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高橋 寛  TAKAHASHI Hiroshi

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 80226878
その他のID
外部サイト
所属 (現在) 2025年度: 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2016年度 – 2023年度: 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授
2015年度: 愛媛大学, 大学院理工学研究科, 教授
2012年度 – 2015年度: 愛媛大学, 理工学研究科, 教授
2009年度 – 2012年度: 愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 教授
2010年度: 愛媛大学, 理工学研究科, 教授 … もっと見る
2008年度 – 2009年度: 愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 准教授
2007年度 – 2009年度: 愛媛大学, 理工学研究科, 准教授
2006年度: 愛媛大学, 理工学研究科, 助教授
2003年度 – 2005年度: 愛媛大学, 工学部, 助教授
1997年度 – 1998年度: 愛媛大学, 工学部, 講師
1996年度: 愛媛大学, 工学部, 助手
1994年度: 愛媛大学, 工学部, 助手 隠す
審査区分/研究分野
研究代表者
計算機科学 / 小区分60040:計算機システム関連 / 計算機システム / 計算機システム・ネットワーク
研究代表者以外
計算機システム・ネットワーク / 小区分60040:計算機システム関連 / 計算機システム
キーワード
研究代表者
組込み自己テスト / 故障診断 / 故障検査 / ディペンダブルコンピューティング / フィールドテスト / 組込み自己診断 / オープン故障 / 遅延故障 / テスト生成 / 組合せ回路 … もっと見る / テスト容易化設計 / 構造型情報処理アーキテクチャ / 検査容易化設計 / テスト容易化設計法 / 認証方式 / 信頼性強化設計法 / つながるデバイス / ディペンダブル・コンピューティング / 計算機システム / 先進運転支援システム / 先進自動運転 / LSIのテスト / 組込み自己診断法 / 機能安全 / 診断用テスト / 故障診断法 / プリシリコンテスト / ポストシリコンテスト / 抵抗性オープン故障 / オンチップセンサー / 診断 / テスト / タイミング不良 / システムオンチップ / 情報工学 / 欠陥検出向きテスト / ブリッジ故障 / 組み合せ回路 / ゲート遅延故障 / 活性化経路 / 診断用テスト集合 / 多重縮退故障 … もっと見る
研究代表者以外
故障診断 / 遅延故障 / LSIの故障診断 / テストパターン生成 / テスト / LSIテスト / ブリッジ故障 / 縮退故障 / 組込み自己テスト / LSIのテスト / 故障検査 / 論理回路の故障検査 / ディペンダブルコンピューティング / 論理回路 / 故障シミュレーション / クロストーク故障 / メモリ / シストリックアーキテクチャ / 集積回路回路 / 深層強化学習 / シストリックアレイ / ニューラルネットワーク(NN) / MRP / AI(人工知能) / 時空間グラフ畳み込みニューラルネットワーク / テスト容易化 / セキュリティ / バウンダリスキャン / バイナリーニューラルネットワーク / 出力応答圧縮 / フィールドテスト / アダプティブ故障診断 / テストパターン / ニューラルネットワーク / 出力圧縮 / テストポイント / 機械学習 / 故障辞書 / テスト容易化設計 / テストパターン数削減 / 信号伝搬遅延変動 / マルチサイクルテスト / Open fault / Internal bridging fault / Stuck-at fault / Test compaction / Built-in self test / Fault diagnosis / Testing of LSIs / 消費電力削減 / テスト系列圧縮 / VLSIの故障診断 / VLSIの故障検査 / ドントケア値 / 論理回路のテスト / オープン故障 / 内部ブリッジ故障 / テスト圧縮 / 3次元LSI / LSI / LSIの設計・テスト / クロック信号線 / システムLSI / 故障モデル / シミュレーション / VLSIのテスト / 高信頼化 / ゲートレベルツール / トランジスタショート / VLSI(大規模集積回路) / ハードウエア記述言語 / 保守性 / ソフトウエアメトリクス / テストケース / ハード協調テスト / ハード協調設計 / ソフト / 協調テスト / ソフトウエア / ハードウエア / 組み込みシステム 隠す
  • 研究課題

    (16件)
  • 研究成果

    (168件)
  • 共同研究者

    (7人)
  •  構造型情報処理アーキテクチャに対するフィールドテスト法研究代表者

    • 研究代表者
      高橋 寛
    • 研究期間 (年度)
      2023 – 2025
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分60040:計算機システム関連
    • 研究機関
      愛媛大学
  •  メモリ型再構成エッジデバイスにおける高信頼性知的処理機能の設計法に関する研究

    • 研究代表者
      王 森レイ
    • 研究期間 (年度)
      2022 – 2024
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分60040:計算機システム関連
    • 研究機関
      愛媛大学
  •  アダプティブ故障診断における故障診断時間の短縮に関する研究

    • 研究代表者
      樋上 喜信
    • 研究期間 (年度)
      2019 – 2023
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分60040:計算機システム関連
    • 研究機関
      愛媛大学
  •  つながるデバイスのフィールドテストのための信頼性強化設計法の開発研究代表者

    • 研究代表者
      高橋 寛
    • 研究期間 (年度)
      2019 – 2022
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分60040:計算機システム関連
    • 研究機関
      愛媛大学
  •  機能安全技術のための組込み自己診断法の開発研究代表者

    • 研究代表者
      高橋 寛
    • 研究期間 (年度)
      2016 – 2018
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      愛媛大学
  •  高精度遅延故障シミュレータを用いた遅延故障に対するテストと診断に関する研究

    • 研究代表者
      樋上 喜信
    • 研究期間 (年度)
      2016 – 2019
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      愛媛大学
  •  3次元LSIにおけるビア接続不良に対するテストと診断に関する研究

    • 研究代表者
      樋上 喜信
    • 研究期間 (年度)
      2013 – 2015
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      愛媛大学
  •  プリシリコンテストとポストシリコンテストを併用したタイミング不良診断法の開発研究代表者

    • 研究代表者
      高橋 寛
    • 研究期間 (年度)
      2013 – 2016
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      愛媛大学
  •  システム LSI におけるクロック信号線上の故障に対する検査法β診断法の開発

    • 研究代表者
      樋上 喜信
    • 研究期間 (年度)
      2010 – 2012
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      愛媛大学
  •  故障励起関数に基づく欠陥検出向きテスト生成法に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      高橋 寛
    • 研究期間 (年度)
      2008 – 2010
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      愛媛大学
  •  高速VLSIのクロストーク故障に対する高信頼テスト手法に関する研究

    • 研究代表者
      樋上 喜信
    • 研究期間 (年度)
      2007 – 2009
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      愛媛大学
  •  組み込みシステムに対するソフト/ハード協調テスト法の開発

    • 研究代表者
      高松 雄三
    • 研究期間 (年度)
      2006 – 2008
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      愛媛大学
  •  超高速・超微細VLSIに対する組込み自己テスト手法と故障診断法に関する研究

