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四柳 浩之  yotsuyanagi hiroyuki

研究者番号 90304550
その他のID
  • ORCIDhttps://orcid.org/0000-0002-4223-3705
所属 (現在) 2025年度: 徳島大学, 大学院社会産業理工学研究部(理工学域), 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2023年度: 徳島大学, 大学院社会産業理工学研究部(理工学域), 准教授
2017年度 – 2021年度: 徳島大学, 大学院社会産業理工学研究部(理工学域), 准教授
2016年度: 徳島大学, 大学院理工学研究部, 准教授
2012年度 – 2015年度: 徳島大学, ソシオテクノサイエンス研究部, 准教授
審査区分/研究分野
研究代表者
小区分60040:計算機システム関連 / 計算機システム / 計算機システム・ネットワーク
研究代表者以外
計算機システム / 小区分60040:計算機システム関連
キーワード
研究代表者
LSIテスト / ディペンダブル・コンピューティング / 遅延故障 / 検査容易化設計 / VLSIの検査技術 / VLSI / 故障検出 / VLSIの検査容易化設計 / VLSIのテスト技術 / ディペンダブルコンピューティング … もっと見る / 3次元積層IC / 3次元積層チップ / VLSIの検査技術 / テスト生成 … もっと見る
研究代表者以外
組込型検査回路 / フィールドテスト / 電気検査 / ダイ間配線 / テスト容易化設計 / 破断検出 / 抵抗断線 / 予兆検出 / 電子デバイス・機器 / ディペンダブル・コンピューティング / 計算機システム / 電気的検査法 / 欠陥検出法 / 実装基板回路 / インターコネクトテスト / アセンブリ基板 / 3次元積層IC / 電流テスト / 断線 / 電気検査法 / 組込み自己診断 / 組込み自己テスト / 遅延故障 / 診断用テスト / 故障診断法 / プリシリコンテスト / ポストシリコンテスト / 抵抗性オープン故障 / オンチップセンサー / 診断 / テスト / タイミング不良 / オープン故障 / 故障診断 / 故障検査 / ディペンダブルコンピューティング 隠す
  • 研究課題

    (6件)
  • 研究成果

    (91件)
  • 共同研究者

    (5人)
  •  ダイ間配線の出荷後電気検査をも可能にする組込み型検査回路に関する研究

    • 研究代表者
      橋爪 正樹
    • 研究期間 (年度)
      2023 – 2025
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分60040:計算機システム関連
    • 研究機関
      放送大学
  •  積層チップ間の故障テスト用信号生成・供給回路設計手法の開発研究代表者

    • 研究代表者
      四柳 浩之
    • 研究期間 (年度)
      2018 – 2020
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分60040:計算機システム関連
    • 研究機関
      徳島大学
  •  ICチップの入出力信号線の弛張発振回路を用いた破断予兆検出法に関する研究

    • 研究代表者
      橋爪 正樹
    • 研究期間 (年度)
      2017 – 2020
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      徳島大学
  •  3次元積層チップ間接続の異常遅延検出のための検査容易化回路設計手法の開発研究代表者

    • 研究代表者
      四柳 浩之
    • 研究期間 (年度)
      2015 – 2017
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      徳島大学
  •  プリシリコンテストとポストシリコンテストを併用したタイミング不良診断法の開発

    • 研究代表者
      高橋 寛
    • 研究期間 (年度)
      2013 – 2016
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      愛媛大学
  •  遅延付加・検出回路を組み込んだ遅延故障検査容易化回路の設計と評価研究代表者

    • 研究代表者
      四柳 浩之
    • 研究期間 (年度)
      2012 – 2014
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      徳島大学

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すべて 雑誌論文 学会発表

  • [雑誌論文] A DfT Technique for Electrical Interconnect Testing of Circuit Boards with 3D Stacked SRAM ICs2023

    • 著者名/発表者名
      Yuki Ikiri, Hiroyuki Yotsuyanagi, Fara Ashikin Binti Ali, Shyue-Kung Lu, Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of 12th IEEE CPMT Symposium Japan (ICSJ2023)

      巻: - ページ: 113-116

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K11039
  • [雑誌論文] Open Defect Detection in Assembled Circuit Boards with Built-In Relaxation Oscillators2021

    • 著者名/発表者名
      Ikiri Yuki, Fumiya Sako, Hashizume Masaki, Yotsuyanagi Hiroyuki, Shyue-Kung Lu, Toru Yazaki, Yasuhiro Ikeda and Yutaka Uematsu
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology

      巻: 11 号: 6 ページ: 931-943

    • DOI

      10.1109/tcpmt.2021.3079159

    • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [雑誌論文] Detectable Resistance Increase of Open Defects in Assembled PCBs by Quiescent Currents through Embedded Diodes2021

    • 著者名/発表者名
      Yuya Okumoto, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume and Shyue-Kung Lu
    • 雑誌名

      Proc. of 2021 International Conference on Electronics Packaging (ICEP)

      巻: -

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [雑誌論文] Temperature Sensing with a Relaxation Oscillator in CMOS ICs2020

    • 著者名/発表者名
      Fumiya Sako, Yuki Ikiri, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroshi Yokoyama and Shyue-Kung Lu
    • 雑誌名

      Proc. of The 35th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

      巻: - ページ: 141-144

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [雑誌論文] バウンダリスキャン研究の最前線2020

    • 著者名/発表者名
      バウンダリスキャン研究会, 四柳浩之
    • 雑誌名

      エレクトロニクス実装学会誌

      巻: 23 号: 6 ページ: 539-542

    • DOI

      10.5104/jiep.23.539

    • NAID

      130007894820

    • ISSN
      1343-9677, 1884-121X
    • 年月日
      2020-09-01
    • 言語
      日本語
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [雑誌論文] Open Defect Detection Not Utilizing Boundary Scan Flip-Flops in Assembled Circuit Boards2020

    • 著者名/発表者名
      Michiya Kanda, Masaki Hashizume, Binti ALI Fara Ashikin, Hiroyuki Yotsuyanagi, Shyue-Kung Lu
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology

      巻: 10 号: 5 ページ: 895-907

    • DOI

      10.1109/tcpmt.2020.2973182

    • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [雑誌論文] Electrical Field Test Method of Resistive Open Defects between Dies by Quiescent Currents through Embedded Diodes2019

    • 著者名/発表者名
      Soneda Hanna、Hashizume Masaki、Yotsuyanagi Hiroyuki、Lu Shyue-Kung
    • 雑誌名

      Proc. of The IEEE 2019 International 3D Systems Integration Conference

      巻: 1 ページ: 1-5

    • DOI

      10.1109/3dic48104.2019.9058777

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [雑誌論文] TDC 組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部の分割による検査時間の削減2018

    • 著者名/発表者名
      平井 智士, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: 118 ページ: 119-124

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [雑誌論文] TDC組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部のリオーダによる配線長の低減2018

    • 著者名/発表者名
      平井 智士, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: 117 ページ: 13-18

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [雑誌論文] 自動生成パターンの微小遅延故障検査用回路への適用性検討2018

    • 著者名/発表者名
      谷口 公貴, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: 118 ページ: 131-136

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [雑誌論文] Stand-by Mode Test Method of Interconnects between Dies in 3D ICs with IEEE 1149.1 Test Circuits2018

    • 著者名/発表者名
      Kanda Michiya、Yabui Daisuke、Hashizume Masaki、Yotsuyanagi Hiroyuki、Lu Shyue-Kung
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE CPMT Symposium Japan 2018

      巻: 1 ページ: 189-192

    • DOI

      10.1109/icsj.2018.8602560

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [雑誌論文] A Design for Testability of Open Defects at Interconnects in 3D Stacked ICs2018

    • 著者名/発表者名
      ASHIKIN Fara、HASHIZUME Masaki、YOTSUYANAGI Hiroyuki、LU Shyue-Kung、ROTH Zvi
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems

      巻: E101.D 号: 8 ページ: 2053-2063

    • DOI

      10.1587/transinf.2018EDP7093

    • NAID

      130007429462

    • ISSN
      0916-8532, 1745-1361
    • 年月日
      2018-08-01
    • 言語
      英語
    • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [雑誌論文] 微小遅延故障テストのためのTDC組込み型スキャンFFの設計について2016

    • 著者名/発表者名
      河塚信吾, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: 116 ページ: 105-110

    • 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [雑誌論文] 論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減2015

    • 著者名/発表者名
      藤谷 和依, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 樋上 喜信, 高橋 寛
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: 115 ページ: 13-18

    • 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [雑誌論文] 隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について2015

    • 著者名/発表者名
      伊勢 幸太郎, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 樋上 喜信, 高橋 寛
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: 115 ページ: 31-36

    • 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [雑誌論文] On SAT-based Test Generation for Resistive Open Using Delay Variation Caused by Effect of Adjacent Lines2014

    • 著者名/発表者名
      Jun Yamashita, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Yoshinobu Higami and Hiroshi Takahashi
    • 雑誌名

      WRTLT2014

      巻: - ページ: 49-54

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [雑誌論文] On Detecting Delay Faults Using Time-to-Digital Converter Embedded in Boundary Scan2013

    • 著者名/発表者名
      Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroyuki Makimoto, Takanobu Nimiya, Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems

      巻: E96.D 号: 9 ページ: 1986-1993

    • DOI

      10.1587/transinf.E96.D.1986

    • NAID

      130003370987

    • ISSN
      0916-8532, 1745-1361
    • 言語
      英語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [雑誌論文] Diagnosing Resistive Open Faults Using Small Delay Fault Simulation2013

    • 著者名/発表者名
      Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Hironobu Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, and Kewal K. Saluja
    • 雑誌名

      Proc. IEEE 22nd Asian Test Symposium

      巻: - ページ: 79-84

    • DOI

      10.1109/ats.2013.23

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] アナログ素子のみで構成する弛緩発振器によるIC間抵抗断線の検出可能性調査2023

    • 著者名/発表者名
      大松 正男, 大寺 佑都, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, Shyue-Kung Lu
    • 学会等名
      エレクトロニクス実装学会第33回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K11039
  • [学会発表] オフセットキャンセル型コンパレータ内インバータゲートの増幅度の温度依存性2023

    • 著者名/発表者名
      小松原 滉人, 大松 正男, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K11039
  • [学会発表] Recovery of Defective TSVs with A Small Number of Redundant TSVs in 3D Stacked ICs2021

    • 著者名/発表者名
      Yuki Ikiri, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroshi Yokoyama and Shyue-Kung Lu
    • 学会等名
      The 21st IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] TDC組込み型バウンダリスキャンの観測セル部分選択による検査時間削減について2021

    • 著者名/発表者名
      有元 康滋, 牧野 紘史, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      第35回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [学会発表] 微小遅延故障検査容易化設計用テストクロック制御回路の検討2021

    • 著者名/発表者名
      福田 康介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      第35回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [学会発表] 3D IC における遅延故障検査容易化設計用のクロック制御回路について2020

    • 著者名/発表者名
      福田 康介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [学会発表] 電流テストによるダイ間断線検出のためのpMOSのオン抵抗値を用いた断線抵抗値の推定2020

    • 著者名/発表者名
      奥本 裕也, 曽根田 伴奈, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, Shyue-Kung Lu
    • 学会等名
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] アナログ素子で構成する弛緩発振器によるCMOS IC内温度測定2020

    • 著者名/発表者名
      大寺 佑都, 硲 文弥, 伊喜利 勇貴, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, Shyue-Kung Lu
    • 学会等名
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] TDC 組込み型バウンダリスキャンを用いる信号遅延監視システムの検討2020

