山崎紘史ヤマザキヒロシ

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Researcher Number	30758876
Other IDs
Affiliation (Current)	2021: 日本大学, 生産工学部, 助教
Affiliation (based on the past Project Information) *help	2019: 日本大学, 生産工学部, 助教
Review Section/Research Field	Principal Investigator Basic Section 60040:Computer system-related
Keywords	Principal Investigator テスト生成 / ATPG / 抵抗性オープン故障 / パーシャルMAX-SAT / 隣接信号線 / LSI / VLSI設計技術 / テストパターン生成 / テスト容易化設計 / スキャン設計

Research Projects
(1 results)
Research Products
(4 results)

レイアウト設計を考慮した抵抗性オープン故障に対するテストパターン生成技術の研究Principal InvestigatorOngoing
- Principal Investigator
  
  山崎紘史
- Project Period (FY)
  2019 – 2022
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
- Review Section
  
  Basic Section 60040:Computer system-related
- Research Institution
  Nihon University

All Presentation

[Presentation] パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法2020
- Author(s)
  山崎紘史，石山悠太，松田竜馬，細川利典，吉村正義，新井雅之，四柳浩之，橋爪正樹
- Organizer
  VLSI設計技術研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K20237
[Presentation] 遷移故障の並列テストのためのコントローラ拡大法2019
- Author(s)
  竹内勇希，細川利典，山崎紘史，吉村正義
- Organizer
  第82回FTC研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K20237
[Presentation] Partial MaxSATを用いた低消費電力指向ドントケア割当て法2019
- Author(s)
  三澤健一郎，平間勇貫，細川利典，山崎紘史，吉村正義，新井雅之
- Organizer
  DAシンポジウム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K20237
[Presentation] MAX-SATと両立故障グラフを用いたMバイNテスト圧縮法2019
- Author(s)
  浅見竜輝，細川利典，山崎紘史，吉村正義
- Organizer
  第81回FTC研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K20237