    • 研究代表者
      高松 雄三
    • 研究期間 (年度)
      2003 – 2005
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      愛媛大学
  •  組合せ回路の遅延故障に対する新しいテストとその診断への応用に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      高橋 寛
    • 研究期間 (年度)
      1997 – 1998
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      愛媛大学
  •  組合せ回路の遅延故障に対する新しいテストの提案とその生成法研究代表者

    • 研究代表者
      高橋 寛
    • 研究期間 (年度)
      1996
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      愛媛大学
  •  部分単一活性化経路に基づく組合せ回路の多重縮退故障の診断法に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      高橋 寛
    • 研究期間 (年度)
      1994
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      愛媛大学

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すべて 雑誌論文 学会発表 図書

  • [図書] Three-Dimensional Integration of Semiconductors2015

    • 著者名/発表者名
      Kazuo Kondo, Morihiro Kada, Kenji Takahashi (Editors)
    • 総ページ数
      401
    • 出版者
      Springer
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330062
  • [雑誌論文] Testing and Delay-Monitoring for the High Reliability of Memory-Based Programmable Logic Device2024

    • 著者名/発表者名
      ZHOU Xihong、WANG Senling、HIGAMI Yoshinobu、TAKAHASHI Hiroshi
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems

      巻: E107.D 号: 1 ページ: 60-71

    • DOI

      10.1587/transinf.2023EDP7101

    • ISSN
      0916-8532, 1745-1361
    • 年月日
      2024-01-01
    • 言語
      英語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [雑誌論文] 深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法2023

    • 著者名/発表者名
      塩谷晃平, 西川竜矢, 魏 少奇, 王 森レイ, 甲斐 博, 樋上喜信, 高橋 寛
    • 雑誌名

      信学技報,

      巻: 123 ページ: 23-28

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [雑誌論文] SASL-JTAG: A Light-Weight Dependable JTAG2023

    • 著者名/発表者名
      Wang Senling、Wei Shaoqi、Ma Jun、Kai Hiroshi、Higami Yoshinobu、Takahashi Hiroshi、Shimizu Akihiro、Wen Xiaoqing、Ni Tianming
    • 雑誌名

      Proc. in 2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

      ページ: 1-3

    • DOI

      10.1109/dft59622.2023.10313532

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [雑誌論文] Improving of Fault Diagnosis Ability by Test Point Insertion and Output Compaction2023

    • 著者名/発表者名
      Higami Yoshinobu、Inamoto Tsutomu、Wang Senling、Takahashi Hiroshi、Saluja Kewal K.
    • 雑誌名

      Proc. in 2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC)

      巻: - ページ: 1-6

    • DOI

      10.1109/itc-cscc58803.2023.10212844

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11955, KAKENHI-PROJECT-19K11877
  • [雑誌論文] Test Point Selection Using Deep Graph Convolutional Networks and Advantage Actor Critic (A2C) Reinforcement Learning2023

    • 著者名/発表者名
      Wei Shaoqi、Shiotani Kohei、Wang Senling、Kai Hiroshi、Higami Yoshinobu、Takahashi Hiroshi、Wang Gang
    • 雑誌名

      Proc. in 2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC)

      ページ: 1-6

    • DOI

      10.1109/itc-cscc58803.2023.10212888

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [雑誌論文] Test Point Selection Using Deep Graph Convolutional Networks and Advantage Actor Critic (A2C) Reinforcement Learning2023

    • 著者名/発表者名
      Shaoqi Wei, Kohei Shiotani, Senling Wang, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Gang Wang
    • 雑誌名

      2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications,

      巻: - ページ: 1-8

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K11033
  • [雑誌論文] メモリ型論理再構成装置におけるニューラルネットワークの実装について2023

    • 著者名/発表者名
      笹川健太, 西川竜矢, 周 細紅, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛
    • 雑誌名

      信学技報

      巻: 123 ページ: 112-116

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [雑誌論文] グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法2023

    • 著者名/発表者名
      魏 少奇・塩谷晃平・王 森レイ・甲斐 博・樋上喜信・高橋 寛
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術報告

      巻: DC2022(87) ページ: 27-32

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [雑誌論文] メモリズムパターンマッチングアクセラレータのFPGA実装と性能評価2023

    • 著者名/発表者名
      本田志遠, 西川竜矢, 周 細紅, 王 森レイ, 甲斐 博, 樋上喜信, 高橋 寛, 井上克己
    • 雑誌名

      信学技報

      巻: 123 ページ: 162-167

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [雑誌論文] メモリズムパターンマッチングアクセラレータのFPGA 実装と性能評価2023

    • 著者名/発表者名
      本田 志遠,西川 竜矢,周 細紅,王 森レイ,甲斐 博,樋上 喜信,高橋 寛,井上 克己
    • 雑誌名

      電子情報通信学会信学技報

      巻: DC2023-68 ページ: 162-167

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K11033
  • [雑誌論文] 深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法2023

    • 著者名/発表者名
      塩谷 晃平,西川 竜矢,魏 少奇,王 森レイ,甲斐 博,樋上 喜信,高橋 寛
    • 雑誌名

      電子情報通信学会信学技報

      巻: DC2023-98 ページ: 23-28

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K11033
  • [雑誌論文] Test Point Insertion for Multi-Cycle Power-On Self-Test2022

    • 著者名/発表者名
      Senling Wang, Xihong Zhou, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Yoichi Maeda, Jun Matsushima
    • 雑誌名

      ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems

      巻: - 号: 3 ページ: 1-21

    • DOI

      10.1145/3563552

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878, KAKENHI-PROJECT-19K20234, KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [雑誌論文] ディープニューラルネットワークを利用したシステムに対する高効率な検証法2022

    • 著者名/発表者名
      白石忠明 , 高橋寛, WANG Senling
    • 雑誌名

      情報科学技術フォーラム講演論文集 (FIT)

      ページ: 269-271

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [雑誌論文] Preliminary Study on Noise-Resilient Artificial Neural Networks for On-Chip Test Generation2022

    • 著者名/発表者名
      Tsutomu Inamoto, Tomoki Nishino, Senling Wang, Yoshinobu Higami and Hiroshi Takahashi
    • 雑誌名

      Proceedings of IEEE 11th Global Conference on Consumer Electronics

      巻: - ページ: 561-565

    • DOI

      10.1109/gcce56475.2022.10014218

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11877, KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [雑誌論文] Machine Learning Based Fault Diagnosis for Stuck-at Faults and Bridging Faults2022

    • 著者名/発表者名
      Yoshinobu Higami, Takaya Yamauchi, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja
    • 雑誌名

      Proceedings of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

      巻: - ページ: 477-480

    • DOI

      10.1109/itc-cscc55581.2022.9894966

    • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11877, KAKENHI-PROJECT-22K11955, KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [雑誌論文] グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法2022

    • 著者名/発表者名
      魏 少奇 , 塩谷晃平 , 王 森レイ , 甲斐 博 , 樋上喜信 , 高橋 寛
    • 雑誌名

      信学技報

      巻: vol.122(no.393) ページ: 27-32

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [雑誌論文] 軽量なワンタイムパスワード認証方式を用いたJTAGアクセス機構のFPGA実装と面積評価2022

