片岡憲一カタオカケンイチ

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Researcher Number	50334347
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Affiliation (based on the past Project Information) *help	2005: 東大, 先端科学技術研究センター, 助手 2004: 東京大学, 先端科学技術研究センター, 助手
Review Section/Research Field	Principal Investigator Electron device/Electronic equipment
Keywords	Principal Investigator 電子デバイス / 半導体デバイス試験 / プロービング / 金属ペースト / 電気的コンタクト / インクジェット / バンプ / 接触抵抗

Research Projects
(1 results)
Research Products
(2 results)

半導体デバイスのプロービングのためのソフトバンププロセスPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  片岡憲一
- Project Period (FY)
  2004 – 2005
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
- Research Field
  
  Electron device/Electronic equipment
- Research Institution
  The University of Tokyo

All Journal Article

[Journal Article] 低接触力プロービングにおけるマイクロ現象(第2報)プローブ材料のコンタクト耐久性への影響2005
- Author(s)
  片岡憲一, 伊藤寿浩, 須賀唯知
- Journal Title
  
  2005年度精密工学会春季大会学術講演会講演論文集
  
  Pages: 77-78
- NAID
  130004657634
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16760270
[Journal Article] LSIプロービングのためのソフトバンププロセス2005
- Author(s)
  東海林勇, 片岡憲一, 伊藤寿浩, 須賀唯知
- Journal Title
  
  2005年度精密工学会春季大会学術講演会講演論文集
  
  Pages: 79-80
- NAID
  130004657644
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16760270