ＩＳＬＡＭＭＡＨＦＵＺＵＬ ISLAM MAHFUZUL

… 別表記

ISLAM MAHFUZUL Mahfuzul Islam

Mahfuzul Islam A. K. M.

研究者番号	80762195
その他のID	https://orcid.org/0000-0002-5011-4044
所属 (現在)	2025年度: 東京科学大学, 工学院, 准教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2019年度 – 2023年度: 京都大学, 工学研究科, 講師 2016年度: 東京大学, 生産技術研究所, 助教
審査区分/研究分野	研究代表者小区分60040:計算機システム関連研究代表者以外計算機システム
キーワード	研究代表者順序統計 / ADC / 製造ばらつき / MOSトランジスタ / ばらつき / 信頼性 / 経年劣化 / AD変換回路 / アナログ回路 / A/D変換回路 … もっと見る / キャリブレーション / 統計的選択 / CMOS / IoT / 低消費電力 / センサ / 電源電圧依存性 / フラッシュ型ADC / アナログーディジタル変換回路 / モデリング / ディジタル / アナログ / 温度センサ / 集積回路 … もっと見る研究代表者以外組込システム / ディペンダブルシステム / 組込みシステム / 製造容易化 / 低消費電力化 / 集積回路 / システムオンチップ隠す

順序統計に基づくアナログ集積回路の低消費エネルギー動作と長寿命化を両立する設計研究代表者
- 研究代表者
  
  ISLAM MAHFUZUL
- 研究期間 (年度)
  2022 – 2024
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  京都大学
製造ばらつきを利用したCMOSセンサ回路の低消費電力設計に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  ISLAM MAHFUZUL
- 研究期間 (年度)
  2019 – 2021
- 研究種目
  
  若手研究
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  京都大学
自律的特性補償により閾値付近の低電圧まで安定動作する集積回路設計技術
- 研究代表者
  
  小野寺秀俊
- 研究期間 (年度)
  2013 – 2016
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  京都大学

すべて 2024 2023 2022 2021 2020 2019 2017 2016 2014 2013 その他

すべて雑誌論文学会発表図書産業財産権

[図書] Chapter "Monitor Circuits for Cross-Layer Resiliency" in "Dependable Embedded Systems"2020
- 著者名/発表者名
  Mahfuzul Islam, and Hidetoshi Onodera
- 総ページ数
  23
- 出版者
  Springer
- ISBN
  9783030520175
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K20233
[図書] Chapter "Random Telegraph Noise Under Switching Operation" in "Noise in Nanoscale Semiconductor Devices"2020
- 著者名/発表者名
  Kazutoshi Kobayashi, Mahfuzul Islam, Takashi Matsumoto, and Ryo Kishida
- 総ページ数
  49
- 出版者
  Springer
- ISBN
  9783030375003
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K20233
[雑誌論文] A Fully Integrated Digital LDO With Adaptive Sampling and Statistical Comparator Selection2024
- 著者名/発表者名
  Yamaguchi Shun、Hisakado Takashi、Wada Osami、Islam Mahfuzul
- 雑誌名
  
  IEEE Solid-State Circuits Letters
  
  巻: 7 ページ: 163-166
- DOI
  10.1109/lssc.2024.3385233
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K11953
[雑誌論文] Design of Reference-free Flash ADC With On-chip Rank-based Comparator Selection Using Multiple Comparator Groups2024
- 著者名/発表者名
  Kitamura Takehiro、Hisakado Takashi、Wada Osami、Islam Mahfuzul
- 雑誌名
  
  IPSJ Transactions on System and LSI Design Methodology
  
  巻: 17 号: 0 ページ: 36-43
- DOI
  10.2197/ipsjtsldm.17.36
- ISSN
  1882-6687
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K11953
[雑誌論文] Wide-range and low supply dependency MOSFET-based temperature sensor utilizing statistical properties of scaled MOSFETs2023
- 著者名/発表者名
  Ota Shinichi、Islam Mahfuzul、Hisakado Takashi、Wada Osami
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 62 号: SC ページ: SC1098-SC1098
- DOI
  10.35848/1347-4065/acb94e
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K11953
[雑誌論文] An Adaptive-Sampling Digital LDO with Statistical Comparator Selection Achieving 99.99% Maximum Current Efficiency and 0.25ps FoM in 65nm2023
- 著者名/発表者名
  Yamaguchi Shun、Hisakado Takashi、Wada Osami、Islam Mahfuzul
- 雑誌名
  