    • 著者名/発表者名
      知野 遥香,菊池 愁也,四柳 浩之,橋爪 正樹
    • 学会等名
      第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [学会発表] 遅延故障検査容易化設計を用いる検査対象経路の選択手法2020

    • 著者名/発表者名
      長田 奏美, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [学会発表] Test Time Reduction of Small Delay Testing for Scan Design with Embedded TDC2020

    • 著者名/発表者名
      Kanami Nagata, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume
    • 学会等名
      the 21st IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [学会発表] 3D ICの検査容易化設計における遅延故障検査用ダイ選択回路の開発2020

    • 著者名/発表者名
      牧野 紘史, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [学会発表] 遅延故障検査容易化設計の同時観測経路の選択によるテスト時間短縮2020

    • 著者名/発表者名
      長田 奏美, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [学会発表] 弛緩発振器を用いた組込み型温度センサによる温度推定の可能性2020

    • 著者名/発表者名
      硲 文弥, 伊喜利 勇貴, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 横山 洋之, Shyue-Kung Lu
    • 学会等名
      電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] On Delay Elements in Boundary Scan Cells for Delay Testing of 3D IC Interconnection2019

    • 著者名/発表者名
      Toshiaki Satoh, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • 学会等名
      IEEE 2019 International 3D Systems Integration Conference
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [学会発表] 電気試験法による実装基板内抵抗断線の出荷後検出法2019

    • 著者名/発表者名
      曽根田 伴奈, 神田 道也, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, Shyue-Kung Lu
    • 学会等名
      第29回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] 微小遅延故障検査への PLL 回路の適用についての一考察2019

    • 著者名/発表者名
      大塚 諒哉, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, Chia-Yu Yao
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [学会発表] TDC組込型バウンダリスキャン設計を用いる微小遅延故障検査における遅延ばらつき影響調査2019

    • 著者名/発表者名
      菊池 愁也, 新開 颯馬, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      第33回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [学会発表] On Delay Measurement under Delay Variations in Boundary Scan Circuit with Embedded TDC2019

    • 著者名/発表者名
      Shuya Kikuchi, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • 学会等名
      2019 IEEE International Test Conference in Asia
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [学会発表] 検査容易化設計手法を用いた複数検査対象経路の同時選択による検査時間の削減2019

    • 著者名/発表者名
      長田 奏美, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [学会発表] バウンダリスキャンテストによる3D IC内ダイ間抵抗断線検出可能性調査2019

    • 著者名/発表者名
      池内 康祐, 神田 道也, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, Shyue-Kung Lu
    • 学会等名
      第29回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] TDC 組込み型バウンダリスキャンにおけるバウンダリスキャンセルのスタンダードセル設計と評価2019

    • 著者名/発表者名
      河野 潤平, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [学会発表] バウンダリスキャンテスト回路を用いた待機モード時電気試験を可能にするTAPCの開発2019

    • 著者名/発表者名
      池内 康祐, 神田 道也, 平井 智士, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      第33回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] TDC 組込み型スキャン設計の遅延付加部の遅延検出能力評価2018

    • 著者名/発表者名
      新開 颯馬, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      第78回FTC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [学会発表] On Design and Evaluation of a TDC Cell Embedded in the Boundary Scan Circuit for Delay Fault Testing of 3D ICs2018

    • 著者名/発表者名
      Jumpei Kawano, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • 学会等名
      33rd International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC 2018)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [学会発表] Oscillation Frequency Estimation of Ring Oscillator for Interconnect Tests in 3D Stacked ICs2018

    • 著者名/発表者名
      Miyatake Noriko, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroshi Yokoyama and Tetsuo Tada
    • 学会等名
      2018 RISP International Workshop on Nonlinear Circuits, Communications
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] Test Time Reduction on Testing Delay Faults in 3D ICs Using Boundary Scan Design2018

    • 著者名/発表者名
      Satoshi Hirai, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • 学会等名
      IEEE 27th Asian Test Symposium
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [学会発表] MOS製造ばらつきに対するダイオード組込型検査用回路を用いた検査法の抵抗断線検出能力2018

