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HAYASHI Yu-ichi  林 優一

Researcher Number 60551918
Other IDs
  • ORCIDhttps://orcid.org/0000-0002-1160-8156
Affiliation (Current) 2025: 奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 教授
2025: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, 情報・人間工学領域, 招聘研究員
Affiliation (based on the past Project Information) *help 2017 – 2024: 奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 教授
2017: 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 教授
2015 – 2016: 東北学院大学, 工学部, 准教授
2014: 東北大学, 大学院情報科学研究科, 准教授
2012 – 2014: 東北大学, 情報科学研究科, 准教授
2010 – 2011: 東北大学, 大学院・工学研究科, COEフェロー
2009 – 2011: 東北大学, 工学研究科, COEフェロー
Review Section/Research Field
Principal Investigator
Medium-sized Section 60:Information science, computer engineering, and related fields / Information security / Power engineering/Power conversion/Electric machinery / The Information Society and Trust / Theory of informatics
Except Principal Investigator
Basic Section 60070:Information security-related / Basic Section 21010:Power engineering-related / Information security / Power engineering/Power conversion/Electric machinery / Basic Section 21020:Communication and network engineering-related … More / Broad Section J / The Information Society and Trust / Computer system / Communication/Network engineering Less
Keywords
Principal Investigator
サイドチャネル攻撃 / 電磁情報セキュリティ / 電磁環境 / 意図的電磁妨害 / 真正性保証 / 電磁波セキュリティ / 暗号・認証など / 故障利用解析 / 電気接点 / 伝送線路 … More / コネクタ / 相互接続 / 情報システム / 暗号・認証等 / 接触不良 / 電磁的情報漏えい / ハードウェアセキュリティ / 電磁放射 / 暗号・認証 / 環境電磁工学 / 計測セキュリティ / 電子デバイス・機器 / 計算機システム / ディスプレイ / スマートデバイス / 情報セキュリティ / 情報学 / SDN / セキュア通信 / 秘匿通信路 / 秘密鍵共有 / 情報漏洩 / 暗号・セキュリティ / 大規模電磁界計算 / 電磁情報漏えい / 計測工学 … More
Except Principal Investigator
ハードウェアセキュリティ / 電磁情報セキュリティ / 電子デバイス・機器 / 環境電磁工学 / 情報システム / 暗号・認証等 / ハードウェアトロイ / ハードウェアトロージャン / 情報通信システム / 情報セキュリティ / 電磁環境 / 電磁妨害 / 暗号モジュール / イミュニティ / 電磁両立性 / 意図的電磁妨害 / 暗号 / 電磁的情報セキュリティ / 評価基盤 / 電磁波注入攻撃 / 物理攻撃 / 乱数生成器 / 物理乱数生成器 / 物理乱数生成 / CT-Scan / FDTD / 基板の誘電率 / SI/EMI / USBコネクタ / HT検証 / 電気的フィンガープリント / 回路物理量 / ゼロ抑制型決定グラフ / VLSI / 暗号化・復号 / VLSI設計法 / 半導体集積回路 / 電磁波攻撃 / 電磁的情報漏えい / 電磁情報 / 通信トラフィック分析 / 電磁波解析 / プライバシー / IoT / 通信トラヒック分析 / 行動認識 / 連合学習 / 差分プライバシー / トラスト / セキュリティ / IoT (Internet of Things) / 耐タンパー技術 / 計算システム / 計算機システム / 振幅確立分布APD / 通信障害 / インパルス性電磁ノイズ / 電磁的両立性 / 環境電磁工学EMC / 静電気放電ESD / APD(振幅確率分布) / インパルス性電磁波 / 放射特性 / ESD(静電気放電) / 電磁障害 / IEC61000-4-2 / 時間領域測定 / 過渡電磁界 / 広帯域電磁ノイズ / 放射ノイズ / 対策技術 / 障害 / 電磁ノイズ / EMC / 静電気放電 / ESD / VLSIシステム / サイドチャネル攻撃 / 情報漏洩 / 情報漏えい / ICカード / 電磁波セキュリティ / サイドチャネル攻撃耐性 / サイドチャネル攻撃無効化 / サイドチャネル攻撃センサ / 暗号理論 / サイドチャネル解析 / 故障利用解析 / 暗号ハードウェア / 故障利用攻撃 / 電気・電磁環境 / 情報通信工学 / 電気機器工学 / セキュア・ネットワーク / 暗号・セキュリティ Less
  • Research Projects

    (22 results)
  • Research Products

    (346 results)
  • Co-Researchers

    (23 People)
  •  情報機器からの電磁情報漏えいの電磁環境工学的アプローチによる抑制技術

    • Principal Investigator
      曽根 秀昭
    • Project Period (FY)
      2024 – 2026
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Review Section
      Basic Section 21010:Power engineering-related
    • Research Institution
      Tohoku University
  •  20GHz超の帯域おける構造の不連続問題を含む信号線路の信頼性解析と機能評価

    • Principal Investigator
      春日 貴志
    • Project Period (FY)
      2024 – 2026
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Review Section
      Basic Section 21020:Communication and network engineering-related
    • Research Institution
      Nagano National College of Technology
  •  物理層のデータ改ざんに対抗する環境電磁工学的アプローチによる対策基盤の開拓Principal Investigator

    • Principal Investigator
      林 優一
    • Project Period (FY)
      2023 – 2027
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
    • Review Section
      Medium-sized Section 60:Information science, computer engineering, and related fields
    • Research Institution
      Nara Institute of Science and Technology
  •  物理攻撃耐性を有する真性乱数生成基盤技術の開発

    • Principal Investigator
      藤本 大介
    • Project Period (FY)
      2023 – 2026
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • Review Section
      Basic Section 60070:Information security-related
    • Research Institution
      Nara Institute of Science and Technology
  •  電子回路基板レベルハードウェアトロイの脅威分析と対策技術の開拓

    • Principal Investigator
      衣川 昌宏
    • Project Period (FY)
      2022 – 2024
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Review Section
      Basic Section 60070:Information security-related
    • Research Institution
      The University of Fukuchiyama
  •  Development Framework of VLSI Circuits and Systems Free from Hardware Trojans

    • Principal Investigator
      永田 真
    • Project Period (FY)
      2022 – 2026
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
    • Review Section
      Broad Section J
    • Research Institution
      Kobe University
  •  Systematic engineering measures against intentional electromagnetic interference, electromagnetic information emanation, and other electromagnetic security issues

    • Principal Investigator
      曽根 秀昭
    • Project Period (FY)
      2021 – 2024
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Review Section
      Basic Section 21010:Power engineering-related
    • Research Institution
      Tohoku University
  •  Acquiring Resistance against Threats of Information Leakage due to Intentional Electromagnetic Irradiation Exposure to Electronic DevicesPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      Hayashi Yuichi
    • Project Period (FY)
      2021 – 2022
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
    • Review Section
      Medium-sized Section 60:Information science, computer engineering, and related fields
    • Research Institution
      Nara Institute of Science and Technology
  •  Creating trust for IoT devices by analyzing the network and electromagnetic information, and activity recognition

    • Principal Investigator
      Arakawa Yutaka
    • Project Period (FY)
      2019 – 2023
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • Research Field
      The Information Society and Trust
    • Research Institution
      Kyushu University
  •  Advancing Device Design Techniques to Obfuscate the Measurement of Electromagnetic Information LeakagePrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      Hayashi Yuichi
    • Project Period (FY)
      2019 – 2022
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
    • Review Section
      Medium-sized Section 60:Information science, computer engineering, and related fields
    • Research Institution
      Nara Institute of Science and Technology
  •  Establishment of a Trusted Platform at the Physical Layer to Guarantee the Authenticity of Sensing InformationPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      Hayashi Yuichi
    • Project Period (FY)
      2018 – 2020
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • Research Field
      The Information Society and Trust
    • Research Institution
      Nara Institute of Science and Technology
  •  Development of countermeasure methods based on combinations of layered security against fault attacks by intentional electromagnetic interference(Fostering Joint International Research)Principal Investigator

    • Principal Investigator
      Hayashi Yuichi
    • Project Period (FY)
      2017 – 2019
    • Research Category
      Fund for the Promotion of Joint International Research (Fostering Joint International Research)
    • Research Field
      Information security
    • Research Institution
      Nara Institute of Science and Technology
      Tohoku Gakuin University
  •  Systematization of electromagnetic security engineering countermeasure against fault-injection attacks caused by intentional electromagnetic interference

    • Principal Investigator
      Sone Hideaki
    • Project Period (FY)
      2017 – 2020
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • Research Field
      Information security
    • Research Institution
      Tohoku University
  •  Development of Countermeasures against Remote Visualization of Screen Images Using EM Emanation from Smart Devices in Public SpacePrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      Hayashi Yuichi
    • Project Period (FY)
      2016 – 2018
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • Research Field
      Information security
    • Research Institution
      Nara Institute of Science and Technology
      Tohoku Gakuin University
  •  Information-theoretically secure secret key sharing suitable for open flow networksPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      Hayashi Yuichi
    • Project Period (FY)
      2015 – 2017
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
    • Research Field
      Theory of informatics
    • Research Institution
      Nara Institute of Science and Technology
      Tohoku Gakuin University
  •  Comprehensive study on anti-tamper techniques to prevent information leakage by laser fault injection attacks

    • Principal Investigator
      Sakiyama Kazuo
    • Project Period (FY)
      2015 – 2018
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
    • Research Field
      Information security
    • Research Institution
      The University of Electro-Communications
  •  Development of Side-Channel Attack Sensing Techniques and Prototyping toward Electromagnetic Security of Cryptographic VLSI Circuits

    • Principal Investigator
      Nagata Makoto
    • Project Period (FY)
      2014 – 2016
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
    • Research Field
      Computer system
    • Research Institution
      Kobe University
  •  Elucidation of characteristics of ESD electromagnetic noise that seriously hurts electronic equipment and its countermeasure on EMC

    • Principal Investigator
      Kawamata Ken
    • Project Period (FY)
      2014 – 2016
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • Research Field
      Power engineering/Power conversion/Electric machinery
    • Research Institution
      Tohoku Gakuin University
  •  Development of EMC Countermeasure against fault injection based attack and intentional electromagnetic interference

    • Principal Investigator
      SONE Hideaki
    • Project Period (FY)
      2013 – 2015
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • Research Field
      Power engineering/Power conversion/Electric machinery
    • Research Institution
      Tohoku University
  •  Investigation of a Mechanism of Noise Immunity Degradation due to a Contact Failure at Interconnection PartsPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      HAYASHI YUICHI
    • Project Period (FY)
      2013 – 2014
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
    • Research Field
      Power engineering/Power conversion/Electric machinery
    • Research Institution
      Tohoku University
  •  情報通信機器の相互接続部に求められる接触性能要件の解明Principal Investigator

    • Principal Investigator
      林 優一
    • Project Period (FY)
      2010 – 2012
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
    • Research Field
      Power engineering/Power conversion/Electric machinery
    • Research Institution
      Tohoku University
  •  Development of Low-Layer Low-Cost Highly-Secure Communication Protocols

    • Principal Investigator
      SONE Hideaki
    • Project Period (FY)
      2009 – 2011
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
    • Research Field
      Communication/Network engineering
    • Research Institution
      Tohoku University

All 2024 2023 2022 2021 2020 2019 2018 2017 2016 2015 2014 2013 2012 2011 2010 2009 Other

All Journal Article Presentation Book

  • [Book] IoT時代のモバイル端末に求められるハードウェアセキュリティ2017

    • Author(s)
      林優一
    • Total Pages
      9
    • Publisher
      科学情報出版
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Journal Article] 情報基盤を支えるハードウェアセキュリティ技術2024

    • Author(s)
      林優一、藤本大介
    • Journal Title

      電波技術協会誌

      Volume: 2023 Pages: 26-29

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23H00472
  • [Journal Article] ハードウェアセキュリティを実現するEMC設計2023

    • Author(s)
      林優一, 本間尚文, 永田真
    • Journal Title

      科学情報出版 月刊EMC

      Volume: 419 Pages: 189-198

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22H04999
  • [Journal Article] Remote Fault Injection Attack against Cryptographic Modules via Intentional Electromagnetic Interference from an Antenna2023

    • Author(s)
      Nishiyama Hikaru、Fujimoto Daisuke、Hayashi Yuichi
    • Journal Title

      2023 Workshop on Attacks and Solutions in Hardware Security(ASHES 2023)

      Volume: 2023 Pages: 93-102

    • DOI

      10.1145/3605769.3623991

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23H00472
  • [Journal Article] A Method for Extracting Plausible Images From EM Leakage Measured at Low Sampling Rates2023

    • Author(s)
      Kitazawa Taiki、Kubo Hiroyuki、Hayashi Yuichi
    • Journal Title

      2023 IEEE 7th Global Electromagnetic Compatibility Conference

      Volume: 2023 Pages: 34-34

    • DOI

      10.1109/gemccon57842.2023.10078185

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Journal Article] Hardware Supply Chain Security and EM Tricks2023

    • Author(s)
      Nagata Makoto、Homma Naofumi、Hayashi Yuichi
    • Journal Title

      Proceedings of 2023 International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe)

      Volume: - Pages: 1-4

    • DOI

      10.1109/emceurope57790.2023.10274179

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22H04999
  • [Journal Article] Simulation-Based Approach to Generating Golden Data for PCB-Level Hardware Trojan Detection Using Capacitive Sensor2023

    • Author(s)
      Kaji Shugo、Fujimoto Daisuke、Hayashi Yuichi
    • Journal Title

      Proceedings of 2023 IEEE Physical Assurance and Inspection of Electronics (PAINE)

      Volume: - Pages: 1-7

    • DOI

      10.1109/paine58317.2023.10317949

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22H04999
  • [Journal Article] Echo TEMPEST: EM Information Leakage Induced by IEMI for Electronic Devices2023

    • Author(s)
      Kaji Shugo、Fujimoto Daisuke、Kinugawa Masahiro、Hayashi Yuichi
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 2023 Issue: 3 Pages: 1-12

    • DOI

      10.1109/temc.2023.3252636

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104, KAKENHI-PROJECT-21K19772, KAKENHI-PROJECT-22K12031, KAKENHI-PROJECT-22H04999
  • [Journal Article] Improvement of IEMI Fault Injection from Outside Cryptographic Devices2023

    • Author(s)
      Hikaru Nishiyama, Daisuke Fujimoto, Hideaki Sone, Yuichi Hayashi
    • Journal Title

