ADACHI Masaaki 安達正明

Researcher Number	50212519
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Affiliation (based on the past Project Information) *help	2020 – 2021: 公立小松大学, 生産システム科学部, 教授 2008 – 2014: Kanazawa University, 機械工学系, 教授 2006 – 2007: 金沢大学, 自然科学研究科, 教授 2004: Kanazawa University, Graduate School of Natural Science and Technology, Professor, 自然科学研究科, 教授 1999 – 2003: 金沢大学, 工学部, 教授 1990 – 1992: 金沢大学, 工学部, 講師
Review Section/Research Field	Principal Investigator Intelligent mechanics/Mechanical systems / 物理計測・光学 / 機械工作・生産工学 / Intelligent mechanics/Mechanical systems / Basic Section 18020:Manufacturing and production engineering-related
Keywords	Principal Investigator 振動 / 位相抽出 / 3次元形状 / 粗面 / 光干渉 / 干渉計測 / スペックル干渉 / 白色干渉 / 高精度計測 / FPGA … More / レーザ / 干渉顕微鏡 / 半導体レーザ / 干渉位相 / 2波長 / two wavelengths / 光路差 / リアルタイム計測 / 段差 / 光路差測定 / リアルタイム測定 / モジュレーション / 3次元形状測定 / 微細構造物 / 半導体レーザー / 振動環境下 / 制御 / 変位計 / 露光 / 光路差変化 / ナノメータ / 高速ラインカメラ / 顕微鏡 / NA / ３次元形状計測 / スペックル干渉計 / ランダム振動 / 波長可変レーザー / 位相シフト / 空気擾乱 / 波長走査 / スペックル / 位相差マップ / 距離計測 / 計測工学 / ３次元形状 / 光干渉法 / 形状測定 / ディジタル信号処理 / 超精密面 / 光反射率 / 移動テーブル / 位置制御 / 移動テ-ブル / 形状計測 / うねり形状 / Interferometer / Profilometer / Digital signal processing / Supersmooth-surface / 変形計測 / レーザ応用 / 位相測定 / 動的測定 / 非接触 / 変形 / レーザ応用計測 / 高精度測定 / 工作機械 / 連続変形 / 多波長計測 / 機械加工 / 二次元変形測定 / 高精度光応用計測 / 実時間測定 / 多波長発振レーザ光源 / 干渉画像 / 光ファイバー / カメラ / リセット・リスタート / deformation measurement / real-time / phase measurement / Speckle Interferometry / dynamic measurement / laser application / non-contact measurement / 垂直走査 / 位相シフト法 / フラッシュ光源 / 高輝度LED光源 / デジタルカメラ / 二重露光 / optical interferometer / interference phase / vertical scanning / phase shift / flash lamp / Extremely high power LED / Digital camera / 光路差変動 / 金属部品 / 3次元形状計測 / レーザー光 / 波長変更 / 位相波面 / 等価波長 / 段差計測 / 波長シフト / レーザー計測 / 機械部品 / 粗面反射 Less

精密測定室外でも使える機械部品群の光干渉を応用する３次元高精度形状計測技術の研究Principal Investigator
- Principal Investigator
  
  安達正明
- Project Period (FY)
  2020 – 2021
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Review Section
  
  Basic Section 18020:Manufacturing and production engineering-related
- Research Institution
  Komatsu University
Development of 3D-shape measurement technique of an electronic substrate with electronic partsPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  ADACHI masaaki
- Project Period (FY)
  2012 – 2014
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Research Field
  
  Intelligent mechanics/Mechanical systems
- Research Institution
  Kanazawa University
Ultrahigh-precision 3D-shape measurement technique usable under vertical vibrationPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  ADACHI Masaaki
- Project Period (FY)
  2009 – 2011
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- Research Field
  
  Intelligent mechanics/Mechanical systems
- Research Institution
  Kanazawa University
3D-shape measurement method of a small object vibrating verticallyPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  ADACHI Masaaki
- Project Period (FY)
  2006 – 2008
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Research Field
  
  Intelligent mechanics/Mechanical systems
- Research Institution
  Kanazawa University
Vertical-scanning profilometry having nanometric height resolution and high scanning speed using two short-coherent-light sources of different wavelengthsPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  ADACHI Masaaki
- Project Period (FY)
  2002 – 2004
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- Research Field
  
  Intelligent mechanics/Mechanical systems
- Research Institution
  KANAZAWA UNIVERSITY
Study of real-time and precision measurement for 2-D deformation amounts of machine toolPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  ADACHI Masaaki
- Project Period (FY)
  1999 – 2001
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Research Field
  