  IEEE Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC)
  
  巻: 1 ページ: 1-3
- DOI
  10.1109/a-sscc58667.2023.10347918
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K11953
[雑誌論文] On-chip leakage current variation measurement using external-reference-free current-to-time conversion for densely placed MOSFETs2022
- 著者名/発表者名
  Islam Mahfuzul、Harada Shogo
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 61 号: SC ページ: SC1056-SC1056
- DOI
  10.35848/1347-4065/ac506a
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K20233
[雑誌論文] On-Chip Detection of Process Shift and Process Spread for Post-Silicon Diagnosis and Model-Hardware Correlation2013
- 著者名/発表者名
  A.K.M. Mahfuzul Islam, and Hidetoshi Onodera
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems
  
  巻: E96.D 号: 9 ページ: 1971-1979
- DOI
  10.1587/transinf.E96.D.1971
- NAID
  130003370985
- ISSN
  0916-8532, 1745-1361
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280014
[産業財産権] アナログデバイスおよびその制御方法、温度センサ、並びにアナログ素子対応付けシステム2020
- 発明者名
  イスラムマーフズル，久門尚史，和田修己
- 権利者名
  イスラムマーフズル，久門尚史，和田修己
- 産業財産権種類
  特許
- 出願年月日
  2020
- 外国
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K20233
[産業財産権] 集積回路における微細デバイスの特性分布の性質を利用したデバイスの選択技術及びデバイスの適切な選択による回路方式2019
- 発明者名
  イスラムマーフズル，久門尚史，和田修己
- 権利者名
  イスラムマーフズル，久門尚史，和田修己
- 産業財産権種類
  特許
- 産業財産権番号
  2019-200993
- 出願年月日
  2019
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K20233
[学会発表] Utilizing Order Statistics for Low-power Analog Circuit Design in Scaled CMOS Technologies2023
- 著者名/発表者名
  Mahfuzul Islam
- 学会等名
  IEEE 15th International Conference on ASIC
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K11953
[学会発表] Sensor and System Design for Machine Learning Applications2023
- 著者名/発表者名
  Mahfuzul Islam
- 学会等名
  International Conference on Japan-Bangladesh Research and Practice
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K11953
[学会発表] An Adaptive-Sampling Digital LDO with Statistical Comparator Selection Achieving 99.99% Maximum Current Efficiency and 0.25ps FoM in 65nm2023
- 著者名/発表者名
  Yamaguchi Shun、Hisakado Takashi、Wada Osami、Islam Mahfuzul
- 学会等名
  IEEE Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K11953
[学会発表] Demonstration of order statistics based Flash ADC in a 65nm process2022
- 著者名/発表者名
  Mahfuzul Islam, Takehiro Kitamura, Takashi Hisakado, Osami Wada
- 学会等名
  28th Asia and South Pacific Design Automation Conference
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K11953
[学会発表] Wide temperature- and voltage-range temperature sensing utilizing statistical property of sub-threshold MOSFET current2022
- 著者名/発表者名
  Shinichi Ota, Mahfuzul Islam, Takashi Hisakado, and Osami Wada
- 学会等名
  International Conference on Solid State Devices and Materials
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K11953
[学会発表] Performance Improvement of Order Statistics Based Flash ADC Using Multiple Comparator Groups2022
- 著者名/発表者名
  Takehiro Kitamura, Mahfuzul Islam, Takashi Hisakado, and Osami Wada
- 学会等名
  IEEE International NEWCAS Conference
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K11953
[学会発表] Measurement of temperature effect on comparator offset voltage variation2022
- 著者名/発表者名
  Yuma Iwata, Takehiro Kitamura, and Mahfuzul Islam
- 学会等名
  IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K11953
[学会発表] Homogeneous ring oscillator with staggered layout for gate-level delay characterization2022
- 著者名/発表者名
  Misaki Udo, Mahfuzul Islam, and Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  IEEE International Microelectronic Test Structures (ICMTS)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K20233
[学会発表] On-chip leakage current variation measurement using reference-free current-to-time conversion2021
- 著者名/発表者名
  Shogo Harada, and Mahfuzul Islam
- 学会等名
  International Conference on Solid State Devices and Materials
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K20233
[学会発表] A process scalable voltage-reference-Free temperature sensor utilizing MOSFET threshold voltage variation2021
- 著者名/発表者名
  Shogo Harada, Mahfuzul Islam, Takashi Hisakado, and Osami Wada
- 学会等名
  IEEE Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K20233
[学会発表] Flash ADC Utilizing Offset Voltage Variation With Order Statistics Based Comparator Selection2021
- 著者名/発表者名
  Takehiro Kitamura, Mahfuzul Islam, Takashi Hisakado, and Osami Wada
- 学会等名
  International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K20233