    • 著者名/発表者名
      岡本 悠 , 馬 竣 , 王 森レイ , 甲斐 博 , 高橋 寛 , 清水明宏
    • 雑誌名

      信学技報

      巻: vol.122(no.285) ページ: 168-173

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [雑誌論文] 軽量なワンタイムパスワード認証方式を用いたJTAGアクセス機構のFPGA実装と面積評価2022

    • 著者名/発表者名
      岡本 悠, 馬 竣, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 清水明宏
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術報告

      巻: DC2022(64) ページ: 168-173

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [雑誌論文] JTAGのセキュリティ脅威  ―攻撃の現状とその対策―2021

    • 著者名/発表者名
      王シンレイ,亀山修一,高橋寛
    • 雑誌名

      エレクトロニクス実装学会学会誌

      巻: 24 ページ: 668-674

    • NAID

      130008110211

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [雑誌論文] Compaction of Fault Dictionary without Degrading Diagnosis Ability,2021

    • 著者名/発表者名
      Yoshinobu Higami, Tomokazu Nakamura, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja
    • 雑誌名

      Proceedings of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

      巻: - ページ: 51-54

    • DOI

      10.1109/itc-cscc52171.2021.9501474

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11877, KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [雑誌論文] FF-Control Point Insertion (FF-CPI) to Overcome the Degradation of Fault Detection under Multi-Cycle Test for POST2020

    • 著者名/発表者名
      Al-AWADHI Hanan T.、AONO Tomoki、WANG Senling、HIGAMI Yoshinobu、TAKAHASHI Hiroshi、IWATA Hiroyuki、MAEDA Yoichi、MATSUSHIMA Jun
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems

      巻: E103.D 号: 11 ページ: 2289-2301

    • DOI

      10.1587/transinf.2019EDP7235

    • NAID

      130007933859

    • ISSN
      0916-8532, 1745-1361
    • 年月日
      2020-11-01
    • 言語
      英語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878, KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [雑誌論文] Reduction of Fault Dictionary Size by Optimizing the Order of Test Patterns Application2020

    • 著者名/発表者名
      Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja
    • 雑誌名

      Proc. Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications

      巻: - ページ: 131-136

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11877
  • [雑誌論文] マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法2020

    • 著者名/発表者名
      環 輝・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術報告

      巻: DC2020-35 ページ: 24-29

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [雑誌論文] マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法2020

    • 著者名/発表者名
      青野智己, 中岡典弘, 周 細紅, 王 森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋 潤
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術報告

      巻: 119 ページ: 19-24

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [雑誌論文] マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法2020

    • 著者名/発表者名
      中岡典弘・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術報告

      巻: DC2020-75 ページ: 36-41

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [雑誌論文] Compact Dictionaries for Reducing Compute Time in Adaptive Diagnosis2019

    • 著者名/発表者名
      Yoshinobu Higami, Tomokazu Nakamura, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K Saluja
    • 雑誌名

      Proceedings Internationa Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

      巻: - ページ: 525-528

    • DOI

      10.1109/itc-cscc.2019.8793429

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11877, KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [雑誌論文] 確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析2019

    • 著者名/発表者名
      中岡典弘,青野智己,工藤壮司,王 森レイ,樋上喜信,高橋 寛,岩田浩幸,前田洋一,松嶋 潤
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術報告

      巻: 119 ページ: 145-150

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [雑誌論文] Automotive Functional Safety Assurance by POST with Sequential Observation2018

    • 著者名/発表者名
      S. Wang, Y. Higami, H. Iwata, J. Matsushima, H. Takahashi
    • 雑誌名

      IEEE Design and Test of Computers

      巻: -

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [雑誌論文] Fault-detection-strengthened method to enable the POST for very-large automotive MCU in compliance with ISO262622018

    • 著者名/発表者名
      Senling Wang,Yoshinobu Higami,Hiroshi Takahashi,Hiroyuki Iwata,Yoichi Maeda,Jun Matsushima
    • 雑誌名

      Proc. 23rd IEEE European Test Symposium, ETS 2018

      巻: - ページ: 1-2

    • DOI

      10.1109/ets.2018.8400707

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [雑誌論文] Automotive Functional Safety Assurance by POST with Sequential Observation2018

    • 著者名/発表者名
      S. Wang, Y. Higami, H. Takahashi, H. Iwata, J. Matsushima
    • 雑誌名

      IEEE Design & Test

      巻: 35(3) 号: 3 ページ: 39-45

    • DOI

      10.1109/mdat.2018.2799801

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [雑誌論文] Capture-Pattern-Control to Address the Fault Detection Degradation Problem of Multi-cycle Test in Logic BIST2018

    • 著者名/発表者名
      Senling Wang,Tomoki Aono,Yoshinobu Higami,Hiroshi Takahashi,Hiroyuki Iwata,Yoichi Maeda,Jun Matsushima
    • 雑誌名

      Proc. 27th IEEE Asian Test Symposium, ATS 2018

      巻: - ページ: 155-160

    • DOI

      10.1109/ats.2018.00038

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [雑誌論文] Pattern Partitioning based Field Testing for Improving the Detection Latency of Aging-induced Delay Faults2017

    • 著者名/発表者名
      H.T. Al-Awadhi, S. Wang, Y. Higami, H. Takahashi
    • 雑誌名

      International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

      巻: - ページ: 1-4

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [雑誌論文] A Method for Diagnosing Bridging Fault between a Gate Signal Line and a Clock Line2017

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems

      巻: E100.D 号: 9 ページ: 2224-2227

    • DOI

      10.1587/transinf.2016EDL8210

    • NAID

      130006038431

    • ISSN
      0916-8532, 1745-1361
    • 言語
      英語
    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00075
  • [雑誌論文] Testing of Interconnect Defects in Memory Based Reconfigurable Logic Device (MRLD)2017

    • 著者名/発表者名
      Wang Senling、Higami Yoshinobu、Takahashi Hiroshi、Sato Masayuki、Katsu Mitsunori、Sekiguchi Shoichi
    • 雑誌名

      IEEE Asian Test Symposium

      巻: - ページ: 13-18

    • DOI

      10.1109/ats.2017.16

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [雑誌論文] Structure-Based Methods for Selecting Fault-Detection-Strengthened FF under Multi-cycle Test with Sequential Observation2016

    • 著者名/発表者名
      Senling Wang, Hanan T. Al-Awadhi, Soh Hamada, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Jun Matsushima
    • 雑誌名

      Proc. IEEE Asian Test Symposium

      巻: - ページ: 209-214

    • DOI

      10.1109/ats.2016.40

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [雑誌論文] Pattern Partitioning for Field Testing Considering the Aging Speed2016

    • 著者名/発表者名
      Hanan T. Al-Awadhi, Senling Wang, Yoshinobu Higami and Hiroshi Takahashi
    • 雑誌名

      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing

      巻: - ページ: 1-5

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [雑誌論文] 三次元積層ICのTSV相互接続の評価容易化設計DFE-アナログバウンダリスキャンによる接続抵抗評価―2016

    • 著者名/発表者名
      亀山 修一,王 森レイ,高橋 寛
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術報告