      2023 XXXVth URSI General Assembly and Scientific Symposium (URSI GASS 2023)

      Volume: 2023 Pages: 1-1

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23H00472
  • [Journal Article] Enhanced Modulation Degree of Leakage Wave Induced by IEMI via Nonlinear Circuit Elements2023

    • Author(s)
      Kaji Shugo、Fujimoto Daisuke、Hayashi Yuichi
    • Journal Title

      Proceedings of 2023 IEEE Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMC SIPI)

      Volume: - Pages: 487-487

    • DOI

      10.1109/emcsipi50001.2023.10241593

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22H04999, KAKENHI-PROJECT-23H00472
  • [Journal Article] Introduction to Physical Layer Security and Hardware Supply Chain Security: EM Tricks to Keep Your Information and Devices Safe2023

    • Author(s)
      Hayashi Yuichi、Leferink Frank、Nagata Makoto
    • Journal Title

      Proceedings of 2023 International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe)

      Volume: - Pages: 1-6

    • DOI

      10.1109/emceurope57790.2023.10274206

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22H04999, KAKENHI-PROJECT-23H00472
  • [Journal Article] Evaluation of Statistical Fault Analysis Using Input Timing Violation of Sequential Circuit on Cryptographic Module Under IEMI2023

    • Author(s)
      Fujimoto Daisuke、Okamoto Takumi、Li Yang、Kim Youngwoo、Hayashi Yuichi
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 65 Issue: 1 Pages: 51-57

    • DOI

      10.1109/temc.2022.3215583

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104, KAKENHI-PROJECT-21K19772
  • [Journal Article] Efficient Noninvasive Fault Injection Method Utilizing Intentional Electromagnetic Interference2023

    • Author(s)
      Nishiyama Hikaru、Fujimoto Daisuke、Sone Hideaki、Hayashi Yuichi
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 2023 Issue: 4 Pages: 1-9

    • DOI

      10.1109/temc.2023.3264586

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104, KAKENHI-PROJECT-21K19772, KAKENHI-PROJECT-21K03995
  • [Journal Article] Design of Quick Response (QR) Barcode for Resistance Against Electromagnetic (EM) Information Leakage2022

    • Author(s)
      Hideaki Sone, Daiya Nagata, Yuichi Hayashi, and Takaaki Mizuki
    • Journal Title

      URSI Radio Science Letters

      Volume: 3 Pages: 1-4

    • DOI

      10.46620/21-0053

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K03995, KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Journal Article] Card-Minimal Protocols for Three-Input Functions with Standard Playing Cards2022

    • Author(s)
      Haga Rikuo、Hayashi Yuichi、Miyahara Daiki、Mizuki Takaaki
    • Journal Title

      AFRICACRYPT 2022, Lecture Notes in Computer Science

      Volume: 13503 Pages: 448-468

    • DOI

      10.1007/978-3-031-17433-9_19

    • ISBN
      9783031174322, 9783031174339
    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K11881, KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Journal Article] A Novel Remote Visualization of Screen Images Against High-Resolution Display With Divided Screens Focusing on the Difference of Transfer Function of Multiple Emanations2022

    • Author(s)
      Kitazawa Taiki、Arai Kimihiro、Kim Youngwoo、Fujimoto Daisuke、Hayashi Yuichi
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 64 Issue: 6 Pages: 1941-1948

    • DOI

      10.1109/temc.2022.3204357

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Journal Article] Electromagnetic Side-Channel Analysis Against TERO-Based TRNG2022

    • Author(s)
      Osuka Saki、Fujimoto Daisuke、Kawamura Shinichi、Hayashi Yuichi
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 64 Issue: 5 Pages: 1288-1295

    • DOI

      10.1109/temc.2022.3189372

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Journal Article] Issue of Information Security Degradation Caused by Electromagnetic Emissions and Its Countermeasures2022

    • Author(s)
      Hayashi Yuichi
    • Journal Title

      Journal of The Japan Institute of Electronics Packaging

      Volume: 25 Issue: 4 Pages: 314-320

    • DOI

      10.5104/jiep.25.314

    • ISSN
      1343-9677, 1884-121X
    • Year and Date
      2022-07-01
    • Language
      Japanese
    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Journal Article] TEMPEST attack against high-resolution displays using differences in the transfer function of EM waves2022

    • Author(s)
      Kitazawa Taiki、Kitamura Yoshiki、Kim Yougwoo、Fujimoto Daisuke、Sone Hideaki、Hayashi Yuichi
    • Journal Title

      2022 3rd URSI Atlantic and Asia Pacific Radio Science Meeting

      Volume: 2022 Pages: 1-4

    • DOI

      10.23919/at-ap-rasc54737.2022.9814293

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K19772
  • [Journal Article] Card-Based Secure Sorting Protocol2022

    • Author(s)
      Haga Rikuo、Toyoda Kodai、Shinoda Yuto、Miyahara Daiki、Shinagawa Kazumasa、Hayashi Yuichi、Mizuki Takaaki
    • Journal Title

      IWSEC 2022, Lecture Notes in Computer Science

      Volume: 13504 Pages: 224-240

    • DOI

      10.1007/978-3-031-15255-9_12

    • ISBN
      9783031152542, 9783031152559
    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K11881, KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Journal Article] Analysis of the PDN Induced Crosstalk Impacts on the High-Speed Signaling in Ultra- Thin and High Permittivity Substrates2022

    • Author(s)
      Kitazawa Taiki、Hayashi Yuichi、Fukawa Yoshi、Kim Yougwoo
    • Journal Title

      2022 International Symposium on Electromagnetic Compatibility EMC Europe

      Volume: 2022 Pages: 84-89

    • DOI

      10.1109/emceurope51680.2022.9900949

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Journal Article] Simultaneous Security and EMC Evaluations Based on Measuring Electromagnetic Field Distribution on PCBs2022

    • Author(s)
      Kim Youngwoo、Fujimoto Daisuke、Hayashi Yuichi
    • Journal Title

      IEEE Electromagnetic Compatibility Magazine

      Volume: 11 Issue: 3 Pages: 84-92

    • DOI

      10.1109/memc.2022.9982569

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Journal Article] Design of Suitable Controlled Image for Evaluation of EM Information Leakage2021

    • Author(s)
      D. Nagata, R. Birukawa, Y. Hayashi, T. Mizuki, H. Sone
    • Journal Title

      URSI Radio Science Letters

      Volume: 2 Pages: 1-4

    • DOI

      10.46620/20-0054

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104, KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Journal Article] Measurement and Analysis of Electromagnetic Information Leakage From Printed Circuit Board Power Delivery Network of Cryptographic Devices2021

    • Author(s)
      Wada Shinpei、Hayashi Yuichi、Fujimoto Daisuke、Homma Naofumi、Kim Youngwoo
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 2021 Issue: 5 Pages: 1-11

    • DOI

      10.1109/temc.2021.3062417

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104, KAKENHI-PROJECT-20K14719
  • [Journal Article] Basic Study on a Novel FDTD Method Implemented Frequecy Dispersion of PCB2021

    • Author(s)
      Kitazawa Taiki、Kitahara Ren、Yamagiwa Taiki、Chakarothai Jerdvisanop、Hayashi Yuichi、Kasuga Takashi
    • Journal Title

      2021 IEEE International Joint EMC/SI/PI and EMC Europe Symposium

      Volume: 2021 Pages: 580-580

    • DOI

      10.1109/emc/si/pi/emceurope52599.2021.9559370

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Journal Article] A Fundamental Evaluation of EM Information Leakage Induced by IEMI for a Device with Differential Signaling2021

    • Author(s)
      Kaji Shugo、Fujimoto Daisuke、Kim Youngwoo、Hayashi Yuichi
    • Journal Title

      2021Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 2021 Pages: 1-4

    • DOI

      10.1109/apemc49932.2021.9597081

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Journal Article] Comparison of Pearson correlation coefficient and distance correlation in Correlation Power Analysis on Digital Multiplier2020

    • Author(s)
      Kundrata Jurica、Fujimoto Daisuke、Hayashi Yuichi、Baric Adrijan
    • Journal Title

      2020 43rd International Convention on Information, Communication and Electronic Technology

      Volume: 2020 Pages: 146-151

    • DOI

      10.23919/mipro48935.2020.9245325

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Journal Article] Introduction to Measurement Methods for Electromagnetic Information Security2020

    • Author(s)
      Yuichi Hayashi、William A. Radasky
    • Journal Title

      2020 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity

      Volume: 2020 Pages: 1-1

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Journal Article] Design Considerations for EM Pulse Fault Injection2020

    • Author(s)
      Beckers Arthur、Kinugawa Masahiro、Hayashi Yuichi、Fujimoto Daisuke、Balasch Josep、Gierlichs Benedikt、Verbauwhede Ingrid
    • Journal Title

      International Conference on Smart Card Research and Advanced Applications. Springer

      Volume: 11833 Pages: 176-192

    • DOI

      10.1007/978-3-030-42068-0_11

    • ISBN
      9783030420673, 9783030420680
    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16KK0006
  • [Journal Article] Possibility of Injecting Malicious Instructions from Legitimate Communication Channels by IEMI2020

    • Author(s)
      Kinugawa Masahiro、Hayashi Yuichi
    • Journal Title

      2020 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity

      Volume: 2020 Pages: 527-527

    • DOI

      10.1109/emcsi38923.2020.9191669

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Journal Article] Statistical Eye-Diagram Estimation Method Considering Power/Ground Noise Induced by Simultaneous Switching Output (SSO) Buffers2020

    • Author(s)
      Youngwoo Kim , Daisuke Fujimoto, Shugo Kaji, Shinpei Wada, HyunwookPark, Daehwan Lho, Joungho Kim, and Yuichi Hayashi
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 2020 Issue: 6 Pages: 1-11

    • DOI

      10.1109/temc.2020.2975202

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104, KAKENHI-PROJECT-20K14719
  • [Journal Article] Experimental Study on Measurement Resolution of Side Channel Waveform in Correlation Power Analysis2020

    • Author(s)
      Utsumi Kohei、Hayashi Yu-ichi、Mizuki Takaaki、Sone Hideaki
    • Journal Title

      2020 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC EUROPE

      Volume: 2020 Pages: 1-4

    • DOI

      10.1109/emceurope48519.2020.9245659

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Journal Article] Introduction to Measurement Methods for Electromagnetic Information Security2020

    • Author(s)
      Yuichi Hayashi , William A. Radasky
    • Journal Title

      IEEE EMC+SIPI 2020

      Volume: 2020 Pages: 1-1

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Journal Article] The Source Estimation of Electromagnetic Information Leakage from Information Devices2020

    • Author(s)
      Birukawa Ryota、Nagata Daiya、Hayashi Yu-ichi、Mizuki Takaaki、Sone Hideaki
    • Journal Title

      2020 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC EUROPE

      Volume: 2020 Pages: 1-4

    • DOI

      10.23919/ursigass49373.2020.9231979

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Journal Article] Design and Evaluation of a Spark Gap Based EM-fault Injection Setup2020

    • Author(s)
      Beckers Arthur、Kinugawa Masahiro、Hayashi Yuichi、Balasch Josep、Verbauwhede Ingrid
    • Journal Title

      2020 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity

      Volume: 2020 Pages: 523-526

    • DOI

      10.1109/emcsi38923.2020.9191455

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Journal Article] Measurement on Effect of Controlled Wave Phase in EM Fault Injection Attack2020

    • Author(s)
      Shinoda Yuto、Takenouchi Mitsuki、Hayashi Yu-ichi、Mizuki Takaaki、Sone Hideaki
    • Journal Title

      2020 International Symposium on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 2020 Pages: 1-5

    • DOI

      10.1109/emceurope48519.2020.9245847

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Journal Article] Characterization of EM Faults on ATmega328p2019

    • Author(s)
      Arthur Beckers, Josep Balasch, Benedikt Gierlichs, Saki Osuka, Masahiro Kinugawa, Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi, Ingrid Verbauwhede
    • Journal Title

      2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 99 Pages: 820-823

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16KK0006
  • [Journal Article] Electromagnetic Information Security Demanded by Social Infrastructure Constructed by Information Devices2019

    • Author(s)
      Yuichi Hayashi, William Radasky
    • Journal Title

      2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 99 Pages: 788-788

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16KK0006
  • [Journal Article] Electromagnetic Information Security Threats to Hardware and Their Countermeasures2019

    • Author(s)
      林優一
    • Journal Title

      IEICE ESS Fundamentals Review

      Volume: 13 Issue: 1 Pages: 28-37

    • DOI

      10.1587/essfr.13.1_28

    • NAID

      130007673024

    • ISSN
      1882-0875
    • Year and Date
      2019-07-01
    • Language
      Japanese
    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Journal Article] Method for Identifying Individual Electronic Devices Focusing on Differences in Spectrum Emissions2019

    • Author(s)
      Shugo Kaji, Masahiro Kinugawa, Daisuke Fujimoto, Laurent Sauvage, Jean-Luc Danger, Yuichi Hayashi
    • Journal Title

      2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 2019 Pages: 670-670

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Journal Article] Introduction to Electromagnetic Information Security2019

    • Author(s)
      Y. Hayashi, N. Homma
    • Journal Title

      IEICE Trans. Commun.

      Volume: E102.B Issue: 1 Pages: 40-50

    • DOI

      10.1587/transcom.2018EBI0001

    • NAID

      130007541994

    • ISSN
      0916-8516, 1745-1345
    • Year and Date
      2019-01-01
    • Language
      English
    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Journal Article] Electromagnetic Information Extortion from Electronic Devices Using Interceptor and Its Countermeasure2019

    • Author(s)
      Masahiro Kinugawa, Daisuke Fujimoto and Yuichi Hayashi
    • Journal Title

      IACR Transactions on Cryptographic Hardware and Embedded Systems (TCHES)

      Volume: 2019 Pages: 62-90

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Journal Article] Fundamental Study on Influence of Intentional Electromagnetic Interference on IC Communication2019

    • Author(s)
      Hikaru Nishiyama, Takumi Okamoto, Kim Young Woo, Daisuke Fujimoto and Yuichi Hayashi
    • Journal Title

      2019 12th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo)

      Volume: 2019 Pages: 201-203

    • DOI

      10.1109/emccompo.2019.8919838

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Journal Article] Fundamental Study on Randomness Evaluation Method of RO-Based TRNG Using APD2019

    • Author(s)
      Saki Osuka, Daisuke Fujimoto, Naofumi Homma, Arthur Beckers, Josep Balasch, Benedikt Gierlichs, Ingrid Verbauwhede, Yuichi Hayashi
    • Journal Title

      2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 99 Pages: 244-244

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16KK0006
  • [Journal Article] Fundamental Study on the Effects of Connector Torque Value on the Change of Inductance at the Contact Boundary2019

    • Author(s)
      Daisuke FUJIMOTO, Takashi NARIMATSU, Yuichi HAYASHI
    • Journal Title

      IEICE Trans. Electron.

