泉隼人 IZUMI Hayato

研究者番号	90578337
その他のID
所属 (現在)	2025年度: 名古屋工業大学, 工学(系)研究科(研究院), 助教
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2025年度: 名古屋工業大学, 工学(系)研究科(研究院), 助教 2015年度 – 2023年度: 名古屋工業大学, 工学(系)研究科(研究院), 助教 2012年度 – 2013年度: 名古屋工業大学, 工学研究科, 助教
審査区分/研究分野	研究代表者小区分18010:材料力学および機械材料関連 / 機械材料・材料力学研究代表者以外マイクロ・ナノデバイス / 機械材料・材料力学
キーワード	研究代表者 MEMS / シリコン / スクリーン印刷 / 印刷配線 / フレキシブルエレクトロニクス / 電子顕微鏡観察 / 銅配線 / フレキシブルプリント回路基板 / 曲げ耐久性能 / 曲げ疲労試験 … もっと見る / フレキシブルデバイス / 環境効果 / アクチュエータ / 圧電 / ねじり応力 / 透過電子顕微鏡 / MEMSミラー / 疲労破壊 / 疲労 / PZT / マイクロプロセス / ねじり試験 / 透過型電子顕微鏡 / 圧電素子 / 材料試験 / マイクロミラー / 有限要素法解析 / 反応性イオンエッチング / 欠陥 / 圧縮試験 / 塑性変形 / 転位 / 水素 … もっと見る研究代表者以外 MEMS / シリコン / NEMS / 環境効果 / 水 / 長期信頼性 / 共振デバイス / 透過電子顕微鏡 / 再結合欠陥 / EBIC / 透過型電子顕微鏡 / その場観察 / TEM / 圧縮応力 / 疲労試験隠す

環境制御型TEMを用いたシリコンの圧縮せん断応力場に対する疲労過程のその場解析研究代表者
- 研究代表者
  
  泉隼人
- 研究期間 (年度)
  2025 – 2027
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分18010:材料力学および機械材料関連
- 研究機関
  名古屋工業大学
フレキシブルエレクトロニクスの曲げ耐久性能評価と性能劣化挙動の電子顕微鏡観察研究代表者
- 研究代表者
  
  泉隼人
- 研究期間 (年度)
  2022 – 2024
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分18010:材料力学および機械材料関連
- 研究機関
  名古屋工業大学
マイクロミラーの髙ねじり角負荷に対する疲労寿命評価と疲労加速現象の解明研究代表者
- 研究代表者
  
  泉隼人
- 研究期間 (年度)
  2018 – 2022
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分18010:材料力学および機械材料関連
- 研究機関
  名古屋工業大学
水素吸蔵によるシリコンの転位移動度向上と低侵襲性延性マイクロニードルの開発研究代表者
- 研究代表者
  
  泉隼人
- 研究期間 (年度)
  2015 – 2017
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  機械材料・材料力学
- 研究機関
  名古屋工業大学
透過電子顕微鏡中共振圧縮疲労試験によるシリコンの疲労プロセスのその場観察
- 研究代表者
  
  神谷庄司
- 研究期間 (年度)
  2011 – 2013
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  機械材料・材料力学
- 研究機関
  名古屋工業大学
生体埋込MEMS実現に向けた液中疲労試験と無限寿命ステンレスシリコンへの挑戦
- 研究代表者
  
  神谷庄司
- 研究期間 (年度)
  2011 – 2012
- 研究種目
  
  挑戦的萌芽研究
- 研究分野
  
  マイクロ・ナノデバイス
- 研究機関
  名古屋工業大学

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すべて雑誌論文学会発表

[雑誌論文] The origin of fatigue fracture in single-crystal silicon2022
- 著者名/発表者名
  H.Izumi, T. Kita, S. Arai, K. Sasaki, S. Kamiya
- 雑誌名
  