      巻: 116 ページ: 53-58

    • 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [雑誌論文] 論理回路の組込み自己診断に関する提案2016

    • 著者名/発表者名
      香川 敬祐, 矢野 郁也, 王 森レイ,樋上 喜信,高橋 寛,大竹 哲史
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: DC2016-76 ページ: 11-16

    • 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [雑誌論文] Message from the Editor-in-Chief2016

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja
    • 雑誌名

      IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology

      巻: 9 号: 0 ページ: 1-1

    • DOI

      10.2197/ipsjtsldm.9.1

    • NAID

      130005126057

    • ISSN
      1882-6687
    • 言語
      英語
    • 査読あり / 謝辞記載あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330062
  • [雑誌論文] アナログバウンダリスキャンを用いた三次元積層後のTSV 抵抗の精密計測法の実装について2015

    • 著者名/発表者名
      王 森レイ, 香川 敬祐, 亀山 修一,樋上 喜信, 高橋 寛
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: 115 ページ: 1-6

    • 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [雑誌論文] 論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減2015

    • 著者名/発表者名
      藤谷 和依, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 樋上 喜信, 高橋 寛
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: 115 ページ: 13-18

    • 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [雑誌論文] 隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について2015

    • 著者名/発表者名
      伊勢 幸太郎, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 樋上 喜信, 高橋 寛
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: 115 ページ: 31-36

    • 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [雑誌論文] A Simulated Annealing based Pattern Selection Method to HandlePower Supply Noise for Resistive Open Fault Diagnosis2015

    • 著者名/発表者名
      Senling Wang, Taiga Inoue, Hanan T. Al-Awadhi, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi,
    • 雑誌名

      Proc. ITC-CSCC2015

      巻: - ページ: 592-595

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [雑誌論文] Accurate Resistance Measuring Method for High Density Post-Bond TSVs in 3D-SIC with Electrical Probes2014

    • 著者名/発表者名
      Shuichi Kameyama, Masayuki Baba, Yoshinobu Higami, and Hiroshi Takahashi
    • 雑誌名

      Proc. International Conference on Electornics Packaging

      巻: TA4-4 ページ: 117-121

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [雑誌論文] Measuring Method for TSV-based Interconnect Resistance in 3D-SIC by Embedded Analog Boundary-Scan Circuit2014

    • 著者名/発表者名
      Shuichi Kameyama, Masayuki Baba, Yoshinobu Higami, and Hiroshi Takahashi
    • 雑誌名

      Transactions of The Japan Institute of Electronics Packaging

      巻: 7 ページ: 140-146

    • NAID

      130005130537

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [雑誌論文] Diagnosis of Delay Faults in Multi-Clock SOCs2014

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja
    • 雑誌名

      Proceedings of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

      巻: - ページ: 217-220

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330062
  • [雑誌論文] On SAT-based Test Generation for Resistive Open Using Delay Variation Caused by Effect of Adjacent Lines2014

    • 著者名/発表者名
      Jun Yamashita, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Yoshinobu Higami and Hiroshi Takahashi
    • 雑誌名

      WRTLT2014

      巻: - ページ: 49-54

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [雑誌論文] アナログバウンダリスキャンによる三次元積層後のTSV抵抗精密計測法2014

    • 著者名/発表者名
      亀山 修一,馬場 雅之,樋上 喜信,高橋 寛
    • 雑誌名

      電子情報通信学会論文誌 D-I

      巻: J97-D-I ページ: 887-890

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [雑誌論文] Diagnosis of Gate Delay Faults in the Presence of Clock Delay Faults2014

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja
    • 雑誌名

      Proceedings of IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI

      巻: - ページ: 320-325

    • DOI

      10.1109/isvlsi.2014.60

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330062
  • [雑誌論文] Diagnosing Resistive Open Faults Using Small Delay Fault Simulation2013

    • 著者名/発表者名
      Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Hironobu Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, and Kewal K. Saluja
    • 雑誌名

      Proc. IEEE 22nd Asian Test Symposium

      巻: - ページ: 79-84

    • DOI

      10.1109/ats.2013.23

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [雑誌論文] Generation for Delay Faults on Clock Lines under Launch-on-Capture Test Environment2013

    • 著者名/発表者名
      Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi and Kewal K. Saluja
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems

      巻: E96-D ページ: 1323-1331

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330062
  • [雑誌論文] Diagnosis for Bridging Faults on Clock Lines2012

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja
    • 雑誌名

      Proc. Pacific Rim Int. Symposium on Dependable Computing

      ページ: 135-144

    • DOI

      10.1109/prdc.2012.15

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22500048
  • [雑誌論文] Generation of Diagnostic Tests for Transition Faults Using a Stuck-at ATPG Tool2012

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja
    • 雑誌名

      IEICE Trans. on Inf. & Systems

      巻: vol. E95-D ページ: 1093-1100

    • NAID

      10030942163

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22500048
  • [雑誌論文] Diagnosis of Bridging Faults at Gated Clock Lines2012

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja
    • 雑誌名

      Proc. Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22500048
  • [雑誌論文] Fault Simulation and Test Generation for Clock Delay Faults2011

    • 著者名/発表者名
      Y.Higami, H.Takahashi, S.Kobayashi, K.K.Saluja
    • 雑誌名

      Proc.of Asia and South Pacific Design Automation Conference

      ページ: 799-805

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22500048
  • [雑誌論文] Enhancement of Clock Delay Faults Testing2011

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja
    • 雑誌名

      Proc. European Test Symposium

      ページ: 216-216

    • DOI

      10.1109/ets.2011.27

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22500048
  • [雑誌論文] 欠陥検出テストのためのテストパターン選択2011

    • 著者名/発表者名
      古谷博司, 酒井孝郎, 樋上喜信, 高橋寛
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: VOL.110 ページ: 45-50

    • NAID

      110008688390

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20500051
  • [雑誌論文] 欠陥検出テストのためのテストパターン選択2011

    • 著者名/発表者名
      古谷博司, 酒井孝郎, 樋上喜信, 高橋寛
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告(DC) vol.110, no.413

      ページ: 45-50

    • NAID

      110008688390

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20500051
  • [雑誌論文] Fault Simulation and Test Generation for Clock Delay Faults2011

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja
    • 雑誌名

      Proc. Asia and South Pacific Design Automation Conference

      ページ: 799-805

    • DOI

      10.1109/aspdac.2011.5722299

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22500048
  • [雑誌論文] On Detecting Transition Faults in the Presence of Clock Delay Faults2011

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja
    • 雑誌名

      Proc. Asian Test Symposium

      ページ: 1-6

    • DOI

      10.1109/ats.2011.33

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22500048
  • [雑誌論文] A Method for Diagnosing Resistive Open Faults with Considering Adjacent Lines2010

    • 著者名/発表者名
      Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      Proc.IEEE 10th International Symposium on Communications and Information Technologies

      ページ: 609-614

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20500051
  • [雑誌論文] A Method for Diagnosing Resistive Open Faults with Considering Adjacent Lines2010