      Volume: E102.C Issue: 9 Pages: 636-640

    • DOI

      10.1587/transele.2019EMP0005

    • NAID

      130007699870

    • ISSN
      0916-8524, 1745-1353
    • Year and Date
      2019-09-01
    • Language
      English
    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050, KAKENHI-PROJECT-18K18050
  • [Journal Article] Statistical Analysis of Simultaneous Switching Output (SSO) Impacts on Steady State Output Responses and Signal Integrity2019

    • Author(s)
      Young Woo Kim, Daisuke Fujimoto, Hikaru Nishiyama, Daehwan Lho, Hyunwook Park, Joungho Kim and Yuichi Hayashi
    • Journal Title

      2019 12th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo)

      Volume: 2019 Pages: 138-140

    • DOI

      10.1109/emccompo.2019.8919652

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Journal Article] A Method for Distinguishing Faulty Bytes in Cryptographic Device Using EM Information Leakage2019

    • Author(s)
      Mitsuki Takenouchi, Naoto Saga, Yuichi Hayashi, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone
    • Journal Title

      2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 99 Pages: 669-669

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16KK0006
  • [Journal Article] Evaluation for Effect of Transient Electromagnetic Fields on Processing inside ICs based on Observation of Timing Violation2018

    • Author(s)
      中村 紘, 林優一
    • Journal Title

      IEEJ Transactions on Fundamentals and Materials

      Volume: 138 Issue: 6 Pages: 309-315

    • DOI

      10.1541/ieejfms.138.309

    • NAID

      130007382616

    • ISSN
      0385-4205, 1347-5533
    • Year and Date
      2018-06-01
    • Language
      Japanese
    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Journal Article] EM Information Security Threats Against RO-Based TRNGs: The Frequency Injection Attack Based on IEMI and EM Information Leakage2018

    • Author(s)
      S. Osuka, D. Fujimoto, Y. Hayashi, N. Homma, A. Beckers, J. Balasch, B. Gierlichs and I. Verbauwhede
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 99 Issue: 4 Pages: 1-7

    • DOI

      10.1109/temc.2018.2844027

    • NAID

      130007887912

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Journal Article] Secret Key Amplification from Uniformly Leaked Key Exchange Complete Graph2018

    • Author(s)
      Sasaki Tatsuya、Agbor Bateh Mathias、Masuda Shingo、Hayashi Yu-ichi、Mizuki Takaaki、Sone Hideaki
    • Journal Title

      Algorithms and Computation (WALCOM 2018), Lecture Notes in Computer Science, Springer

      Volume: 10755 Pages: 20-31

    • DOI

      10.1007/978-3-319-75172-6_3

    • ISBN
      9783319751719, 9783319751726
    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K11983
  • [Journal Article] Data Injection Attack Against Electronic Devices With Locally Weakened Immunity Using a Hardware Trojan2018

    • Author(s)
      S. Kaji, M. Kinugawa, D. Fujimoto, and Y. Hayashi
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 99 Issue: 4 Pages: 1-7

    • DOI

      10.1109/temc.2018.2849105

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Journal Article] A 286F^2/Cell Distributed Bulk-Current Sensor and Secure Flush Code Eraser Against Laser Fault Injection Attack2018

    • Author(s)
      Kohei Matsuda, Tatsuya Fujii, Natsu Shoji, Takeshi Sugawara, Kazuo Sakiyama, Yu-ichi Hayashi, Makoto Nagata, and Noriyuki Miura
    • Journal Title

      Dig. Tech. Papers, 2018 IEEE Intl. Solid-State Circuits Conference (ISSCC’18)

      Volume: 2018 Pages: 352-353

    • DOI

      10.1109/isscc.2018.8310329

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01688
  • [Journal Article] Noise Monitoring Method Inside IC using Full-digital Circuits under Actual Environment2018

    • Author(s)
      藤本大介, 林優一
    • Journal Title

      IEEJ Transactions on Fundamentals and Materials

      Volume: 138 Issue: 6 Pages: 335-340

    • DOI

      10.1541/ieejfms.138.335

    • NAID

      130007382648

    • ISSN
      0385-4205, 1347-5533
    • Year and Date
      2018-06-01
    • Language
      Japanese
    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Journal Article] Enhancing Reactive Countermeasure against EM Attacks with Low Overhead2017

    • Author(s)
      Daisuke Ishihata, Naofumi Homma, Yu-ichi Hayashi, Noriyuki Miura, Daisuke Fujimoto, Makoto Nagata, Takafumi Aoki
    • Journal Title

      Proceedings of the 2017 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility

      Volume: EMC 2017

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26240005
  • [Journal Article] Hardware Security for Information/Communication Devices2017

    • Author(s)
      Yuichi Hayashi, Jong-Gwan Yook, William A. Radasky
    • Journal Title

      2017 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility

      Volume: - Pages: 92-92

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Journal Article] Protecting cryptographic integrated circuits with side-channel information2017

    • Author(s)
      Makoto Nagata, Daisuke Fujimoto, Noriyuki Miura, Naofumi Homma, Yu-ichi Hayashi, Kazuo Sakiyama
    • Journal Title

      IEICE Electron. Express

      Volume: 14 Issue: 2 Pages: 20162005-20162005

    • DOI

      10.1587/elex.14.20162005

    • NAID

      130005300523

    • ISSN
      1349-2543
    • Language
      English
    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26240005
  • [Journal Article] Enhancement of Reactive Countermeasure against Side‐Channel Attacks with Microprobing2017

    • Author(s)
      Daisuke Ishihata, Naofumi Homma, Yu‐ichi Hayashi, Noriyuki Miura, Daisuke Fujimoto, Makoto Nagata,Takafumi Aoki
    • Journal Title

      Proceedings of the 25th International Workshop on Post-Binary ULSI Systems

      Volume: N.A. Pages: 28-32

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26240005
  • [Journal Article] Remote Visualization of Screen Images Using a Pseudo-Antenna that Blends into the Mobile Environment2017

    • Author(s)
      Yu-ichi Hayashi, Naofumi Homma, Yohei Toriumi, Kazuhiro Takaya, Takafumi Aoki
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 59 Issue: 1 Pages: 24-33

    • DOI

      10.1109/temc.2016.2594237

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Journal Article] Information Leakage Threats for Cryptographic Devices Using IEMI and EM Emission2017

    • Author(s)
      Ko Nakamura, Yuichi Hayashi, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 印刷中 Issue: 5 Pages: 1-8

    • DOI

      10.1109/temc.2017.2766139

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831, KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Journal Article] Evaluation of EM Information Leakage caused by IEMI with Hardware Trojan2017

    • Author(s)
      衣川昌宏, 林優一, 森達哉
    • Journal Title

      IEEJ Transactions on Fundamentals and Materials

      Volume: 137 Issue: 3 Pages: 153-157

    • DOI

      10.1541/ieejfms.137.153

    • NAID

      130005398451

    • ISSN
      0385-4205, 1347-5533
    • Language
      Japanese
    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Journal Article] Introduction to a Special Session on EMC and Information Security2016

    • Author(s)
      Yu-ichi Hayashi and Jong-Gwan Yook
    • Journal Title

      Proceedings of URSI Asia-Pacific Radio Science Conference (URSI AP-RASC’16)

      Volume: - Pages: 1275-1276

    • DOI

      10.1109/ursiap-rasc.2016.7601329

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01688, KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Journal Article] Introduction to EM Information Leakage from Commercial Devices and Its Countermeasure2016

    • Author(s)
      Yuichi Hayashi, William. A. Radasky,
    • Journal Title

      2016 Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 2016

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Journal Article] Circuit-Level Information Leakage Prevention for Fault Detection2016

    • Author(s)
      Kazuo Sakiyama, Reina Yagasaki, Takanori Machida, Tatsuya Fujii, Noriyuki Miura, and Yu-ichi Hayashi
    • Journal Title

      Proceedings of URSI Asia-Pacific Radio Science Conference (URSI AP-RASC’16)

      Volume: - Pages: 1-4

    • DOI

      10.1109/ursiap-rasc.2016.7601328

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01688
  • [Journal Article] State-of-the-art research on electromagnetic information security2016

    • Author(s)
      Yu-ichi Hayashi
    • Journal Title

      Radio Science

      Volume: 41 Issue: 7 Pages: 1213-1219

    • DOI

      10.1002/2016rs006034

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01688, KAKENHI-PROJECT-26240005, KAKENHI-PROJECT-26289078
  • [Journal Article] 同軸コネクタ接触不良部におけるインダクタンス値の定量的評価2016

    • Author(s)
      佐藤友哉,林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Journal Title

      電気学会論文誌A

      Volume: vol. 136, no.6 Pages: 347-352

    • NAID

      130005155076

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26289078
  • [Journal Article] Physical Authentication Using Side-Channel Information2016

    • Author(s)
      Kazuo Sakiyama, Momoka Kasuya, Takanori Machida, Arisa Matsubara, Yunfeng Kuai, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki, Noriyuki Miura,Makoto Nagata
    • Journal Title

      Proceedings of the IEEE International Conference on Information and Communication Technology

      Volume: ICoICT 2016 Pages: 1-6

    • DOI

      10.1109/icoict.2016.7571953

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26240005, KAKENHI-PROJECT-15K12035
  • [Journal Article] On-Chip Substrate-Bounce Monitoring for Laser-Fault Countermeasure2016

    • Author(s)
      Kohei Matsuda, Noriyuki Miura, Makoto Nagata, Yu-ichi Hayashi, Tatsuya Fujii, and Kazuo Sakiyama
    • Journal Title

      Proceedings of 2016 IEEE Asian Hardware-Oriented Security and Trust (AsianHOST'16)

      Volume: - Pages: 1-6

    • DOI

      10.1109/asianhost.2016.7835565

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01688
  • [Journal Article] At-Product-Test Dedicated Adaptive Supply-Resonance Suppression2015

    • Author(s)
      Kohki Taniguchi, Noriyuki Miura, Taisuke Hayashi, Makoto Nagata
    • Journal Title

      Proceedings of 2015 IEEE 33rd VLSI Test Symposium

      Volume: 33 Pages: 127-130

    • DOI

      10.1109/vts.2015.7116273

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26240005
  • [Journal Article] A DPA/DEMA/LEMA-Resistant AES Cryptographic Processor with Supply-Current Equalizer and Micro EM Probe Sensor2015

    • Author(s)
      Daisuke Fujimoto, Noriyuki Miura, Yu-ichi Hayashi, Naofumi Homma, Takafumi Aoki, Makoto Nagata
    • Journal Title

      Proceedings of the 2015 20th Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)

      Volume: 20 Pages: 26-27

    • DOI

      10.1109/aspdac.2015.7058929

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26240005
  • [Journal Article] EM Attack Sensor: Concept, Circuit, and Design-Automation Methodology (Invited)2015

    • Author(s)
      Noriyuki Miura, Daisuke Fujimoto, Makoto Nagata, Naofumi Homma, Yuichi Hayashi, Takafumi Aoki
    • Journal Title

      Proceedings of ACM Design Automation Conference 2015

      Volume: 52 Pages: 1-6

    • DOI

      10.1145/2744769.2747923

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26240005
  • [Journal Article] Fundamental Study on a Mechanism of Faulty Outputs from Cryptographic Modules due to IEMI2015

    • Author(s)
      林優一, 本間尚文, 水木敬明, 青木孝文, 曽根秀昭
    • Journal Title

      IEEJ Transactions on Fundamentals and Materials

      Volume: 135 Issue: 5 Pages: 276-281

    • DOI

      10.1541/ieejfms.135.276

    • NAID

      130005068006

    • ISSN
      0385-4205, 1347-5533
    • Language
      Japanese
    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Journal Article] 暗号モジュールに対する意図的な電磁妨害による故障発生メカニズムに関する基礎的検討2015

    • Author(s)
      林優一, 本間尚文, 水木敬明, 青木孝文, 曽根秀昭
    • Journal Title

      電気学会論文誌A

      Volume: Vol.135, no.5 Pages: 276-281

    • NAID

      130005068006

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26289078
  • [Journal Article] Basic Study on the Method for Real-Time Video Streaming with Low Latency and High Bandwidth Efficiency2015

    • Author(s)
      S. Ando, Y. Hayashi, T. Mizuki, H. Sone
    • Journal Title

      Proceeding of COMPSAC WorkShop MidCCI

      Volume: 15476051 Pages: 79-82

    • DOI

      10.1109/compsac.2015.217

    • NAID

      110009971309

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K11983
  • [Journal Article] Efficient Electromagnetic Analysis for Cryptographic Module on the Frequency Domain2015

    • Author(s)
      林優一, 本間尚文, 水木敬明, 青木孝文, 曽根秀昭
    • Journal Title

      IEEJ Transactions on Fundamentals and Materials

      Volume: 135 Issue: 9 Pages: 515-521

    • DOI

      10.1541/ieejfms.135.515

    • NAID

      130005096915

    • ISSN
      0385-4205, 1347-5533
    • Language
      Japanese
    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26240005, KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Journal Article] Design Methodology and Validity Verification for a Reactive Countermeasure against EM Attacks2015

    • Author(s)
      Naofumi Homma, Yu-ichi Hayashi, Noriyuki Miura, Daisuke Fujimoto, Makoto Nagata, and Takafumi Aoki
    • Journal Title

      Journal of Cryptology

      Volume: TBD Issue: 2 Pages: 1-19

    • DOI

      10.1007/s00145-015-9223-3

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26240005
  • [Journal Article] (招待記事) 意図的な電磁妨害による暗号機器からの情報漏えい (IoT/CPS 時代の電磁波セキュリティ)2015

    • Author(s)
      林優一, 本間尚文, 青木孝文, 曽根秀昭
    • Journal Title

      電磁環境工学情報EMC, 科学情報出版

      Volume: no. 331 Pages: 41-48

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26289078
  • [Journal Article] Securely Computing Three-Input Functions with Eight Cards2015

    • Author(s)
      Takuya Nishida, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki, and Hideaki Sone
    • Journal Title

      IEICE Trans. Fundamentals

      Volume: E98.A Issue: 6 Pages: 1145-1152

    • DOI

      10.1587/transfun.E98.A.1145

    • NAID

      130005071832

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • Language
      English
    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26330001, KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Journal Article] Side-Channel Leakage on Silicon Substrate of CMOS Cryptographic Chip2014

    • Author(s)
      Daisuke Fujimoto, Daichi Tanaka, Noriyuki Miura, Makoto Nagata, Yu-ichi Hayashi, Naofumi Homma, Shivam Bhasin, Jean-Luc Danger
    • Journal Title

      Proceedings of the 2014 IEEE International Symposium on Hardware-Oriented Security and Trust (HOST)

      Volume: 2014 Pages: 32-37

    • DOI

      10.1109/hst.2014.6855564

    • NAID

      110009925258

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26240005
  • [Journal Article] Efficient Method for Estimating Propagation Area of Information Leakage via EM Field2014

    • Author(s)
      Y. Hayashi, N. Homma, T. Mizuki, T. Aoki, H. Sone
    • Journal Title

      Proceedings of 2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility,Tokyo

      Volume: 14P2-A1 Pages: 301-304

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25820098
  • [Journal Article] Investigation of Noise Interference due to Connector Contact Failure in a Coaxial Cable2014

    • Author(s)
      Y. Hayashi, T. Mizuki and H. Sone
    • Journal Title

      IEICE Trans. Electron.

