• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to previous page

Imabayashi Hiroki  今林 弘毅

ORCIDConnect your ORCID iD *help
… Alternative Names

今林 弘毅  イマバヤシ ヒロキ

Less
Researcher Number 10906324
Other IDs
Affiliation (Current) 2026: 福井大学, 学術研究院工学系部門, 講師
Affiliation (based on the past Project Information) *help 2024: 福井大学, 学術研究院工学系部門, 講師
2023 – 2024: 福井大学, 学術研究院工学系部門, 助教
Review Section/Research Field
Principal Investigator
Basic Section 29020:Thin film/surface and interfacial physical properties-related
Except Principal Investigator
Basic Section 21050:Electric and electronic materials-related
Keywords
Principal Investigator
信頼性評価 / 界面顕微光応答法 / 界面反応 / 非接触・in-situ二次元評価 / 導電率制御 / 塗布膜の基板依存性 / 表面モフォロジー制御 / 電気的特性評価 / 塗布製膜 / 有機半導体 … More
Except Principal Investigator
… More ワイドバンドギャップ半導体 / 電界集中 / ショットキー電極 / 高電圧印加 / 二次元評価 / ジャンクションバリアショットキーダイオード / β-酸化ガリウム / GaN / 界面顕微光応答法 / ショットキー接触 Less
  • Research Projects

    (2 results)
  • Research Products

    (14 results)
  • Co-Researchers

    (1 People)
  •  高電圧印加界面顕微光応答法によるパワー素子用電極エッジの電界集中の2次元的解明

    • Principal Investigator
      塩島 謙次
    • Project Period (FY)
      2024 – 2026
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Review Section
      Basic Section 21050:Electric and electronic materials-related
    • Research Institution
      University of Fukui
  •  高信頼性有機半導体デバイス実現に向けた非接触・in-situ二次元評価法の確立Principal Investigator

    • Principal Investigator
      今林 弘毅
    • Project Period (FY)
      2023 – 2025
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
    • Review Section
      Basic Section 29020:Thin film/surface and interfacial physical properties-related
    • Research Institution
      University of Fukui

All 2025 2024

All Journal Article Presentation

  • [Journal Article] Local bandgap narrowing in the forming state of threshold switching materials2024

    • Author(s)
      Shiojima Kenji、Kawai Hiroki、Kawasumi Yuto、Takehira Hiroshi、Wakisaka Yuki、Imabayashi Hiroki、Iwasaki Takeshi、Komatsu Katsuyoshi、Daibou Tadaomi
    • Journal Title

      Applied Physics Letters

      Volume: 125 Issue: 2

    • DOI

      10.1063/5.0210996

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24K07558
  • [Journal Article] Photoelectrical characterization of heavily doped p-SiC Schottky contacts2024

    • Author(s)
      Imabayashi Hiroki、Sawazaki Hitose、Yoshimura Haruto、Kato Masashi、Shiojima Kenji
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 63 Issue: 4 Pages: 04SP71-04SP71

    • DOI

      10.35848/1347-4065/ad32e0

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K04135, KAKENHI-PROJECT-24K07558
  • [Presentation] 界面顕微光応答法による微細トレンチ構造 GaN JBS ダイオードの二次元評価2025

    • Author(s)
      今林 弘毅, 吉村 遥翔, 太田 博, 三島 友義, 塩島 謙次
    • Organizer
      第72回応用物理学会春季学術講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24K07558
  • [Presentation] 界面顕微光応答法によるAu/Ni/n型β-Ga2O3ショットキー接触の電圧印加下における劣化耐性の二次元評価2025

    • Author(s)
      今林 弘毅, 澤崎 仁施, 佐々木 公平, 塩島 謙次
    • Organizer
      第72回応用物理学会春季学術講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24K07558
  • [Presentation] Improvement of Uniformity by Face-to-Face Ultra-High-Pressure Annealing Observed by Scanning Internal Photoemission Microscopy Using Au/Ni/n-GaN Schottky Contacts2024

    • Author(s)
      Kenji Shiojima, Yasuho Matsumoto, Hiroki Imabayashi and Tetsu Kachi
    • Organizer
      International conference on Solid State Devices and Materials 2024 (SSDM2024)
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24K07558
  • [Presentation] 界面顕微光応答法によるJBS構造の二次元評価2024

    • Author(s)
      今林 弘毅, 吉村 遥翔, 太田 博,三島 友義, 塩島 謙次
    • Organizer
      第85回応用物理学会秋季学術講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24K07558
  • [Presentation] 界面顕微光応答法による Au/Ni/n型β-Ga2O3 ショットキー接触の二次元評価2024

    • Author(s)
      今林 弘毅, 澤崎 仁施, 佐々木 公平, 塩島 謙次
    • Organizer
      日本材料学会 2024年度第3回半導体エレクトロニクス部門委員会第2回研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24K07558
  • [Presentation] Precise Measurements of Small Reverse-Biased-Currents for Large-Barrier Au/Ni/n-GaN Schottky Contacts2024

    • Author(s)
      Kenji Shiojima, Hiroki Imabayashi, Kentaro Kawanishi, Hiroshi Ohta and Tomoyoshi Mishima
    • Organizer
      International conference on Solid State Devices and Materials 2024 (SSDM2024)
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24K07558
  • [Presentation] 界面顕微光応答法によるAu/Ni/n 型β-Ga2O3 ショットキー接触の面内均一性評価2024

    • Author(s)
      今林 弘毅, 澤崎 仁施, 佐々木 公平, 塩島 謙次
    • Organizer
      先進パワー半導体分科会 第11回講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24K07558
  • [Presentation] 界面顕微光応答法によるGaN JBS構造の電流輸送機構の二次元解析2024

    • Author(s)
      吉村 遥翔, 今林 弘毅, 太田 博, 三島 友義, 塩島 謙次
    • Organizer
      2024年度 日本材料学会 半導体エレクトロニクス部門委員会 第1回研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24K07558
  • [Presentation] 界面顕微光応答法を用いたGaN JBS 構造の二次元評価2024

    • Author(s)
      今林 弘毅, 吉村 遥翔, 太田 博, 三島 友義, 塩島 謙次
    • Organizer
      先進パワー半導体分科会 第11回講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24K07558
  • [Presentation] Ni/n-GaNショットキー接触のI-V特性における変位電流の評価2024

    • Author(s)
      今林 弘毅, 川西 健太郎, 太田 博, 三島 友義, 塩島 謙次
    • Organizer
      第43回電子材料シンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24K07558
  • [Presentation] 界面顕微光応答法による GaN JBS 構造の二次元解析2024

    • Author(s)
      今林 弘毅、吉村 遥翔、太田 博、三島 友義、塩島 謙次
    • Organizer
      電子情報通信学会 電子デバイス研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24K07558
  • [Presentation] Face-to-Face高温高圧アニールによる均一性の向上 ~Au/Ni/n-GaNショットキー接触を用いた界面顕微光応答法による二次元評価~2024

    • Author(s)
      今林 弘毅, 松本 泰歩, 塩島 謙次, 加地 徹
    • Organizer
      第85回応用物理学会秋季学術講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24K07558
  • 1.  塩島 謙次 (70432151)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 14 results

URL: 

Are you sure that you want to link your ORCID iD to your KAKEN Researcher profile?
* This action can be performed only by the researcher himself/herself who is listed on the KAKEN Researcher’s page. Are you sure that this KAKEN Researcher’s page is your page?

この研究者とORCID iDの連携を行いますか?
※ この処理は、研究者本人だけが実行できます。

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi