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薛 光洙  ソル クアンスー

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薜 光洙  ソル クァンス-

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Researcher Number 60298148
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Affiliation (based on the past Project Information) *help 2005: 理研, 研究員
2003: 独立行政法人理化学研究所, ナノ物質工学研究室, 研究員
2002: 理化学研究所, ナノ物質光学研究室, 研究員
2001: 理化学研究所, ナノ物質工学研究室, 研究員
2000: 理化学研究所, レーザー反応工学研究室, 基礎科学特別研究員
1997: 早稲田大学, 理工学部, 助手
Review Section/Research Field
Principal Investigator
Electron device/Electronic equipment / Electronic materials/Electric materials / 電子デバイス・機器工学
Except Principal Investigator
Electronic materials/Electric materials
Keywords
Principal Investigator
結晶構造制御 / 強誘電体ナノ粒子 / 光学特性 / 電気特性 / 物性 / 単分散 / ナノ粒子 / PZT / 微粒子汚染 / 微粒子サイズ分布 / 低圧微分型静電分級装置 / 微粒子 / プラズマCVD … More
Except Principal Investigator
… More SIMOX / silicon nitride / Ge-doped silica / silicon oxynitride / point defect / photoluminescence / thermal silicon dioxide / silica / フッ素添加SiO_2 / シリコン埋め込み酸化膜 / シリコン熱酸化膜 / シリコン窒化膜 / Ge添加シリカ / シリコン酸化窒化膜 / 点欠陥 / フォトルミネセンス / シリカ熱酸化膜 / シリカ Less
  • Research Projects

    (4 results)
  • Co-Researchers

    (3 People)
  •  相変化材料ナノ粒子を利用した新規相変化メモリデバイス―動作原理の確認Principal Investigator

    • Principal Investigator
      薛 光洙
    • Project Period (FY)
      2005
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
    • Research Field
      Electron device/Electronic equipment
    • Research Institution
      The Institute of Physical and Chemical Research
  •  金属酸化物強誘電体ナノ粒子作製とその物性評価―強誘電材料におけるサイズ効果検証―Principal Investigator

    • Principal Investigator
      薛 光洙
    • Project Period (FY)
      2002 – 2003
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
    • Research Field
      Electronic materials/Electric materials
    • Research Institution
      The Institute of Physical and Chemical Research
  •  低圧微分型静電分級装置によるプラズマ反応器内での微粒子発生機構解明Principal Investigator

    • Principal Investigator
      薛 光洙 (薜 光洙)
    • Project Period (FY)
      2000 – 2001
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
    • Research Field
      電子デバイス・機器工学
    • Research Institution
      The Institute of Physical and Chemical Research
  •  Defect detection and structure analysis in silica thin films by use of photoluminescence

    • Principal Investigator
      OHIKI Yoshimichi
    • Project Period (FY)
      1997 – 1999
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • Research Field
      Electronic materials/Electric materials
    • Research Institution
      Waseda University
  • 1.  OHIKI Yoshimichi (70103611)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 2.  SOTA Takayuki (90171371)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 3.  HAMA Yoshimasa (40063680)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results

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