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山崎 紘史  ヤマザキ ヒロシ

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Researcher Number 30758876
Other IDs
Affiliation (based on the past Project Information) *help 2019 – 2021: 日本大学, 生産工学部, 助教
Review Section/Research Field
Principal Investigator
Basic Section 60040:Computer system-related
Keywords
Principal Investigator
スキャン設計 / テスト容易化設計 / テストパターン生成 / VLSI設計技術 / LSI / 隣接信号線 / パーシャルMAX-SAT / 抵抗性オープン故障 / ATPG / テスト生成
  • Research Projects

    (1 results)
  • Research Products

    (5 results)
  •  レイアウト設計を考慮した抵抗性オープン故障に対するテストパターン生成技術の研究Principal Investigator

    • Principal Investigator
      山崎 紘史
    • Project Period (FY)
      2019 – 2021
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
    • Review Section
      Basic Section 60040:Computer system-related
    • Research Institution
      Nihon University

All 2021 2020 2019

All Presentation

  • [Presentation] コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法2021

    • Author(s)
      飯塚恭平,細川利典,山崎紘史,吉村正義
    • Organizer
      組込み技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2021
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20237
  • [Presentation] パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法2020

    • Author(s)
      山崎紘史,石山悠太,松田竜馬,細川利典,吉村正義,新井雅之,四柳浩之,橋爪正樹
    • Organizer
      VLSI設計技術研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20237
  • [Presentation] 遷移故障の並列テストのためのコントローラ拡大法2019

    • Author(s)
      竹内勇希,細川利典,山崎紘史,吉村正義
    • Organizer
      第82回FTC研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20237
  • [Presentation] Partial MaxSATを用いた低消費電力指向ドントケア割当て法2019

    • Author(s)
      三澤健一郎,平間勇貫,細川利典,山崎紘史,吉村正義,新井雅之
    • Organizer
      DAシンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20237
  • [Presentation] MAX-SATと両立故障グラフを用いたMバイNテスト圧縮法2019

    • Author(s)
      浅見竜輝,細川利典,山崎紘史,吉村正義
    • Organizer
      第81回FTC研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20237

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