    • 著者名/発表者名
      Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      IEEE 10th International Symposium on Communications and Information Technologies

      巻: 1巻 ページ: 609-614

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20500051
  • [雑誌論文] Addressing Defect Coverage through Generating Test Vectors for Transistor Defects2009

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, K.K. Saluja, H. Takahashi, S. Kobayashi, Y. Takamatsu
    • 雑誌名

      IEICE Trans. Fundamentals vol.E92-A,no.12

      ページ: 3506-3513

    • NAID

      10026861532

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500045
  • [雑誌論文] An Algorithm for Diagnosing Transistor Shorts Using Gate-level Simulation2009

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, K.K. Saluja, H. Takahashi, S. Kobayashi, Y. Takamatsu
    • 雑誌名

      IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology vol.2(in press)

      ページ: 250-262

    • NAID

      130000140280

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500045
  • [雑誌論文] Addressing Defect Coverage through Generating Test Vectors for Transistor Defects2009

    • 著者名/発表者名
      Y.Higami, K.K.Saluja, H.Takahashi, S.Kobayashi, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Fundamentals E92-A

      ページ: 3505-3513

    • NAID

      10026861532

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500045
  • [雑誌論文] An Algorithm for Diagnosing Transistor Shorts Using Gate-level Simulation2009

    • 著者名/発表者名
      Y.Higami, K.K.Saluja, H.Takahashi, S.Kobayashi, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology 2

      ページ: 250-262

    • NAID

      130000140280

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500045
  • [雑誌論文] ハードウェアテスト生成ツールを用いた組込みシステムに対するテストケール生成法2008

    • 著者名/発表者名
      樋上喜信, 藤尾昇平, 阿萬裕久, 高橋寛, 高松雄三
    • 雑誌名

      組込みシステムシンポジウム論文集

      ページ: 151-157

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [雑誌論文] ハードウェアテスト生成ツールを用いた組込みシステムに対するテストケース生成法2008

    • 著者名/発表者名
      樋上喜信, 藤尾昇平, 阿萬裕久, 高橋寛, 高松雄三
    • 雑誌名

      組込みシステムシンポジウム論文集 無し

      ページ: 151-157

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [雑誌論文] ハードウエア設計に対するソフトウエアメトリクスの適用2007

    • 著者名/発表者名
      阿萬裕久, 池田裕輔, 市川直樹, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
    • 雑誌名

      電子情報通信学会総合大会論文集

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [雑誌論文] Compaction of Pass/Fail-based Diagnostic Test Vectors for Combinational and Sequential Circuits2006

    • 著者名/発表者名
      Y.Higami, K.K.Saluja, H.Takahashi, S.Kobayashi, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      Proc.of IEEE The Eleventh Asia and South Pacific Design Automation

      ページ: 659-664

    • NAID

      110004729724

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] 組合せ回路および順序回路に対する検出・非検出情報に基づく診断用テスト圧縮法2006

    • 著者名/発表者名
      樋上喜信, Kewal K. Saluja, 高橋寛, 小林真也, 高松雄三
    • 雑誌名

      情報処理学会論文誌 vol.47, no.5

      ページ: 1269-1277

    • NAID

      110004729724

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [雑誌論文] Compaction of Pass/Fail-based Diagnostic Test Vectors for Combinational and Sequential Circuits2006

    • 著者名/発表者名
      Y.Higami, K.K.Saluji, H.Takahashi, S.Kobayashi, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE The Eleventh Asia and South Pacific Design Automation

      ページ: 659-664

    • NAID

      110004729724

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] Compaction of Pass/Fail-based Diagnostic Test Vectors for Combinational and Sequential Circuits2006

    • 著者名/発表者名
      Y.Higami, K.K.Saluja, H.Takahashi, S.Kobayashi, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      Proc.of IEEE Eleventh Asia and South Pacific Design Automation Conference

      ページ: 659-664

    • NAID

      110004729724

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] On the Fault Diagnosis in the Presence of Unknown Fault Models Using Pass/Fail Information2005

    • 著者名/発表者名
      Y.Takamatsu, T.Seiyama, H.Takahashi, Y.Higami, K.Yamazaki
    • 雑誌名

      Proc.of IEEE Int.Sympo.on Circuits and Systems

      ページ: 2987-2990

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] On the Fault Diagnosis in the Presence of Unknown Fault Models Using Pass/Fail Information2005

    • 著者名/発表者名
      Y.Takamatsu, T.Seiyama, H.Takahashi, Y.Higami, K.Yamazaki
    • 雑誌名

      Proc.of IEEE Int.Sympo. on Circuits and Systems

      ページ: 2987-2990

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] On the Fault Diagnosis in the Presence of Unknown Fault Models Using Pass/Fail Information2005

    • 著者名/発表者名
      Y.Takamatsu, T.Seiyama, H.Takahashi, Y.Higami, K.Yamazaki
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE Int. Sympo. on Circuits and Systems

      ページ: 2987-2990

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] A Method for Reducing the Target Fault List of Crosstalk Faults in Synchronous Sequential Circuits2005

    • 著者名/発表者名
      H.Takahashi, K.J.Keller, K.T.Le, K.K.Saluja, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      IEEE Trans.on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 24-2

      ページ: 252-263

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] A Method for Reducing the Target Fault List of Crosstalk Faults in Synchronous Sequential Circuits2005

    • 著者名/発表者名
      H.Takahashi, K.J.Keller, K.T.Le, K.K.Saluja, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      IEEE Trans.on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems vol.24, no.2

      ページ: 252-263

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] A Method for Reducing the Target Fault List of Crosstalk Faults in Synchronous Sequetial Circuits2005

    • 著者名/発表者名
      H.Takahashi, K.J.Keller, K.T.Le, K.K.Saluja, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems vol.24,no.2

      ページ: 252-263

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] Failure Analysis of Open Faults by Using Detecting/Undetecting Information on Tests2004

    • 著者名/発表者名
      Y.Sato, H.Takahashi, Y.Higami, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      Proc.of the Thirteenth Asian Test Symposium

      ページ: 222-227

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [雑誌論文] Acceleration Techniques for Crosstalk Fault Simulation2004

    • 著者名/発表者名
      Y.Higami, M.Sato, H.Takahashi, S.Kobayashi, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      Proc.of the Int'l Multi-Conf.on Advanced Computer System & Computer Information Systems and Industrial Management

      ページ: 300-309

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500043
  • [学会発表] 深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法2024

    • 著者名/発表者名
      塩谷 晃平,西川 竜矢,魏 少奇,王 森レイ,甲斐 博,樋上 喜信,高橋 寛
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K11033
  • [学会発表] メモリズムパターンマッチングアクセラレータのFPGA 実装と性能評価2023

    • 著者名/発表者名
      本田 志遠,西川 竜矢,周 細紅,王 森レイ,甲斐 博,樋上 喜信,高橋 寛,井上 克己
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K11033
  • [学会発表] Test Point Selection Using Deep Graph Convolutional Networks and Advantage Actor Critic (A2C) Reinforcement Learning2023

