsukasa Hirayama Jun Yamasaki and Naoya Shibata
    • 学会等名
      The 5th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations
    • 発表場所
      WINC Aichi, Nagoya, Japan
    • 年月日
      2016-05-11
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26286049
  • [学会発表] 電子線回折を用いた定量的位相イメージング法2016

    • 著者名/発表者名
      山﨑 順, 島岡 勇記, 佐々木 宏和
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 第72回学術講演会
    • 発表場所
      仙台国際センター
    • 年月日
      2016-06-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26286049
  • [学会発表] Developing Quantitative Phase Imaging by Electron Diffractive Imaging2016

    • 著者名/発表者名
      Jun Yamasaki, Yuki Shimaoka, and Hirokazu Sasaki
    • 学会等名
      The 5th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations
    • 発表場所
      WINC Aichi, Nagoya, Japan
    • 年月日
      2016-05-11
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26286049
  • [学会発表] Analysis of GaAs compound semiconductors and the semiconductor laser diode using off-axis electron holography, Lorentz microscopy, electron diffraction microscopy and differential phase contrast2015

    • 著者名/発表者名
      Hirokazu Sasaki, Shinya Otomo, Ryuichiro Minato, Kazuo Yamamoto, Tsukasa Hirayama, Jun Yamasaki and Naoya Shibata
    • 学会等名
      Microscopy and Microanalysis 2015 Meeting
    • 発表場所
      Portland, USA
    • 年月日
      2015-08-02
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26286049
  • [学会発表] 各種電子顕微鏡法による半導体中の電位分布解析2015

    • 著者名/発表者名
      佐々木宏和, 大友晋哉、山本和夫、平山司、山﨑 順、柴田直哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 第71回記念学術講演会
    • 発表場所
      京都国際会館
    • 年月日
      2015-05-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26600042
  • [学会発表] Analysis of GaAs compound semiconductors and the semiconductor laser diode using off-axis electron holography, Lorentz microscopy, electron diffraction microscopy and differential phase contrast2015

    • 著者名/発表者名
      Hirokazu Sasaki,Shinya Otomo, Ryuichiro Minato, Kazuo Yamamoto, Tsukasa Hirayama, Jun Yamasaki and Naoya Shibata
    • 学会等名
      Microscopy and Microanalysis 2015 Meeting
    • 発表場所
      Portland, USA
    • 年月日
      2015-08-02
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26600042
  • [学会発表] 各種電子顕微鏡法による半導体中の電位分布解析2015

    • 著者名/発表者名
      佐々木宏和、大友晋哉、山本和生、平山司、山﨑 順、柴田直哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 第71回記念学術講演会
    • 発表場所
      京都国際会館、京都府京都市
    • 年月日
      2015-05-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26286049
  • [学会発表] 位相回復法を用いた半導体解析

    • 著者名/発表者名
      佐々木宏和、大友晋哉、山本和生、平山司、山崎 順、谷垣俊明、明石哲也
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第70回学術講演会
    • 発表場所
      幕張メッセ国際会議場 (千葉県)
    • 年月日
      2014-05-11 – 2014-05-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26286049
  • [学会発表] Observation of electric field using electron diffractive imaging

    • 著者名/発表者名
      J. Yamasaki, K. Ohta, H. Sasaki, and N. Tanaka
    • 学会等名
      18th International Microscopy Congress (IMC 2014)
    • 発表場所
      Prague (チェコ)
    • 年月日
      2014-09-07 – 2014-09-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26600042
  • [学会発表] 位相回復法を用いた半導体解析

    • 著者名/発表者名
      佐々木宏和、大友晋哉、山本和生、平山司、山崎 順、谷垣俊明、明石哲也
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第70回学術講演会
    • 発表場所
      幕張メッセ国際会議場 (千葉県)
    • 年月日
      2014-05-11 – 2014-05-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26600042
  • [学会発表] Observation of electric field using electron diffractive imaging

    • 著者名/発表者名
      J. Yamasaki, K. Ohta, H. Sasaki, and N. Tanaka
    • 学会等名
      18th International Microscopy Congress (IMC 2014)
    • 発表場所
      Prague (チェコ)
    • 年月日
      2014-09-07 – 2014-09-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26286049
  • 1.  山崎 順 (40335071)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 9件
  • 2.  田中 信夫 (40126876)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 2件

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