吉村正義 YOSHIMURA Masayoshi

研究者番号	90452820
その他のID
所属 (現在)	2025年度: 京都産業大学, 情報理工学部, 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2023年度: 京都産業大学, 情報理工学部, 教授 2018年度 – 2022年度: 京都産業大学, 情報理工学部, 准教授 2014年度 – 2017年度: 京都産業大学, コンピュータ理工学部, 准教授 2013年度: 九州大学, システム情報科学研究科(研究院, 助教 2010年度: 九州大学, 大学院・システム情報科学研究院, 助教 2008年度 – 2010年度: 九州大学, システム情報科学研究院, 助教
審査区分/研究分野	研究代表者小区分60040:計算機システム関連 / 計算機システム / 計算機システム・ネットワーク研究代表者以外計算機システム・ネットワーク / 小区分60040:計算機システム関連
キーワード	研究代表者トロイ回路 / IPコア / ハードウェアトロイ回路 / LSI / 安全 / テスト容易化設計 / 論理暗号化 / 電子透かし / 知的財産権保護 / 論理ロック … もっと見る / IPコア流用検知 / 等価性検証 / 到達不能状態 / 内部状態 / 入力系列生成 / モンテカルロツリーサーチ / SATソルバー / ホワイトボックス / ブラックボックス / 応答圧縮回路 / ベンチマーク回路 / 挿入箇所探索アルゴリズム / トロイ検出用回路 / 情報の保護 / 回路構造情報 / 論理的回路分割 / パタン生成器 / 応答圧縮器 / トロイ検査用回路 / 情報量 / 情報漏洩 / 製造検査 / 設計手法 / 動作合成 / 製造検査容易性 / スキャン設計 / 秘密情報 / テストパタン生成 / 製造テスト / 暗号LSI / LSI設計技術 / 信頼性 / ディペンダブル・コンピューティング / 安全性 / システムLSI / ディペンダブル・コンピユーフィング / システム / 暗号・認証等 / ディペンダブルコンピューティング / 設計自動化 / VLSI設計技術 … もっと見る研究代表者以外セキュリティ / LSI設計 / ＳＡＴ / ハードウェアセキュリティ / 論理合成 / SAT(充足可能性判定問題) / SAT / 論理暗号化 / テストパタン生成 / システムレベル検証 / システムLSI / 悪意ある攻撃 / 人為的な誤り / LSI設計フロー / ディペンダブル / 電子マネー / ICカード / 社会情報基盤 / LSIテスト / LSIアーキテクチャ / ディペンダブルLSI 隠す

IPコアの流用を検知するための設計技術研究代表者
- 研究代表者
  
  吉村正義
- 研究期間 (年度)
  2021 – 2024
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  京都産業大学
論理IPの盗用を防ぐ堅牢な論理暗号化アルゴリズムの研究
- 研究代表者
  
  松永裕介
- 研究期間 (年度)
  2018 – 2020
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  九州大学
IPコア内のトロイ回路を特定するLSI設計技術に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  吉村正義
- 研究期間 (年度)
  2018 – 2022
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  京都産業大学
製造過程でのトロイ回路混入を検知するLSI設計技術に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  吉村正義
- 研究期間 (年度)
  2015 – 2017
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  京都産業大学
秘密情報の秘匿性と製造検査容易性の両立をはかるLSI設計手法の研究研究代表者
- 研究代表者
  
  吉村正義
- 研究期間 (年度)
  2013 – 2014
- 研究種目
  
  挑戦的萌芽研究
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  京都産業大学
   九州大学
TLM検証を高速化するモデルの抽象化技術とテストパタン生成技術の研究
- 研究代表者
  
  松永裕介
- 研究期間 (年度)
  2008 – 2010
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  九州大学
安全性と製造検査容易性の両立したLSI設計方法の研究法の研究研究代表者
- 研究代表者
  
  吉村正義
- 研究期間 (年度)
  2008 – 2010
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  九州大学
価値と信用を搭載するディペンダブルなLSIの設計手法の研究
- 研究代表者
  