      Volume: E97.C Issue: 9 Pages: 900-903

    • DOI

      10.1587/transele.E97.C.900

    • NAID

      130004685411

    • ISSN
      0916-8524, 1745-1353
    • Language
      English
    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068, KAKENHI-PROJECT-25820098
  • [Journal Article] Integrated-Circuit Countermeasures Against Information Leakage Through EM Radiation2014

    • Author(s)
      Noriyuki Miura, Daisuke Fujimoto, Yu-ichi Hayashi, Naofumi Homma, Takafumi Aoki, Makoto Nagata
    • Journal Title

      Proceedings of the 2014 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC)

      Volume: 2014 Pages: 748-751

    • DOI

      10.1109/isemc.2014.6899068

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26240005
  • [Journal Article] Local EM-Analysis Attack Resistant Cryptographic Engine with Fully-Digital Oscillator-Based Tamper-Access Sensor2014

    • Author(s)
      Noriyuki Miura, Daisuke Fujimoto, Daichi Tanaka, Yu-ichi Hayashi, Naofumi Homma, Takafumi Aoki, Makoto Nagata
    • Journal Title

      Digest of Technical Papers, IEEE 2014 Symposium on VLSI Circuits

      Volume: 2014 Pages: 172-173

    • DOI

      10.1109/vlsic.2014.6858423

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26240005
  • [Journal Article] Simulation-based Analysis of Inductance at Loose Connector Contact Boundaries2014

    • Author(s)
      T. Sato, Y. Hayashi, T. Mizuki, H. Sone,
    • Journal Title

      Proceedings of ICEC 2014; The 27th International Conference on Electrical Contacts

      Volume: 1 Pages: 1-4

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25820098
  • [Journal Article] EM Attack Is Non-invasive? - Design Methodology and Validity Verification of EM Attack Sensor2014

    • Author(s)
      Naofumi Homma, Yu-ichi Hayashi, Noriyuki Miura, Daisuke Fujimoto, Daichi Tanaka, Makoto Nagata, Takafumi Aoki
    • Journal Title

      Cryptographic Hardware and Embedded Systems; CHES 2014

      Volume: LNCS 8731 Pages: 1-6

    • DOI

      10.1007/978-3-662-44709-3_1

    • ISBN
      9783642387081, 9783642387098
    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26240005
  • [Journal Article] Effect of Connector Contact Points on Common-Mode Current on a Coaxial Transmission Line2013

    • Author(s)
      Yu-ichi Hayashi
    • Journal Title

      IEEJ Transactions on Fundamentals and Materials

      Volume: 印刷中

    • NAID

      10031166945

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22760204
  • [Journal Article] Evaluation of Resistance and Inductance of Loose Connector Contact2013

    • Author(s)
      Kazuya Uehara, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki and Hideaki Sone
    • Journal Title

      IEICE Trans. Electron.

      Volume: E96.C Issue: 9 Pages: 1148-1150

    • DOI

      10.1587/transele.E96.C.1148

    • NAID

      130003370467

    • ISSN
      0916-8524, 1745-1353
    • Language
      English
    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25820098
  • [Journal Article] Analysis of Magnetic Field Distribution around Connector with Contact Failure2012

    • Author(s)
      Yu-ichi Hayashi
    • Journal Title

      IEEJ Transactions on Fundamentals and Materials

      Volume: 132 Issue: 6 Pages: 417-420

    • DOI

      10.1541/ieejfms.132.417

    • NAID

      10030605268

    • ISSN
      0385-4205, 1347-5533
    • Language
      English
    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22760204
  • [Journal Article] Influence of PCB and Attached Line of Hardware on Electromagnetic (EM) Information Leakage2012

    • Author(s)
      林優一, 大村孔平, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Journal Title

      IEEJ Transactions on Fundamentals and Materials

      Volume: 132 Issue: 2 Pages: 173-179

    • DOI

      10.1541/ieejfms.132.173

    • NAID

      10030523917

    • ISSN
      0385-4205, 1347-5533
    • Language
      Japanese
    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22760204
  • [Journal Article] Contact Conditions in Connectors that Cause Common Mode Radiation2011

    • Author(s)
      Yu-ichi Hayashi, Yoshiki Kayano, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone, Hiroshi Inoue
    • Journal Title

      IEICE Trans. Electron.

      Volume: E94-C Issue: 9 Pages: 1369-1374

    • DOI

      10.1587/transele.E94.C.1369

    • NAID

      10030189376

    • ISSN
      0916-8524, 1745-1353
    • Language
      English
    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21656096
  • [Journal Article] Analysis of Electromagnetic Radiation from Transmission Line with Loose Contact of Connector2011

    • Author(s)
      Y.Hayashi, T.Mizuki, H.Sone
    • Journal Title

      IEICE Trans. Electron.

      Volume: E94-C Issue: 9 Pages: 1427-1430

    • DOI

      10.1587/transele.E94.C.1427

    • NAID

      10030189472

    • ISSN
      0916-8524, 1745-1353
    • Language
      English
    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22760204
  • [Journal Article] A Contact Conditions in Connectors that Cause Common Mode Radiation, IEICE Trans2011

    • Author(s)
      Yu-ichi Hayashi, Yoshiki Kayano, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone, and Hiroshi Inoue
    • Journal Title

      Electronics

      Volume: E94-C Pages: 1369-1374

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21656096
  • [Journal Article] Suppression of Information Leakage from Electronic Devices Based on SNR2011

    • Author(s)
      Taishi Ikematsu, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki, Naofumi Homma, Takafumi Aoki, and Hideaki Sone
    • Journal Title

      IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility 2011

      Pages: 920-924

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21656096
  • [Journal Article] Suppression of Information Leakage from Electronic Devices Based on SNR2011

    • Author(s)
      Taishi Ikematsu, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki, Naofumi Homma, Takafumi Aoki, Hideaki Sone
    • Journal Title

      IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility 2011

      Pages: 920-924

    • DOI

      10.1109/isemc.2011.6038440

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21656096
  • [Journal Article] アース線の非接地が情報漏えいに与える影響の測定2010

    • Author(s)
      衣川昌宏, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Journal Title

      電子情報通信学会論文誌B

      Volume: J93-B Pages: 1559-1561

    • NAID

      110007880159

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21656096
  • [Journal Article] Modeling Connector Contact Condition Using a Contact Failure Model with Equivalent Inductance2010

    • Author(s)
      Yuichi Hayashi, Songping Wu, Jun Fan, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone
    • Journal Title

      IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility 2010

      Pages: 743-747

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21656096
  • [Journal Article] Modeling Connector Contact Condition Using a Contact Failure Model with Equivalent Inductance2010

    • Author(s)
      Yu-ichi Hayashi, Songping Wu, Jun Fan, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone
    • Journal Title

      IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility 2010 (未定, accepted)

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21656096
  • [Journal Article] Modeling Connector Contact Condition Using a Contact Failure Model with Equivalent Inductance2010

    • Author(s)
      Yu-ichi Hayashi, Songping Wu, Jun Fan, Takaaki Mizuki, and Hideaki Sone
    • Journal Title

      IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility 2010

      Pages: 43-747

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21656096
  • [Presentation] 誤り検出符号と振幅分布に着目した漏えい電磁波からのビット列復元に関する基礎検討2024

    • Author(s)
      阿部 虹稀, 北澤太基, 藤本 大介, 林優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会 (HWS)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23H00472
  • [Presentation] 裏面電圧故障注入による攻撃精度評価2024

    • Author(s)
      林 佑亮, 長谷川 陸宇, 弘原海 拓也, 門田 和樹, 三木 拓司, 永田 真
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22H04999
  • [Presentation] 複数の復調方式を用いた漏えい電磁波からの音情報復元に関する基礎検討2023

    • Author(s)
      北澤太基, 高野誠也, 林優一
    • Organizer
      電子情報通信学会 環境電磁工学研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] 意図的電磁照射によるスピーカーフォンからの電磁情報漏えいの脅威と対策時に求められる指標の提案2023

    • Author(s)
      高野誠也, 林優一
    • Organizer
      電子情報通信学会 ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] 複数の位相同期回路を用いた暗号モジュールへの故障注入の抑制手法に関する検討2023

    • Author(s)
      西山輝, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティフォーラム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23H00472
  • [Presentation] 相同期回路の周波数逓倍比が暗号モジュールへの故障注入に与える影響に関する基礎検討2023

    • Author(s)
      西山輝, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      電磁環境工学研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K28087
  • [Presentation] Remote Fault Injection Attack against Cryptographic Modules via Intentional Electromagnetic Interference from an Antenna2023

    • Author(s)
      Hikaru Nishiyama, Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi
    • Organizer
      the 2023 Workshop on Attacks and Solutions in Hardware Security
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K28087
  • [Presentation] 位相同期回路へのグリッチ注入に基づく故障利用解析の基礎検討2023

    • Author(s)
      西山輝, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会 (HWS)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23H00472
  • [Presentation] 暗号ICチップの電磁的故障注入攻撃における解析手法の検討2023

    • Author(s)
      林 佑亮, 長谷川 陸宇, 弘原海 拓也, 門田 和樹, 三木 拓司, 永田 真
    • Organizer
      電子情報通信学会・ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22H04999
  • [Presentation] パルス波による意図的な電磁妨害が暗号モジュールに与える影響の評価2023

    • Author(s)
      西山 輝, 林 優一
    • Organizer
      電気学会 電磁環境研究会, EMC-23-001
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K03995
  • [Presentation] ROベースのTRNGに対する振幅確率分布を用いた乱数性評価手法2023

    • Author(s)
      尾崎慧一, 藤本大介, 大須賀彩希, 川村信一, 林優一
    • Organizer
      2023年 暗号と情報セキュリティシンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] スイッチングレギュレータからのバックスキャッタリングに着目したサイドチャネル攻撃に関する基礎検討2023

    • Author(s)
      北澤太基, 鍛治秀伍, 藤本大介, 林 優一
    • Organizer
      環境電磁工学研究会 (EMCJ)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23H00472
  • [Presentation] Mathematics of Electromagnetic Information Leakage Including Modern Cryptography2023

    • Author(s)
      Yuichi Hayashi
    • Organizer
      Mathematics of Security Analysis for Modern Cryptography
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23H00472
  • [Presentation] 裏面電圧故障注入を用いた差分故障解析による秘密鍵導出2023

    • Author(s)
      林 佑亮, 長谷川 陸宇, 弘原海 拓也, 門田 和樹, 三木 拓司, 永田 真
    • Organizer
      電子情報通信学会・集積回路研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22H04999
  • [Presentation] 漏えい電磁波に含まれる符号化された情報の復元に関する基礎検討2023

    • Author(s)
      阿部虹稀, 北澤太基, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      2023年電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23H00472
  • [Presentation] Sパラメタを用いたEcho TEMPESTの漏えい周波数抽出法に関する検討2023

    • Author(s)
      近藤 嵩之, 鍛治 秀伍, 藤本 大介, 林 優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティフォーラム2023
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22H04999
  • [Presentation] ROベースのTRNGに対する振幅確率分布を用いた乱数性評価手法2023

    • Author(s)
      尾崎慧一, 藤本大介, 大須賀彩希, 川村信一, 林優一
    • Organizer
      2023年 暗号と情報セキュリティシンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K19772
  • [Presentation] Detecting Hardware Trojans on Inter-IC Serial Data Links Through Capacitance Sensors2023

    • Author(s)
      Masahiro Kinugawa, Yuichi Hayashi
    • Organizer
      2023 IEEE Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMC+SIPI)
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K12031
  • [Presentation] 漏えいと妨害電磁波を用いた暗号モジュールに対する統計故障解析2023

    • Author(s)
      西山輝, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      2023年 暗号と情報セキュリティシンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K19772
  • [Presentation] 計測過程におけるノイズや伝達特性の影響を考慮した深層学習を用いたサイドチャネル解析手法の検討2023

    • Author(s)
      北村圭輝, 北澤太基, 林優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会 (HWS)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23H00472
  • [Presentation] 意図的な電磁波照射に対するカメラシステムのイミュニティ評価2023

    • Author(s)
      田中美優, 藤本大介, 林 優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会 (HWS)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23H00472
  • [Presentation] 意図的な電磁波照射に対するカメラシステムのイミュニティ評価2023

    • Author(s)
      田中美優, 藤本大介, 林 優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K28087
  • [Presentation] Improvement of IEMI Fault Injection from Outside Cryptographic Devices2023

    • Author(s)
      Nishiyama, Hikaru; Hayashi, Yuichi; Fujimoto, Daisuke; Hideaki, Sone
    • Organizer
      2023 XXXVth General Assembly and Scientific Symposium of the International Union of Radio Science (URSI GASS), 2023
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K03995
  • [Presentation] 漏えい電磁波に含まれる符号化された情報に対する復元と外来雑音による影響の考察2023

    • Author(s)
      阿部 虹稀, 藤本 大介, 林優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティフォーラム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23H00472
  • [Presentation] 複数の変調方式を用いた意図的電磁照射により生ずる漏えい音情報の高精度な復元法に関する検討2023

    • Author(s)
      近藤 嵩之, 北澤 太基, 鍛治 秀伍, 藤本 大介, 林 優一
    • Organizer
      電子情報通信学会・ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22H04999
  • [Presentation] Introduction to Emission Security, TEMPEST, Physical Layer Security, Side Channel Attack2023

    • Author(s)
      Yuichi Hayashi
    • Organizer
      EMC Europe 2023
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23H00472
  • [Presentation] A Fundamental Study on Effect of Transfer Characteristics of Side-Channel Waveform in Correlation Power Analysis2023