  Journal of Material Science
  
  巻: 57 号: 18 ページ: 8557-8566
- DOI
  10.1007/s10853-022-07055-5
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K03836, KAKENHI-PROJECT-19K04091
[雑誌論文] A multidimensional scheme of characterization for performance deterioration behavior of flexible devices under bending deformation2020
- 著者名/発表者名
  S.Kamiya, H. Izumi, T. Sekine, N. Shishido, H. Sugiyama, Y. Haga, T. Minari, M. Koganemaru, S. Tokito
- 雑誌名
  
  Thin Solid Films
  
  巻: 694 ページ: 137613-137613
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K03836
[雑誌論文] Shear stress enhanced fatigue damage accumulation in single crystalline silicon under cyclic mechanical loading2016
- 著者名/発表者名
  S. Kamiya, A. Udhayakumar, H. Izumi, K. Koiwa
- 雑誌名
  
  Sensors and Actuators A: Physical
  
  巻: 244 ページ: 314-323
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K17937
[雑誌論文] Defect accumulation and strength reduction in single crystalline silicon induced by cyclic compressive stress2014
- 著者名/発表者名
  Shoji Kamiya, Toshifumi Kita, Hayato Izumi
- 雑誌名
  
  Sensors and Actuators A
  
  巻: 208 ページ: 3036-3036
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[雑誌論文] Defect accumulation and strength reduction in single crystalline silicon induced by cyclic compressive stress2014
- 著者名/発表者名
  S.Kamiya, T.Kita, H.Izumi
- 雑誌名
  
  Sensors and Actuators A
  
  巻: 208 ページ: 30-36
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[雑誌論文] A prediction scheme of the static fracture strength of MEMS structures based on the characterization of damage distribution on a processed surface2013
- 著者名/発表者名
  Vu Le Huy, Shoji, Kamiya, Kei Nagayoshi, Hayato Izumi, Joao Gaspar, Oliver Paul
- 雑誌名
  
  Journal of Micromechanics and Microengineering
  
  巻: 23 ページ: 45008-45008
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[雑誌論文] A prediction scheme of the static fracture strength of MEMS structures based on the characterization of damage distribution on a processed surface2013
- 著者名/発表者名
  V.L.Huy, S.Kamiya, K.Nagayoshi, H.Izumi, J.Gaspar, O.Paul
- 雑誌名
  
  Journal of Micromechanics and Microengineering
  
  巻: 23
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[雑誌論文] Effect of hydrogen on mechanical properties of single crystal surface2013
- 著者名/発表者名
  H. Izumi, R. Mukaiyama, N. Shishido, S. Kamiya
- 雑誌名
  
  ASME InterPACK 2013
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[雑誌論文] Electronic properties of dislocations infroduced mechanically at room temperature on a single crystal silicon substrate2012
- 著者名/発表者名
  Masatoshi Ogawa, Shoji Kamiya, Hayato Izumi, Yutaka Tokuda
- 雑誌名
  
  Physica B
  
  巻: 407
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[雑誌論文] Electronic properties of dislocations introduced mechanically at room temperature on single crystal silicon surface2012
- 著者名/発表者名
  M. Ogawa, S. Kamiya, H. Izumi, Y. Tokuda
- 雑誌名
  
