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高窪 統  TAKAKUBO Hajime

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 90245796
外部サイト
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2004年度 – 2007年度: 中央大学, 理工学部, 教授
2000年度 – 2001年度: 中央大学, 理工学部, 助教授
審査区分/研究分野
研究代表者
電子デバイス・電子機器 / 電子デバイス・機器工学
キーワード
研究代表者
低電圧アナログ回路 / Fourquadrant-input analog multiplier / Voltage reference / Low leakage MOSFET / Subthreshold MOSFET / Voltage detector / Low power analog circuit / On-chip temperature sensor / Low voltage analog circuits / 掛け算回路 … もっと見る / オンチップセンサ / 4象限掛け算回路 / CMOS温度センサ / 基準電流発生回路 / 4象限アナログ掛け算回路 / 基準電圧発生回路 / 低リークMOSFET / 弱反転領域で動作するMOSFET / 電圧検出器 / 低消費電力アナログ回路 / スマート温度センサ / ボルテージボロワ / OTA / 低電圧CMOS回路 / CMOSアナログ回路 / 電圧減衰回路 / 弱反転領域 隠す
  • 研究課題

    (2件)
  • 研究成果

    (16件)
  •  低電圧・低消費電力CMOSアナログ集積回路を用いた携帯機器のためのシステムLSI研究代表者

    • 研究代表者
      高窪 統
    • 研究期間 (年度)
      2004 – 2007
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      電子デバイス・電子機器
    • 研究機関
      中央大学
  •  2段積み構成を用いたCMOSアナログ回路研究代表者

    • 研究代表者
      高窪 統
    • 研究期間 (年度)
      2000 – 2001
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      中央大学

すべて 2008 2007 2006 2005 2004

すべて 雑誌論文 学会発表

  • [雑誌論文] A CMOS Temperature-to-Pulse-Width Converter with a Current Comparator2008

    • 著者名/発表者名
      Takuya, Yamashita, Kawori, Takakubo, Hajime, Takakubo
    • 雑誌名

      in Proceedings on the 21st Workshop on Circuits and Systems in Karuizawa Vol. 1

    • NAID

      40016083639

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560309
  • [雑誌論文] Four-Quadrant-Input Linear Transconductor Employing Source and Sink Currents Pair for Analog Multiplier2006

    • 著者名/発表者名
      Masakazu, Mizokami, Kawori, Takakubo, Hajime, Takakubo
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of electronics, communications and computer sciences Vol. E89-A, No. 2

      ページ: 362-368

    • NAID

      110004656480

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560309
  • [雑誌論文] CMOS Zero-Temperature-Coefficient Point Voltage Reference with Variable-Output-Voltage Level2005

    • 著者名/発表者名
      Hidetoshi, Ikeda, Kawori, Takakubo, Hajime, Takakubo
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of electronics, communications and computer sciences Vol. E88-A, No. 2

      ページ: 476-482

    • NAID

      110003213330

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560309
  • [雑誌論文] Switched capacitor DC-DC converter using nested structure2005

    • 著者名/発表者名
      Genta, Okabe, Kawori, Takakubo, Hajime, Takakubo
    • 雑誌名

      in Proceedings on the 18th Workshop on Circuits and Systems in Karuizawa Vol. 1

      ページ: 79-84

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560309
  • [雑誌論文] Four-quadrant Multiplying Approach with Low Distortion Voltage -to-Current Convertor in Saturation2004

    • 著者名/発表者名
      Masakazu, Mizokami, Kawori, Takakubo, Hajime, Takakubo
    • 雑誌名

      in Proceedings on the 2004 IEEJ International Analog VLSI Workshop Vol. 1

      ページ: 1-6

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560309
  • [雑誌論文] CMOS Linear-Voltage-Output Temperature Sensor based on Characteristic of Zero-Temperature-Coefficient Point2004

    • 著者名/発表者名
      Hidetoshi, Ikeda, Kawori, Takakubo, Hajime, Takakubo
    • 雑誌名

      in Proceedings on the 2004 IEEJ International Analog VLSI Workshop Vol. 1

      ページ: 67-72

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560309
  • [学会発表] PTAT Circuit using Characteristic of Subthreshold MOSFET2008

    • 著者名/発表者名
      Naoto, Tamura, Kawori, Takakubo, Hajime, Takakubo
    • 学会等名
      The Papers of Technical Meeting on Electronic Circuits, IEE Japan
    • 発表場所
      Aiti
    • 年月日
      2008-03-27
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560309
  • [学会発表] A low power consumption Voltage Detector operating in minute current2007

    • 著者名/発表者名
      Kohei, Sakamoto, Kawori, Takakubo, Hajime, Takakubo
    • 学会等名
      The Papers of Technical Meeting on Electronic Circuits, IEE Japan
    • 発表場所
      Kagoshima
    • 年月日
      2007-10-11
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560309
  • [学会発表] A consideration of leakage current suppression of MOSFET in off-state2007

    • 著者名/発表者名
      Kawori, Takakubo, Torn, Etou, Hajime, Takakubo
    • 学会等名
      The Papers of Technical Meeting on Electronic Circuits, IEE Japan
    • 発表場所
      Niigata
    • 年月日
      2007-12-07
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560309
  • [学会発表] MOSFETにおけるリーク電流低減に関する一考察2007

    • 著者名/発表者名
      高窪 統
    • 学会等名
      電気学会電子回路研究会
    • 発表場所
      日本大学(新潟県)
    • 年月日
      2007-12-07
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560309
  • [学会発表] MOSFETにおけるリーク電流低減に関する一考察2007

    • 著者名/発表者名
      高窪 統
    • 学会等名
      電気学会電子回路研究会
    • 発表場所
      日本大学(新潟)
    • 年月日
      2007-12-07
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560309
  • [学会発表] Temperature sensor using characteristic of MOSFET operating in weak inversion region2006

    • 著者名/発表者名
      Yosuke, Itabashi, Kawori, Takakubo, Hajime, Takakubo
    • 学会等名
      The Papers of Technical Meeting on Electronic Circuits, IEE Japan
    • 発表場所
      Ohita
    • 年月日
      2006-01-26
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560309
  • [学会発表] A CMOS Current Reference Independent of Deviation of Threshold Voltage2006

    • 著者名/発表者名
      Masashi, Negishi, Kawori, Takakubo, Hajime, Takakubo
    • 学会等名
      Technical Report of IEICE
    • 発表場所
      Hokkaido
    • 年月日
      2006-06-22
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560309
  • [学会発表] Low leakage MOS switch using the body effect2005

    • 著者名/発表者名
      Daisuke, Kibe, Kawori, Takakubo, Hajime, Takakubo
    • 学会等名
      The Papers of Technical Meeting on Electronic Circuits, IEE Japan
    • 発表場所
      Tochigi
    • 年月日
      2005-12-16
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560309
  • [学会発表] CMOS Current Reference based on using Zero-Temperature-Coefficient Point2005

    • 著者名/発表者名
      Yusuke, Wada, Kawori, Takakubo, Hajime, Takakubo
    • 学会等名
      The Papers of Technical Meeting on Electronic Circuits, IEE Japan, ETC-05-96
    • 発表場所
      Tochigi
    • 年月日
      2005-12-16
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560309
  • [学会発表] CMOS Voltage Reference using a characteristics of weak inversion region and linear region2005

    • 著者名/発表者名
      Kuniya, Abe, Kawori, Takakubo, Hajime, Takakubo
    • 学会等名
      The Papers of Technical Meeting on Electronic Circuits, IEE Japan ETC-05-98
    • 発表場所
      Tochigi
    • 年月日
      2005-12-16
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16560309

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