[学会発表] CDF Distance Based Statistical Parameter Extraction Using Nonlinear Delay Variation Models2021
- 著者名/発表者名
  Kensuke Murakami, Mahfuzul Islam, and Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  27th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K20233
[学会発表] Increased Delay Variability due to Random Telegraph Noise under Dynamic Back-gate Tuning2020
- 著者名/発表者名
  Misaki Udo, Keisuke Murakami, Mahfuzul Islam, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  IEEE 33rd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K20233
[学会発表] オフセット電圧の順序統計量を利用したフラッシュ型ADCの理論検討2020
- 著者名/発表者名
  北村健浩, イスラムマーフズル, 久門尚史, 和田修己
- 学会等名
  電子情報通信学会総合大会, 2020
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K20233
[学会発表] コンパレータのオンチップ選択機構を有する順序統計に基づいたフラッシュ型ADCの設計2020
- 著者名/発表者名
  北村健浩, イスラムマーフズル, 久門尚史, 和田修己
- 学会等名
  DAシンポジウム
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K20233
[学会発表] しきい値電圧差を利用した時間領域処理による広い電源電圧で動作するCMOS温度センサ2020
- 著者名/発表者名
  原田彰吾, イスラムマーフズル, 久門尚史, 和田修己
- 学会等名
  DAシンポジウム
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K20233
[学会発表] MOSFETの統計的選択によるレファレンス不要なCMOS温度センサの設計2019
- 著者名/発表者名
  原田彰吾, イスラムマーフズル, 久門尚史, 和田修己
- 学会等名
  電子情報通信学会VLSI設計技術研究会 (VLD) , 愛媛, 2019年11月
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K20233
[学会発表] A Statistical Modeling Methodology of RTN Gate Size Dependency Based on Skewed Ring Oscillators2017
- 著者名/発表者名
  A.K.M. Mahfuzul Islam, Tatsuya Nakai, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  2017 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
- 発表場所
  Grenoble(France)
- 年月日
  2017-03-28
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280014
[学会発表] On-chip Monitoring and Compensation Scheme with Fine-grain Body Biasing for Robust and Energy-Efficient Operations2016
- 著者名/発表者名
  A.K.M. Mahfuzul Islam and Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  21st Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)
- 発表場所
  Macao(China)
- 年月日
  2016-01-25
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280014
[学会発表] Statistical Analysis and Modeling of Random Telegraph Noise Based on Gate Delay Variation Measurement2016
- 著者名/発表者名
  A.K.M. Mahfuzul Islam, Tatsuya Nakai, and Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  International Conference on Microelectronic Test Structures
- 発表場所
  メルパルク横浜(神奈川県・横浜市)
- 年月日
  2016-03-28
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280014
[学会発表] Cell-based Physical Design Automation for Analog and Mixed Signal Application2014
- 著者名/発表者名
  Norihiro Kamae, Islam A.K.M Mahfuzul, Akira Tsuchiya, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU)
- 発表場所
  Santa Cruz, CA, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280014
[学会発表] In-Situ Variability Characterization of Individual Transistors Using Topology-Reconfigurable Ring Oscillators2014
- 著者名/発表者名
  A.K.M. Mahfuzul Islam, and Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  International Conference on Microelectronic Test Structures
- 発表場所
  Udine, Italy
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280014
[学会発表] Reconfigurable Delay Cell for Area-efficient Implementation of On-chip MOSFET Monitor Schemes2013
- 著者名/発表者名
  A.K.M. Mahfuzul Islam, Tohru Ishihara, and Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  IEEE Asian Solid State Circuits Conference
- 発表場所
  Singapore
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280014
[学会発表] Area-efficient Reconfigurable Ring Oscillator for Characterization of Static and Dynamic Variations2013
- 著者名/発表者名
  A.K.M. Mahfuzul Islam, and Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  International Conference on Solid State Devices and Materials
- 発表場所
  Fukuoka
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280014
[学会発表] Sensitivity-independent Extraction of Vth Variation Utilizing Log-normal Delay Distribution
- 著者名/発表者名
  A.K.M.Mahfuzul Islam, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  2015 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
- 発表場所
  Phoenix, AZ, USA
- 年月日
  2015-03-24 – 2015-03-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280014
[学会発表] Characterization and compensation of performance variability using on-chip monitors
- 著者名/発表者名
  A.K.M. Mahfuzul Islam, and Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  2014 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test
- 発表場所
  Hsinchu, Taiwan
- 年月日
  2014-04-28 – 2014-04-30
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280014