  安浦寛人
- 研究期間 (年度)
  2007 – 2009
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  九州大学

[雑誌論文] CRLock: A SAT and FALL Attacks Resistant Logic Locking Method for Controller at Register Transfer Level2024
- 著者名/発表者名
  YOSHIMURA Masayoshi、TSUJIKAWA Atsuya、HOSOKAWA Toshinori
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
  
  巻: E107.A 号: 3 ページ: 583-591
- DOI
  10.1587/transfun.2023VLP0018
- ISSN
  0916-8508, 1745-1337
- 年月日
  2024-03-01
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K11817
[雑誌論文] A Test Register Assignment Method Based on Controller Augmentation to Reduce the Number of Test Patterns2018
- 著者名/発表者名
  Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki, Shun Takeda, Masayoshi Yoshimura
- 雑誌名
  
  2018 IEEE 24th International Symposium on On-Line Testing And Robust System Design (IOLTS)
  
  巻: 24 ページ: 228-231
- DOI
  10.1109/iolts.2018.8474097
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[雑誌論文] A Sequentially Untestable Fault Identification Method Based on n-Bit State Cube Justification2018
- 著者名/発表者名
  Toshinori Hosokawa, Morito Niseki, Masayoshi Yoshimura, Hiroshi Yamazaki, Masayuki Arai, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume
- 雑誌名
  
  2018 IEEE 24th International Symposium on On-Line Testing And Robust System Design (IOLTS)
  
  巻: 24 ページ: 43-46
- DOI
  10.1109/iolts.2018.8474268
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[雑誌論文] A Capture Safe Static Test Compaction Method Based on Don't Cares2018
- 著者名/発表者名
  Sayuri Ochi, Hiroshi Yamazaki, Toshinori Hosokawa, Masayoshi Yoshimura
- 雑誌名
  
  2018 IEEE 24th International Symposium on On-Line Testing And Robust System Design (IOLTS)
  
  巻: 24 ページ: 195-200
- DOI
  10.1109/iolts.2018.8474080
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[雑誌論文] A Don't Care Filling Method for Low Capture Power based on Correlation of FF Transitions Using SAT2017
- 著者名/発表者名
  Masayoshi YOSHIMURA, Yoshiyasu TAKAHASHI, Hiroshi YAMAZAKI, Toshinori HOSOKAWA
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
  
  巻: E100.A 号: 12 ページ: 2824-2833
- DOI
  10.1587/transfun.E100.A.2824
- NAID
  130006236532
- ISSN
  0916-8508, 1745-1337
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[雑誌論文] A Test Compaction Oriented Don't Care Identification Method Based on X-bit Distribution2013
- 著者名/発表者名
  Hiroshi Yamazaki, Motohiro Wakazono, Toshinori Hosokawa, and Masayoshi Yoshimura
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems
  
  巻: E96.D 号: 9 ページ: 1994-2002
- DOI
  10.1587/transinf.E96.D.1994
- NAID
  130003370988
- ISSN
  0916-8532, 1745-1361
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25540020
[雑誌論文] Efficient Fault Simulation Algorithms for Analyzing Soft Error Propagation in Sequential Circuits2013
- 著者名/発表者名
  Taiga Takata, Masayoshi Yoshimura, and Yusuke Matsunaga
- 雑誌名
  
  IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology
  
  巻: 6 号: 0 ページ: 127-134
- DOI
  10.2197/ipsjtsldm.6.127
- NAID
  130003369396
- ISSN
  1882-6687
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25540020
[雑誌論文] マルチサイクルキャプチャテストを用いたフルスキャン設計回路の縮退故障テスト生成2008
- 著者名/発表者名
  大森悠翔, 小河宏志, 細川利典, 吉村正義, 山崎浩二
- 雑誌名
  
  電子情報通信学会技術研究報告 DC2007-71 107(482)
  
