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内藤 裕一  Naitou Yuichi

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 80392637
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2022年度: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, エレクトロニクス・製造領域, 主任研究員
2020年度: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, エレクトロニクス・製造領域, 主任研究員
2015年度 – 2016年度: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, ナノエレクトロニクス研究部門, 主任研究員
2014年度: 独立行政法人産業技術総合研究所, ナノエレクトロニクス研究部門, 主任研究員
審査区分/研究分野
研究代表者
薄膜・表面界面物性
研究代表者以外
小区分29030:応用物理一般関連
キーワード
研究代表者
走査型トンネル顕微鏡 / ドーパント / 半導体表面 / ヘリウムイオンビーム / 単一欠陥 / ヘリウムイオンドープ / アンダーソン局在 / 金属ー絶縁体転移 / ヘリウムイオン顕微鏡 / ヘリウムイオン … もっと見る / ドーズ / グラフェン / 走査型容量顕微鏡 / 走査型プローブ顕微鏡 … もっと見る
研究代表者以外
ヘリウムイオン顕微鏡 / 電圧標準 / 雑音温度計 / 熱力学温度 / ジョセフソン効果 / 微細加工 / ヘリウムイオンビーム顕微鏡 / ジョセフソン接合 / 高温超伝導 / 超伝導 隠す
  • 研究課題

    (2件)
  • 研究成果

    (2件)
  • 共同研究者

    (6人)
  •  精密熱力学温度計のための高温超伝導体を用いた量子電圧雑音源の開発

    • 研究代表者
      浦野 千春
    • 研究期間 (年度)
      2020 – 2022
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 審査区分
      小区分29030:応用物理一般関連
    • 研究機関
      国立研究開発法人産業技術総合研究所
  •  低温走査トンネル顕微鏡による単一ドーパント原子の電界誘起イオン化ダイナミクス観察研究代表者

    • 研究代表者
      内藤 裕一
    • 研究期間 (年度)
      2014 – 2016
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      薄膜・表面界面物性
    • 研究機関
      国立研究開発法人産業技術総合研究所

すべて 2017

すべて 雑誌論文 学会発表

  • [雑誌論文] Conductivity change of defective graphene by helium ion beams2017

    • 著者名/発表者名
      Yuichi Naitou and Shinichi Ogawa
    • 雑誌名

      AIP Advances

      巻: 7 号: 4

    • DOI

      10.1063/1.4979983

    • 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26390071
  • [学会発表] Direct nano-patterning of graphene by Anderson localization2017

    • 著者名/発表者名
      内藤裕一
    • 学会等名
      応用物理学会
    • 発表場所
      パシフィコ横浜
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26390071
  • 1.  金子 晋久 (30371032)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 2.  浦野 千春 (30356589)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 3.  永崎 洋 (20242018)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 4.  三澤 哲郎 (40635819)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 5.  森田 行則 (60358190)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 6.  石田 茂之 (90738064)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

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