  Physica B
  
  巻: 407 ページ: 3034-4037
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[学会発表] A novel method of systematic quantitative characterization for mechanical robustness of flexible thin film devices against repeated bending deformation2022
- 著者名/発表者名
  H. Izumi, M. Nomura, Y. Haga, H. Sugiyama, S. Kamiya
- 学会等名
  18th International Conference on Plasma Surface Engineering
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K03836
[学会発表] A novel method of systematic quantitative characterization for the mechanical robustness of flexible thin film devices against repeated bending deformation2022
- 著者名/発表者名
  H. Izumi, M. Nomura, Y. Haga, H. Sugiyama, S. Kamiya
- 学会等名
  18th International Conference on Plasma Surface Engineering
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K03825
[学会発表] Test method of electrical characteristic under two-directional deformation for flexible electro-mechanical devices2022
- 著者名/発表者名
  H.Izumi
- 学会等名
  International Electrotechnical Commission 2022 general meeting
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K03825
[学会発表] A novel scheme of characterization for performance deterioration behavior of flexible devices under bending deformation2019
- 著者名/発表者名
  S. Kamiya, H. Izumi, T. Sekine, N. Shishido, H. Sugiyama, Y. Haga, T. Minari, M. Koganemaru, S. Tokito
- 学会等名
  46th International Conference on Metallurgical Coating and Thin Films
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K03836
[学会発表] 極薄シリコンチップの曲げ強度測定2019
- 著者名/発表者名
  灰本隆志，松崎栄，川合章仁，泉隼人，神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会2019年度年次大会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K03836
[学会発表] 繰返し圧縮負荷によるシリコン単結晶中の結晶欠陥集積とき裂進展の電子顕微鏡観察2019
- 著者名/発表者名
  杉山裕子，泉隼人，神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会2019年度年次大会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K03836
[学会発表] マイクロシステムの機械的信頼性評価2018
- 著者名/発表者名
  泉隼人
- 学会等名
  有機機能材料のリソグラフィ加工コンソーシアム
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K03836
[学会発表] Plastic Deformation Enhanced Silicon Surface by Synergistic Effect between Defect and Hydrogen2018
- 著者名/発表者名
  H. Izumi M. Nakamura S. Kamiya
- 学会等名
  The 9th Asia-Pacific Conference of Transducers and Micro-Nano technology (APCOT2018)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K03836
[学会発表] Increasing the ductility of single crystalline silicon treated by hydrogen plasma2018
- 著者名/発表者名
  H. Izumi M. Nakamura S. Kamiya
- 学会等名
  16th International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE2018)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K03836
[学会発表] Plastic deformation enhanced silicon surface by synergistic effect between defect and hydrogen2018
- 著者名/発表者名
  H. Izumi, M. Nakamura, S. Kamiya
- 学会等名
  The 9th Asisa-Pacific Conference of Transducers and Micro-Nano Technology
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K17937
[学会発表] Increasing the ductility of single crystalline silicon treated by hydrogen plasma2018
- 著者名/発表者名
  H. Izumi, M. Nakamura, S. Kamiya
- 学会等名
  16th International Conference on Plasma Surface Engineering
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K17937
[学会発表] 透過型電子顕微鏡を用いた単結晶シリコンの疲労破壊起点の観察2017
- 著者名/発表者名
  泉隼人，喜多俊文，荒井重勇，佐々木勝寛
- 学会等名
  日本機械学会2017年度年次大会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K17937
[学会発表] 単結晶シリコンの疲労過程における結晶すべり変形の電子線誘起電流観察2017
- 著者名/発表者名
  神谷庄司，金剛英，杉山裕子，泉隼人
- 学会等名
  日本機械学会2017年度年次大会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K17937
[学会発表] World-First Electronic Imaging of Subcritical Slip Growth in Single Crystal Silicon under Fatigue Loading2017
- 著者名/発表者名
  S. Kamiya, A. Kongo, H. Sugiyama, H. Izumi
- 学会等名
  The 19th International Conference on Solid -State Sensors, Actuators and Microsystems
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K17937
[学会発表] 反応性イオンエッチングを施した単結晶シリコン表面の機械的性質に及ぼす水素の影響2017
