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MAWAKI TAKEZO  間脇 武蔵

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Mawaki Takezo  間脇 武蔵

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Researcher Number 10966328
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Affiliation (Current) 2025: 東北大学, 未来科学技術共同研究センター, 助教
Affiliation (based on the past Project Information) *help 2022 – 2023: 東北大学, 未来科学技術共同研究センター, 助教
Review Section/Research Field
Principal Investigator
Basic Section 21060:Electron device and electronic equipment-related / 0302:Electrical and electronic engineering and related fields
Keywords
Principal Investigator
統計的評価 / アレイテスト回路 / 不揮発性メモリ / 半導体 / 三次元積層 / 計測技術 / メモリ / 電気的特性 / 評価技術 / 次世代メモリ / マイクロバンプ / テスト回路 / 半導体デバイス
  • Research Projects

    (2 results)
  • Research Products

    (9 results)
  •  Next-generation memory analysis and evaluation technology using statistical electrical measurement with ultra-low power consumption, short processing time, and low costPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      間脇 武蔵
    • Project Period (FY)
      2023 – 2025
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
    • Review Section
      Basic Section 21060:Electron device and electronic equipment-related
    • Research Institution
      Tohoku University
  •  Platform technology for statistical measurement of electrical characteristics to accelerate next-generation memory research.Principal Investigator

    • Principal Investigator
      Mawaki Takezo
    • Project Period (FY)
      2022 – 2023
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Research Activity Start-up
    • Review Section
      0302:Electrical and electronic engineering and related fields
    • Research Institution
      Tohoku University

All 2023 2022

All Presentation

  • [Presentation] ランダムテレグラフノイズのMOSトランジスタ構造・動作条件依存性の統計的解析2023

    • Author(s)
      間脇武蔵、黒田理人、秋元瞭、須川 成利
    • Organizer
      電子デバイス界面テクノロジー研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K20422
  • [Presentation] 抵抗計測プラットフォームを用いたHfOx膜抵抗変化の統計的計測2023

    • Author(s)
      光田薫未、鈴木達彦、齊藤宏河、間脇武蔵、須川成利、黒田理人
    • Organizer
      第84回応用物理学会秋季学術講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K20422
  • [Presentation] 電流計測プラットフォームを用いた高容量密度トレンチキャパシタのトラップ特性に関する統計的計測2023

    • Author(s)
      鈴木 達彦、齊藤宏河、光田薫未、間脇武蔵、須川成利、黒田理人
    • Organizer
      第84回応用物理学会秋季学術講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K13372
  • [Presentation] ランダムテレグラフノイズのMOSトランジスタ形状およびドレイン-ソース間電圧依存性の統計的計測2023

    • Author(s)
      間脇武蔵、黒田理人
    • Organizer
      第84回応用物理学会秋季学術講演会
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K20422
  • [Presentation] インピーダンス計測プラットフォーム技術を用いた機能性薄膜に関する電気的特性の統計的計測2023

    • Author(s)
      齊藤宏河、鈴木達彦、光田薫未、間脇武蔵、諏訪智之、寺本章伸、須川成利,、黒田理人
    • Organizer
      第84回応用物理学会秋季学術講演会
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K13372
  • [Presentation] ランダムテレグラフノイズのMOSトランジスタ構造・動作条件依存性の統計的解析2023

    • Author(s)
      間脇武蔵, 黒田理人, 秋元瞭, 須川 成利
    • Organizer
      電子デバイス界面テクノロジー研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K20422
  • [Presentation] 半導体素子の統計的評価に向けたインピーダンス計測プラットフォーム技術2023

    • Author(s)
      齊藤宏河、鈴木達彦、光田薫未、間脇武蔵、諏訪智之、寺本章伸、須川成利,、黒田理人
    • Organizer
      第35回マイクロエレクトロニクス研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K13372
  • [Presentation] 電気特性計測プラットフォームを用いたランダムテレグラフの動作条件依存性の統計的解析2023

    • Author(s)
      間脇武蔵、黒田理人
    • Organizer
      電子情報通信学会 シリコン材料・デバイス研究会
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K20422
  • [Presentation] 次世代メモリ用薄膜の統計的解析を行う高精度・広範囲抵抗測定技術2022

    • Author(s)
      光田薫未, 天満亮介, 間脇武蔵, 黒田理人
    • Organizer
      電子情報通信学会 シリコン材料・デバイス研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K20422

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