  ページ: 19-24
- NAID
  110006935635
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19200004
[雑誌論文] Nハミング距離テストパターン圧縮に基づくテストパターン数削減指向テスト.ポイント挿入法2008
- 著者名/発表者名
  齊藤善洋, 湯本仁高, 細川利典, 吉村正義
- 雑誌名
  
  第58回FTC研究会 (in press)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19200004
[雑誌論文] マルチサイクルキャプチャテストを用いたフルスキャン設計回路のテスト生成2008
- 著者名/発表者名
  大森悠翔, 小河宏志, 細川利典, 吉村正義, 山崎浩二
- 雑誌名
  
  第58回FTC研究会 (in press)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19200004
[雑誌論文] スキャンパス攻撃を考慮した暗号LSIのテスタビリティ評価2008
- 著者名/発表者名
  伊藤侑磨, 吉村正義, 安浦寛人
- 雑誌名
  
  電子情報通信学会技術研究報告DC2007-76 107(482)
  
  ページ: 57-62
- NAID
  110006935641
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19200004
[雑誌論文] 非順序式バックトラック手法を用いたテストパタン生成における矛盾の解析2007
- 著者名/発表者名
  吉村正義, 松永裕介
- 雑誌名
  
  DAシンポジウム2007 2007(7)
  
