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新谷 道広  Shintani Michihiro

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 80748913
その他のID
所属 (現在) 2025年度: 京都工芸繊維大学, 電気電子工学系, 准教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2022年度 – 2024年度: 京都工芸繊維大学, 電気電子工学系, 准教授
2018年度 – 2020年度: 奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 助教
2017年度: 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教
2016年度: 京都大学, 情報学研究科, 特定助教
2015年度: 京都大学, 情報学研究科, 研究員
審査区分/研究分野
研究代表者
小区分60040:計算機システム関連 / 計算機システム
研究代表者以外
小区分21010:電力工学関連
キーワード
研究代表者
高信頼化 / ニューラルネットワーク / 高集積化 / ガウス過程 / 専用ハードウェア / メムキャパシタ / 検査容易化 / 信頼性 / 機械学習 / 誤り訂正符号 … もっと見る / 永久故障 / 過渡故障 / 脳型コンピュータ / 誤り訂正 / メモリスタ / NBTI緩和 / 回路シミュレーション / タイミング解析 / NBTI / 経年劣化 / プロセッサ設計 / MOSFET / トランジスタ … もっと見る
研究代表者以外
オートチューニング / 学習最適化 / デジタルツイン / デジタルアクティブゲートドライバ / SiCパワーMOSFET 隠す
  • 研究課題

    (4件)
  • 研究成果

    (74件)
  • 共同研究者

    (7人)
  •  SiCパワーMOSFETの高速自己調整デジタルアクティブゲートドライバ開発

    • 研究代表者
      引原 隆士
    • 研究期間 (年度)
      2023 – 2025
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 審査区分
      小区分21010:電力工学関連
    • 研究機関
      公益財団法人応用科学研究所
      京都大学
  •  高信頼化に向けたメムキャパシタ脳型コンピュータ設計基盤研究代表者

    • 研究代表者
      新谷 道広
    • 研究期間 (年度)
      2022 – 2024
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分60040:計算機システム関連
    • 研究機関
      京都工芸繊維大学
  •  脳型機械学習ハードウェアの高信頼化に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      新谷 道広
    • 研究期間 (年度)
      2018 – 2020
    • 研究種目
      若手研究
    • 審査区分
      小区分60040:計算機システム関連
    • 研究機関
      奈良先端科学技術大学院大学
  •  経年劣化の緩和と監視に基づく高信頼プロセッサの研究研究代表者

    • 研究代表者
      新谷 道広
    • 研究期間 (年度)
      2015 – 2017
    • 研究種目
      若手研究(B)
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      奈良先端科学技術大学院大学
      京都大学

すべて 2024 2023 2022 2021 2020 2019 2018 2017 2016 2015

すべて 雑誌論文 学会発表

  • [雑誌論文] Wafer-Level Characteristic Variation Modeling Considering Systematic Discontinuous Effects2024

    • 著者名/発表者名
      NAGAO Takuma、NAKAMURA Tomoki、KAJIYAMA Masuo、EIKI Makoto、INOUE Michiko、SHINTANI Michihiro
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E107.A 号: 1 ページ: 96-104

    • DOI

      10.1587/transfun.2023KEP0010

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 年月日
      2024-01-01
    • 言語
      英語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11954
  • [雑誌論文] EcoFlex-HDP: High-Speed and Low-Power and Programmable Hyperdimensional-Computing Platform with CPU Co-processing2024

    • 著者名/発表者名
      Yuya Isaka, Nau Sakaguchi, Michiko Inoue, Michihiro Shintani
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE Design, Automation and Test in Europe (DATE)

      巻: -

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11954
  • [雑誌論文] ccelerating Machine Learning-Based Memristor Compact Modeling Using Sparse Gaussian Process2024

    • 著者名/発表者名
      Yuta Shintani, Michiko Inoue, Michihiro Shintani
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE Design, Automation and Test in Europe (DATE)

      巻: -

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11954
  • [雑誌論文] Efficient Wafer-Level Spatial Variation Modeling for Multi-Site RF IC Testing2024

    • 著者名/発表者名
      MIAN Riaz-ul-haque、NAKAMURA Tomoki、KAJIYAMA Masuo、EIKI Makoto、SHINTANI Michihiro
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E107.A 号: 8 ページ: 1139-1150

    • DOI

      10.1587/transfun.2023EAP1115

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 年月日
      2024-08-01
    • 言語
      英語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11954
  • [雑誌論文] Experimental Study of Pass/Fail Threshold Determination Based on Gaussian Process Regression2023

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Goeda, Tomoki Nakamura, Masuo Kajiyama, Makoto Eiki, Takashi Sato, Michihiro Shintani
    • 雑誌名

      Proc. of Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information Technologies (SASIMI)

      巻: -

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11954
  • [雑誌論文] Feasibility Study of Incremental Neural Network Based Test Escape Detection by Introducing Transfer Learning Technique2023

    • 著者名/発表者名
      Takaya Ayano、Shintani Michihiro
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia)

      巻: - ページ: 1-6

    • DOI

      10.1109/itc-asia58802.2023.10301182

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11954
  • [雑誌論文] Lifetime Improvement Method for Memristor-Based Hyperdimensional Computing Accelerator2023

    • 著者名/発表者名
      Iwasaki Tetsuro、Shintani Michihiro
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK)

      巻: - ページ: 1-2

    • DOI

      10.1109/imfedk60983.2023.10366339

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11954
  • [雑誌論文] Improving Efficiency and Robustness of Gaussian Process Based Outlier Detection via Ensemble Learning2023

    • 著者名/発表者名
      Eiki Makoto、Nakamura Tomoki、Kajiyama Masuo、Inoue Michiko、Sato Takashi、Shintani Michihiro
    • 雑誌名

      Proc. of International Test Conference (ITC)

      巻: - ページ: 132-140

    • DOI

      10.1109/itc51656.2023.00029

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11954
  • [雑誌論文] Measurement and Modeling of Ambient-air-induced Degradation in Organic Thin-Film Transistor2020

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Michiaki Saito, Kazunori Kuribara, Yasuhiro Ogasahara, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing

      巻: 33 号: 2 ページ: 216-223

    • DOI

      10.1109/tsm.2020.2986609

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025, KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [雑誌論文] Cost-Efficient Recycled FPGA Detection through Statistical Performance Characterization Framework2020

    • 著者名/発表者名
      Ahmed Foisal、Shintani Michihiro、Inoue Michiko
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E103.A 号: 9 ページ: 1045-1053

    • DOI

      10.1587/transfun.2019kep0014

    • NAID

      130007893711

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025
  • [雑誌論文] Area-Efficient and Reliable Error Correcting Code Circuit Based on Hybrid CMOS/Memristor Circuit2020

    • 著者名/発表者名
      Ishizaka Mamoru、Shintani Michihiro、Inoue Michiko
    • 雑誌名

      Journal of Electronic Testing

      巻: 36 号: 4 ページ: 537-546

    • DOI

      10.1007/s10836-020-05892-3

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025
  • [雑誌論文] Accurate Recycled FPGA Detection Using an Exhaustive-Fingerprinting Technique Assisted by WID Process Variation Modeling2020

    • 著者名/発表者名
      Ahmed Foisal、Shintani Michihiro、Inoue Michiko
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

      巻: - 号: 8 ページ: 1-1

    • DOI

      10.1109/tcad.2020.3023684

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025
  • [雑誌論文] Identification and Application of Invariant Critical Paths under NBTI Degradation2017

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Shumpei Morita, Michihiro Shintani, Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E100.A 号: 12 ページ: 2797-2806

    • DOI

      10.1587/transfun.E100.A.2797

    • NAID

      130006236529

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 言語
      英語
    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713, KAKENHI-PROJECT-17J06952, KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [雑誌論文] Utilization of Path-Clustering in Efficient Stress-Control Gate Replacement for NBTI Mitigation2017