    • Author(s)
      Hideaki, Sone; Hayashi, Yuichi
    • Organizer
      2023 XXXVth General Assembly and Scientific Symposium of the International Union of Radio Science (URSI GASS), 2023
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K03995
  • [Presentation] 漏えいと妨害電磁波を用いた暗号モジュールに対する統計故障解析2023

    • Author(s)
      西山輝, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      2023年 暗号と情報セキュリティシンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] 裏面電圧故障注入を用いた差分故障解析による攻撃実現性の検討2023

    • Author(s)
      林 佑亮, 長谷川 陸宇, 弘原海 拓也, 門田 和樹, 三木 拓司, 永田 真
    • Organizer
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22H04999
  • [Presentation] 位相同期回路へのグリッチ注入に基づく故障利用解析の基礎検討2023

    • Author(s)
      西山輝, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K28087
  • [Presentation] 位相同期回路の周波数逓倍比が暗号モジュールへの故障注入に与える影響に関する基礎検討2023

    • Author(s)
      西山輝, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      環境電磁工学研究会 (EMCJ)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23H00472
  • [Presentation] Board-Level Hardware Trojan Detection Using on-Chip Touch Sensor2022

    • Author(s)
      Masahiro Kinugawa, Yuichi Hayashi
    • Organizer
      2022 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC Europe
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K12031
  • [Presentation] Information Protection of Screen Image against Electromagnetic Information Leakage2022

    • Author(s)
      Hideaki Sone, Yuichi Hayashi
    • Organizer
      2022 URSI-Japan Radio Science Meeting (URSI-JRSM 2022)
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] ハードウェアサプライチェーンにおけるセキュリティ脅威と対策2022

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      EMCシンポジウムIIDA2022
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22H04999
  • [Presentation] 意図的な電磁妨害により生ずる情報漏えいのモデル化に向けた評価環境の構築2022

    • Author(s)
      高野誠也, 鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      電子情報通信学会 環境電磁工学研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K19772
  • [Presentation] 映像機器の電磁情報漏えい評価のための漏えい源モデルの検討2022

    • Author(s)
      北澤太基, 久保尋之, 林優一
    • Organizer
      電子情報通信学会 環境電磁工学研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] Recent Trends and Future Prospects in Electromagnetic Information Security2022

    • Author(s)
      Yuichi Hayashi
    • Organizer
      EMSEC Workshop 2022
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] 意図的な電磁妨害により生ずる情報漏えいのモデル化に向けた評価環境の構築2022

    • Author(s)
      高野誠也, 鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      電子情報通信学会 環境電磁工学研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] 音声の周波数スペクトルに着目したスピーカーフォンからの電磁的情報漏えい評価法2022

    • Author(s)
      上田浩行, 高野誠也, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      電子情報通信学会ハードウェアセキュリティ研究会(HWS)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19KT0020
  • [Presentation] IEMI Fault Injection Method Using Continuous Sinusoidal Wave with Controlled Frequency, Amplitude, and Phase2022

    • Author(s)
      Hikaru Nishiyama, Daisuke Fujimoto, Kim Youngwoo, Hideaki Sone, Yu-ichi Hayashi
    • Organizer
      The 13th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2021)
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] TEMPEST attack against high-resolution displays using differences in the transfer function of EM waves2022

    • Author(s)
      Taiki Kitazawa; Yoshiki Kitamura; Yougwoo Kim; Daisuke Fujimoto; Hideaki Sone; Yuichi Hayashi
    • Organizer
      2022 3rd URSI Atlantic and Asia Pacific Radio Science Meeting (AT-AP-RASC)
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K03995
  • [Presentation] 位相限定相関法を用いた意図的な電磁情報漏えい耐性評価法2022

    • Author(s)
      鍛治秀伍, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K19772
  • [Presentation] オンチップセンサを用いた線路上のハードウェアトロージャン検知に関する基礎検討2022

    • Author(s)
      西鳥羽陽, 鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] 薄膜高誘電率基板を用いた低インピーダンスPDNによるクロストーク抑制効果の解析2022

    • Author(s)
      北澤太基, キムヨンウ, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      電子情報通信学会 環境電磁工学研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] IEMI Fault Injection Method Using Continuous Sinusoidal Wave with Controlled Frequency, Amplitude, and Phase2022

    • Author(s)
      Hikaru Nishiyama, Daisuke Fujimoto, ;Kim, Youngwoo Kim, Hideaki Sone, Yu-ichi Hayashi
    • Organizer
      The 13th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2021)
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K03995
  • [Presentation] 意図的な電磁妨害により生ずる情報漏えいのモデル化に向けた評価環境の構築2022

    • Author(s)
      高野 誠也, 鍛治 秀伍, 衣川 昌宏, 藤本 大介, 林 優一
    • Organizer
      電子情報通信学会 環境電磁工学研究会(EMCJ)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K12031
  • [Presentation] 暗号機器のプリント基板上の電源供給ネットワークにおける電磁的情報漏えい抑制に関する基礎検討2022

    • Author(s)
      和田慎平, 藤本大介, 林優一, キムヨンウ
    • Organizer
      電子情報通信学会 環境電磁工学研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] 高速信号伝送と電磁波セキュリティ2022

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      高速信号伝送研究会
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] Information Protection of Screen Image against Electromagnetic Information Leakage2022

    • Author(s)
      Hideaki Sone, Yuichi Hayashi
    • Organizer
      2022 URSI-Japan Radio Science Meeting (URSI-JRSM 2022)
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K03995
  • [Presentation] スマートシステムにおけるハードウェアセキュリティ2022

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      第28回 EMC環境フォーラム
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22H04999
  • [Presentation] スマートシステムにおけるハードウェアセキュリティ2022

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      第28回 EMC環境フォーラム
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K19772
  • [Presentation] ランダムカット1回の6枚XORプロトコルの不可能性について2022

    • Author(s)
      芳賀陸雄, 林優一, 宮原大輝, 水木敬明
    • Organizer
      情報処理学会 コンピュータセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] 静電容量センサの出力分布に着目したID生成手法に関する基礎検討2022

    • Author(s)
      鍛治秀伍, 太刀掛彩希, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      電子情報通信学会 ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] 通信線路上のハードウェアトロイによる電磁情報漏えい評価法の検討 ~変調度と放射強度に着目した評価 ~2022

    • Author(s)
      湯川 大雅, 鍛治 秀伍, 藤本 大介, 林 優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] Recent Trends and Future Prospects in Electromagnetic Information Security2022

    • Author(s)
      Yuichi Hayashi
    • Organizer
      EMSEC Workshop 2022
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K19772
  • [Presentation] ERO-TRNGに対する振幅確率分布を用いた乱数性評価に関する基礎検討2022

    • Author(s)
      尾崎慧一, 藤本大介, 大須賀彩希, 川村信一, 林優一
    • Organizer
      電子情報通信学会 ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] 利用環境を考慮したディスプレイからの電磁的漏えい強度の評価2022

    • Author(s)
      北村圭輝, 北澤太基, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      電子情報通信学会 ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] スマートホームにおけるナッジを用いたオンライン行動認識システムの検討2021

    • Author(s)
      佐藤 佑磨, 大山 航平, 立花 巧樹, 林 涼弥, 宮地 篤士, 松井 智一, 中村 優吾, 諏訪 博彦, 安本 慶一
    • Organizer
      第40回社会システムと知能合同研究会(SIG-SAI)/ 社会システムと情報技術研究ウィーク(RST ’21)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19KT0020
  • [Presentation] 利用環境を考慮したラップトップからの電磁的情報漏えい評価2021

    • Author(s)
      福嶋章悟, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      2021年電子情報通信学会総合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] Electromagnetic Security for Perceptual Information to Protect Digital Privacy2021

    • Author(s)
      Yuichi Hayashi
    • Organizer
      IEEE Digital Privacy Workshop
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] 設置環境の異なるスマートスピーカーからの電磁的情報漏えい評価と対策2021

    • Author(s)
      福嶋 章悟, 藤本 大介, 林 優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会(HWS)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19KT0020
  • [Presentation] 複数の漏えい周波数に着目した高解像度ディスプレイからの画面情報復元に関する検討2021

    • Author(s)
      荒井公寛, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      電子情報通信学会・ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] QR Bar-Code Designed Resistant against EM Information Leakage2021

    • Author(s)
      Nagata Daiya, Hayashi Yu-ichi, Mizuki Takaaki, Sone Hideaki
    • Organizer
      2021 XXXIVth General Assembly and Scientific Symposium of the International Union of Radio Science (URSI GASS)
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] QR Bar-Code Designed Resistant against EM Information Leakage2021

    • Author(s)
      Nagata Daiya、Hayashi Yu-Ichi、Mizuki Takaaki、Sone Hideaki
    • Organizer
      2021 XXXIVth General Assembly and Scientific Symposium of the International Union of Radio Science (URSI GASS)
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K03995
  • [Presentation] Study on Measurement Resolution of Side-Channel Waveform in Correlation Power Analysis2021

    • Author(s)
      Hideaki Sone; Kohei Utsumi; Yuichi Hayashi; Takaaki Mizuki
    • Organizer
      2021 Asia Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC 2021)
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K03995
  • [Presentation] 静電容量センサを用いたプリント基板の個体差の検出に関する基礎検討2021

    • Author(s)
      太刀掛彩希, 鍛治秀伍, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] 複数の周波数印加による電磁的情報漏えい誘発に関する検討2021

    • Author(s)
      鍛治秀伍, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      2021年暗号と情報セキュリティシンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] Study on Measurement Resolution of Side-Channel Waveform in Correlation Power Analysis2021

    • Author(s)
      Hideaki Sone; Kohei Utsumi; Yuichi Hayashi; Takaaki Mizuki
    • Organizer
      2021 Asia Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility 2021 (APEMC 2021)
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] 複数の周波数印加による電磁的情報漏えい誘発に関する検討2021

    • Author(s)
      鍛治秀伍, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      2021年暗号と情報セキュリティシンポジウム(SCIS2021)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] 電磁・通信・家電情報に基づくIoT活動量計の検討2021

    • Author(s)
      張志華, 松井智一, 上田浩行, 高野誠也, 藤本大介, 林優一, 安本慶一 , 荒川豊
    • Organizer
      第29回マルチメディア通信と分散処理ワークショップ(DPSWS2021)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19KT0020
  • [Presentation] 接触境界の表面粗さとトルク値がコネクタ高周波特性に与える影響に関する基礎検討2021

    • Author(s)
      上田浩行, 鍛治秀伍, 藤本大介, キムヨンウ, 林優一
    • Organizer
      電子情報通信学会・機構デバイス研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] リモートワーク環境におけるスピーカーフォンからの電磁波を通じた情報漏えい評価2021

    • Author(s)
      福嶋章悟, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      2021年暗号と情報セキュリティシンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] 設置環境の異なるスマートスピーカーからの電磁的情報漏えい評価と対策2021

    • Author(s)
      福嶋章悟, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      電子情報通信学会・ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] 漏えい経路の伝達特性の差異に着目した高解像度ディスプレイに対する電磁的情報漏えい評価2021

    • Author(s)
      荒井公寛, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      2021年暗号と情報セキュリティシンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] 周波数注入攻撃に対するROベースのTRNG耐性評価に関する検討2021

    • Author(s)
      橋本 律紀, 藤本 大介, 林 優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] 接触境界の表面粗さとトルク値がコネクタ高周波特性に与える影響に関する基礎検討2020

    • Author(s)
      上田浩行, 鍛治秀伍, 藤本大介, キムヨンウ, 林優一
    • Organizer
      電子情報通信学会・機構デバイス研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] 画面情報の制御による情報機器からの電磁情報漏えいの効率的評価に関する研究2020

    • Author(s)
      尾留川 良太,林優一,水木敬明,曽根秀昭
    • Organizer
      IEEE EMC Society Sendai Chapter 学生研究発表会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] Statistical Signal/Power Integrity Analysis of High-BandwidthMemory (HBM) Interposer Channel considering SSO Noise and Data Coding2020

    • Author(s)
      Youngwoo Kim , Yu-ichi Hayashi, Fujimoto Daisuke, Hyunwook Park,and Joungho Kim
    • Organizer
      DesignCon 2020
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] Fundamental Study on Measurement Resolution of Side Channel Waveform in Correlation Power Analysis2020

    • Author(s)
      Kohei Utsumi, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone
    • Organizer
      EMC Europe 2020 - 2020 International Symposium on Electromagnetic Compatibility
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] 意図的に引き起こされる電磁的情報漏えい評価法の検討 ~ デジタル出力回路のインピーダンス変化に着目した評価 ~2020

    • Author(s)
      鍛治秀伍, 藤本大介, 衣川昌宏, 林優一
    • Organizer
      電子情報通信学会・ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] Fundamental Evaluation of Impedance Variations in the Connector Caused by High-Frequency Noise Propagation2020

    • Author(s)
      上田浩行, 鍛治秀伍, 藤本大介, 北澤太基, 春日貴志, 林優一
    • Organizer
      International Session on Electro-Mechanical Devices
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] 電子機器への連続波注入による強制的な電磁情報漏えい誘発に関する基礎検討2020

    • Author(s)
      鍛治 秀伍, 藤本 大介, 衣川 昌宏, 林 優一
    • Organizer
      暗号と情報セキュリティシンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] 単純電磁波解析を用いたTERO-based TRNGの出力ビット推定2020

    • Author(s)
      大須賀 彩希, 藤本 大介, 林 優一
    • Organizer
      暗号と情報セキュリティシンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] 漏えい電磁波からの画面再構成に関する検討2020

    • Author(s)
      神津 岳志,林優一,水木敬明,曽根秀昭
    • Organizer
      IEEE EMC Society Sendai Chapter 学生研究発表会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] The Source Estimation of Electromagnetic Information Leakage from Information Devices2020

    • Author(s)
      Ryota Birukawa; Daiya Nagata; Yu-ichi Hayashi; Takaaki Mizuki; Hideaki Sone
    • Organizer
      2020 XXXIIIrd General Assembly and Scientific Symposium of the International Union of Radio Science
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] 順序回路への故障注入に起因した不均一な頻度分布を持つ誤り出力を用いた故障利用解析2020

    • Author(s)
      岡本拓実, 藤本大介, 崎山一男, 李 陽, 林 優一
    • Organizer
      電子情報通信学会・ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] 暗号ハードウェアにおける意図的な電磁妨害による故障発生に関する研究2020

    • Author(s)
      竹之内 光樹,林優一,水木敬明,曽根秀昭
    • Organizer
      IEEE EMC Society Sendai Chapter 学生研究発表会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] Measurement on Effect of Controlled Wave Phase in EM Fault Injection Attack2020