  機械工作・生産工学
- Research Institution
  Kanazawa University
Waveness Profilometer of Large Optical Parts Insensitive to the Waveness and Roughness of Reference MirrorPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  ADACHI Masaaki
- Project Period (FY)
  1990 – 1992
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
- Research Field
  
  物理計測・光学
- Research Institution
  KANAZAWA University

[Book] 走査型干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直変位測定,光アライアンス2011
- Author(s)
  安達正明
- Publisher
  日本工業出版
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[Journal Article] Phase-Shift Extraction from Twice-Normalized Light Intensity Changes Recorded with Random Phase Shifts2014
- Author(s)
  Masaaki ADACHI and Satoshi SUNADA
- Journal Title
  
  OPTICAL REVIEW
  
  Volume: 21 Pages: 522-525
- NAID
  120005537875
- Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-24560289
[Journal Article] 振動環境下で撮影された干渉像からの高精度位相抽出2011
- Author(s)
  安達正明(他2名, 1番目)
- Journal Title
  
  精密工学会誌
  
  Volume: 77巻 Pages: 502-506
- NAID
  130001362305
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[Journal Article] 振動環境下で撮影された干渉像からの高精度位相抽出2011
- Author(s)
  安達, 丹羽, 岩尾
- Journal Title
  
  精密工学会誌
  
  Volume: 77(掲載確定)
- NAID
  130001362305
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[Journal Article] 振動環境下で撮影された干渉像からの高精度位相抽出2011
- Author(s)
  安達正明, 丹羽康人, 岩尾雄太
- Journal Title
  
  精密工学会誌
  
  Volume: 77 Pages: 502-506
- NAID
  130001362305
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[Journal Article] 干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直走査域100μmでの光路差変化の高精度測定2010
- Author(s)
  安達, 河村, 岩尾
- Journal Title
  
  精密工学会誌 76(掲載確定)
- NAID
  130000421878
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[Journal Article] 干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直走査域100μmでの光路差変化の高精度測定2010
- Author(s)
  安達正明(他2名, 1番目)
- Journal Title
  
  精密工学会誌
  
  Volume: 76巻 Pages: 834-839
- NAID
  130000421878
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[Journal Article] 干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直走査域100μmでの光路差変化の高精度測定2010
- Author(s)
  安達, 河村, 岩尾
- Journal Title
  
  精密工学会誌
  
  Volume: 76 Pages: 834-839
- NAID
  130000421878
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[Journal Article] 振動環境でも利用できる垂直走査型光干渉応用形状計測技術2009
- Author(s)
  安達, 平野, 河村, 岩尾
- Journal Title
  
  精密工学会誌 75
  
  Pages: 1299-1304
- NAID
  130000421525
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[Journal Article] 振動環境でも利用できる垂直走査型光干渉応用形状計測技術2009
- Author(s)
  安達正明(他3名, 1番目)
- Journal Title
  
  精密工学会誌
  
  Volume: 75巻 Pages: 1299-1304
- NAID
  130000421525
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[Journal Article] 走査型干渉顕微鏡に内蔵可能な光路差変化量のリアルタイム測定法2008
- Author(s)
  安達正明, 藤本健太, 平野勇輝
- Journal Title
  
  精密工学会誌 74巻
  
  Pages: 1215-219
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[Journal Article] Phase-shift algorithm for white-light interferometry insensitive to linear errors in phase shift2008
- Author(s)
  M. Adachi
- Journal Title
  
  Optical Review Vol.15
  
  Pages: 148-155
- NAID
  10021107040
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[Journal Article] 走査型干渉顕微鏡に内蔵可能な光路差変化量のリアルタイム測定法2008
- Author(s)
  安達正明, 藤本健太, 平野勇輝
- Journal Title
  
  精密工学会誌 74
  
  Pages: 1215-1219
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[Journal Article] Phase-Shift Algori thm for White-Light Interferometry Insensitive to Linear Errors in Phase Shift2008
- Author(s)
  Masaaki Adachi
- Journal Title
  
  Optical Review 15
  
  Pages: 148-155
- NAID
  10021107040
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[Journal Article] Simultaneous measurement of nanometric longitudinal displacement and micrometric lateral displacement by using one line CCD camera2006
- Author(s)
  M. Adachi, Y. Nishide
- Journal Title
  
  Proceeding of SPIE vol.6374
  
  Pages: 1-9
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[Journal Article] Simul taneous measurement of nanometric longitudinal displacement and micrometric lateral displacement by using one line CCD camera2006
- Author(s)
  M.Adachi, Y.Nishide
- Journal Title
  
  Proceeding of SPIE(Optomechatronic Actuators, Manipulation, and Systems Control) 6374
  
  Pages: 637408-1
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[Journal Article] Vertical-scanning profilometry having nanometric height resolution and scanning speed more than 40μm2004
- Author(s)
  Masaaki ADACHI
- Journal Title
  