    • 著者名/発表者名
      Shaoqi Wei, Kohei Shiotani, Senling Wang, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Gang Wang
    • 学会等名
      2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications,
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K11033
  • [学会発表] エッジデバイスにおける SAS 認証回路の設計と実装2022

    • 著者名/発表者名
      岡本 悠, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 清水 明宏
    • 学会等名
      電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [学会発表] グラフ構造強化学習を用いたテスト検査点選定法2022

    • 著者名/発表者名
      塩谷 晃平, 魏少奇, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛
    • 学会等名
      2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [学会発表] JTAG 認証機構の軽量化設計について2022

    • 著者名/発表者名
      馬竣 岡本悠 王森レイ 甲斐博 亀山修一 高橋寛 清水明宏
    • 学会等名
      第36回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [学会発表] ワンタイムパスワードによるJTAG アクセス認証アーキテクチャのFPGA 実装と機能検証2022

    • 著者名/発表者名
      馬 竣, 岡本 悠, 魏 少奇, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 清水 明宏
    • 学会等名
      第37回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [学会発表] マルチサイクルテストによるテストパターン削減2022

    • 著者名/発表者名
      中野 潤平, 王 森レイ, 甲斐 博, 樋上 喜信, 高橋 寛
    • 学会等名
      電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [学会発表] マルチサイクルテストによるテストパターン削減2022

    • 著者名/発表者名
      中野 潤平, 王森レイ, 甲斐 博, 樋上喜信, 高橋 寛
    • 学会等名
      2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [学会発表] シングルボードコンピュータ上でのSAS認証方式の計算時間の評価2022

    • 著者名/発表者名
      荻田高史郎 甲斐 博・王 森レイ・高橋 寛・清水明宏
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [学会発表] SAS-L を用いた JTAG 認証システムのアクセスポートロック機能回路の設計と実装2022

    • 著者名/発表者名
      馬 竣, 岡本 悠, 王 森レイ, 甲斐 博, 亀山 修一, 高橋 寛, 清水 明宏
    • 学会等名
      電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [学会発表] エッジデバイスにおける SAS 認証回路の設計と実装2022

    • 著者名/発表者名
      岡本 悠, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋, 寛, 清水 明宏
    • 学会等名
      2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [学会発表] マルチサイクルの機能動作による故障診断能力の向上について2022

    • 著者名/発表者名
      神崎 壽伯, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛
    • 学会等名
      電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [学会発表] グラフ構造強化学習を用いたテスト検査点選定法2022

    • 著者名/発表者名
      塩谷 晃平, 魏 少奇, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛
    • 学会等名
      電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [学会発表] ローエンドエッジデバイスにおける SAS 認証方式の処理時間の評価2022

    • 著者名/発表者名
      荻田 高史郎, 清水 健吾, 中西 佳菜子, 甲斐 博, 王 森レイ, 高橋 寛, 清水 明宏
    • 学会等名
      2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [学会発表] 機械学習を用いた複数故障モデルの故障診断2021

    • 著者名/発表者名
      山内崇矢,稲元勉,王森レイ,樋上喜信,高橋寛
    • 学会等名
      令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11877
  • [学会発表] グラフ畳み込みニューラルネットワークを用いたテストポイント選定について2021

    • 著者名/発表者名
      魏少奇, 王森レイ, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛
    • 学会等名
      令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [学会発表] マルチサイクルテストの導入による組込自己診断の故障診断能力評価2021

    • 著者名/発表者名
      王宇超, 王森レイ, 樋上喜信, 甲斐博, 高橋寛
    • 学会等名
      令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [学会発表] マルチサイクル機能動作による故障診断用パターン生成2021

    • 著者名/発表者名
      神崎壽伯, 王シンレイ, 樋上喜信, 甲斐博, 高橋寛
    • 学会等名
      令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [学会発表] ハイブリッドテストポイント挿入法のマルチサイクルテストへの適用とその性能評価2020

    • 著者名/発表者名
      中岡典弘・青野智己・王 森レイ・高橋 寛・ 松嶋 潤・岩田浩幸・前田洋一
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [学会発表] マルチサイクルテストのテスト容易化のための制御ポイント選定法2020

    • 著者名/発表者名
      環 輝・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛
    • 学会等名
      令和2年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [学会発表] 圧縮故障辞書を用いたフィールド故障診断2019

    • 著者名/発表者名
      中村 友和, 稲元 勉, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00075
  • [学会発表] マルチサイクルテストにおける故障検出低下問題の解析とその対策2019

    • 著者名/発表者名
      青野智己,王 森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [学会発表] 機械学習を適用した半断線故障判別法の評価2018

    • 著者名/発表者名
      増成紳介,青萩正俊,王森レイ, 樋上喜信,高橋寛,四柳浩之,橋爪正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [学会発表] 機能安全要求のためのテスト容易化設計法2018

    • 著者名/発表者名
      高橋寛
    • 学会等名
      情報処理学会DAシンポジウム
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [学会発表] Fault Diagnosis Considering Path Delay Variations in Multi Cycle Test Environment2018

    • 著者名/発表者名
      Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K Saluja
    • 学会等名
      International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00075
  • [学会発表] 期待署名自己生成に基づく組込み自己診断機構2018

    • 著者名/発表者名
      平本悠翔郎,大竹哲史,高橋 寛
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術報告
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [学会発表] キャプチャパターン制御機構を付加したフリップフロップの選択法2018

    • 著者名/発表者名
      矢野良典,青野智己,王森レイ, 樋上喜信,高橋 寛
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [学会発表] マルチサイクルテストの故障検出率の低下を改善するためのキ ャプチャパターン制御法2018

    • 著者名/発表者名
      青野智己,矢野良典,王森レイ, 樋上喜信,高橋寛
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [学会発表] 可変サイクルテストのテスト圧縮効果2017

    • 著者名/発表者名
      矢野 良典,王森レイ,樋上喜信,高橋 寛
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [学会発表] マルチサイクルテストにおける故障検出率最大化のための電力制御法2017

    • 著者名/発表者名
      高原 圭太,王森レイ,樋上喜信,高橋 寛
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [学会発表] 再構成可能デバイスMRLDのための接続欠陥テスト2017

    • 著者名/発表者名
      小川達也,王森レイ,高橋 寛,佐藤正幸
    • 学会等名
      情報科学技術フォーラム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [学会発表] Adaptive Field Diagnosis for Reducing the Number of Test Patterns2017

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi and K. K. Saluja
    • 学会等名
      International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00075
  • [学会発表] 組込み自己診断向けのテストパターン生成法2017

    • 著者名/発表者名
      松田 優太,王森レイ,樋上喜信,高橋 寛
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [学会発表] フィールドテストにおけるテスト集合分割法2017

    • 著者名/発表者名
      青萩 正俊,増成 紳介,王森レイ,樋上喜信,高橋 寛
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [学会発表] Multi-Cycle Test Diagnosis for Path Delay Variations2016

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja
    • 学会等名
      Taiwan and Japan Conference on Circuits and Systems
    • 発表場所
      Tainan, Taiwan
    • 年月日
      2016-07-31
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00075
  • [学会発表] 隣接線の信号遷移を用いる半断線故障判別法の断線位置に対する有効性調査2016