  ページ: 211-214
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19200004
[学会発表] An Evaluation of a Testability Measure for State Assignment to Estimate Transition Fault Coverage for Controllers2023
- 著者名/発表者名
  Toshinori Hosokawa; Kyohei Iizuka; Masayoshi Yoshimura
- 学会等名
  2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K11817
[学会発表] A Block Partitioning Method for Region Exhaustive Test to Reduce the Number of Test Patterns and Improve Gate Exhaustive Fault Coverage2023
- 著者名/発表者名
  Momona Mizota; Toshinori Hosokawa; Masayoshi Yoshimura; Masayuki Arai
- 学会等名
  2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K11817
[学会発表] An Evaluation of Estimated Field Random Testability for Data Paths at Register Transfer Level Using Status Signal Sequences Based on k-Consecutive State Transitions for Field Testing2023
- 著者名/発表者名
  Yudai Toyooka; Haruki Watanabe; Toshinori Hosokawa; Masayoshi Yoshimura
- 学会等名
  2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K11817
[学会発表] CRLock: A SAT and FALL Attacks Resistant Logic Locking Method at Register Transfer Level2022
- 著者名/発表者名
  Masayoshi Yoshimura, Atsuya Tsujikawa, Hiroshi Yamazaki, and Toshinori Hosokawa
- 学会等名
  2022 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] CRLock: A SAT and FALL Attacks Resistant Logic Locking Method at Register Transfer Level2022
- 著者名/発表者名
  Masayoshi Yoshimura, Atsuya Tsujikawa, Hiroshi Yamazaki, and Toshinori Hosokawa
- 学会等名
  2022 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K11817
[学会発表] 論理故障テスト並列化のための制御信号のドントケア割当て法2022
- 著者名/発表者名
  徐　浩豊, 細川利典, 山崎紘史, 新井雅之, 吉村正義
- 学会等名
  ETNET2022
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] 無効状態を含んだコントローラの遷移故障検出率向上指向状態割当て法2022
- 著者名/発表者名
  飯塚恭平, 細川利典, 山崎紘史, 吉村正義
- 学会等名
  ディペンダブルコンピューティング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] レジスタ転送レベルにおける非スキャンベースフィールドテスタビリティに基づく制御信号のドントケア割当て法2021
- 著者名/発表者名
  飯塚恭平・細川利典・山崎紘史・吉村正義
- 学会等名
  ディペンダブルコンピューティング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] A SAT and FALL Attacks Resistant Logic Locking Method at Register Transfer Level2021
- 著者名/発表者名
  Atsuya Tsujikawa, Masayoshi Yoshimura and Toshinori Hosokawa
- 学会等名
  IEEE The Workshop on RTL and High Level Testing 2021
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K11817
[学会発表] 低消費電力指向多重目標故障テスト生成法2021
- 著者名/発表者名
  三浦　怜, 細川利典, 山崎紘史, 吉村正義, 新井雅之
- 学会等名
  第6回 Winter Workshop on Safety
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] An Additional State Transition Insertion Method to Improve Transition Fault Coverage for Controllers2021
- 著者名/発表者名
  Kyohei Iizuka, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki and Masayoshi Yoshimura
- 学会等名
  IEEE The Workshop on RTL and High Level Testing 2021
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] RTLにおけるSFLL-hdに基づいた論理暗号化手法2021
- 著者名/発表者名
  野口葉平, 吉村正義, 辻川敦也, 細川利典
- 学会等名
  ディペンダブルコンピューティング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K11817
[学会発表] RTLハードウェア要素のテストスケジューリング情報を用いた多重目標故障テスト生成法2021
- 著者名/発表者名
  浅見竜輝・細川利典・山崎紘史・吉村正義・新井雅之
- 学会等名
  ディペンダブルコンピューティング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] レジスタ転送レベルにおけるアンチSATに基づく論理暗号化法2021
- 著者名/発表者名
  辻川敦也・細川利典・吉村正義
- 学会等名
  ETNET2021
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法2021
- 著者名/発表者名
  飯塚恭平・細川利典・山崎紘史・吉村正義
- 学会等名
  ETNET2021
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] レジスタ転送レベルにおけるSAT攻撃とFALL攻撃に耐性のある論理暗号化手法2021
- 著者名/発表者名
  辻川敦也, 細川利典, 吉村正義
- 学会等名
  第6回 Winter Workshop on Safety
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K11817
[学会発表] A Multiple Target Test Generation Method for Gate-Exhaustive Faults to Reduce the Number of Test Patterns Using Partial MaxSAT2020
- 著者名/発表者名
  Ryuki Asami, Toshinori Hosokawa, Masayoshi Yoshimura and Masayuki Arai
- 学会等名
  2020 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] A Low Capture Power Oriented X-Identification-Filling Co-Optimization Method2020
- 著者名/発表者名
  Toshinori HOSOKAWA, Kenichiro MISAWA, Hiroshi YAMAZAKI, Masayoshi YOSHIMURA, Masayuki ARAI
- 学会等名
  2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] テストパターン数削減のためのゲート網羅故障の多重目標故障テスト生成法2020
- 著者名/発表者名
  浅見竜輝・細川利典・吉村正義・新井雅之
- 学会等名
  SWoPP2020
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] 機能等価な有限状態機械生成に基づく面積削減指向コントローラ拡大法2020
- 著者名/発表者名
  辻川敦也・細川利典・吉村正義
- 学会等名
  SWoPP2020
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] A State Assignment Method to Improve Transition Fault Coverage for Controllers2019
- 著者名/発表者名