- 著者名/発表者名
  中村克，泉隼人，神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会M&M材料力学カンファレンス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K17937
[学会発表] Effect of hydrogen on the mobility of surface defects induced in plasma etching process for silicon2016
- 著者名/発表者名
  M. Nakamura, T. Kim, H. Izumi, S. Kamiya
- 学会等名
  15th International Conference on Plasma Surface Engineering
- 発表場所
  Garmisch-Partenkirchen, Germany
- 年月日
  2016-09-12
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K17937
[学会発表] Effect of hydrogen on the mobility of surface defects induced in plasma etching process for silicon2016
- 著者名/発表者名
  M. Nakamura, T. Kim, H. Izumi, S. Kamiya
- 学会等名
  The 15th International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE 2016)
- 発表場所
  in Garmisch-Partenkirchen, Germany
- 年月日
  2016-09-12
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K17937
[学会発表] シリコンへの水素注入とその機械的特性に及ぼす水素の影響2016
- 著者名/発表者名
  キムテフン、中村克、泉隼人、神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会東海支部第65期総会・講演会
- 発表場所
  愛知工業大学八草キャンパス
- 年月日
  2016-03-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K17937
[学会発表] Existential states and effect of hydrogen on surface defects in silicon2016
- 著者名/発表者名
  M. Nakamura, H. Izumi, S. Kamiya
- 学会等名
  International Symposium on Micro-Nano Science and Technology 2016
- 発表場所
  The university of Tokyo, Tokyo, Japan
- 年月日
  2016-12-16
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K17937
[学会発表] Si結晶中の水素が機械的性質に及ぼす影響2015
- 著者名/発表者名
  中村克、キムテフン、泉隼人、神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会 M&M2015材料力学カンファレンス
- 発表場所
  慶應義塾大学矢上キャンパス
- 年月日
  2015-11-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K17937
[学会発表] 繰り返し荷重によるシリコンの疲労損傷集積の観察2014
- 著者名/発表者名
  泉隼人、喜多俊文、田中健太郎、神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会東海支部第63期総会
- 発表場所
  大同大学、愛知県
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[学会発表] 繰り返し荷重によるシリコンの疲労損傷集積の観察2014
- 著者名/発表者名
  泉隼人、喜多俊文、田中健太郎、神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会東海支部第63会総会講演会
- 発表場所
  名古屋市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[学会発表] Effect of hydrogen on mechanical properties of single crystal surface2013
- 著者名/発表者名
  H. Izumi, R. Mukaiyama, N. Shishido, S. Kamiya
- 学会等名
  ASME International Technical Conference & Exhibition Packaging and Integration of Electronic and Photonic Microsystems (InterPACK 2013)
- 発表場所
  Burlingame, USA
- 年月日
  2013-07-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[学会発表] Direct observation of damage accumulation process inside silicon under mechanical fatigue loading2013
- 著者名/発表者名
  S. Kamiya, R. Hirai, H. Izumi, N. Umehara, T. Tokoroyama
- 学会等名
  The 17th International Conference on Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems (Transducers 2013)
- 発表場所
  Barcelona, Spain
- 年月日
  2013-06-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[学会発表] 電子線誘起電流を用いた圧縮応力下におけるシリコンの疲労損傷の観察2013
- 著者名/発表者名
  喜多俊文、神谷庄司、泉隼人、梅原徳次、野老山貴行、Ve Le Huy、小川将史
- 学会等名
  日本機械学会東海支部第62期総会講演会
- 発表場所
  津市
- 年月日
  2013-03-19
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[学会発表] 電子線誘起電流を用いた圧縮応力下におけるシリコンの疲労損傷の観察2013
- 著者名/発表者名
  喜多俊文、神谷庄司、泉隼人、梅原徳次、野老山貴行、Vu Le Huy、小川将史
- 学会等名
  日本機械学会東海支部第62期総会
- 発表場所
  三重大学
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[学会発表] Direct observation of damage accumulation process inside silicon under mechanical fatigue loading2013
- 著者名/発表者名
  Shoji Kamiya, Ryutaro Hirai, Hayato Izumi, Noritsugu Umehara, Takayuki Tokoroyama
- 学会等名
  Technical Digest of the 17th International Conference on Solid-State Sensors, Actuators, and Microsystems (Transducers2013&Eurosensors XXVII)
- 発表場所
  Barcelona, Spain
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[学会発表] EBIC observation of the defects in single crystalline silicon induced by mechanical compressive stress2013
- 著者名/発表者名