    • Author(s)
      Yuto Shinoda, Mitsuki Takenouchi, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki, and Hideaki Sone
    • Organizer
      EMC Europe 2020 - 2020 International Symposium on Electromagnetic Compatibility
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] スマートロックに対する電磁波照射を用いた強制的な開錠の脅威2020

    • Author(s)
      藤本 大介, 中尾 文香, 林 優一
    • Organizer
      暗号と情報セキュリティシンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] 意図的な電磁妨害時に生ずる情報漏えいの基礎評価2020

    • Author(s)
      鍛治秀伍, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      電子情報通信学会・環境電磁工学研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] 製造メーカの異なるコネクタの相互接続時に生ずる接触境界部の高周波特性の基礎評価2020

    • Author(s)
      上田浩行, 藤本大介, キム・ヨンウ, 北澤太基, 春日貴志, 林優一
    • Organizer
      電気情報通信学会ソサイエティ大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] サイドチャネル波形の計測分解能が相関電力解析に与える影響2019

    • Author(s)
      内海航平,林優一, 水木敬明,曽根秀昭
    • Organizer
      計測自動制御学会東北支部55周年記念学術講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] 電磁的情報漏えいを強制的に誘発する照射周波数推定法に関する基礎検討2019

    • Author(s)
      鍛治 秀伍, 衣川 昌宏, 藤本 大介, 林 優一
    • Organizer
      電子情報通信学会・ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] Introduction to Electromagnetic Information Security2019

    • Author(s)
      Y.Hayashi
    • Organizer
      2019 Symposia on VLSI Technology and Circuits
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] 表示色の操作によるディスプレイからの電磁的情報漏えいの効率的な評価に関する検討2019

    • Author(s)
      尾留川良太, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      2019年暗号と情報セキュリティシンポジウム(SCIS2019)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] Study on the Influence of Contact Surfaces Roughness on High-Frequency Signal Transmission Characteristics2019

    • Author(s)
      Aihara, Kenji, Hayashi, Yuichi, Mizuki, Takaaki, Sone, Hideaki
    • Organizer
      2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Sapporo (EMC Sapporo & APEMC 2019)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] サイドチャネル波形の計測分解能が秘密鍵の取得性に与える影響の測定2019

    • Author(s)
      内海航平, 林 優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会環境電磁工学研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] A Method for Distinguishing Faulty Bytes in Cryptographic Device Using EM Information Leakage2019

    • Author(s)
      Takenouchi, Mitsuki, Saga, Naoto, Hayashi, Yuichi, Mizuki, Takaaki, Sone, Hideaki
    • Organizer
      2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Sapporo (EMC Sapporo & APEMC 2019)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] A study on an Effective Evaluation Method for EM Information Leakage without Reconstructing Screen2019

    • Author(s)
      Ryota Birukawa, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone
    • Organizer
      2019 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC EUROPE
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] TERO-based TRNGに対する周波数注入攻撃時の出力ビット推定手法に関する基礎検討2019

    • Author(s)
      大須賀 彩希, 藤本 大介, 林 優一
    • Organizer
      電子情報通信学会・ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] EM Information Leakage Threat Caused by Low-power IEMI and Hardware Trojan2019

    • Author(s)
      Yuichi Hayashi
    • Organizer
      The 2019 IEEE International Symposium on EMC+SIPI
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16KK0006
  • [Presentation] EM Information Leakage Threat Caused by Low-power IEMI and Hardware Trojan2019

    • Author(s)
      Yuichi Hayashi
    • Organizer
      The 2019 IEEE International Symposium on EMC+SIPI
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] TERO-based TRNGの発振回数の変化から推定可能な出力ビットの評価2019

    • Author(s)
      大須賀彩希, 藤本大介, 林 優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティフォーラム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] Introduction:Application of EMC Methodology to Information Security Evaluations/Countermeasures/Education2019

    • Author(s)
      Y.Hayashi
    • Organizer
      2019 IEEE International Symposium on EMC+SIPI
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] IoT時代に求められるハードウェアセキュリティ2019

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      EMC Sapporo & APEMC 2019 市民セミナー
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] TERO-based TRNGに対する周波数注入攻撃時の出力ビット推定手法に関する基礎検討2019

    • Author(s)
      大須賀 彩希, 藤本 大介, 林 優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16KK0006
  • [Presentation] 意図的な電磁妨害がIC通信に与える影響に関する基礎検討2019

    • Author(s)
      西山 輝, 岡本 拓実, 藤本 大介, 林 優一
    • Organizer
      電子情報通信学会・環境電磁工学研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] モータ制御通信へのクロックグリッチ注入の影響に関する基礎検討2019

    • Author(s)
      中尾文香, 藤本大介, 林 優一
    • Organizer
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] サイドチャネル波形の計測分解能が秘密鍵の取得性に与える影響2019

    • Author(s)
      内海航平,林 優一,水木敬明,曽根秀昭
    • Organizer
      2019年電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] A Study on an Efficient Evaluation Method for EM Information Leakage by Changing Display Color (from SCIS 2019)2019

    • Author(s)
      Ryota Birukawa, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone
    • Organizer
      The 14th International Workshop on Security (IWSEC 2019)
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] A Practical Evaluation Method for EM Information Leakage by Using Audible Signal2019

    • Author(s)
      Birukawa, Ryota, Mizuki, Takaaki, Sone, Hideaki, Hayashi, Yuichi
    • Organizer
      2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Sapporo (EMC Sapporo & APEMC 2019)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] 印加位相を考慮した意図的電磁妨害による故障注入手法に関する検討2019

    • Author(s)
      竹之内光樹,篠田悠斗,林優一,水木敬明,曽根秀昭
    • Organizer
      計測自動制御学会東北支部55周年記念学術講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] 順序回路への故障注入に起因した不均一な頻度分布を持つ誤り出力を用いた故障利用解析2019

    • Author(s)
      岡本拓実, 藤本大介, 崎山一男, 李 陽, 林 優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16KK0006
  • [Presentation] 電磁照射による意図的な情報漏えい誘発時に生ずる自己干渉波の抑制に関する基礎検討2019

    • Author(s)
      川上 莉穂, 鍛治 秀伍, 衣川 昌宏, 藤本 大介, 林 優一
    • Organizer
      電子情報通信学会・ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] 複数の信号を含む漏えい電磁波からのターゲット信号の抽出に関する検討2019

    • Author(s)
      川上莉穂, 藤本大介, 林 優一
    • Organizer
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] 複数のデータ伝送路を有するICから強制的に引き起こされる電磁的情報漏えいに関する検討2019

    • Author(s)
      川上 莉穂, 鍛治 秀伍, 衣川 昌宏, 藤本 大介, 林 優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティフォーラム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] EMCとセキュリティ ~電磁波によるセキュリティ低下の問題とその対策~2019

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      EMCユーザ会議 2019
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19H01104
  • [Presentation] 描画情報の選択を用いた電磁情報漏えいの評価に関する研究2018

    • Author(s)
      林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      EMC仙台ゼミナール・IEEE EMC-S Sendai-Ch学生発表会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] EMC from hardware security perspective2018

    • Author(s)
      Y.Hayashi
    • Organizer
      The 1st Croatia-Japan EMC Workshop
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] Study on the effect of clock rise time on fault occurrence under IEMI2018

    • Author(s)
      Naoto Saga, Takuya Itoh, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone
    • Organizer
      2018 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and 2018 IEEE Asia-PacificSymposium on Electromagnetic Compatibility (EMC/APEMC)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] Detecting Electromagnetic Analysis Attacks Using the Distribution of Electromagnetic Noise2018

    • Author(s)
      Shinpei WADA, Daisuke FUJIMOTO, Yuichi HAYASHI
    • Organizer
      EMC Joint Workshop 2018 Daejeon
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] 情報機器に求められる電磁波セキュリティ2018

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      第4回 極限環境電磁波センシング研究施設ワークショップ
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] ガウス雑音を用いた暗号機器への意図的な電磁妨害に対する耐性評価手法2018

    • Author(s)
      岡本拓実, 藤本大介, 林優一, 本間尚文, Arthur Beckers, Josep Balasch, Benedikt Gierlichs, Ingrid Verbauwhede
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] 漏えい・妨害電磁波によるセキュリティ低下の脅威と対策2018

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      IEEE SSCS Kansai Chapter Technical Seminar
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] A Specification Method of Faulty Bytes in Cryptographic Module Using EM Information Leakage2018

    • Author(s)
      Naoto Saga, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki and Hideaki Sone
    • Organizer
      電子情報通信学会環境電磁工学研究会(EMCJWS2018)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] A Study on an Evaluation Method for EM Information Leakage Utilizing Controlled Image Displaying2018

    • Author(s)
      R. Birukawa, G. Tanabe, Y. Hayashi, T. Mizuki, and H. Sone
    • Organizer
      2018 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and 2018 IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] A study on an evaluation method for EM information leakage utilizing controlled image displaying2018

    • Author(s)
      Ryota Birukawa, Gentaro Tanabe, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone
    • Organizer
      2018 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and 2018 IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC/APEMC)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] 融合領域におけるEMC 分野の役割と人材育成2018

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      次世代のEMC 研究者・技術者を交えたワークショップ,NICT/EMC-net 将来課題研究会
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] EM Information Leakage Threat Caused by Low-power IEMI and Hardware Trojan2018

    • Author(s)
      Y.Hayashi
    • Organizer
      AMEREM
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] レーザーフォールト攻撃対策である電源遮断回路実装時のサイドチャネル耐性評価2018

    • Author(s)
      郡義弘, 藤本大介, 林優一, 三浦典之, 永田真, 崎山一男
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01688
  • [Presentation] Data Injection Attacks Using a Hardware Trojan on a Transmission Line2018

    • Author(s)
      S. Kaji, M. Kinugawa, D. Fujimoto, and Y. Hayashi
    • Organizer
      2018 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and 2018 IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] IoT時代の電磁波セキュリティ~痕跡を残さない攻撃とその対策~2018

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      IoTセキュリティフォーラム2018
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] Fundamental Study on Non-invasive Frequency Injection Attack against RO-based TRNG2018

    • Author(s)
      S. Osuka, D. Fujimoto, Y. Hayashi, N. Homma, A. Beckers, J. Balasch, B. Gierlichs and I. Verbauwhede
    • Organizer
      2018 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and 2018 IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] 情報セキュリティとEMC2018

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      第19回EMCシンポジウムIIDA2018
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] 意図的な電磁妨害による故障発生に印加位相が与える影響に関する検討2018

    • Author(s)
      竹之内光樹,林 優一,水木敬明,曽根秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会2018年ソサイエティ大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] 接触部の荷重が信号伝達特性に与える影響の測定法に関する検討2018

    • Author(s)
      相原 健志, 林 優一, 水木 敬明, 曽根 秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会環境電磁工学研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] スマートデバイスからの電磁情報漏えい源特定に関する基礎検討2018

    • Author(s)
      仁科泉美, 藤本大介, 衣川昌宏, 林優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] 意図的な電磁波注入による漏えい情報の制御に関する基礎検討2018

    • Author(s)
      硲マーティン, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      2018年電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] IC内部の回路構成変更が秘密鍵の取得性に与える影響の評価2018

    • Author(s)
      郡義弘, 藤本大介, 林優一, 崎山一男, 三浦典之, 永田真
    • Organizer
      情報・システムソサエティ特別企画学生ポスターセッション
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01688
  • [Presentation] IC周囲に分布する電磁雑音を用いた電磁波解析攻撃検知手法の検討2018

    • Author(s)
      和田 慎平, 藤本 大介, 林 優一
    • Organizer
      電子情報通信学会・環境電磁工学研究会(EMCJ)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] IoT 時代に求められるハードウェアセキュリティ2018

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      EMC関西2018
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] Fundamental Study on the Effect of Torque Value at Connector on Equivalent Circuit of Contact Boundary2018

    • Author(s)
      D. Fujimoto, T. Narimatsu, Y. HAYASHI
    • Organizer
      国際セッションIS-EMD2018
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] Influence of IEMI considering injected signal phase on faulty outputs in a cryptographic module2018

    • Author(s)
      Mitsuki Takenouchi, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki and Hideaki Sone
    • Organizer
      電子情報通信学会環境電磁工学研究会(EMCJWS2018)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] 暗号機器からの電磁情報漏えいにおける周波数特性に関する研究2018

    • Author(s)
      杉本藍莉, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      EMC仙台ゼミナール
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] 電磁波による情報漏えいの脅威とその対策2018

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      奈良先端科学技術大学院大学公開講座2018
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] 製造・実装ばらつきに起因する放射スペクトルの違いを用いた電子機器の個体識別手法に関する基礎検討2018

    • Author(s)
      鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, Laurent Sauvage, Jean-Luc Danger, 林優一
    • Organizer
      電子情報通信学会・HWS・VLD合同研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] Study on the Effect of Surface Condition on High-Frequency Transmission Characteristics2018

    • Author(s)
      Kenji Aihara, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki and Hideaki Sone
    • Organizer
      電子情報通信学会機構デバイス研究会(IS-EMD2018)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] 接触表面粗さが高周波伝達特性に与える影響に関する基礎的検討2018

    • Author(s)
      相原健志,林 優一,水木敬明,曽根秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会2018年ソサイエティ大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] Multiparty Key Agreement Scheme Using Partially Leaked Key Exchange Graphs2018

    • Author(s)
      Bateh Mathias Agbor, Tatsuya Sasaki, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone
    • Organizer
      2018年暗号と情報セキュリティシンポジウム(SCIS2018)予稿集
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K11983
  • [Presentation] 締め付けトルクの減少が接触境界の高周波素子に与える影響に関する検討2018

    • Author(s)
      成松貴,藤本大介,林優一
    • Organizer
      電子情報通信学会・機構デバイス研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0050
  • [Presentation] 周波数選択による暗号機器の情報漏えい評価の効率化に関する検討2017

    • Author(s)
      杉本藍莉, 藤本大介, 林 優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      環境電磁工学研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] 周波数選択による暗号機器の情報漏えい評価の効率化に関する検討2017

    • Author(s)
      杉本藍莉, 藤本大介, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会環境電磁工学研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] 表示画像の選択を用いた電磁情報漏えい評価手法に関する検討2017

    • Author(s)
      田辺弦太郎, 林 優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      環境電磁工学研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] 漏えい鍵共有直並列グラフからの鍵生成について2017

    • Author(s)
      佐々木達也, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      コンピュータセキュリティシンポジウム2017論文集
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K11983
  • [Presentation] A Method of Fault Detection in Encryption Device Based on Leaked EM Information from Adder Circuit2017