  Masayoshi Yoshimura, Yuki Takeuchi, Hiroshi Yamazaki and Toshinori Hosokawa
- 学会等名
  2019 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] An efficient SAT-attack algorithm against logic encryption2019
- 著者名/発表者名
  Yusuke Matsunaga, Masayoshi Yoshimura
- 学会等名
  IOLTS
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11219
[学会発表] 論理暗号化に対する効率的なSAT攻撃アルゴリズムの評価2019
- 著者名/発表者名
  松永　裕介，　吉村　正義
- 学会等名
  電子情報通信学会VLD研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11219
[学会発表] An Efficient SAT-Attack Algorithm Against Logic Encryption2019
- 著者名/発表者名
  Yusuke Matsunaga and Masayoshi Yoshimura
- 学会等名
  IOLTS2019
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11219
[学会発表] A Don't Care Identification-Filling Co-Optimization Method for Low Capture Power Testing Using Partial MaxSAT2019
- 著者名/発表者名
  Kenichiro Misawa, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki, Masayoshi Yoshimura, and Masayuki Arai
- 学会等名
  The 20th Workshop on RTL and High-Level Testing (WRTLT’19)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] 論理暗号化に対するSAT攻撃アルゴリズムの高速化2019
- 著者名/発表者名
  松永　裕介，　吉村　正義
- 学会等名
  FTC研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11219
[学会発表] A Controller Augmentation Method to Improve Transition Fault Coverage for RTL Data-Paths2019
- 著者名/発表者名
  Yuki Takeuchi, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki, and Masayoshi Yoshimura
- 学会等名
  2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] A State Assignment Method to Improve Transition Fault Coverage for Controllers2019
- 著者名/発表者名
  Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki, Kenichiro Misawa, Masayoshi Yoshimura, Yuki Hirama, and Masavuki Arai
- 学会等名
  2019 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] コントローラ拡大を用いた遷移故障テストパターン数削減のための演算器のテストレジスタ割当て法2018
- 著者名/発表者名
  竹内勇希, 武田俊, 細川利典, 山崎紘史, 吉村正義
- 学会等名
  ディペンダブルコンピューティング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] コントローラの遷移故障検出率向上のための状態割当て手法2018
- 著者名/発表者名
  吉村正義・竹内勇希・細川利典・山崎紘史
- 学会等名
  ディペンダブルコンピューティング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] A design for testability method to improve transition fault coverage using controller augmentation at register transfer level2018
- 著者名/発表者名
  Yuki Takeuchi, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki , Masayoshi Yoshimura
- 学会等名
  The Nineteenth Workshop on RTL and High Level Testing
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] A Secure Design Method to Detect for Trojan Circuit inserted in Manufacturing Process2018
- 著者名/発表者名
  Yoshinobu Okuda, Masayoshi Yoshimura, Kohei Ohyama, and Toshinori Hosokawa
- 学会等名
  DUHDe 2018 ― 5th Workshop on Design Automation for Understanding Hardware Designs
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] レジスタ転送レベルにおけるコントローラ拡大を用いた遷移故障検出率向上のためのテスト容易化設計2018
- 著者名/発表者名
  竹内勇希、細川利典、山崎紘史、吉村正義
- 学会等名
  DAシンポジウム2018
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] 論理暗号化に対するSAT攻撃の効率的なアルゴリズムについて2018
- 著者名/発表者名
  松永　裕介，　吉村　正義
- 学会等名
  電子情報通信学会VLD研究会（デザインガイア）
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11219
[学会発表] A Test Register Assignment Method to Reduce the Number of Test Patterns Using Controller Augmentation2018
- 著者名/発表者名
  Shun Takeda, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki, and Masayoshi Yoshimura
- 学会等名
  DUHDe 2018 ― 5th Workshop on Design Automation for Understanding Hardware Designs
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] キャプチャセーフテストベクトルの故障伝搬経路を模倣した低消費電力指向ドントケア判定法2018
- 著者名/発表者名
  三澤健一郎・細川利典・山崎紘史・吉村正義
- 学会等名
  ディペンダブルコンピューティング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11228
[学会発表] A Hardware Trojan Circuit Detection Method Using Activation Sequence Generations2017
- 著者名/発表者名
  Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo University), Tomohiro Bouyashiki, and Toshinori Hosokawa(Nihon University)
- 学会等名
  The 22nd IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2017)
- 発表場所
  Christchurch, New Zealand
- 年月日
  2017-01-22
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] Controller augmentation and test point insertion at RTL for concurrent operational unit testing2017
- 著者名/発表者名
  Toshinori Hosokawa, Shun Takeda, Hiroshi Yamazaki, and Masayoshi Yoshimura
- 学会等名
  2017 IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] A Low Power Oriented Static Test Compaction Method Based on Don't Care Bits2017
- 著者名/発表者名
  Sayuri Ochi, Hiroshi Yamazaki, Toshinori Hosokawa, Masayoshi Yoshimura
- 学会等名
