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石川 晃  IHSIKAWA Akira

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 90023241
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外部サイト
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2004年度 – 2005年度: 日本大学, 文理学部, 教授
審査区分/研究分野
研究代表者
薄膜・表面界面物性
キーワード
研究代表者
Ion Collection / Electron Transmittance / Sealing Film / In-situ Observation / Hydrated Specimens / Environmental Cell / Electron microscope / 高耐圧隔膜 / 含水試料観察 / 試料損傷 … もっと見る / イオン捕集 / 電子線透過率 / 隔膜 / その場観察 / 含水試料 / ガス雰囲気試料室 / 電子顕微鏡 隠す
  • 研究課題

    (1件)
  • 研究成果

    (2件)
  •  電子顕微鏡用の試料環境制御可能な多用途ガス雰囲気試料室の開発研究代表者

    • 研究代表者
      石川 晃
    • 研究期間 (年度)
      2004 – 2005
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      薄膜・表面界面物性
    • 研究機関
      日本大学

すべて 2004

すべて 雑誌論文

  • [雑誌論文] 雰囲気試料室2004

    • 著者名/発表者名
      石川 晃
    • 雑誌名

      顕微鏡 39.2

      ページ: 99-104

    • NAID

      10013444999

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560025
  • [雑誌論文] 雰囲気試料室2004

    • 著者名/発表者名
      石川 晃
    • 雑誌名

      顕微鏡 39

      ページ: 99-104

    • NAID

      10013444999

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560025

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