  T.Kita, S.Kamiya, H.Izumi
- 学会等名
  The 27th International Conference on Defects in Semiconductors 2013 (ICDS2013)
- 発表場所
  Bologna, Italy
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[学会発表] 繰り返し圧縮応力によるシリコン単結晶中の欠陥形成と残存引張強度2013
- 著者名/発表者名
  喜多俊文、神谷庄司、泉隼人
- 学会等名
  日本機械学会2013年度年次大会
- 発表場所
  岡山大学、岡山県
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[学会発表] 単結晶シリコンの塑性特性における吸蔵水素の影響2013
- 著者名/発表者名
  向山諒太、泉隼人、宍戸信之、神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会東海支部第６２期総会講演会
- 発表場所
  Tsu, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[学会発表] 電子線誘起電流を用いた圧縮応力下におけるシリコンの疲労損傷の観察2013
- 著者名/発表者名
  喜多俊文、神谷庄司、泉隼人、梅原徳次、野老山貴行、Vu Le Huy、小川将史
- 学会等名
  日本機械学会東海支部第６２期総会講演会
- 発表場所
  Tsu, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[学会発表] 単結晶シリコンの塑性特性における吸蔵水素の影響2013
- 著者名/発表者名
  向山諒太、泉隼人、宍戸信之、神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会東海支部第62期総会
- 発表場所
  三重大学
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[学会発表] Direct observation of damage accumulation process inside silicon under mechanical fatigue loading2013
- 著者名/発表者名
  S.Kamiya, R.Hirai, H.Izumi, N.Umehara, T.Tokoroyama
- 学会等名
  The 17th International Conference on Solid-State Sensors, Actuators, and Microsystems (Transducers2013&EurosensorsXXXVII)
- 発表場所
  Barcelona, Spain
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[学会発表] 単結晶シリコンの塑性特性における吸蔵水素の影響2013
- 著者名/発表者名
  向山諒太、泉隼人、宍戸信之、神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会東海支部第62会総会講演会
- 発表場所
  津市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[学会発表] 繰り返し圧縮応力によるシリコン単結晶中の欠陥形成と残存引張強度2013
- 著者名/発表者名
  喜多俊文、神谷庄司、泉隼人
- 学会等名
  日本機械学会2013年度年次大会
- 発表場所
  岡山市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[学会発表] 電子線誘起電流を用いた圧縮応力下におけるシリコン疲労損傷の観察2013
- 著者名/発表者名
  喜多俊文、神谷庄司、泉隼人、梅原徳次、野老山貴行、Vu Le Huy、小川将史
- 学会等名
  日本機械学会東海支部第62会総会講演会
- 発表場所
  津市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[学会発表] 単結晶シリコン薄膜の破壊挙動に及ぼす水と温度の影響の評価2012
- 著者名/発表者名
  Isram Md. Wahedul、泉隼人、小川将史、神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会2012年度年次大会
- 発表場所
  金沢大学
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[学会発表] 単結晶シリコン薄膜の破壊挙動に及ぼす水と温度の影響の評価2012
- 著者名/発表者名
  Isram Md. Wahedul、泉隼人、小川将史、神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会2012年度年次大会
- 発表場所
  金沢市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[学会発表] 単結晶シリコン薄膜の破壊挙動に及ぼす水と温度の影響の評価2012
- 著者名/発表者名
  イスラムエムデイワヘドウル、泉隼人、小川将史、神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会2012年度年次大会
- 発表場所
  金沢市
- 年月日
  2012-09-10
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[学会発表] 異なる疲労機構に基づくシリコン微小構造物の寿命評価モデルの比較2012
- 著者名/発表者名
  平川　創、泉隼人、生津資大、神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会M&M2012カンファレンス
- 発表場所
  Matsuyama, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[学会発表] 単結晶シリコン薄膜の破壊挙動に及ぼす水と温度の影響の評価2012
- 著者名/発表者名
  イスラムエムディワヘドゥル、泉隼人、小川将史、神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会2012年度年次大会
- 発表場所
  Kanazawa, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[学会発表] 電子線誘起電流によるシリコンの疲労過程の微視観察2012
- 著者名/発表者名
  平井隆太郎，神谷庄司，泉隼人，梅原徳次
- 学会等名
  日本機械学会東海支部第61期総会講演会
- 発表場所
  名古屋工業大学（愛知県）
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[学会発表] 異なる疲労機構に基づくシリコン微小構造物の寿命評価モデルの比較2012
- 著者名/発表者名
  平川創、泉隼人、生津資大、神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会M&M2012材料力学カンファレンス
- 発表場所
  愛媛大学
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[学会発表] TEM内疲労試験その場観察を目的としたMEMS共振デバイスの開発2012
- 著者名/発表者名
  Lam Hoanson、泉隼人、神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会2012年度年次大会
- 発表場所
  金沢大学
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[学会発表] 異なる疲労機構に基づくシリコン微小構造物の寿命評価モデルの比較2012
- 著者名/発表者名
  平川創、泉隼人、生津資大、神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会M&M2012材料力学カンファレンス
- 発表場所
  松山市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[学会発表] 単結晶シリコンの塑性特性における吸蔵水素の影響2012
- 著者名/発表者名
  向山諒太、泉隼人、宍戸信之、神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会東海支部第62期総会講演会
