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MIURA Katsuyoshi  三浦 克介

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Researcher Number 30263221
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Affiliation (based on the past Project Information) *help 2011: 大阪大学, 大学院・情報科学研究科, 准教授
2009 – 2010: Osaka University, 情報科学研究科, 准教授
1998 – 2000: 大阪大学, 大学院・工学研究科, 助手
1996 – 1997: 大阪大学, 工学部, 助手
Review Section/Research Field
Principal Investigator
Electron device/Electronic equipment
Except Principal Investigator
電子デバイス・機器工学
Keywords
Principal Investigator
SPICE / レーザ誘起テラヘルツ波顕鏡 / 故障絞り込み / LTEM / レーザ誘起テラヘルツ波顕微鏡 / L-SQ / レーザSQUID顕微鏡 / LSI / LTEM法 / レーザテラヘルツ波顕微鏡法 … More / L-SQ法 / 走査レーザSQUID顕微鏡法 / シミュレーション / 故障解析 / 故障診断 / 大規模集積回路 … More
Except Principal Investigator
VLSI / EB testability / fault localization / current test point / current testing / test pad / LSI with multi-layer structure / design for testability / パーティクル / EBテスタビリティ / 故障局所化 / 電流テストポイント / 電流テスティング / 電圧テストポイント / 多層構造VLSI / テスティング容易化設計 / automatic fault tracing system / CAD layout / fault tracing / EB tester / 階層的自動故障追跡法 / トランジスタレベル故障 / 自動故障追跡システム / CADレイアウト / 故障追跡 / EBテスター Less
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    (3 results)
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    (8 results)
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    (3 People)
  •  Development of a fast and accurate VLSI diagnostic method with a VLSI fault localization systemPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      MIURA Katsuyoshi
    • Project Period (FY)
      2009 – 2011
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Research Field
      Electron device/Electronic equipment
    • Research Institution
      Osaka University
  •  Fundamental study on design for testing of multi-layer structure VLSIs

    • Principal Investigator
      FUJIOKA Hiromu
    • Project Period (FY)
      1998 – 2000
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B).
    • Research Field
      電子デバイス・機器工学
    • Research Institution
      Osaka University
  •  Automatic hierarchical tracing of VLSI transistor-level performance faults with CAD-linked electron beam test system from CAD layout data

    • Principal Investigator
      FUJIOKA Hiromu
    • Project Period (FY)
      1996 – 1997
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • Research Field
      電子デバイス・機器工学
    • Research Institution
      Osaka University

All 2011 2010 2009

All Presentation

  • [Presentation] 走査レーザSQUID顕微鏡およびLTEM複合故障箇所解析装置の為の故障データベースと故障絞り込み支援ソフトウェアの開発2011

    • Author(s)
      三浦克介
    • Organizer
      第31回LSIテスティングシンポジウム
    • Place of Presentation
      千里ライフサイエンスセンター(大阪府豊中市)
    • Year and Date
      2011-11-10
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560353
  • [Presentation] 走査レーザSQUID顕微鏡およびLTEM複合故障箇所解析装置の為の故障データベースと故障絞り込み支援ソフトウェアの開発2011

    • Author(s)
      三浦克介, 御堂義博, 山下将嗣, 松本徹, 二川清, 中前幸治
    • Organizer
      第31回LSIテスティングシンポジウム会議録
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560353
  • [Presentation] 電流密度分布シミュレーションを用いた走査レーザSQUID顕微鏡によるVLSI診断法2010

    • Author(s)
      三浦克介
    • Organizer
      第30回LSIテスティングシンポジウム
    • Place of Presentation
      千里ライフサイエンスセンター(大阪府豊中市)
    • Year and Date
      2010-11-11
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560353
  • [Presentation] 走査レーザSQUID顕微鏡によるシミュレーションを活用したVLSI故障絞り込み法2010

    • Author(s)
      三浦克介, 二川清, 中前幸治
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560353
  • [Presentation] 走査レーザSQUID顕微鏡によるシミュレーションを活用したVLSI故障絞り込み法2010

    • Author(s)
      三浦克介
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      東北大学川内キャンパス (宮城県仙台市)
    • Year and Date
      2010-03-19
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560353
  • [Presentation] 電流密度分布シミュレーションを用いた走査レーザSQUID顕微鏡によるVLSI診断法2010

    • Author(s)
      三浦克介, 二川清, 中前幸治
    • Organizer
      第30回LSIテスティングシンポジウム会議録
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560353
  • [Presentation] 電流密度分布シミュレーションを用いた走査レーザSQUID顕微鏡によるVLSI診断法の検討2009

    • Author(s)
      三浦克介
    • Organizer
      第29回LSIテスティングシンポジウム
    • Place of Presentation
      千里ライフサイエンスセンター (大阪府豊中市)
    • Year and Date
      2009-11-12
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560353
  • [Presentation] 電流密度分布シミュレーションを用いた走査レーザSQUID顕微鏡によるVLSI診断法の検討2009

    • Author(s)
      三浦克介, 中前幸治, 二川清
    • Organizer
      第29回LSIテスティングシンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560353
  • 1.  FUJIOKA Hiromu (40029228)
    # of Collaborated Projects: 2 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 2.  NAKAMAE Koji (40155809)
    # of Collaborated Projects: 2 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 3.  MIDOH Yoshihiro (00448094)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 1 results

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