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高松 雄三  TAKAMATSU Yuzo

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 80039255
その他のID
外部サイト
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2008年度: 愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 教授
2006年度 – 2008年度: 愛媛大学, 理工学研究科, 教授
2003年度 – 2005年度: 愛媛大学, 工学部, 教授
1990年度 – 1992年度: 愛媛大学, 工学部, 教授
1987年度: 愛媛大学, 工学部, 教授
1986年度: 佐賀大学, 理工学部, 助教授
審査区分/研究分野
研究代表者
計算機システム・ネットワーク
研究代表者以外
情報工学 / 情報工学
キーワード
研究代表者
Open fault / Internal bridging fault / Stuck-at fault / Test compaction / Built-in self test / Fault diagnosis / Testing of LSIs / 消費電力削減 / テスト系列圧縮 / 遅延故障 … もっと見る / VLSIの故障診断 / VLSIの故障検査 / ドントケア値 / クロストーク故障 / ブリッジ故障 / 故障検査 / 論理回路のテスト / オープン故障 / 内部ブリッジ故障 / 縮退故障 / テスト圧縮 / 組込み自己テスト / 故障診断 / 論理回路の故障検査 / ハードウエア記述言語 / 保守性 / ソフトウエアメトリクス / テストケース / ハード協調テスト / ハード協調設計 / ソフト / 協調テスト / ソフトウエア / ハードウエア / テスト / 組み込みシステム … もっと見る
研究代表者以外
故障診断 / Fault Detection and Diagnosis / Highly Reliable Design / Testable design / Fault-Tolerant Design / Intelligent Systems / Fault-Tolerant System / Fault-Tolerant Computer / VLSI設計自動化 / ソフトウェアの高信頼化 / 知識工学 / 高信頼化 / フォールトトレランス / 設計検証 / 故障検査 / 高信頼化設計 / 検査容易設計 / 耐故障設計 / 知的システム / 耐故障システム / 耐故障コンピュータ / LST Testing / Highly Observable Testing / Electron Beam Testing / Fault Diagnosis / Testable Design / テストパタ-ン生成 / 診断容易化設計 / 電子ビ-ムテスト / 論理回路 / LSIテスト / 全可観測テスト / 電子ビームテスト / テスト容易化設計 隠す
  • 研究課題

    (4件)
  • 研究成果

    (26件)
  • 共同研究者

    (13人)
  •  組み込みシステムに対するソフト/ハード協調テスト法の開発研究代表者

    • 研究代表者
      高松 雄三
    • 研究期間 (年度)
      2006 – 2008
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      愛媛大学
  •  超高速・超微細VLSIに対する組込み自己テスト手法と故障診断法に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      高松 雄三
    • 研究期間 (年度)
      2003 – 2005
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      愛媛大学
  •  可観測な環境でのテスト設計と診断容易化手法に関する研究

    • 研究代表者
      樹下 行三
    • 研究期間 (年度)
      1990 – 1992
    • 研究種目
      一般研究(B)
    • 研究分野
      情報工学
    • 研究機関
      大阪大学
  •  知的耐故障コンピュータシステムに関する研究

    • 研究代表者
      樹下 行三
    • 研究期間 (年度)
      1985 – 1987
    • 研究種目
      総合研究(A)
    • 研究分野
      情報工学
    • 研究機関
      広島大学

すべて 2008 2007 2006 2005 2004

すべて 雑誌論文 学会発表

  • [雑誌論文] ハードウェアテスト生成ツールを用いた組込みシステムに対するテストケール生成法2008

    • 著者名/発表者名
      樋上喜信, 藤尾昇平, 阿萬裕久, 高橋寛, 高松雄三
    • 雑誌名

      組込みシステムシンポジウム論文集

      ページ: 151-157

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [雑誌論文] ハードウェアテスト生成ツールを用いた組込みシステムに対するテストケース生成法2008