1. 小野寺秀俊 (80160927)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 9件
2. 西澤真一 (40757522)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
3. 土谷亮 (20432411)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 1件
4. 石原亨 (30323471)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 1件

ＩＳＬＡＭ ＭＡＨＦＵＺＵＬ ISLAM MAHFUZUL

ISLAM MAHFUZUL Mahfuzul Islam

Mahfuzul Islam A. K. M.

研究課題

研究成果

共同研究者

順序統計に基づくアナログ集積回路の低消費エネルギー動作と長寿命化を両立する設計研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

製造ばらつきを利用したCMOSセンサ回路の低消費電力設計に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

自律的特性補償により閾値付近の低電圧まで安定動作する集積回路設計技術

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[図書] Chapter "Monitor Circuits for Cross-Layer Resiliency" in "Dependable Embedded Systems"2020

著者名/発表者名

総ページ数

出版者

ISBN

データソース

[図書] Chapter "Random Telegraph Noise Under Switching Operation" in "Noise in Nanoscale Semiconductor Devices"2020

著者名/発表者名

総ページ数

出版者

ISBN

データソース

[雑誌論文] A Fully Integrated Digital LDO With Adaptive Sampling and Statistical Comparator Selection2024

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Design of Reference-free Flash ADC With On-chip Rank-based Comparator Selection Using Multiple Comparator Groups2024

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

ISSN

言語

データソース

[雑誌論文] Wide-range and low supply dependency MOSFET-based temperature sensor utilizing statistical properties of scaled MOSFETs2023

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] An Adaptive-Sampling Digital LDO with Statistical Comparator Selection Achieving 99.99% Maximum Current Efficiency and 0.25ps FoM in 65nm2023

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] On-chip leakage current variation measurement using external-reference-free current-to-time conversion for densely placed MOSFETs2022

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] On-Chip Detection of Process Shift and Process Spread for Post-Silicon Diagnosis and Model-Hardware Correlation2013

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

ISSN

言語

データソース

[産業財産権] アナログデバイスおよびその制御方法、温度センサ、並びにアナログ素子対応付けシステム2020

発明者名

権利者名

産業財産権種類

出願年月日

データソース

[産業財産権] 集積回路における微細デバイスの特性分布の性質を利用したデバイスの選択技術及びデバイスの適切な選択による回路方式2019

発明者名

権利者名

ＩＳＬＡＭＭＡＨＦＵＺＵＬ ISLAM MAHFUZUL