  Proceedings of SPIE, Optomechatronic Sensor, Actuator, and Control 5602
  
  Pages: 73-82
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-14350129
[Journal Article] Vertical-scanning profilometry having nanometric height resolution and scanning speed more than 40μm/s2004
- Author(s)
  Masaaki Adachi
- Journal Title
  
  Proceedings of SPIE, Optoinechatronic Sensors, Actuators, and Control 5602
  
  Pages: 73-82
- Description
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-14350129
[Journal Article] Vertical-scanning profilometry having nanometric height resolution and scanning speed more than 40μm/s2004
- Author(s)
  M.Adachi
- Journal Title
  
  Proceedings of SPIE 5602
  
  Pages: 73-82
- Description
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-14350129
[Journal Article] High-speed precision-surface profilometry using large phase shifting2003
- Author(s)
  M.Adachi, K.Ueda
- Journal Title
  
  Proceedings of SPIE 5264
  
  Pages: 322-331
- Description
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-14350129
[Journal Article] High-speed precision-surface profilometry using large phase shifting2003
- Author(s)
  M.Adachi, K.Ueda
- Journal Title
  
  Proceedings of SPIE, Optomechatronic Systems IV 5264
  
  Pages: 322-331
- Description
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-14350129
[Journal Article] Vertical-scanning profilometry using double-exposure camera and two short-coherent-light sources of different wavelengths2002
- Author(s)
  M.Adachi, K.Inabe
- Journal Title
  
  Proceedings of SPIE, Optomechatronic Systems III 4902
  
  Pages: 600-607
- Description
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-14350129
[Journal Article] Vertical-scanning profilometry using double-exposure camera and two short-coherent-light sources of different wavelengths2002
- Author(s)
  M.Adachi, K.Inabe
- Journal Title
  
  Proceedings of SPIE 4902
  
  Pages: 600-607
- Description
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-14350129
[Journal Article] Phase-Shift Algorithm for White-Light Interferometry Insensitive to Lin-ear Errors in Phase Shift
- Author(s)
  Masaaki Adachi
- Journal Title
  
  OPTICAL REVIEW (掲載確定)
- NAID
  10021107040
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[Patent] 振動環境下での波長走査を用いた形状計測法及び装置2014
- Inventor(s)
  安達　正明
- Industrial Property Rights Holder
  安達　正明
- Industrial Property Rights Type
  特許
- Filing Date
  2014-02-26
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-24560289
[Presentation] ブロックゲージ表面の乱反射光と波長シフト干渉計を用いる3D形状計測2022
- Author(s)
  安達　正明
- Organizer
  2022年度精密工学会春季大会学術講演会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-20K04196
[Presentation] 鏡面反射光を使わないサブミクロン平面の形状測定(その1)2021
- Author(s)
  安達　正明
- Organizer
  2021年度精密工学会春季大会学術講演会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-20K04196
[Presentation] 激しい空気擾乱にも影響されない波長変更干渉計による３次元形状計測法2015
- Author(s)
  安達正明
- Organizer
  平成２７年度精密工学会春季大会学術講演会
- Place of Presentation
  東洋大学
- Year and Date
  2015-03-17
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-24560289
[Presentation] 振動環境下での波長走査を用いた電子基板の３次元形状計測法2014
- Author(s)
  安達正明，佐々木裕紀
- Organizer
  ２０１４年度精密工学会春季大会
- Place of Presentation
  東京大学
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-24560289
[Presentation] 光軸方向の不規則振動の影響を受けない波長走査応用３次元形状計測法2014
- Author(s)
  安達正明
- Organizer
  平成２６年度精密工学会秋季大会学術講演会
- Place of Presentation
  鳥取大学
- Year and Date
  2014-09-17
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-24560289
[Presentation] 振動環境下で取り込まれた多数枚のスペックル干渉像からの位相抽出2013
- Author(s)
  安達正明，佐々木裕紀
- Organizer
  ２０１３年度精密工学会秋季大会
- Place of Presentation
  関西大学
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-24560289
[Presentation] 振動環境下で撮影された白色干渉像からの高精度形状計測2011
- Author(s)
  安達正明(他2名, 3番目)
- Organizer
  2011年精密工学会秋季大会学術講演会
- Place of Presentation
  金沢大学(石川県)
- Year and Date
  2011-09-22
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[Presentation] 露光中の光路差変化情報を用いた低輝度光源干渉像からの位相抽出の高精度化2010
- Author(s)
  岩尾, 丹羽, 安達
- Organizer
  精密工学会学術講演会秋季大会
- Place of Presentation
  名古屋大学(愛知県)
- Year and Date
  2010-09-27
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[Presentation] 露光中の光路差変化情報を用いた低輝度光源干渉像からの位相抽出の高精度化2010
- Author(s)
  安達正明(他2名, 3番目)
- Organizer
  2010年精密工学会秋季大会学術講演会
- Place of Presentation
  名古屋大学(愛知県)
- Year and Date
  2010-09-27
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[Presentation] 微細段差形状の高速高精度光応用3次元形状測定法2009
- Author(s)
  安達正明
- Organizer
  精密工学会2009年度春期大会学術講演会
- Place of Presentation
  東京
- Year and Date
  2009-03-12
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[Presentation] 微細段差形状の高速高精度光応用3次元形状測定法2009
- Author(s)
  安達正明
- Organizer
  精密工学会春季大会
- Place of Presentation
  中央大学
- Year and Date
  2009-03-12
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[Presentation] 干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直変位測定2009
- Author(s)
  安達, 河村, 岩尾
- Organizer
  精密工学会
- Place of Presentation
  神戸大学(兵庫県)
- Year and Date
  2009-09-11
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[Presentation] 振動環境下で撮影された白色干渉像からの高精度形状計測2009
- Author(s)
  安達正明(他2名, 3番目)
- Organizer
  2009年精密工学会秋季大会学術講演会
- Place of Presentation
  神戸大学(兵庫県)
- Year and Date
  2009-09-11
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[Presentation] 干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直変位測定2009
- Author(s)
  安達正明, 河村昌範, 岩尾雄太
- Organizer
  精密工学会2009 年度春期大会学術講演会
- Place of Presentation
  東京
- Year and Date
  2009-03-12
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[Presentation] 振動環境で利用できる走査型光干渉応用形状計測技術2008
- Author(s)
  安達正明, 平野勇輝, 河村昌範, 岩尾雄太
- Organizer
  精密工学会2008年度秋期大会学術講演会
- Place of Presentation
  仙台
- Year and Date
  2008-09-18
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[Presentation] 顕微鏡内蔵型レーザ変位計の開発2007
- Author(s)
  安達正明, 平野勇輝, 藤本健太, 泉澤俊裕, 五十島一興
- Organizer
  精密工学会
- Place of Presentation
  旭川市
- Year and Date
  2007-09-13
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[Presentation] 顕微鏡内蔵型レ-ザ変位計の開発2007
- Author(s)
  安達正明, 平野勇輝, 藤本健太, 泉澤俊裕, 五十島一興
- Organizer
  精密工学会2007年度秋期大会学術講演会
- Place of Presentation
  旭川
- Year and Date
  2007-10-13
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18560247