    • 著者名/発表者名
      Shumpei Morita, Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E100.A 号: 7 ページ: 1464-1472

    • DOI

      10.1587/transfun.E100.A.1464

    • NAID

      130007311781

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 言語
      英語
    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713, KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [雑誌論文] Path clustering for test pattern reduction of variation-aware adaptive path delay testing2017

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Takumi Uezono, Kazumi Hatayama, Kazuya Masu, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA)

      巻: 32 号: 5 ページ: 601-609

    • DOI

      10.1007/s10836-016-5614-0

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014, KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [雑誌論文] Fast Estimation of NBTI-Induced Delay Degradation Based on Signal Probability2016

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E99.A 号: 7 ページ: 1400-1409

    • DOI

      10.1587/transfun.E99.A.1400

    • NAID

      130005159598

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 言語
      英語
    • 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014, KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [雑誌論文] Fast Estimation of NBTI-Induced Delay Degradation Based on Signal Probability2016

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE TRANSACTIONS on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E99

    • NAID

      130005159598

    • 査読あり / 謝辞記載あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] ガウス過程回帰に基づく薄膜強誘電体メムキャパシタのモデル化と評価2024

    • 著者名/発表者名
      浦田涼雅, 篠田太陽, 木村睦, 新谷道広
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告 (VLSI設計技術研究会)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11954
  • [学会発表] 誤り検出と冗長救済によるメモリスタ超次元コンピューティング推論アクセラレータの長寿命化2023

    • 著者名/発表者名
      岩崎哲朗, 新谷道広
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告 (VLSI設計技術研究会)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11954
  • [学会発表] 低消費電力デバイスのためのプログラマブルな二値超次元計算アクセラレータ2023

    • 著者名/発表者名
      井阪友哉, 坂口生有, 井上美智子, 新谷道広
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告 (VLSI設計技術研究会)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11954
  • [学会発表] 転移学習を用いた自己符号化器による逐次見逃し故障 LSI 検出2023

    • 著者名/発表者名
      高谷彩乃, 新谷道広
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告 (VLSI設計技術研究会)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11954
  • [学会発表] ガウス過程回帰に基づくLSI テストにおける適応的良品判定基準決定手法2023

    • 著者名/発表者名
      五枝大典, 中村友紀, 梶山賀生, 栄木誠, 新谷道広
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告 (VLSI設計技術研究会)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11954
  • [学会発表] ガウス過程を用いた機械学習に基づくメモリスタモデリングの高速化2023

    • 著者名/発表者名
      新谷悠太, 井上美智子, 新谷道広
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告 (VLSI設計技術研究会)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11954
  • [学会発表] Wafer-Level Characteristic Variation Modeling Considering Systematic Discontinuous Effects2023

    • 著者名/発表者名
      Takuma Nagao, Tomoki Nakamura, Masuo Kajiyama, Makoto Eiki, Michiko Inoue, and Michihiro Shintani
    • 学会等名
      Proc. of IEEE/ACM Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11954
  • [学会発表] 機械学習に基づく薄膜メムキャパシタのモデル化に関する一考察2023

    • 著者名/発表者名
      浦田涼雅, 木村睦, 新谷道広
    • 学会等名
      情報処理学会 SLDM研究発表会 (SLDM WIP Forum 2023)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11954
  • [学会発表] ガウス過程を用いたウェハーレベル特性モデル化手法のカーネル関数選択に関する実験的検討2022

    • 著者名/発表者名
      廣江達也, ミアリアーズウルハック, 新谷道広
    • 学会等名
      電子情報通信学会ソサエティ大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11954
  • [学会発表] Accurate Failure Rate Prediction Based on Gaussian Process Using WAT Data2022

    • 著者名/発表者名
      Makoto Eiki, Tomoki Nakamura, Masuo Kajiyama, Michiko Inoue, and Michihiro Shintani
    • 学会等名
      Proc. of IEEE International Test Conference (ITC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11954
  • [学会発表] 自己参照に基づく直接密度比推定を用いた教師なし再利用FPGA検出2021