    • 著者名/発表者名
      伊勢幸太郎,四柳浩之,橋爪正樹,樋上喜信,高橋寛
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学,徳島県・徳島市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] マルチサイクルテストにおけるクロック信号線のd-故障に対するテストパターン生成について2016

    • 著者名/発表者名
      和田祐介, 樋上喜信, 王森レイ, 高橋寛, 小林真也
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島県徳島市)
    • 年月日
      2016-09-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00075
  • [学会発表] 矢野郁也, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛2016

    • 著者名/発表者名
      矢野郁也, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島県・徳島市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [学会発表] アナログバウンダリスキャンを適用した三次元積層後のTSV抵抗精密計測法の計測制度評価2016

    • 著者名/発表者名
      香川 敬祐,王 森レイ,亀山 修一,樋上 喜信,高橋 寛
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学,徳島県・徳島市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] 中間観測FF選択法の大規模ベンチマーク回路に対する評価2016

    • 著者名/発表者名
      濱田 宗, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛, 岩田 浩幸, 松嶋 潤
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島県・徳島市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [学会発表] マルチサイクテストにおけるFFの接続 情報を用いた中間観測FFの選択法2016

    • 著者名/発表者名
      高原 圭太, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島県・徳島市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [学会発表] 組込み自己診断における遷移故障診断能力の改善法2015

    • 著者名/発表者名
      宮本夏規,村上陽紀,王森レイ,樋上喜信,高橋寛
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
    • 発表場所
      高知県香美市土佐山田町,高知工科大学
    • 年月日
      2015-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] Diagnosis for Delay Faults in the Presence of Clock Delays Considering Hazards2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja
    • 学会等名
      International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
    • 発表場所
      韓国ソウル
    • 年月日
      2015-06-30
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330062
  • [学会発表] 隣接線の信号遷移を用いる多変量解析による半断線故障の検出可能性について2015

    • 著者名/発表者名
      伊勢 幸太郎, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 樋上 喜信, 高橋 寛
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
    • 発表場所
      高知県香美市土佐山田町,高知工科大学
    • 年月日
      2015-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] IR-dropを考慮した抵抗性オープン故障の診断用パターンの選択手法2015

    • 著者名/発表者名
      王 森レイ・井上大画・ハナン ティ アル アワディー・樋上喜信・高橋 寛
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告
    • 発表場所
      機械振興会館(港区,東京都),日本
    • 年月日
      2015-02-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] タイミングシミュレーション情報に基づく故障診断法2015

    • 著者名/発表者名
      門田一樹,矢野郁也,王 森レイ,樋上喜信,高橋寛
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
    • 発表場所
      高知県香美市土佐山田町,高知工科大学
    • 年月日
      2015-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] 0-1整数計画問題を利用した遅延故障テストの改善2015

    • 著者名/発表者名
      今村亮太・門田一樹・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      立命館大学(草津市,滋賀県),日本
    • 年月日
      2015-03-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] アナログバウンダリスキャンによる三次元積層後のTSV 抵抗精密計測法の実装と評価2015

    • 著者名/発表者名
      香川 敬祐, 王 森レイ, 亀山 修一,樋上 喜信, 高橋 寛
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
    • 発表場所
      高知県香美市土佐山田町,高知工科大学
    • 年月日
      2015-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] 組込み自己診断におけるテストパターン系列の診断能力に関して2015

    • 著者名/発表者名
      宮本 夏規,村上 陽紀,王 シンレイ,樋上 喜信,高橋 寛,大竹 哲史
    • 学会等名
      FIT2015(第14 回情報科学技術フォーラム)
    • 発表場所
      愛媛県松山市文京町,愛媛大学
    • 年月日
      2015-09-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] Diagnosis of Delay Faults Considering Hazards2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja
    • 学会等名
      IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI
    • 発表場所
      フランス モンペリエ
    • 年月日
      2015-07-08
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330062
  • [学会発表] 組込み自己診断におけるシード候補の生成法2015

    • 著者名/発表者名
      村上陽紀,宮本夏規,王森レイ,樋上喜信,高橋寛
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
    • 発表場所
      高知県香美市土佐山田町,高知工科大学
    • 年月日
      2015-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] オンチップセンサを利用した抵抗性オープン故障診断2014

    • 著者名/発表者名
      竹田和生,王森レイ,樋上喜信,高橋寛
    • 学会等名
      平成26年度電気関係学会四国支部大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島市,徳島),日本
    • 年月日
      2014-09-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] 消費電力制約下での焼きなまし法を利用したテストパターン変更法2014

    • 著者名/発表者名
      井上大画,王森レイ,樋上喜信,高橋寛
    • 学会等名
      平成26年度電気関係学会四国支部大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島市,徳島),日本
    • 年月日
      2014-09-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] 遺伝的アルゴリズムを利用した診断用テスト生成2014

    • 著者名/発表者名
      門田一樹,今村亮太,王森レイ,樋上喜信,高橋寛
    • 学会等名
      平成26年度電気関係学会四国支部大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島市,徳島),日本
    • 年月日
      2014-09-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] マルチサイクルテストでの遷移故障に対するテスト生成2014

    • 著者名/発表者名
      藤原翼,樋上喜信,王森レイ,高橋寛,小林真也
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学
    • 年月日
      2014-09-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330062
  • [学会発表] 0-1整数計画問題を利用した診断用テスト生成システムの開発2014

    • 著者名/発表者名
      村上陽紀,宮本夏規,王森レイ,樋上喜信,高橋寛
    • 学会等名
      平成26年度電気関係学会四国支部大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島市,徳島),日本
    • 年月日
      2014-09-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] クロック信号線のブリッジ故障に対する遅延を考慮した故障診断2014

    • 著者名/発表者名
      細川優人,樋上喜信,王森レイ,高橋寛,小林真也
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学
    • 年月日
      2014-09-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330062
  • [学会発表] On SAT-based Test Generation for Observing Delay Variation Caused by a Resistive Open Fault and Its Adjacent Lines2013

    • 著者名/発表者名
      Jun Yamashita, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Yoshinobu Higami, and Hiroshi Takahashi
    • 学会等名
      The 14th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Yilan, Taiwan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] 活性化経路評価関数に基づくパターン選択2011

    • 著者名/発表者名
      高橋寛
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      東京都市大学(東京都)
    • 年月日
      2011-03-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20500051
  • [学会発表] 活性化経路評価関数に基づくパターン選択2011

    • 著者名/発表者名
      高橋寛, 樋上喜信, 酒井孝郎
    • 学会等名
      平成23年度電子情報通信学会総合大会,p.122
    • 発表場所
      東京都市大学
    • 年月日
      2011-03-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20500051
  • [学会発表] FTC 研究会2010

    • 著者名/発表者名
      樋上喜信,高橋寛,小林真也,Kewal K. Saluja
    • 学会等名
      クロック信号線の遅延故障に対するテスト生成について
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22500048
  • [学会発表] LOCテストに対応したブリッジ故障シミュレータの高精度化2010