    • Author(s)
      Naoto Saga, Yu-chi Hayashi, Takaaki Mizuki, and Hideaki Sone
    • Organizer
      電子情報通信学会EMC Joint Workshop
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] 描画情報の選択による放射電磁波制御を利用した情報漏えい評価手法の検討2017

    • Author(s)
      田辺弦太郎, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      2017年電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] 描画情報の制御時における放射電磁波の特徴量に着目した情報漏えい評価2017

    • Author(s)
      田辺弦太郎,林優一,水木敬明,曽根秀昭
    • Organizer
      IEEE Instrumentation & Measurement Society Japan Chapter 2017年度 第2回学生研究発表会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] 基板電流検知回路を用いたレーザーフォールト注入攻撃対策のオーバヘッド推定2017

    • Author(s)
      松田航平、三浦典之、永田真、林優一、藤井達哉、崎山一男
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      名城大学(愛知県名古屋市)
    • Year and Date
      2017-03-25
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01688
  • [Presentation] 意図的な電磁妨害による故障発生にクロック信号の立ち上がり時間が与える影響に関する検討2017

    • Author(s)
      伊東拓哉, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会環境電磁工学研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] 基板電流検知回路を用いたレーザーフォールト注入攻撃対策のオーバヘッド推定2017

    • Author(s)
      松田航平, 三浦典之, 永田真, 林優一, 藤井達哉, 崎山一男
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01688
  • [Presentation] サイバー空間における攻撃モデルはハードウェアへの物理攻撃にも適用可能か?2017

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      名城大学(愛知県・名古屋市)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] 次世代ワイヤレス通信に求められるハードウエアセキュリティ2017

    • Author(s)
      林 優一
    • Organizer
      次世代ワイヤレス技術講座 - KEC関西電子工業振興センター
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] 表示画像の選択を用いた電磁情報漏えい評価手法に関する検討2017

    • Author(s)
      田辺弦太郎, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会環境電磁工学研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] 漏えい鍵共有グラフから生成される秘密鍵の秘匿性について2017

    • Author(s)
      佐々木達也, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      2017年度夏のLAシンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K11983
  • [Presentation] HTを用いて局所的にイミュニティを低下させた電子機器へのデータ注入攻撃2017

    • Author(s)
      鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      2018年暗号と情報セキュリティシンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] ブルートフォース的漏えいパラメタ推定に基づくモバイル端末への 電磁的盗視の脅威に関する検討2017

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      電磁環境研究会
    • Place of Presentation
      霧島観光ホテル(鹿児島県・霧島市)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] t検定による電磁的画面情報漏えいの安全性評価手2017

    • Author(s)
      ヴィッレウリマウル,本間尚文,林優一,鳥海陽平,伊丹 豪,鈴木康直,中村雅之,高谷和宏,青木孝文
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      名城大学(愛知県・名古屋市)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] EM Information Security Threats and Its Countermeasures2017

    • Author(s)
      Yuichi Hayashi
    • Organizer
      EMC Beijing 2017
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] 周波数選択フィルタを用いた相関電力解析の評価の効率化に関する検討2017

    • Author(s)
      杉本藍莉, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      2017年電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01751
  • [Presentation] 一様漏えい鍵共有完全二部グラフに関する一考察2017

    • Author(s)
      佐々木達也, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      2017年電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      名城大学天白キャンパス(愛知県・名古屋市)
    • Year and Date
      2017-03-23
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K11983
  • [Presentation] サイドチャネル情報への相関解析を用いた暗号処理時刻推定2016

    • Author(s)
      中村 紘,林 優一,水木敬明,曽根秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      九州大学(福岡県・福岡市)
    • Year and Date
      2016-03-15
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] 基板電位変動モニタリングによるレーザーフォールト注入攻撃対策2016

    • Author(s)
      松田航平、三浦典之、永田真、林優一、藤井達哉、矢ヶ崎玲奈、崎山一男
    • Organizer
      LSIとシステムのワークショップ2016
    • Place of Presentation
      東京大学生産技術研究所(東京都目黒区)
    • Year and Date
      2016-05-16
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01688
  • [Presentation] 電磁波を通じた情報漏えいの脅威とその対策2016

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      情報セキュリティ研究会・技術と社会・倫理研究会,ライフインテリジェンスとオフィス情報システム研究会
    • Place of Presentation
      福井市地域交流プラザ(福井県・福井市)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] 接触不良による接触点部分のインダクタンス値推定手法2016

    • Author(s)
      佐藤友哉 林優一 水木敬明 曽根秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      九州大学(福岡県・福岡市)
    • Year and Date
      2016-03-15
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] EM Information Leakage Threats in Public Spaces2016

    • Author(s)
      Yuichi Hayashi
    • Organizer
      IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
    • Place of Presentation
      Ottawa Convention Center(カナダ)
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] レーザーフォールト注入時のIC基板電位変動のオンチップ測定2016

    • Author(s)
      松田航平, 三浦典之, 永田真, 林優一, 藤井達哉, 矢ヶ崎玲奈, 崎山一男
    • Organizer
      2016年暗号と情報セキュリティシンポジウム (SCIS2016)
    • Place of Presentation
      ANAクラウンプラザホテル熊本ニュースカイ(熊本県・熊本市)
    • Year and Date
      2016-01-19
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01688
  • [Presentation] EM Information Security of Tablet PCs in Public Space2016

    • Author(s)
      Yuichi Hayashi
    • Organizer
      EMC Joint Workshop Taipei
    • Place of Presentation
      National Taiwan University(台湾)
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] 基板電位変動モニタリングによるレーザーフォールト注入攻撃対策2016

    • Author(s)
      松田航平、三浦典之、永田真、林優一、藤井達哉、崎山一男
    • Organizer
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Place of Presentation
      北海道大学(北海道札幌市)
    • Year and Date
      2016-09-21
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01688
  • [Presentation] 漏えい鍵共有グラフにおける効果的な鍵選択に関する考察2016

    • Author(s)
      増田真吾, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      コンピュータセキュリティシンポジウム2016
    • Place of Presentation
      札幌コンベンションセンター(北海道・札幌市)
    • Year and Date
      2016-10-13
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K11983
  • [Presentation] 電磁波解析 攻撃に対する反応型対策の高性能化とその評価2016

    • Author(s)
      石幡大輔,本間尚文, 林優一, 三浦典之, 藤本大介, 永田真, 青木孝文
    • Organizer
      2016年暗号と情報セキュリティ シンポジウム
    • Place of Presentation
      ANAクラウンプラザホテル(熊本県・熊本市)
    • Year and Date
      2016-01-19
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26240005
  • [Presentation] モバイル端末からの漏えい電磁波を介した画面再現リスク評価手法の検討2016

    • Author(s)
      伊丹豪, 鳥海陽平, 中村雅之, 鈴木康直, 高谷和宏, 林優一, 本間尚文, 青木孝文
    • Organizer
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Place of Presentation
      北海道大学(北海道・札幌市)
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16H02831
  • [Presentation] 接触不良による接触点の減少とインダクタンス値増加の関係2015

    • Author(s)
      佐藤友哉,林優一,水木敬明,曽根秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      立命館大学(滋賀県・草津市)
    • Year and Date
      2015-03-12
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] サイドチャネル近傍電磁波解析攻撃センサの提案とセキュリティ耐性評価2015

    • Author(s)
      田中廉大、三浦典之、藤本大介、林優一、本間尚文、青木孝文、永田真
    • Organizer
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Place of Presentation
      東北大学(宮城県・仙台市)
    • Year and Date
      2015-09-10
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26240005
  • [Presentation] Introduction to on EM Information Leakage from Information and Communication Devices2015

    • Author(s)
      Yu-ichi Hayashi
    • Organizer
      URSI-Japan Radio Science Meeting
    • Place of Presentation
      東京工業大学(東京都・目黒区)
    • Year and Date
      2015-09-03
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01688
  • [Presentation] Five-Card Secure Computations Using Unequal Division Shuffle2015

    • Author(s)
      Akihiro Nishimura, Takuya Nishida, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki, and Hideaki Sone
    • Organizer
      Theory and Practice of Natural Computing (TPNC 2015)
    • Place of Presentation
      Mieres, Spain
    • Year and Date
      2015-12-15
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] Method for estimating fault injection time on cryptographic devices from EM leakage2015

    • Author(s)
      Ko Nakamura, Yu-ichi Hayashi, Naofumi Homma, Takaaki Mizuki, Takafumi Aoki, Hideaki Sone
    • Organizer
      2015 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
    • Place of Presentation
      Dresden, Germany
    • Year and Date
      2015-08-16
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] Effect of Clock Frequencies on EM Information Leakage from Cryptographic Devices2015

    • Author(s)
      M. Saito, Y. Hayashi, T. Mizuki, and H. Sone
    • Organizer
      電子情報通信学会技術研究報告
    • Place of Presentation
      Bangkok, Thailand
    • Year and Date
      2015-06-26
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] Estimation of Inductance at Surface Structure in Contact Surfaces of Coaxial Connector2015

    • Author(s)
      Tomoya Sato, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki and Hideaki Sone
    • Organizer
      電子情報通信学会技術研究報告, IS-EMD2015
    • Place of Presentation
      東北大学(宮城県・仙台市)
    • Year and Date
      2015-11-06
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] 接触不良による接触点の減少とインダクタンス値増加の関係2015

    • Author(s)
      佐藤友哉,林優一,水木敬明,曽根秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      立命館大学(滋賀県草津市)
    • Year and Date
      2015-03-12
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25820098
  • [Presentation] Fundamental Study on Fault Occurrence Mechanisms by Intentional Electromagnetic Interference Using Impulses2015

    • Author(s)
      Yu-ichi Hayashi, Naofumi Homma, Takaaki Mizuki, Takafumi Aoki, Hideaki Sone
    • Organizer
      2015 Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC2015)
    • Place of Presentation
      Taipei, Taiwan
    • Year and Date
      2015-05-29
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] 接触不良によるインダクタンス値増大の定量的評価に関する検討2015

    • Author(s)
      佐藤友哉, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Place of Presentation
      東北大学(宮城県・仙台市)
    • Year and Date
      2015-09-11
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] 漏えい電磁波を用いたタブレット端末における入力キーの取得とその対策2015

    • Author(s)
      林 優一,本間尚文,青木孝文,曽根秀昭
    • Organizer
      第38回情報理論とその応用シンポジウム (SITA2015)
    • Place of Presentation
      下電ホテル(岡山県・倉敷市)
    • Year and Date
      2015-11-24
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15H01688
  • [Presentation] 暗号モジュールからの漏えい電磁波を用いた故障タイミング特定手法の実行可能性に関する検討2015

    • Author(s)
      中村紘, 林優一, 本間尚文, 水木敬明, 青木孝文, 曽根 秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会技術研究報告
    • Place of Presentation
      機械振興会館(東京都・港区)
    • Year and Date
      2015-07-02
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] ESDにより生ずるインパルス性の雑音が引き起こす暗号機器からの情報漏えい2015

    • Author(s)
      林優一,水木敬明,曽根秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会2015年ソサイエティ大会依頼シンポジウム, BI-1-9
    • Place of Presentation
      東北大学(宮城県・仙台市)
    • Year and Date
      2015-09-09
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26289078
  • [Presentation] Fundamental study on randomized processing in cryptographic IC using variable clock against Correlation Power Analysis2015

    • Author(s)
      Megumi Saito, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone
    • Organizer
      EMC Compo 2015 - 10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits
    • Place of Presentation
      Edinburgh, United Kingdom
    • Year and Date
      2015-11-10
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] Fundamental Study on Fault Occurrence Mechanisms by Intentional Electromagnetic Interference Using Impulses2015

    • Author(s)
      Yuichi Hayashi, Naofumi Homma, Takaaki Mizuki, Takafumi Aoki and Hideaki Sone
    • Organizer
      Proceedings of 2015 Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility, APEMC2015, SS13-1-4
    • Place of Presentation
      The Grand Hotel, Taipei, Taiwan
    • Year and Date
      2015-05-29
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26289078
  • [Presentation] 漏洩電磁波の観測に基づく故障タイミング特定手法に関する検討2015

    • Author(s)
      中村紘,林優一,水木敬明,曽根秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      立命館大学(滋賀県・草津市)
    • Year and Date
      2015-03-11
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] 暗号LSIへの実装攻撃に対する反応型対策の高精度化に関する検討2015

    • Author(s)
      石幡大輔, 本間尚文, 林優一, 三浦典之, 藤本大介, 永田真, 青木孝文
    • Organizer
      平成27年度 電気関係学会 東北支部連合大会
    • Place of Presentation
      岩手大学(岩手県・滝沢市)
    • Year and Date
      2015-08-28
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26240005
  • [Presentation] サイドチャネル情報を用いた故障発生タイミング特定手法の実現可能性に関する検討2014

    • Author(s)
      中村紘, 林優一, 本間尚文, 水木敬明, 青木孝文, 曽根 秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会技術研究報告
    • Place of Presentation
      機械振興会館(東京都・港区)
    • Year and Date
      2014-07-10
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] 暗号機器に対するタイミングを制御した意図的な電磁妨害による故障注入に関する検討2014

    • Author(s)
      小林瑞樹,林優一,水木敬明,曽根秀昭
    • Organizer
      計測自動制御学会東北支部50周年記念学術講演会
    • Place of Presentation
      東北大学(宮城県・仙台市)
    • Year and Date
      2014-12-12
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] 暗号モジュールにおけるサイドチャネル情報を用いた故障発生タイミング特定手法2014

    • Author(s)
      中村紘, 林優一, 本間尚文, 水木敬明, 青木孝文, 曽根 秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会技術研究報告
    • Place of Presentation
      神戸大学(兵庫県・神戸市)
    • Year and Date
      2014-06-20
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] タイミングを制御した意図的な電磁妨害が暗号機器の内部動作に与える影響に関する検討2014

    • Author(s)
      小林瑞樹, 林優一, 本間尚文, 水木敬明, 青木孝文, 曽根 秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会技術研究報告
    • Place of Presentation
      秋田県立大学(秋田県・由利本荘市)
    • Year and Date
      2014-10-23
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] 漏洩電磁波計測に基づく暗号機器の故障タイミング特定手法2014

    • Author(s)
      中村紘,林優一,水木敬明,曽根秀昭
    • Organizer
      計測自動制御学会東北支部50周年記念学術講演会
    • Place of Presentation
      東北大学(宮城県・仙台市)
    • Year and Date
      2014-12-12
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] カード組を用いた任意の論理関数の安全な計算について2014