  IEEE The Eighteenth Workshop on RTLT and High Level Testing 2017
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] 到達不能状態を用いたSATベース順序回路のテスト不能故障判定法2017
- 著者名/発表者名
  二関森人・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）
- 学会等名
  ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京都・機械振興会館
- 年月日
  2017-02-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] 製造過程でのトロイ回路混入を検知する設計手法2017
- 著者名/発表者名
  奥田良宣, 吉村正義, 大山浩平
- 学会等名
  デザインガイア2017
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] コントローラ拡大を用いたレジスタ転送レベルにおけるテストパターン数削減のためのハードウェア要素のテストレジスタ割当て法2017
- 著者名/発表者名
  武田俊, 細川利典, 山崎紘史, 吉村正義
- 学会等名
  デザインガイア2017
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] トロイ回路を検知する回路の挿入箇所探索手法2017
- 著者名/発表者名
  奥田良宣，吉村正義（京都産大）
- 学会等名
  第9回LSIテストセミナー
- 発表場所
  福岡市・筑紫会館
- 年月日
  2017-03-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] ドントケアを用いたキャプチャセーフテスト集合の静的テスト圧縮法2017
- 著者名/発表者名
  越智小百合, 山崎紘史, 細川利典, 吉村正義
- 学会等名
  DAシンポジウム2017
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] IPコアの論理暗号化法の復号化鍵数の評価2017
- 著者名/発表者名
  橋立英実, 細川利典, 吉村正義
- 学会等名
  デザインガイア2017
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] フリップフロップ組合せの状態正当化による到達不能状態を用いた順序回路のテスト不能故障判定法2017
- 著者名/発表者名
  二関森人, 細川利典, 吉村正義, 山崎紘史, 新井雅之, 四柳浩之, 橋爪正樹
- 学会等名
  DAシンポジウム2017
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] A Sequentially Untestable Fault Identification Method Based on State Cube Justification2017
- 著者名/発表者名
  Morito Niseki, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki, Masayuki Arai, Masayoshi Yoshimura, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
- 学会等名
  IEEE The Eighteenth Workshop on RTLT and High Level Testing 2017
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] トロイ回路を検知する回路の考察2016
- 著者名/発表者名
  大山浩平, 吉村正義
- 学会等名
  第8回LSIテストセミナー
- 発表場所
  電気ビル共創館(福岡県福岡市)
- 年月日
  2016-03-02
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] A Design for Testability Method at RTL for Concurrent Operational Unit Testing2016
- 著者名/発表者名
  Shun Takeda, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki (Nihon University) and Masayoshi Yoshimura (Kyoto Sangyo University)
- 学会等名
  IEEE The Seventeenth Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  Aki Grand Hotel, Hiroshima, Japan
- 年月日
  2016-11-24
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] A Don’t Care Filling Method to Reduce Capture Power based on Correlation of FF Transitions2015
- 著者名/発表者名
  Masayoshi Yoshimura, Yoshiyasu Takahashi, Hiroshi Yamazaki and Toshinori Hosokawa
- 学会等名
  24th IEEE Asian Test Symposium 2015
- 発表場所
  Indian Institute of Technology Bombay, Bombay, India
- 年月日
  2015-11-23
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] 静的テスト圧縮のための多重目標故障テスト生成を用いたMバイNアルゴリズム2015
- 著者名/発表者名
  原侑也, 山崎紘史, 細川利典, 吉村正義
- 学会等名
  デザインガイア2015
- 発表場所
  長崎県勤労福祉会館(長崎県長崎市)
- 年月日
  2015-12-03
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] BASTにおけるスキャンスライスに基づくテストデータ削減法2015
- 著者名/発表者名
  錦織誠, 山崎紘史, 細川利典, 新井雅之, 吉村正義
- 学会等名
  ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  機械振興会館, 東京都
- 年月日
  2015-06-16
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] VLSI設計工程時における未遷移信号線情報に基づいたトロイ回路検出法2015
- 著者名/発表者名
  坊屋鋪知拓，細川利典，吉村正義
- 学会等名
  DAシンポジウム2015
- 発表場所
  山代温泉　ゆのくに天祥(石川県加賀市)
- 年月日
  2015-08-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] A Sequence Generation Method to detect Hardware Trojan Circuits2015
- 著者名/発表者名
  Masayoshi Yoshimura, Tomohiro Bouyashiki and Toshinori Hosokawa
- 学会等名
  16th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2015
- 発表場所
  Indian Institute of Technology Bombay, Bombay, India
- 年月日
  2015-11-25
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K00086
[学会発表] スキャンベース攻撃を考慮した暗号LSIのテスト手法2015
- 著者名/発表者名
  吉村正義, 西間木淳, 細川利典
- 学会等名
  ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  機械振興会館，東京
- 年月日
  2015-02-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25540020
[学会発表] A Multi Cycle Capture Test Generation Method for Low Capture Power Dissipation2015
- 著者名/発表者名
  Hiroshi Yamazaki, Jun Nishimaki, Toshinori Hosokawa and Masayoshi Yoshimura
- 学会等名
  Designing with Uncertainty - Opportunities & Challenges
- 発表場所
  Grenoble, France
- 年月日
  2015-03-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25540020
[学会発表] BASTにおけるシフトデータ量削減法2014
- 著者名/発表者名
  田中まりか・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・新井雅之（日大）
- 学会等名
  ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京・機械振興会館
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25540020