- 発表場所
  津市
- 年月日
  2012-03-19
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[学会発表] TEM 内疲労試験その場観察を目的としたMEMS 共振デバイスの開発2012
- 著者名/発表者名
  Lam Hoanson、泉隼人、神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会2012年度年次大会
- 発表場所
  金沢市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[学会発表] 電子線誘起電流によるシリコンの疲労過程の微視観察2012
- 著者名/発表者名
  平井隆太郎、神谷庄司、泉隼人、梅原徳次
- 学会等名
  日本機械学会年東海支部第61期総会講演会
- 発表場所
  名古屋市
- 年月日
  2012-03-16
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[学会発表] 異なる疲労機構に基づくシリコン微小構造物の寿命評価モデルの比較2012
- 著者名/発表者名
  平川創、泉隼人、生津資大、神谷庄司
- 学会等名
  日本機械学会M&M2012カンファレンス
- 発表場所
  松山市
- 年月日
  2012-09-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[学会発表] Evaluation and comparison of fracture behavior of silicon thin films under various environmental conditions2011
- 著者名/発表者名
  H. Izumi, Y-C. Cheng, M. Ishikawa, S. Kamiya, M-T. Lin
- 学会等名
  日本実験力学学会2011年度年次講演会
- 発表場所
  奈良県文化会館（奈良県）
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[学会発表] Fracture behavior of silicon thin film under liquid water2011
- 著者名/発表者名
  H. Izumi, Y-C. Cheng, M. Ishikawa, S. Kamiya, M-T. Lin
- 学会等名
  The 13th International Conference on Electronics Materials and Pachaging (EMAP2011)
- 発表場所
  京都ガーデンパレス（京都府）
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[学会発表] Fracture behavior of silicon thin film under liquid water2011
- 著者名/発表者名
  H. Izumi, Y-C. Cheng, M. Ishikawa, S. Kamiya, M-T. Lin
- 学会等名
  International Conference on Electronics Materials and Packaging (EMAP)
- 発表場所
  Kyoto
- 年月日
  2011-12-14
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[学会発表] Electronic sensing of mechanical damage on a single crystal silicon surface2011
- 著者名/発表者名
  M. Ogawa, S. Kamiya, H. Izumi, Y. Tokuda
- 学会等名
  マイクロ・ナノ工学国際ワークショップ
- 発表場所
  京都大学桂ｷｬﾝﾊﾟｽ（京都府）
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[学会発表] 単結晶シリコンの疲労挙動とその環境依存性2011
- 著者名/発表者名
  石川正芳、神谷庄司、泉隼人、宍戸信之
- 学会等名
  日本機械学会M&M2011材料力学カンファレンス
- 発表場所
  北九州市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[学会発表] Electronic properties of dislocations introduced mechanically at room temperature on single crystal silicon surface2011
- 著者名/発表者名
  M. Ogawa, S. Kamiya, H. Izumi, Y. Tokuda
- 学会等名
  26th International Conference on Defects in Semiconductor (ICDS)
- 発表場所
  New Zealand
- 年月日
  2011-07-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[学会発表] Electronic properties of dislocations introduced mechanically at room temperature on single crystal silicon surface2011
- 著者名/発表者名
  M. Ogawa, S. Kamiya, H. Izumi, Y. Tokuda
- 学会等名
  26th International Conference on Defects in Semiconductors
- 発表場所
  Rutherford Hotel(ﾆｭｰｼﾞｰﾗﾝﾄﾞ)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[学会発表] Evaluation and comparison of fracture behavior of silicon thin films under various environmental conditions2011
- 著者名/発表者名
  Y-C. Cheng, H. Izumi, M. Ishikawa, S. Kamiya, M-T. Lin
- 学会等名
  The Japanese Society for Experimental Mechanics
- 発表場所
  Nara
- 年月日
  2011-08-30
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23651137
[学会発表] 単結晶シリコンの疲労挙動とその環境依存性2011
- 著者名/発表者名
  石川正芳、神谷庄司、泉隼人、宍戸信之
- 学会等名
  日本機械学会M&M 2011
- 発表場所
  北九州、福岡
- 年月日
  2011-07-16
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[学会発表] Fracture Behavior of Silicon Thin Film under Liquid Water2011
- 著者名/発表者名
  Hayato Izumi, Ya-Chi Cheng, Masayoshi Ishikawa, Shoji Kamiya, Ming-Tzer Lin
- 学会等名
  13th International Conference on Electronics Materials and Packaging
- 発表場所
  Kyoto, Japan
- 年月日
  2011-12-14
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054
[学会発表] Fracture behavior of silicon thin film under liquid water2011
- 著者名/発表者名
  H.Izumi, Y.Cheng, M.Ishikawa, S.Kamiya, M-T.Lin
- 学会等名
  13th International Conference on Electronics Materials and Packaging (EMAP2011)
- 発表場所
  Kyoto
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23360054