    • 著者名/発表者名
      井阪友哉、新谷道広、アフメドフォイサル、井上美智子
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告 (ディペンダブルコンピューティング研究会)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025
  • [学会発表] LBIST-PUF: An LBIST Scheme Towards Efficient Challenge-Response Pairs Collection and Machine-Learning Attack Tolerance Improvement2020

    • 著者名/発表者名
      Shintani Michihiro、Mino Tomoki、Inoue Michiko
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symposium (ATS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025
  • [学会発表] Recycled FPGA detection using exhaustive fingerprinting characterization2020

    • 著者名/発表者名
      Shintani Michihiro
    • 学会等名
      The 15th D2T Symposium, The University of Tokyo
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025
  • [学会発表] 網羅的パス解析による高精度な再利用FPGA検出手法2020

    • 著者名/発表者名
      新谷道広, アフメドフォイサル, 井上美智子
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(ディペンダブルコンピューティング研究会)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025
  • [学会発表] チェックサムとオンラインテストによるメモリスタニューラルネットワークの耐故障設計2020

    • 著者名/発表者名
      石坂守, 新谷道広, 井上美智子
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(VLSI設計技術研究会)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025
  • [学会発表] Feature Engineering for Recycled FPGA Detection Based on WID Variation Modeling2019

    • 著者名/発表者名
      Foisal Ahmed, Michihiro Shintani, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      IEEE European Test Symposium (ETS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025
  • [学会発表] Variational Autoencoder-Based Efficient Test Escape Detection2019

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Kouichi Kumaki, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(ディペンダブルコンピューティング研究会)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025
  • [学会発表] Low Cost Recycled FPGA Detection Using Virtual Probe Technique2019

    • 著者名/発表者名
      Foisal Ahmed, Michihiro Shintani, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025
  • [学会発表] 製造検査時における組込み自己テスト回路を利用した効率的なPUF回路のチャレンジレスポンス対の生成と評価2019

    • 著者名/発表者名
      三野智貴, 新谷道広, 井上美智子
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(ディペンダブルコンピューティング研究会)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025
  • [学会発表] 自動微分を用いた SPICE モデルパラメータ抽出環境の構築2019

    • 著者名/発表者名
      上田葵, 新谷道広, 岩田大志, 山口賢一, 井上美智子
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(VLSI設計技術研究会)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025
  • [学会発表] An Efficient Approach to Recycled FPGA Detection Using WID Variation Modeling2019

    • 著者名/発表者名
      Foisal Ahmed, Michihiro Shintani, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(ディペンダブルコンピューティング研究会)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025
  • [学会発表] Feature Engineering for Recycled FPGA Detection Based on WID Variation Modeling2019

    • 著者名/発表者名
      Foisal Ahmed, Michihiro Shintani, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      IEEE European Test Conference (ETS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025
  • [学会発表] Comparative Study of Delay Degradation Caused by NBTI Considering Stress Frequency Dependence2018

    • 著者名/発表者名
      Zuitoku Shin, Shumpei Morita, Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information technologies (SASIMI)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] Area-efficient and Reliable Hybrid CMOS/Memristor ECC Circuit for ReRAM Storage2018

    • 著者名/発表者名
      Mamoru Ishizaka, Michihiro Shintani, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symposium (ATS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025
  • [学会発表] 重み推定によるメモリスタニューラルネットワークの信頼性向上の試み2018

    • 著者名/発表者名
      石坂守, 新谷道広, 井上美智子
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(ディペンダブルコンピューティング研究会)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025
  • [学会発表] Area-Efficient Memristor-Crossbar-Based Error Correcting Code Circuit2018

    • 著者名/発表者名
      Mamoru Ishizaka, Michihiro Shintani, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      Workshop on Security, Reliability, Test, Privacy, Safety and Trust of Future Devices (SURREALIST)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025
  • [学会発表] Efficient Worst-case Timing Analysis of Critical-Path Delay under Workload-Dependent Aging Degradation2018