[学会発表] マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法2014
- 著者名/発表者名
  山崎紘史・川連裕斗・西間木　淳・平井淳士・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大）
- 学会等名
  ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京・機械振興会館
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25540020
[学会発表] SATを用いた低キャプチャ電力指向ドントケア割当て法2014
- 著者名/発表者名
  高橋慶安・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）
- 学会等名
  ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京・機械振興会館
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25540020
[学会発表] A Smart Trojan Circuit and Smart Attack Method in AES Encryption Circuits2013
- 著者名/発表者名
  Masayoshi Yoshimura, Amy Ogita and Toshinori Hosokawa
- 学会等名
  16th IEEE Symp. Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
- 発表場所
  New York City, NY, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25540020
[学会発表] BASTにおけるテストデータ量削減のためのインバータブロック構成法2013
- 著者名/発表者名
  田中まりか・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・新井雅之（日大）・中尾教伸（読売理工医療福祉専門学校）
- 学会等名
  デザインガイア2013
- 発表場所
  鹿児島県文化センター
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25540020
[学会発表] An SER Analysis Method for Sequential Circuits2011
- 著者名/発表者名
  Masayoshi Yoshimura, et al
- 学会等名
  7th Workshop on Silicon Errors in Logic-System Effects
- 発表場所
  アメリカ
- 年月日
  2011-03-30
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20700050
[学会発表] 順序回路のソフトエラー耐性評価手法の高速化2010
- 著者名/発表者名
  吉村正義, et al
- 学会等名
  DAシンポジウム2010
- 発表場所
  ホテル日航豊橋(愛知県)
- 年月日
  2010-09-03
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20700050
[学会発表] An estimation of encryption LSI testability against scan-based attack2010
- 著者名/発表者名
  Masayoshi Yoshimura, et al
- 学会等名
  International Symposium on Communications and Information Technologies 2010
- 発表場所
  明治大学(東京都)
- 年月日
  2010-10-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20700050
[学会発表] TMR based Error Correction Method Considering Trade-offs between Soft Error Tolerance and Area2010
- 著者名/発表者名
  Shoji Harada, Masayoshi Yoshimura, Yusuke Matsunaga
- 学会等名
  International Workshop on Logic and Synthesis
- 発表場所
  米国カリフォルニア州
- 年月日
  2010-06-18
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20300020
[学会発表] An estimati on of encryption LSI testability ag ainst scan-based attack2010
- 著者名/発表者名
  Masayoshi Yoshimura
- 学会等名
  An estima tion of encryption LSI testability a gainst scan-based attack
- 発表場所
  Tokyo, Japan.
- 年月日
  2010-10-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20700050
[学会発表] Evaluation of Transition Untestable Faults Using a Multi-Cycle Capture Test Generation Method2010
- 著者名/発表者名
  Masayoshi Yoshimura, et al
- 学会等名
  13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
- 発表場所
  オーストリア
- 年月日
  2010-04-14
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20700050
[学会発表] ディペンダブルVLSI設計技術への挑戦2009
- 著者名/発表者名
  松永裕介, 安浦寛人, 馬場謙介, 吉村正義, 佐藤寿倫, 杉原真
- 学会等名
  電子情報通信学会全国大会
- 発表場所
  愛媛大学(愛媛県松山市)
- 年月日
  2009-03-18
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19200004
[学会発表] A Test Generation Method for Datapath Circuits Using Functional Time Expansion Models2008
- 著者名/発表者名
  Kazuya Sugiki, Toshinori Hosokawa, Masayoshi Yoshimura
- 学会等名
  The 9th Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  Sapporo, Japan
- 年月日
  2008-11-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19200004
[学会発表] Design For Testability Methods against Scan based Attacks2008
- 著者名/発表者名
  Masayoshi YOSHIMURA
- 学会等名
  Joint Seminar on Advanced LSI Test Technology
- 発表場所
  Fukuoka, Japan.
- 年月日
  2008-12-01
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20700050
[学会発表] Design For Testability Methods against Scan based Attacks2008
- 著者名/発表者名
  Masayoshi YOSHIMURA
- 学会等名
  Joint Seminar on Advanced LSI Test Technology
- 発表場所
  Fukuoka, Japan
- 年月日
  2008-11-01
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20700050
[学会発表] A Bit Flipping Reduction Method for Pseudo Random Patterns Using Don't Care Identification on BAST Architecture2008
- 著者名/発表者名
  Ling Ling Wan, Motohiro Wakazono, Toshinori Hosokawa, Masayoshi Yoshimura
- 学会等名
  The 9th Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  Sapporo, Japan
- 年月日
  2008-11-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19200004
[学会発表] スキャンパス攻撃を考慮した暗号LSIのテスタビリティ評価2008
- 著者名/発表者名
  伊藤侑磨, 吉村正義, 安浦寛人
- 学会等名
  ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  機械振興会館(東京)
- 年月日
  2008-02-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19200004