1. 神谷庄司 (00204628)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 47件
2. 佐藤一雄 (30262851)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
3. 中島正博 (80377837)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
4. 森谷智一 (50362322)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件

泉 隼人 IZUMI Hayato

研究課題

研究成果

共同研究者

環境制御型TEMを用いたシリコンの圧縮せん断応力場に対する疲労過程のその場解析研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

フレキシブルエレクトロニクスの曲げ耐久性能評価と性能劣化挙動の電子顕微鏡観察研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

マイクロミラーの髙ねじり角負荷に対する疲労寿命評価と疲労加速現象の解明研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

水素吸蔵によるシリコンの転位移動度向上と低侵襲性延性マイクロニードルの開発研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

透過電子顕微鏡中共振圧縮疲労試験によるシリコンの疲労プロセスのその場観察

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

生体埋込MEMS実現に向けた液中疲労試験と無限寿命ステンレスシリコンへの挑戦

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[雑誌論文] The origin of fatigue fracture in single-crystal silicon2022

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] A multidimensional scheme of characterization for performance deterioration behavior of flexible devices under bending deformation2020

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] Shear stress enhanced fatigue damage accumulation in single crystalline silicon under cyclic mechanical loading2016

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] Defect accumulation and strength reduction in single crystalline silicon induced by cyclic compressive stress2014

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] Defect accumulation and strength reduction in single crystalline silicon induced by cyclic compressive stress2014

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] A prediction scheme of the static fracture strength of MEMS structures based on the characterization of damage distribution on a processed surface2013

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] A prediction scheme of the static fracture strength of MEMS structures based on the characterization of damage distribution on a processed surface2013

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] Effect of hydrogen on mechanical properties of single crystal surface2013

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] Electronic properties of dislocations infroduced mechanically at room temperature on a single crystal silicon substrate2012

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] Electronic properties of dislocations introduced mechanically at room temperature on single crystal silicon surface2012

著者名/発表者名

雑誌名

泉隼人 IZUMI Hayato