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Kamioka Takefumi  神岡 武文

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KAMIOKA Takefumi  神岡 武文

神岡 武文  カミオカ タケフミ

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Researcher Number 00434332
Other IDs
Affiliation (Current) 2026: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, エレクトロニクス・製造領域, 主任研究員
Affiliation (based on the past Project Information) *help 2013: 豊田工業大学, 工学(系)研究科(研究院), 研究員
2012: 早稲田大学, ナノ理工学研究機構, 次席研究員(研究院講師)
2006 – 2007: 早稲田大学, 理工学術院, 助手
Review Section/Research Field
Principal Investigator
Thin film/Surface and interfacial physical properties / Nanomaterials/Nanobioscience
Keywords
Principal Investigator
結晶欠陥 / プラズマ / 表面・界面物性 / イオン注入 / 核形成 / 欠陥 / シリサイド / イオン銃 / 走査型トンネル顕微鏡 / ニッケル / シリコン / ビーム応用 / ナノ表面界面
  • Research Projects

    (2 results)
  • Research Products

    (13 results)
  •  In-situ scanning tunneling microscopy of initial formation process of metal silicidePrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      KAMIOKA Takefumi
    • Project Period (FY)
      2012 – 2013
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
    • Research Field
      Thin film/Surface and interfacial physical properties
    • Research Institution
      Toyota Technological Institute
      Waseda University
  •  ドーパントイオン照射による表面ナノ改質その場計測Principal Investigator

    • Principal Investigator
      神岡 武文
    • Project Period (FY)
      2006 – 2007
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Young Scientists (Start-up)
    • Research Field
      Nanomaterials/Nanobioscience
    • Research Institution
      Waseda University

All 2013 2012 2008 2007 Other

All Journal Article Presentation

  • [Journal Article] Surface modification of silicon with single ion irradiation2007

    • Author(s)
      I.Ohdomari, T.Kamioka
    • Journal Title

      Applied Surface Science 254

      Pages: 242-246

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18810032
  • [Journal Article] Surface modification of silicon with sinerle ion irradiation

    • Author(s)
      I.Ohdomari, T.Kamioka
    • Journal Title

      Appl. Surf. Sci. (submitted)

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18810032
  • [Presentation] Si(111)表面へのNiイオン照射過程のリアルタイムSTM観察2013

    • Author(s)
      武良 光太郎,神岡 武文,木谷 哲,今津 研太,渡邉 孝信
    • Organizer
      第74回応用物理学会秋季学術講演会
    • Place of Presentation
      京都,日本
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24760031
  • [Presentation] Real-time scanning tunneling microscopy observation of Ni ion irradiation process on Si(111) surfaces2013

    • Author(s)
      K. Mura, T. Kamioka, T. Kitani, K. Imazu, T. Watanabe
    • Organizer
      12th international conference on atomically controlled surfaces, interfaces and nanostructures, in conjuction with 21st international colloquium on scanning probe microscopy
    • Place of Presentation
      Ibaraki, Japan
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24760031
  • [Presentation] シャドーイング効果を利用した低エネルギーイオン誘起損傷のその場STM観察2013

    • Author(s)
      武良光太郎, 神岡武文, 礒野文哉, 川村祐士, 鹿浜康寛, 山下広樹, 山田康平, 小杉山洋希, 橋本修一郎, 渡邉孝信
    • Organizer
      第60回応用物理学会春季学術講演会
    • Place of Presentation
      神奈川, 日本
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24760031
  • [Presentation] Real-time Scanning Tunneling Microscopy Observation of Ni Ion Irradiation Process on Si(111) Surfaces2013

    • Author(s)
      Kotaro Mura, Takefumi Kamioka, Tetsu Kitani, Kenta Imazu, Takanobu Watanabe
    • Organizer
      12th International Conference on. Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures, in conjunction with 21st International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    • Place of Presentation
      茨城,日本
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24760031
  • [Presentation] シャドーイング効果を利用した低エネルギーイオン誘起損傷のその場STM観察2013

    • Author(s)
      武良光太郎,神岡武文,礒野文哉,川村祐士,鹿浜康寛,山下広樹,山田康平,小杉山洋希,橋本修一郎,渡邉孝信
    • Organizer
      第60回応用物理学会春季学術講演会
    • Place of Presentation
      神奈川,日本
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24760031
  • [Presentation] Si(111)表面へのNiイオン照射過程のリアルタイムSTM観察2013

    • Author(s)
      武良光太郎,神岡武文,木谷哲,今津研太,渡邉孝信
    • Organizer
      第74回応用物理学会秋季学術講演会
    • Place of Presentation
      京都,日本
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24760031
  • [Presentation] In-situ scanning tunneling microscopy of shadowing effects of angled ion implantation on patterned Si surface2012

    • Author(s)
      F. Isono, T. Kamioka, Y. Kawamura, Y.Shikahama, H. Yamashita, K. Yamada, K. Mura, H. Kosugiyama, S. Hashimoto, T. Watanabe
    • Organizer
      The 34th International Symposium on Dry Process
    • Place of Presentation
      Tokyo, Japan
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24760031
  • [Presentation] In-situ scanning tunneling microscopy of shadowing effects of angled ion implantation on patterned Si surface2012

    • Author(s)
      F. Isono, T. Kamioka, Y. Kawamura, Y. Shikahama, H. Yamashita, K. Yamada, K. Mura, H. Kosugiyama, S. Hashimoto, T. Watanabe
    • Organizer
      34th International Symposium on Dry Process
    • Place of Presentation
      Tokyo, Japan
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24760031
  • [Presentation] 高温Si表面上に形成された低速ドーパントイオン照射誘起欠陥の挙動のその場STM観察2008

    • Author(s)
      神岡 武文、佐藤 光、風間 裕、大泊 巌
    • Organizer
      平成20年春期第55回物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      日本大学理工学部
    • Year and Date
      2008-03-27
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18810032
  • [Presentation] 低速ドーパントイオン照射によるSi表面改質効果のその場STM観察2007

    • Author(s)
      神岡 武文、佐藤 光、大泊 巌
    • Organizer
      平成19年秋期第68回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      北海道工業大学
    • Year and Date
      2007-09-08
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18810032
  • [Presentation] ドーパントイオン照射過程のリアルタイムSTM察のためのイオンビーム照準システム開発2007

    • Author(s)
      佐藤 光、神岡 武文、風間 裕、大泊 巌
    • Organizer
      平成20年春期第55回物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      日本大学理工学部
    • Year and Date
      2007-03-27
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18810032

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