    • 著者名/発表者名
      Shumpei Morita, Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE/ACM Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] A Study on NBTI-induced Delay Degradation Considering Stress Frequency Dependence2018

    • 著者名/発表者名
      Zuitoku Shin, Shumpei Morita, Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] メモリスタニューラルネットワークにおける縮退故障による識別性能への影響2018

    • 著者名/発表者名
      石坂守, 新谷道広, 井上美智子
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] Efficient Parameter-Extraction of SPICE Compact Model through Automatic Differentiation2018

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] A Golden-Free Hardware Trojan Detection Technique Considering Intra-Die Variation2018

    • 著者名/発表者名
      Fakir Sharif Hossain, Tomokazu Yoneda, Michihiro Shintani, Michiko Inoue, and Alex Orailoglu
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(ディペンダブルコンピューティング研究会)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] Artificial Neural Network Based Test Escape Screening Using Generative Model2018

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Yoshiyuki Nakamura, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      IEEE International Test Conference (ITC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025
  • [学会発表] メモリスタ論理による誤り訂正符号回路の設計と評価2018

    • 著者名/発表者名
      石坂守, 新谷道広, 井上美智子
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(ディペンダブルコンピューティング研究会)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] Area-Efficient Memristor-Crossbar-Based Error Correcting Code Circuit2018

    • 著者名/発表者名
      Mamoru Ishizaka, Michihiro Shintani, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      Workshop on Security, Reliability, Test, Privacy, Safety and Trust of Future Devices (SURREALIST)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] トランジスタ劣化の永続・回復可能成分を考慮したしきい値電圧変動の時間依存モデル2017

    • 著者名/発表者名
      新瑞徳, 森田俊平, 新谷道広, 廣本正之, 佐藤高史
    • 学会等名
      回路とシステムワークショップ (於 北九州国際会議場)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] Device Identification from Mixture of Measurable Characteristics2017

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Kazuki Oishi, Rui Zhou, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      32nd Annual IEEE Applied Power Electronics Conference & Exposition (APEC)
    • 発表場所
      Tampa, FL, USA
    • 年月日
      2017-03-26
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] Comparative Study of Path Selection and Objective Function in Replacing NBTI Mitigation Logic2017

    • 著者名/発表者名
      Shumpei Morita, Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
    • 発表場所
      Santa Clara, CA, Japan
    • 年月日
      2017-03-14
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] LSTA: Learning-Based Static Timing Analysis for High-Dimensional Correlated On-Chip Variations2017

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] LSTA: Learning-Based Static Timing Analysis for High-Dimensional Correlated On-Chip Variations2017

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC)
    • 発表場所
      Austin, TX, USA
    • 年月日
      2017-06-18
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] Intra-Die-Variation-Aware Side Channel Analysis for Hardware Trojan Detection2017

    • 著者名/発表者名
      Fakir Sharif Hossain, Tomokazu Yoneda, Michihiro Shintani, Michiko Inoue, and Alex Orailoglu
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symposium (ATS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] トランジスタ劣化の永続・回復可能成分を考慮したしきい値電圧変動の時間依存モデル2017

    • 著者名/発表者名
      忻 瑞徳, 森田 俊平, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      第30回 回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      北九州国際会議場 福岡県北九州市
    • 年月日
      2017-05-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] Parameter Extraction for MOSFET Current Model Using Backward Propagation of Errors2017

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE/ACM Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] Workload-Aware Worst Path Analysis of Processor-Scale NBTI Degradation2016

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Michihiro Shintani, Shumpei Morita, Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI)
    • 発表場所
      Boston, MA, USA
    • 年月日
      2016-05-18
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] 機械学習による経年劣化タイミング解析手法2016

    • 著者名/発表者名
      辺 松, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      情報処理学会DAシンポジウム2016
    • 発表場所
      山代温泉ゆのくに天祥 石川県加賀市
    • 年月日
      2016-09-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] Nonlinear Delay-Table Approach for Full-Chip NBTI Degradation Prediction2016