    • Author(s)
      西田拓也, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      コンピュータセキュリティシンポジウム2014
    • Place of Presentation
      札幌コンベンションセンター(北海道・札幌市)
    • Year and Date
      2014-10-24
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] 暗号機器への入力データの選択による漏えい電磁波解析の効率化に関する検討2014

    • Author(s)
      佐々木匠,林優一,水木敬明,曽根秀昭
    • Organizer
      計測自動制御学会東北支部50周年記念学術講演会
    • Place of Presentation
      東北大学(宮城県・仙台市)
    • Year and Date
      2014-12-12
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] CMOS暗号回路におけるシリコン基板からのサイドチャネル漏洩2014

    • Author(s)
      藤本大介、三浦典之、永田真、林優一、本間尚文、Shivam Bhasin、Jean-Luc Danger
    • Organizer
      電子情報通信学会 環境電磁工学研究会
    • Place of Presentation
      神戸大学(神戸市)
    • Year and Date
      2014-06-20
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26240005
  • [Presentation] Fundamental Study on a Mechanism of Increased Inductance due to Connector Contact Failure2014

    • Author(s)
      T. Sato, Y. Hayashi, T. Mizuki, and H. Sone
    • Organizer
      電子情報通信学会技術研究報告
    • Place of Presentation
      千歳市民文化センター(北海道・千歳市)
    • Year and Date
      2014-11-30
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] Precisely Timed IEMI Fault Injection Synchronized with EM Information Leakage2014

    • Author(s)
      Y. Hayashi, N. Homma, T. Mizuki, T. Aoki, H. Sone
    • Organizer
      IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
    • Place of Presentation
      Raleigh, USA
    • Year and Date
      2014-08-07
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] 電磁界シミュレーションを用いたコネクタ接触不良部における電流路の解析2014

    • Author(s)
      佐藤友哉,林優一,水木敬明,曽根秀昭
    • Organizer
      計測自動制御学会東北支部50周年記念学術講演会
    • Place of Presentation
      東北大学(宮城県・仙台市)
    • Year and Date
      2014-12-12
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] Precisely Timed IEMI Fault Injection Synchronized with EM Information Leakage2014

    • Author(s)
      林優一,本間尚文,水木敬明,青木孝文,曽根秀昭
    • Organizer
      IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, pp. 738-742
    • Place of Presentation
      Raleigh Convention Center(アメリカ,オークス)
    • Year and Date
      2014-08-07
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26289078
  • [Presentation] Fundamental Study on a Mechanism of Increased Inductance due to Connector Contact Failure2014

    • Author(s)
      T. Sato, Y. Hayashi, T. Mizuki, and H. Sone
    • Organizer
      機構デバイス国際セッションIS-EMD
    • Place of Presentation
      千歳市民文化センター(北海道千歳市)
    • Year and Date
      2014-11-30
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25820098
  • [Presentation] Analysis of EM Emission from Cryptographic Devices2014

    • Author(s)
      H. Sone, Y. Hayashi, T. Mizuki
    • Organizer
      URSI General Assembly and Scientific Symposium
    • Place of Presentation
      Beijing, China
    • Year and Date
      2014-08-19
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] 電磁界シミュレーションを用いたコネクタ接触不良部における電流路の解析2014

    • Author(s)
      佐藤友哉,林優一,水木敬明,曽根秀昭
    • Organizer
      計測自動制御学会東北支部50周年記念学術講演会
    • Place of Presentation
      東北大学青葉山キャンパス(宮城県仙台市)
    • Year and Date
      2014-12-12
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25820098
  • [Presentation] コネクタ接触境界における電流路の変化とインダクタンス増加の関係2012

    • Author(s)
      松田和樹, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      2012年電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      岡山大学(岡山市)
    • Year and Date
      2012-03-22
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21656096
  • [Presentation] コネクタ接触境界における電流路の変化とインダクタンス増加の関係2012

    • Author(s)
      松田和樹, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      岡山大学
    • Year and Date
      2012-03-22
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21656096
  • [Presentation] SNRに基づいた電子機器からの情報取得性に関する基礎的検討2011

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      電気学会電磁環境研究会
    • Place of Presentation
      加賀
    • Year and Date
      2011-03-24
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22760204
  • [Presentation] 暗号モジュールに対する意図的な電磁妨害に関する検討2011

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      2011年電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Place of Presentation
      札幌
    • Year and Date
      2011-09-16
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22760204
  • [Presentation] 機器の実装構造を考慮した電磁情報漏洩の評価2011

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      平成23年電気学会基礎・材料・共通部門大会
    • Place of Presentation
      東京
    • Year and Date
      2011-09-22
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22760204
  • [Presentation] 電磁波を用いた電源線からのフォールト攻撃2011

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      2011年暗号と情報セキュリティシンポジウム(SCIS2011)概要集
    • Place of Presentation
      北九州
    • Year and Date
      2011-01-27
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22760204
  • [Presentation] コネクタの接触状態が伝送特性に与える影響に関する基礎的検討2011

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      2011年電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      東京
    • Year and Date
      2011-03-17
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22760204
  • [Presentation] 電源線非接地が漏洩情報の取得性に与える影響に関する検討2010

    • Author(s)
      衣川昌宏, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Place of Presentation
      大阪府立大学
    • Year and Date
      2010-09-17
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21656096
  • [Presentation] 漏洩電磁界による情報システムセキュリティ低下の問題2010

    • Author(s)
      林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      東北大学
    • Year and Date
      2010-03-16
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21656096
  • [Presentation] コネクタの緩みが放射電磁界に与える影響に関する基礎的検討2010

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      2010年電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Place of Presentation
      堺
    • Year and Date
      2010-09-16
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22760204
  • [Presentation] An Analysis of EM Radiation from Transmission Line with Loose Contact of Connector2010

    • Author(s)
      Yu-ichi Hayashi
    • Organizer
      10th International Session on Electro-Mechanical Devices
    • Place of Presentation
      西安交通大学
    • Year and Date
      2010-11-12
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22760204
  • [Presentation] 情報機器に接続された線路が電磁情報漏洩に与える影響2010

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      電気学会電磁環境研究会
    • Place of Presentation
      花巻
    • Year and Date
      2010-11-02
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22760204
  • [Presentation] コネクタ接触不良部における電流分布に関する考察2010

    • Author(s)
      林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      東北大学
    • Year and Date
      2010-03-17
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21656096
  • [Presentation] 漏洩電磁界による情報システムセキュリティ低下の問題2010

    • Author(s)
      林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      2010年電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      仙台
    • Year and Date
      2010-03-16
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21656096
  • [Presentation] コネクタ接触不良部における電流分布に関する考察2010

    • Author(s)
      林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      2010年電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      仙台
    • Year and Date
      2010-03-17
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21656096
  • [Presentation] Effect of Contact Point Distribution to the High-Frequency Impedance on a Coaxial Connector2009

    • Author(s)
      林優一, Songping Wu, Jun Fan, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会機構デバイス研究会国際セッション
    • Place of Presentation
      東京
    • Year and Date
      2009-11-20
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21656096
  • [Presentation] 情報機器に接続された線路が機器からの電磁的情報漏洩に与える影響2009

    • Author(s)
      大村孔平, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会環境電磁工学研究会
    • Place of Presentation
      岩手県八幡平市
    • Year and Date
      2009-10-22
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21656096
  • [Presentation] Effect of Contact Point Distribution to the High-Frequency Impedance on a Coaxial Connector2009

    • Author(s)
      Yu-ichi Hayashi, Songping Wu, Jun Fan, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone
    • Organizer
      電子情報通信学会機構デバイス研究会国際セッション
    • Place of Presentation
      日本工業大学神田キャンパス
    • Year and Date
      2009-11-20
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21656096
  • [Presentation] Investigation of Noise Interference due to Connector Contact Failure in a Coaxial Cable

    • Author(s)
      Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone
    • Organizer
      13th International Session on Electro-Mechanical Devices (IS-EMD2013)
    • Place of Presentation
      Wuhan, China
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25820098
  • [Presentation] 暗号処理時に生ずる漏えい電磁信号とハミング距離の関係

    • Author(s)
      佐々木匠, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      2013年電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Place of Presentation
      福岡工業大学(福岡県福岡市)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] 電磁波が引き起こすスマートデバイからの音情報の漏えいに関する基礎検討

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      電気学会電磁環境研究会
    • Place of Presentation
      大分県由布市
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25820098
  • [Presentation] 漏えい電磁情報を用いた任意の処理への非侵襲な故障注入手法

    • Author(s)
      小林瑞樹, 林優一, 本間尚文, 水木敬明, 青木孝文, 曽根秀昭
    • Organizer
      2013年電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Place of Presentation
      福岡工業大学(福岡県福岡市)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] Remote fault-injection method with timing control based on leaked information

    • Author(s)
      Yu-ichi Hayashi
    • Organizer
      The 8th International Workshop on Security, IWSEC2013
    • Place of Presentation
      沖縄県市町村自治会館(沖縄県那覇市)
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] 電磁波攻撃センサの設計と実証

    • Author(s)
      本間尚文、林優一、三浦典之、藤本大介、永田真、青木孝文
    • Organizer
      電子情報通信学会 2015年暗号と情報セキュリティシンポジウム
    • Place of Presentation
      リーガロイヤルホテル小倉(北九州市)
    • Year and Date
      2015-01-20 – 2015-01-23
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26240005
  • [Presentation] 意図的な電磁妨害による暗号デバイスからの情報漏えいの脅威とその対策

    • Author(s)
      林優一, 本間尚文, 水木敬明, 青木孝文, 曽根秀昭
    • Organizer
      2013年電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Place of Presentation
      福岡工業大学(福岡県福岡市)
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] Efficient Method for Estimating Propagation Area of Information Leakage via EM Field

    • Author(s)
      Y. Hayashi, N. Homma, T. Mizuki, T. Aoki, H. Sone
    • Organizer
      2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo
    • Place of Presentation
      学術総合センター(東京都千代田区)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] コネクタ接触不良部近傍の磁界分布に基づく電流路の推定

    • Author(s)
      佐藤友哉, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      新潟県新潟市
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25820098
  • [Presentation] 緩みによるコネクタ接触境界部の変化が放射電磁雑音に与える影響

    • Author(s)
      林優一
    • Organizer
      継電器・コンタクトテクノロジ研究会
    • Place of Presentation
      東京
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22760204
  • [Presentation] 緩みを有するコネクタの接触境界における電流分布解析

    • Author(s)
      佐藤友哉, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      計測自動制御学会東北支部第285回研究集会
    • Place of Presentation
      宮城県多賀城市
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25820098
  • [Presentation] カードを用いた安全な三入力多数決の計算について

    • Author(s)
      西田拓也, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
    • Organizer
      コンピュータセキュリティシンポジウム2013
    • Place of Presentation
      かがわ国際会議場(香川県高松市)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] サイドチャネル認証の為の漏洩モデルに関する一考察

    • Author(s)
      松原有沙、町田卓謙、林優一、崎山一男
    • Organizer
      電子情報通信学会 2015年暗号と情報セキュリティシンポジウム
    • Place of Presentation
      リーガロイヤルホテル小倉(北九州市)
    • Year and Date
      2015-01-20 – 2015-01-23
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26240005
  • [Presentation] コネクタ接触不良部近傍の磁界分布に基づく電流路の推定

    • Author(s)
      佐藤友哉, 林優一, 水木敬明,曽根秀昭,
    • Organizer
      2014年電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      新潟大学(新潟県新潟市)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] 漏えい情報を用いた注入タイミングを制御可能な暗号モジュール外部からの故障注入メカニズムに関する検討

    • Author(s)
      小林瑞樹, 林優一, 本間尚文, 水木敬明, 青木孝文, 曽根 秀昭
    • Organizer
      電子情報通信学会 環境電磁工学研究会
    • Place of Presentation
      東北大学(宮城県仙台市)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] Simulation‐based Analysis of Inductance at Loosened Connector Contact Boundary

    • Author(s)
      Tomoya Sato, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone
    • Organizer
      The 27th International Conference on Electrical Contacts
    • Place of Presentation
      International Congress Center Dresden(ドレスデン,ドイツ)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] Investigation of Noise Interference due to Connector Contact Failure in a Coaxial Cable

    • Author(s)
      Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone
    • Organizer
      International Session on Electromechanical Devices IS-EMD2013
    • Place of Presentation
      華中科技大学(武漢,中国)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • [Presentation] 安全・安心な情報通信社会を実現する電磁情報セキュリティ評価・対策技術

    • Author(s)
      林優一, 本間尚文, 曽根秀昭
    • Organizer
      2013年電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Place of Presentation
      福岡工業大学(福岡県福岡市)
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289068
  • 1.  藤本 大介 (60732336)
    # of Collaborated Projects: 7 results
    # of Collaborated Products: 86 results
  • 2.  SONE Hideaki (40134019)
    # of Collaborated Projects: 6 results
    # of Collaborated Products: 99 results
  • 3.  MIZUKI Takaaki (90323089)
    # of Collaborated Projects: 4 results
    # of Collaborated Products: 90 results
  • 4.  本間 尚文 (00343062)
    # of Collaborated Projects: 3 results
    # of Collaborated Products: 22 results
  • 5.  Nagata Makoto (40274138)
    # of Collaborated Projects: 2 results
    # of Collaborated Products: 23 results
  • 6.  Sakiyama Kazuo (80508838)
    # of Collaborated Projects: 2 results
    # of Collaborated Products: 12 results
  • 7.  三浦 典之 (70650555)
    # of Collaborated Projects: 2 results
    # of Collaborated Products: 26 results
  • 8.  嶺岸 茂樹 (70146116)
    # of Collaborated Projects: 2 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 9.  Kim YoungWoo (30862403)
    # of Collaborated Projects: 2 results
    # of Collaborated Products: 14 results
  • 10.  DANGER Jean-Luc
    # of Collaborated Projects: 2 results
    # of Collaborated Products: 2 results
  • 11.  Kawamata Ken (00244905)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 12.  Arakawa Yutaka (30424203)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 1 results
  • 13.  石上 忍 (80242345)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 14.  吉田 孝博 (10385544)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 15.  森 育子 (20455140)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 16.  菅原 健 (60785236)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 1 results
  • 17.  李 陽 (20821812)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 18.  安本 慶一 (40273396)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 2 results
  • 19.  衣川 昌宏 (00710691)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 3 results
  • 20.  春日 貴志 (10344772)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 21.  富岡 雅弘 (00838683)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 22.  VERBAUWHEDE Ingrid
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 23.  BHASIN Shivam
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results

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