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yamazaki hiroshi
山崎 紘史
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Alternative Names
山崎 紘史 ヤマザキ ヒロシ
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Researcher Number
30758876
Other IDs
Affiliation (Current)
2022: 日本大学, 生産工学部, 助教
Affiliation (based on the past Project Information)
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2019 – 2021: 日本大学, 生産工学部, 助教
Review Section/Research Field
Principal Investigator
Basic Section 60040:Computer system-related
Keywords
Principal Investigator
テスト生成 / ATPG / 抵抗性オープン故障 / パーシャルMAX-SAT / 隣接信号線 / LSI / VLSI設計技術 / テストパターン生成 / テスト容易化設計 / スキャン設計
Research Projects
(
1
results)
Research Products
(
5
results)
Project Start Year (Newest)
Project Start Year (Oldest)
レイアウト設計を考慮した抵抗性オープン故障に対するテストパターン生成技術の研究
Principal Investigator
Principal Investigator
山崎 紘史
Project Period (FY)
2019 – 2021
Research Category
Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
Review Section
Basic Section 60040:Computer system-related
Research Institution
Nihon University
All
2021
2020
2019
All
Presentation
[Presentation] コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法
2021
Author(s)
飯塚恭平,細川利典,山崎紘史,吉村正義
Organizer
組込み技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2021
Data Source
KAKENHI-PROJECT-19K20237
[Presentation] パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
2020
Author(s)
山崎紘史,石山悠太,松田竜馬,細川利典,吉村正義,新井雅之,四柳浩之,橋爪正樹
Organizer
VLSI設計技術研究会
Data Source
KAKENHI-PROJECT-19K20237
[Presentation] 遷移故障の並列テストのためのコントローラ拡大法
2019
Author(s)
竹内勇希,細川利典,山崎紘史,吉村正義
Organizer
第82回FTC研究会
Data Source
KAKENHI-PROJECT-19K20237
[Presentation] Partial MaxSATを用いた低消費電力指向ドントケア割当て法
2019
Author(s)
三澤健一郎,平間勇貫,細川利典,山崎紘史,吉村正義,新井雅之
Organizer
DAシンポジウム
Data Source
KAKENHI-PROJECT-19K20237
[Presentation] MAX-SATと両立故障グラフを用いたMバイNテスト圧縮法
2019
Author(s)
浅見竜輝,細川利典,山崎紘史,吉村正義
Organizer
第81回FTC研究会
Data Source
KAKENHI-PROJECT-19K20237
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