    • 著者名/発表者名
      樋上喜信, 藤尾昇平, 阿萬裕久, 高橋寛, 高松雄三
    • 雑誌名

      組込みシステムシンポジウム論文集 無し

      ページ: 151-157

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [雑誌論文] ハードウエア設計に対するソフトウエアメトリクスの適用2007

    • 著者名/発表者名
      阿萬裕久, 池田裕輔, 市川直樹, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
    • 雑誌名

      電子情報通信学会総合大会論文集

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [雑誌論文] Compaction of Pass/Fail-based Diagnostic Test Vectors for Combinational and Sequential Circuits2006

    • 著者名/発表者名
      Y.Higami, K.K.Saluja, H.Takahashi, S.Kobayashi, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      Proc.of IEEE The Eleventh Asia and South Pacific Design Automation

      ページ: 659-664

    • NAID

      110004729724

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] On Finding Don't Cares in Test Sequences for Sequential Circuits2006

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, S. Kajihara, I. Pomeranz, S. Kobayashi and Y. Takamatsu
    • 雑誌名

      IEICE Trans. on Inf. & Syst. vol.E89-D, no.11

      ページ: 2748-2755

    • NAID

      110007538482

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [雑誌論文] 組合せ回路および順序回路に対する検出・非検出情報に基づく診断用テスト圧縮法2006

    • 著者名/発表者名
      樋上喜信, Kewal K. Saluja, 高橋寛, 小林真也, 高松雄三
    • 雑誌名

      情報処理学会論文誌 vol.47, no.5

      ページ: 1269-1277

    • NAID

      110004729724

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [雑誌論文] Compaction of Pass/Fail-based Diagnostic Test Vectors for Combinational and Sequential Circuits2006

    • 著者名/発表者名
      Y.Higami, K.K.Saluja, H.Takahashi, S.Kobayashi, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      Proc.of IEEE Eleventh Asia and South Pacific Design Automation Conference

      ページ: 659-664

    • NAID

      110004729724

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] Compaction of Pass/Fail-based Diagnostic Test Vectors for Combinational and Sequential Circuits2006

    • 著者名/発表者名
      Y.Higami, K.K.Saluji, H.Takahashi, S.Kobayashi, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE The Eleventh Asia and South Pacific Design Automation

      ページ: 659-664

    • NAID

      110004729724

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] On the Fault Diagnosis in the Presence of Unknown Fault Models Using Pass/Fail Information2005

    • 著者名/発表者名
      Y.Takamatsu, T.Seiyama, H.Takahashi, Y.Higami, K.Yamazaki
    • 雑誌名

      Proc.of IEEE Int.Sympo.on Circuits and Systems

      ページ: 2987-2990

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] On the Fault Diagnosis in the Presence of Unknown Fault Models Using Pass/Fail Information2005

    • 著者名/発表者名
      Y.Takamatsu, T.Seiyama, H.Takahashi, Y.Higami, K.Yamazaki
    • 雑誌名

      Proc.of IEEE Int.Sympo. on Circuits and Systems

      ページ: 2987-2990

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] A Method for Reducing the Target Fault List of Crosstalk Faults in Synchronous Sequential Circuits2005

    • 著者名/発表者名
      H.Takahashi, K.J.Keller, K.T.Le, K.K.Saluja, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      IEEE Trans.on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 24-2

      ページ: 252-263

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] A Method for Reducing the Target Fault List of Crosstalk Faults in Synchronous Sequential Circuits2005

    • 著者名/発表者名
      H.Takahashi, K.J.Keller, K.T.Le, K.K.Saluja, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      IEEE Trans.on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems vol.24, no.2

      ページ: 252-263

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] A Method for Reducing the Target Fault List of Crosstalk Faults in Synchronous Sequetial Circuits2005

    • 著者名/発表者名
      H.Takahashi, K.J.Keller, K.T.Le, K.K.Saluja, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems vol.24,no.2

      ページ: 252-263

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] On the Fault Diagnosis in the Presence of Unknown Fault Models Using Pass/Fail Information2005

    • 著者名/発表者名
      Y.Takamatsu, T.Seiyama, H.Takahashi, Y.Higami, K.Yamazaki
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE Int. Sympo. on Circuits and Systems

