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片岡 憲一  カタオカ ケンイチ

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Researcher Number 50334347
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Affiliation (based on the past Project Information) *help 2005: 東大, 先端科学技術研究センター, 助手
2004: 東京大学, 先端科学技術研究センター, 助手
Review Section/Research Field
Principal Investigator
Electron device/Electronic equipment
Keywords
Principal Investigator
電子デバイス / 半導体デバイス試験 / プロービング / 金属ペースト / 電気的コンタクト / インクジェット / バンプ / 接触抵抗
  • Research Projects

    (1 results)
  • Research Products

    (2 results)
  •  半導体デバイスのプロービングのためのソフトバンププロセスPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      片岡 憲一
    • Project Period (FY)
      2004 – 2005
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
    • Research Field
      Electron device/Electronic equipment
    • Research Institution
      The University of Tokyo

All 2005

All Journal Article

  • [Journal Article] 低接触力プロービングにおけるマイクロ現象(第2報)プローブ材料のコンタクト耐久性への影響2005

    • Author(s)
      片岡憲一, 伊藤寿浩, 須賀唯知
    • Journal Title

      2005年度精密工学会春季大会学術講演会講演論文集

      Pages: 77-78

    • NAID

      130004657634

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16760270
  • [Journal Article] LSIプロービングのためのソフトバンププロセス2005

    • Author(s)
      東海林勇, 片岡憲一, 伊藤寿浩, 須賀唯知
    • Journal Title

      2005年度精密工学会春季大会学術講演会講演論文集

      Pages: 79-80

    • NAID

      130004657644

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16760270

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