1. ENOMOTO Fumihiko (80135045)

# of Collaborated Projects: 2 results

# of Collaborated Products: 0 results
2. AKITA Jyunichi (10303265)

# of Collaborated Projects: 1 results

# of Collaborated Products: 0 results
3. TAKEUCHI Nozomu (20035588)

# of Collaborated Projects: 1 results

# of Collaborated Products: 0 results

ADACHI Masaaki 安達 正明

Research Projects

Research Products

Co-Researchers

精密測定室外でも使える機械部品群の光干渉を応用する３次元高精度形状計測技術の研究Principal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Review Section

Research Institution

Development of 3D-shape measurement technique of an electronic substrate with electronic partsPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

Ultrahigh-precision 3D-shape measurement technique usable under vertical vibrationPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

3D-shape measurement method of a small object vibrating verticallyPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

Vertical-scanning profilometry having nanometric height resolution and high scanning speed using two short-coherent-light sources of different wavelengthsPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

Study of real-time and precision measurement for 2-D deformation amounts of machine toolPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

Waveness Profilometer of Large Optical Parts Insensitive to the Waveness and Roughness of Reference MirrorPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

[Book] 走査型干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直変位測定,光アライアンス2011

Author(s)

Publisher

Data Source

[Journal Article] Phase-Shift Extraction from Twice-Normalized Light Intensity Changes Recorded with Random Phase Shifts2014

Author(s)

Journal Title

NAID

Data Source

[Journal Article] 振動環境下で撮影された干渉像からの高精度位相抽出2011

Author(s)

Journal Title

NAID

Data Source

[Journal Article] 振動環境下で撮影された干渉像からの高精度位相抽出2011

Author(s)

Journal Title

NAID

Data Source

[Journal Article] 振動環境下で撮影された干渉像からの高精度位相抽出2011

Author(s)

Journal Title

NAID

Data Source

[Journal Article] 干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直走査域100μmでの光路差変化の高精度測定2010

Author(s)

Journal Title

NAID

Data Source

[Journal Article] 干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直走査域100μmでの光路差変化の高精度測定2010

Author(s)

Journal Title

NAID

Data Source

ADACHI Masaaki 安達正明