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, Takashi Sato
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
    • 発表場所
      Santa Clara, CA, USA
    • 年月日
      2016-03-15
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] Unique Device Identification Framework for Power MOSFETs Using Inherent Device Variation2016

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Kazuki Oishi, Rui Zhou, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE/ACM Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC)
    • 発表場所
      Austin, TX, USA
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] 信号確率伝播に基づく プロセッサのためのNBTI起因最大遅延パスの抽出2016

    • 著者名/発表者名
      辺 松, 新谷 道広, 森田 俊平, 粟野浩光, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      北九州国際会議場(福岡県,北九州市)
    • 年月日
      2016-05-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] Mitigation of NBTI-Induced Timing Degradation in Processor2016

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Michihiro Shintani, Zheng Wang, Masayuki Hiromoto, Anupam Chattopadhyay, and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU)
    • 発表場所
      Santa Rosa, CA, USA
    • 年月日
      2016-03-10
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] Runtime NBTI Mitigation for Processor Lifespan Extension via Selective Node Control2016

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Michihiro Shintani, Zheng Wang, Masayuki Hiromoto, Anupam Chattopadhyay, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symposium (ATS)
    • 発表場所
      Hiroshima International Convention Center, Hiroshima, Japan
    • 年月日
      2016-11-21
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] NBTIによるしきい値電圧変動のストレス確率依存性の評価2016

    • 著者名/発表者名
      忻 瑞徳, 森田 俊平, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • 発表場所
      北海道大学 北海道札幌市
    • 年月日
      2016-09-20
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] 代表パス抽出による劣化緩和セル置換箇所の高速な選択手法2016

    • 著者名/発表者名
      森田 俊平, 辺 松, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      第29回 回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      北九州国際会議場 福岡県北九州市
    • 年月日
      2016-05-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] Representative Path Approach for Time-Efficient NBTI Mitigation Logic Replacement2016

    • 著者名/発表者名
      Shumpei Morita, Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE/ACM Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC)
    • 発表場所
      Austin, TX, USA
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] 信号確率伝播に基づいた プロセッサのためのNBTI起因最大遅延パスの抽出2016

    • 著者名/発表者名
      辺 松, 新谷 道広, 森田 俊平, 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      第29回 回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      北九州国際会議場 福岡県北九州市
    • 年月日
      2016-05-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] 代表パス抽出による劣化緩和セル置換箇所の高速な選択手法2016

    • 著者名/発表者名
      森田 俊平, 辺 松, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      北九州国際会議場(福岡県,北九州市)
    • 年月日
      2016-05-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] Path Grouping Approach for Efficient Candidate Selection of Replacing NBTI Mitigation Logic2016

    • 著者名/発表者名
      Shumpei Morita, Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      the 20th Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information technologies (SASIMI2016)
    • 発表場所
      Kyoto Research Park, Kyoto, Japan
    • 年月日
      2016-10-24
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] Fast Estimation on NBTI-Induced Delay Degradation Based on Signal Probability2015

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, Takashi Sato
    • 学会等名
      DAシンポジウム
    • 発表場所
      山代温泉 ゆのくに天祥(石川県,加賀市)
    • 年月日
      2015-08-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [学会発表] プロセッサのNBTI劣化緩和法における劣化抑止制御回路の置換箇所削減に関する一検討2015

    • 著者名/発表者名
      森田 俊平, 辺 松, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • 発表場所
      東北大学川内キャンパス(宮城県,仙台市)
    • 年月日
      2015-09-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • 1.  中島 康彦 (00314170)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 2.  木村 睦 (60368032)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 2件
  • 3.  引原 隆士 (70198985)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 4.  持山 志宇 (20867866)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 5.  福永 崇平 (20914138)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 6.  高山 創 (30981063)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 7.  佐藤 高史
    共同の研究課題数: 0件
    共同の研究成果数: 1件

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