1. 松永裕介 (00336059)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 8件
2. 馬場謙介 (70380681)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 1件
3. 細川利典 (40373005)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 31件
4. 安浦寛人 (80135540)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 3件
5. 佐藤寿倫 (00322298)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 1件
6. 井上創造 (90346825)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
7. 池田大輔 (00294992)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
8. 石田浩二 (90467879)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
9. ウッディンモハマッド・メスバ (70543338)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
10. 稲永俊介 (60448404)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件

吉村 正義 YOSHIMURA Masayoshi

研究課題

研究成果

共同研究者

IPコアの流用を検知するための設計技術研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

論理IPの盗用を防ぐ堅牢な論理暗号化アルゴリズムの研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

IPコア内のトロイ回路を特定するLSI設計技術に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

製造過程でのトロイ回路混入を検知するLSI設計技術に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

秘密情報の秘匿性と製造検査容易性の両立をはかるLSI設計手法の研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

TLM検証を高速化するモデルの抽象化技術とテストパタン生成技術の研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

安全性と製造検査容易性の両立したLSI設計方法の研究法の研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

価値と信用を搭載するディペンダブルなLSIの設計手法の研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[雑誌論文] CRLock: A SAT and FALL Attacks Resistant Logic Locking Method for Controller at Register Transfer Level2024

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

ISSN

年月日

言語

データソース

[雑誌論文] A Test Register Assignment Method Based on Controller Augmentation to Reduce the Number of Test Patterns2018

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] A Sequentially Untestable Fault Identification Method Based on n-Bit State Cube Justification2018

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] A Capture Safe Static Test Compaction Method Based on Don't Cares2018

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] A Don&apos;t Care Filling Method for Low Capture Power based on Correlation of FF Transitions Using SAT2017

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

吉村正義 YOSHIMURA Masayoshi

[雑誌論文] A Don't Care Filling Method for Low Capture Power based on Correlation of FF Transitions Using SAT2017

[雑誌論文] スキャンパス攻撃を考慮した暗号LSIのテスタビリティ評価2008