    • 著者名/発表者名
      曽根田 伴奈, 神田 道也, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, Shyue-Kung Lu
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] 遅延故障検査容易化設計を用いた複数経路同時検査時のATPG パターンの有効性について2018

    • 著者名/発表者名
      佐藤 聡観, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      第79回FTC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [学会発表] Effect of Routing in Testing a TSV Array Using Boundary Scan Circuit with Embedded TDC2018

    • 著者名/発表者名
      Jumpei Kawano, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • 学会等名
      International Forum on Advanced Technologies 2018
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [学会発表] リングオシレータを用いた3D IC内ダイ間断線検出のMOS製造ばらつきによる影響2018

    • 著者名/発表者名
      宮武 典子, 四柳 浩之, 横山 洋之, 橋爪 正樹, 多田 哲生
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] Reordering Delay Elements in Boundary Scan Circuit with Embedded TDC2017

    • 著者名/発表者名
      Satoshi Hirai, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • 学会等名
      the 18th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [学会発表] Design-for-testability circuit for interconnect test of 3D IC2017

    • 著者名/発表者名
      Hiroyuki Yotsuyanagi
    • 学会等名
      IEEE CASS Shikoku and Hong Kong Chapters Joint Workshop
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [学会発表] 3 次元実装 IC におけるマイクロバンプ欠損時の遅延解析2017

    • 著者名/発表者名
      柴田 駿介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電子情報通信学会第64回機能集積情報システム研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [学会発表] リングオシレータを用いた3D IC内ダイ間配線検査法の発振周波数の温度依存性調査2017

    • 著者名/発表者名
      宮武 典子, 四柳 浩之, 横山 洋之, 橋爪 正樹, 多田 哲生
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] TDC組込み型スキャンFFの微小遅延故障検出能力評価2017

    • 著者名/発表者名
      河塚 信吾, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      DAシンポジウム2017
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [学会発表] A Defective Level Monitor of Open Defects in 3D ICs with a Comparator of Offset Cancellation Type2017

    • 著者名/発表者名
      Michiya Kanda, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu
    • 学会等名
      2017 IEEE Int. Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] On design for reducing delay variation in design-for-testability circuit for delay fault2017

    • 著者名/発表者名
      Satoshi Hirai, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • 学会等名
      2017 Taiwan and Japan Conference on Circuits and Systems
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [学会発表] TSV検査のためのTDC組込み型バウンダリスキャン制御回路の設計2017

    • 著者名/発表者名
      河口 巧, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      DAシンポジウム2017
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [学会発表] 試作した遅延故障検査容易化回路による 2 経路同時検査について2017

    • 著者名/発表者名
      谷口 公貴, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電子情報通信学会第64回機能集積情報システム研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [学会発表] BC1タイプのバウンダリスキャンテスト回路を用いた実装基板のオンライン配線検査法2017

    • 著者名/発表者名
      薮井 大輔, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      第27回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] 遅延故障検査容易化設計のための遅延付加ゲートの設計2017

    • 著者名/発表者名
      新開 颯馬, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電子情報通信学会第64回機能集積情報システム研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [学会発表] 隣接線の信号遷移を用いる半断線故障判別法の断線位置に対する有効性調査2016

    • 著者名/発表者名
      伊勢幸太郎,四柳浩之,橋爪正樹,樋上喜信,高橋寛
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学,徳島県・徳島市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] TDC組込み型スキャンFFの遅延分解能へのばらつきの影響調査2016

    • 著者名/発表者名
      河塚信吾, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • 学会等名
      平成28年度電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島県徳島市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [学会発表] On Control Circuit and Observation Conditions for Testing Multiple TSVs Using Boundary Scan Circuit with Embedded TDC2016

    • 著者名/発表者名
      T. Kawaguchi, H. Yotsuyanagi, and M. Hashizume
    • 学会等名
      the 17th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      安芸グランドホテル(広島県廿日市市)
    • 年月日
      2016-11-24
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [学会発表] TDC 組込み型バウンダリスキャンを用いる遅延故障検査でのチップ間ばらつき補正2016

    • 著者名/発表者名
      森亮介, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • 学会等名
      平成28年度電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島県徳島市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [学会発表] TDC 組込み型バウンダリスキャンを用いた複数 TSV の検査用信号の印加と観測について2016

    • 著者名/発表者名
      河口巧, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • 学会等名
      第75回FTC研究会
    • 発表場所
      ホテル木暮(群馬県渋川市)
    • 年月日
      2016-07-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [学会発表] TSV故障検出回路におけるVDL回路部の遅延検出能力評価2015

    • 著者名/発表者名
      宮本 陽平, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      平成27年度電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      高知工科大学(高知県香美市)
    • 年月日
      2015-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [学会発表] On Generating Test Patterns for Time-to-digital Converter Embedded in Boundary-scan2015

    • 著者名/発表者名
      Keigo Hamada, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume
    • 学会等名
      2015 Kyutech, UT, and Taiwan Tech Joint Workshop on Advanced VLSI Design Technologies
    • 発表場所
      台湾科技大学(台北,台湾)
    • 年月日
      2015-03-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [学会発表] 微小遅延故障検査用遅延測定回路内の遅延付加部の改良2015

    • 著者名/発表者名
      石場 隆之, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      平成27年度電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      高知工科大学(高知県香美市)
    • 年月日
      2015-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [学会発表] On Multiple Path Testability of Delay Fault Design-for-testability Circuit2015

    • 著者名/発表者名
      Ryosuke Mori, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume
    • 学会等名
      2015 Kyutech, UT, and Taiwan Tech Joint Workshop on Advanced VLSI Design Technologies
    • 発表場所
      台湾科技大学(台北,台湾)
    • 年月日
      2015-03-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [学会発表] 隣接線の信号遷移を用いる多変量解析による半断線故障の検出可能性について2015

    • 著者名/発表者名
      伊勢 幸太郎, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 樋上 喜信, 高橋 寛
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
    • 発表場所
      高知県香美市土佐山田町,高知工科大学
    • 年月日
      2015-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] Design-for-testability circuit for delay faults in sequential circuits2015

    • 著者名/発表者名
      Hiroyuki Yotsuyanagi
    • 学会等名
      2015 Kyutech, UT, and Taiwan Tech Joint Workshop on Advanced VLSI Design Technologies
    • 発表場所
      台湾科技大学(台北,台湾)
    • 年月日
      2015-03-05
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [学会発表] 断線故障検査における並走距離を考慮した隣接線の論理値割当候補の削減2015

    • 著者名/発表者名
      藤谷 和依, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
    • 発表場所
      高知県香美市土佐山田町,高知工科大学
    • 年月日
      2015-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] 遅延故障検査容易化回路を用いる同時検査対象経路選択条件の検討2015

    • 著者名/発表者名
      森 亮介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      長崎県勤労福祉会館(長崎県長崎市)
    • 年月日
      2015-12-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [学会発表] TDC組込み型バウンダリスキャンを用いた 2 経路同時遅延測定の実測による評価2015

    • 著者名/発表者名
      森 亮介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      平成27年度電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      高知工科大学(高知県香美市)
    • 年月日
      2015-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [学会発表] 遅延故障用バウンダリスキャンによるTSV検査法に関する研究2015

    • 著者名/発表者名
      濱田 圭吾, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      平成27年度電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      高知工科大学(高知県香美市)
    • 年月日
      2015-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [学会発表] On TSV Array Defect Detection Method Using Two Ring-oscillators Considering Signal Transitions at Adjacent TSVs2015

    • 著者名/発表者名
      Hiroyuki Yotsuyanagi, Akihiro Fujiwara and Masaki Hashizume
    • 学会等名
      IEEE 3D System Integration Conference 2015
    • 発表場所
      仙台国際センター(宮城県仙台市)
    • 年月日
      2015-08-31
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [学会発表] TDC組込み型バウンダリスキャン回路を用いた実測によるタイミング余裕の検証2014

    • 著者名/発表者名
      櫻井 浩希, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島県徳島市)
    • 年月日
      2014-09-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [学会発表] 順序回路におけるパスの微小遅延故障を測定する遅延付加回路設計2014

    • 著者名/発表者名
      石場 隆之, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島県徳島市)
    • 年月日
      2014-09-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [学会発表] 遅延故障検査容易化設計用タイミング余裕計測回路の提案2014

    • 著者名/発表者名
      濱田 圭吾, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島県徳島市)
    • 年月日
      2014-09-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [学会発表] Delay Line Embedded in Boundary Scan for Testing TSVs2014

    • 著者名/発表者名
      Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroki Sakurai, Masaki Hashizume
    • 学会等名
      Fifth IEEE International Workshop on Testing Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits
    • 発表場所
      Washington State Convention Center (シアトル,アメリカ合衆国)
    • 年月日
      2014-10-24
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [学会発表] Time-to-Digital Converter Embedded in Boundary-Scan Circuit and Its Application to 3D IC Testing2013

    • 著者名/発表者名
      Hiroki Sakurai, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masanori Nakamura, Masaki Hashizume
    • 学会等名
      International Test Conference
    • 発表場所
      Disneyland Hotel (Anaheim, U.S.A.)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [学会発表] On SAT-based Test Generation for Observing Delay Variation Caused by a Resistive Open Fault and Its Adjacent Lines2013

    • 著者名/発表者名
      Jun Yamashita, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Yoshinobu Higami, and Hiroshi Takahashi
    • 学会等名
      The 14th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Yilan, Taiwan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] 隣接TSVを考慮したTSV遅延故障検出法について2013

    • 著者名/発表者名
      四柳 浩之
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      機械振興会館(東京都)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [学会発表] 遅延故障検査容易化設計におけるSTAを用いる必要付加遅延量の導出2012

    • 著者名/発表者名
      四柳 浩之
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      四国電力株式会社 総合研修所(香川県)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [学会発表] TDCを組み込んだバウンダリスキャンを用いる複数パスの遅延検査について2012

    • 著者名/発表者名
      四柳浩之
    • 学会等名
      第67回FTC研究会
    • 発表場所
      KKRホテルびわこ(滋賀県)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [学会発表] 抵抗性オープン故障に対する診断用テスト生成

    • 著者名/発表者名
      松川翔平, 高橋寛, 樋上喜信, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • 学会等名
      平成25年度電気関係学会四国支部連合大会 講演論文集
    • 発表場所
      徳島大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [学会発表] 遅延故障検査容易化回路を用いた複数経路の同時検査可能性調査

    • 著者名/発表者名
      池地 大輔, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島県徳島市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [学会発表] TDC組込み型バウンダリスキャン回路による実測実験評価

    • 著者名/発表者名
      櫻井 浩希, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      第70回FTC研究会
    • 発表場所
      宝荘ホテル(愛媛県松山市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [学会発表] TDC組込み型バウンダリスキャン回路による遅延検出能力評価

    • 著者名/発表者名
      櫻井 浩希, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      機械振興会館(東京都港区)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [学会発表] TDC組込み型バウンダリスキャンを用いる製造ばらつきを考慮した遅延故障検査法

    • 著者名/発表者名
      二宮 孝暢, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島県徳島市)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [学会発表] SAT手法による隣接線影響を考慮した微小遅延故障検査用テストパターン生成に関する一考察

    • 著者名/発表者名
      山下淳, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛
    • 学会等名
      平成25年度電気関係学会四国支部連合大会 講演論文集
    • 発表場所
      徳島大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • 1.  橋爪 正樹 (40164777)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 22件
  • 2.  高橋 寛 (80226878)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 9件
  • 3.  樋上 喜信 (40304654)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 9件
  • 4.  横山 洋之 (80250900)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 6件
  • 5.  多田 哲生 (40368832)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 2件

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