      ページ: 2987-2990

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] Techniques for Finding Xs in Test Sequences for Sequential Circuits and Applications of Test Length/Power Reductior2004

    • 著者名/発表者名
      Y.Higami, S.Kajihara, S.Kobayeshi, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      Proc.of the Thirteenth Asian Test Symposium

      ページ: 46-49

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] Failure Analysis of Open Faults by Using Detecting/Undetecting Information on Tests2004

    • 著者名/発表者名
      Y.Sato, H.Takahashi, Y.Higami, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      Proc.of the Thirteenth Asian Test Symposium

      ページ: 222-227

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] Acceleration Techniques for Crosstalk Fault Simulation2004

    • 著者名/発表者名
      Y.Higami, M.Sato, H.Takahashi, S.Kobayashi, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      Proc.of the Int'l Multi-Conf.on Advanced Computer System & Computer Information Systems and Industrial Management

      ページ: 300-309

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [学会発表] ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について2008

    • 著者名/発表者名
      高橋 寛, 樋上 喜信, 阿萬 裕久, 釜山 天平, 小林 真也, 高松 雄三
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      早稲田大学(北九州市)
    • 年月日
      2008-03-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [学会発表] 原因-結果グラフを用いた組込みシステムに対する自動テストケース生成法2008

    • 著者名/発表者名
      藤尾昇平, 阿萬裕久, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
    • 学会等名
      電気関係学科四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島
    • 年月日
      2008-09-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [学会発表] 原因-結果グラフを用いた組込みシステムに対する自動テストケール生成法2008

    • 著者名/発表者名
      藤尾昇平, 阿萬裕久, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
    • 学会等名
      電気関係学科四国支部連合大会論文集, p. 300
    • 年月日
      2008-09-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [学会発表] ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について2008

    • 著者名/発表者名
      高橋寛, 樋上喜信, 阿萬裕久, 釜山天平, 小林真也, 高松雄三
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 年月日
      2008-03-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [学会発表] 直交表を用いた単体テストに関する考察~JUnit支援ツールの試作~2007

    • 著者名/発表者名
      山田輝, 阿萬裕久, 高松雄三
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術報告, vol.107, no.5, pp.1-6
    • 年月日
      2007-04-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [学会発表] ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法2007

    • 著者名/発表者名
      樋上喜信, K. K. Saluja, 高橋寛, 小林真也, 高松雄三
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術報告(DC研究会), vol. 106, no. 476, pp. 34-39
    • 年月日
      2007-02-09
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [学会発表] 直交表を用いた単体テストに関する考察 〜JUnit支援ツールの試作2007

    • 著者名/発表者名
      山田 輝・阿萬 裕久・高松 雄三
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術報告
    • 発表場所
      会津大学(会津若松市)
    • 年月日
      2007-04-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [学会発表] ハードウエア設計に対するソフトウェアメトリクスの適用2007

    • 著者名/発表者名
      阿萬裕久, 池田裕輔, 市川直樹, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 年月日
      2007-03-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [学会発表] Diagnosis of Transistor Shorts in Logic Test Environment2006

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, K. K. Saluja, H. Takahasi, K. Kobayashi and Y. Takamatsu
    • 学会等名
      Proc. IEEE Fifteenth Asian Test Symposium, pp. 354-359
    • 年月日
      2006-11-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • 1.  高橋 寛 (80226878)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 21件
  • 2.  樋上 喜信 (40304654)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 21件
  • 3.  樹下 行三 (00028995)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 4.  阿萬 裕久 (50333513)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 10件
  • 5.  安井 裕 (60029014)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 6.  板崎 徳禎 (90223073)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 7.  小松 雅治 (90116583)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 8.  菊野 亨 (50093745)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 9.  向殿 政男 (00061987)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 10.  岡本 卓爾 (60032934)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 11.  当麻 喜弘 (50016317)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 12.  内藤 祥雄 (00115114)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 13.  古賀 義亮
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

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