    • 著者名/発表者名
      高橋寛, 樋上喜信, 大野智志, 山岡弘典
    • 学会等名
      平成22年度電気関係学会四国支部連合大会,p.103
    • 発表場所
      愛媛大学
    • 年月日
      2010-09-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20500051
  • [学会発表] 欠陥検出確率を利用した2パターンテスト生成法2010

    • 著者名/発表者名
      高橋寛, 樋上喜信, 古谷博司
    • 学会等名
      平成22年度電気関係学会四国支部連合大会,p.90
    • 発表場所
      愛媛大学
    • 年月日
      2010-09-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20500051
  • [学会発表] 欠陥検出確率を利用した2パターンテスト生成法2010

    • 著者名/発表者名
      高橋寛
    • 学会等名
      平成22年度電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      愛媛大学(愛媛県)
    • 年月日
      2010-09-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20500051
  • [学会発表] 伝播経路評価関数を利用したテストパターン選択法2010

    • 著者名/発表者名
      高橋寛, 樋上喜信, 酒井孝郎
    • 学会等名
      平成22年度電気関係学会四国支部連合大会,p.89
    • 発表場所
      愛媛大学
    • 年月日
      2010-09-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20500051
  • [学会発表] 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について2010

    • 著者名/発表者名
      高橋寛
    • 学会等名
      電子情報通信学会 技術報告
    • 発表場所
      機械振興会館, 東京
    • 年月日
      2010-02-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20500051
  • [学会発表] クロック信号線の遅延故障に対するテスト生成について2010

    • 著者名/発表者名
      樋上喜信, 高橋寛, 小林真也, Kewal K.Saluja
    • 学会等名
      FTC研究会
    • 発表場所
      埼玉県秩父郡
    • 年月日
      2010-07-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22500048
  • [学会発表] 欠陥考慮2 パターンテストについて2009

    • 著者名/発表者名
      高橋寛
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      愛媛大学, 愛媛
    • 年月日
      2009-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20500051
  • [学会発表] 欠陥考慮2パターンテストについて2009

    • 著者名/発表者名
      高橋寛, 樋上喜信, 古谷博司
    • 学会等名
      平成21年度電気関係学会四国支部連合大会,p.121
    • 発表場所
      愛媛大学
    • 年月日
      2009-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20500051
  • [学会発表] 遅延故障シミュレーションに基づく欠陥診断2009

    • 著者名/発表者名
      高橋 寛
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      愛媛大学
    • 年月日
      2009-03-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20500051
  • [学会発表] LOCテストに対応したブリッジ故障シミュレータ2009

    • 著者名/発表者名
      高橋寛, 樋上喜信, 大野智志, 山岡弘典
    • 学会等名
      平成21年度電気関係学会四国支部連合大会,p.126
    • 発表場所
      愛媛大学
    • 年月日
      2009-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20500051
  • [学会発表] 欠陥検出向けテストパターンの一選択法2008

    • 著者名/発表者名
      高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三
    • 学会等名
      平成20年度電気関係学会四国支部連合大会,p.133
    • 発表場所
      徳島大学
    • 年月日
      2008-09-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20500051
  • [学会発表] スキャン回路におけるクロストーク故障の検出可能性について2008

    • 著者名/発表者名
      樋上喜信, 高橋寛, 廣瀬雅人, 小林真也, 高松雄三
    • 学会等名
      子情報通信学会総合大会
    • 年月日
      2008-03-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500045
  • [学会発表] ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について2008

    • 著者名/発表者名
      高橋 寛, 樋上 喜信, 阿萬 裕久, 釜山 天平, 小林 真也, 高松 雄三
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      早稲田大学(北九州市)
    • 年月日
      2008-03-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [学会発表] 原因-結果グラフを用いた組込みシステムに対する自動テストケース生成法2008

    • 著者名/発表者名
      藤尾昇平, 阿萬裕久, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
    • 学会等名
      電気関係学科四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島
    • 年月日
      2008-09-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [学会発表] 原因-結果グラフを用いた組込みシステムに対する自動テストケール生成法2008

    • 著者名/発表者名
      藤尾昇平, 阿萬裕久, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
    • 学会等名
      電気関係学科四国支部連合大会論文集, p. 300
    • 年月日
      2008-09-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [学会発表] Increasing Defect Coverage by Generating Test Vectors for Stuck-open Faults2008

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, K.K. Saluja, H. Takahashi, K. Kobayashi, Y. Takamatsu
    • 学会等名
      Proc. IEEE Seventeenth Asian Test Symposium
    • 年月日
      2008-11-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500045
  • [学会発表] スキャン回路におけるクロストーク故障の検出可能性について2008

    • 著者名/発表者名
      樋上 喜信, 高橋 寛, 廣瀬 雅人, 小林 真也, 高松 雄三
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      早稲田大学(北九州市)
    • 年月日
      2008-03-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500045
  • [学会発表] ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について2008

    • 著者名/発表者名
      高橋寛, 樋上喜信, 阿萬裕久, 釜山天平, 小林真也, 高松雄三
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 年月日
      2008-03-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [学会発表] ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法2007

    • 著者名/発表者名
      樋上喜信, K. K. Saluja, 高橋寛, 小林真也, 高松雄三
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術報告(DC研究会), vol. 106, no. 476, pp. 34-39
    • 年月日
      2007-02-09
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [学会発表] ハードウエア設計に対するソフトウェアメトリクスの適用2007

    • 著者名/発表者名
      阿萬裕久, 池田裕輔, 市川直樹, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 年月日
      2007-03-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500055
  • [学会発表] 抵抗性オープン故障に対する診断用テスト生成

    • 著者名/発表者名
      松川翔平, 高橋寛, 樋上喜信, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • 学会等名
      平成25年度電気関係学会四国支部連合大会 講演論文集
    • 発表場所
      徳島大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] クロック信号線の遅延故障に対する故障診断用テスト生成

    • 著者名/発表者名
      江口拓弥,樋上喜信,高橋寛,小林真也
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330062
  • [学会発表] SAT手法による隣接線影響を考慮した微小遅延故障検査用テストパターン生成に関する一考察

    • 著者名/発表者名
      山下淳, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛
    • 学会等名
      平成25年度電気関係学会四国支部連合大会 講演論文集
    • 発表場所
      徳島大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] 抵抗性オープン故障診断のための後方追跡

    • 著者名/発表者名
      竹田和生, 樋上喜信,高橋 寛
    • 学会等名
      平成25年度電気関係学会四国支部連合大会 講演論文集
    • 発表場所
      徳島大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • 1.  樋上 喜信 (40304654)
    共同の研究課題数: 12件
    共同の研究成果数: 124件
  • 2.  王 森レイ (90735581)
    共同の研究課題数: 6件
    共同の研究成果数: 66件
  • 3.  高松 雄三 (80039255)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 21件
  • 4.  阿萬 裕久 (50333513)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 8件
  • 5.  四柳 浩之 (90304550)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 9件
  • 6.  大竹 哲史 (20314528)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 2件
  • 7.  稲元 勉 (10379513)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 6件

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