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MIYAKE Yousuke  三宅 庸資

Researcher Number 60793403
Other IDs
  • ORCIDhttps://orcid.org/0000-0002-6742-5105
Affiliation (based on the past Project Information) *help 2017 – 2021: 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 研究職員
Review Section/Research Field
Principal Investigator
Basic Section 60040:Computer system-related / Computer system
Except Principal Investigator
Intensification of Artifact Systems
Keywords
Principal Investigator
情報工学 / 計算機システム / ディペンダブル・コンピューティング / VLSI設計技術 / フィールドテスト / LSIテスト / リングオシレータ / デジタルセンサ / 電圧センサ / 温度センサ … More / 信頼性試験 / NBTI劣化 / 劣化 / システムオンチップ / FPGA … More
Except Principal Investigator
VLSI / 組み込み自己テスト / 予防安全 / 組込み自己テスト / データマイニング / VLSIテスト / フィールド高信頼化 Less
  • Research Projects

    (3 results)
  • Research Products

    (33 results)
  • Co-Researchers

    (2 People)
  •  A digital temperature and voltage sensor that can reduce effects of degradation in VLSIsPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      Miyake Yousuke
    • Project Period (FY)
      2019 – 2021
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
    • Review Section
      Basic Section 60040:Computer system-related
    • Research Institution
      Kyushu Institute of Technology
  •  Preventive safety for VLSIs Based on Adaptive Test during Field Operation

    • Principal Investigator
      梶原 誠司
    • Project Period (FY)
      2018 – 2022
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • Research Field
      Intensification of Artifact Systems
    • Research Institution
      Kyushu Institute of Technology
  •  A digital temperature and voltage sensor with high-speed and small areaPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      MIYAKE Yousuke
    • Project Period (FY)
      2017 – 2018
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
    • Research Field
      Computer system
    • Research Institution
      Kyushu Institute of Technology

All 2022 2021 2020 2019 2018 2017

All Journal Article Presentation

  • [Journal Article] Innovative Test Practices in Asia2020

    • Author(s)
      Takeshi Iwasaki, Masao Aso, Haruji Futami, Satoshi Matsunaga, Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji Kajihara, Yukiya Miura, Smith Lai, Gavin Hung, Harry H. Chen, Haruo Kobayashi, Kazumi Hatayama
    • Journal Title

      Proc. IEEE VLSI Test Symposium

      Volume: - Pages: 1-1

    • DOI

      10.1109/vts48691.2020.9107640

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [Journal Article] High Precision PLL Delay Matrix with Overclocking and Double Data Rate for Accurate FPGA Time-to-Digital Converter2020

    • Author(s)
      Poki Chen, Jian-Ting Lan, Ray-Ting Wang, Nguyen My Qui, Yousuke Miyake and Seiji Kajihara
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems

      Volume: Volume: 28, Issue: 4 Issue: 4 Pages: 904-913

    • DOI

      10.1109/tvlsi.2019.2962606

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014, KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [Journal Article] On Evaluation for Aging-Tolerant Ring Oscillators with Accelerated Life Test And Its Application to A Digital Sensor2020

    • Author(s)
      Masayuki Gondo, Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji Kajihara
    • Journal Title

      Proc. IEEE Asian Test Symposium

      Volume: - Pages: 1-6

    • DOI

      10.1109/ats49688.2020.9301588

    • NAID

      120007006769

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014, KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [Journal Article] Path Delay Measurement with Correction for Temperature and Voltage Variations2020

    • Author(s)
      Yousuke Miyake,Takaaki Kato, Seiji KAJIHARA
    • Journal Title

      IEEE International Test Conference in Asia

      Volume: - Pages: 112-117

    • DOI

      10.1109/itc-asia51099.2020.00031

    • NAID

      120007006757

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014, KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [Journal Article] On-Chip Delay Measurement for Degradation Detection And Its Evaluation under Accelerated Life Test2020

    • Author(s)
      Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji KAJIHARA, Masao ASO, Haruji FUTAMI, Satoshi MATSUNAGA, Yukiya MIURA,
    • Journal Title

      IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, On-line symposium

      Volume: - Pages: 1-6

    • DOI

      10.1109/iolts50870.2020.9159717

    • NAID

      120007006773

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014, KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [Journal Article] A Selection Method of Ring Oscillators for An On-Chip Digital Temperature And Voltage Sensor2019

    • Author(s)
      Miyake Yousuke、Sato Yasuo、Kajihara Seiji
    • Journal Title

      IEEE International Test Conference in Asia

      Volume: - Pages: 13-18

    • DOI

      10.1109/itc-asia.2019.00016

    • NAID

      120006777000

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014, KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [Journal Article] On-Chip Delay Measurement for In-Field Test of FPGAs2019

    • Author(s)
      Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara
    • Journal Title

      Proc. IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC)

      Volume: - Pages: 130-137

    • DOI

      10.1109/prdc47002.2019.00043

    • NAID

      120007006775

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [Journal Article] On-Chip Test Clock Validation Using A Time-to-Digital Converter in FPGAs2019

    • Author(s)
      Yousuke Miyake, Seiji Kajihara, Poki Chen
    • Journal Title

      IEEE International Test Conference in Asia

      Volume: - Pages: 57-162

    • DOI

      10.1109/itc-asia.2019.00040

    • NAID

      120006777001

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014, KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [Journal Article] On-Chip Delay Measurement for In-Field Test of FPGAs2019

    • Author(s)
      Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara
    • Journal Title

      IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing

      Volume: - Pages: 130-137

    • DOI

      10.1109/itc-asia.2019.00026

    • NAID

      120007006775

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [Journal Article] On the effects of real time and contiguous measurement with a digital temperature and voltage sensor2017

    • Author(s)
      Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara
    • Journal Title

      IEEE International Test Conference in Asia 2017

      Volume: - Pages: 125-130

    • NAID

      120006776995

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17K12660
  • [Presentation] オンチップ遅延測定における温度電圧の影響補正について2022

    • Author(s)
      加藤隆明, 三宅庸資, 梶原誠司
    • Organizer
      電子情報通信学会技術研究報告
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [Presentation] オンチップ遅延測定における製造バラツキを考慮した温度電圧影響の補正手法2022

    • Author(s)
      加藤隆明, 三宅庸資, 梶原誠司
    • Organizer
      電子情報通信学会DC研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [Presentation] 回路の動作状況の違いに伴う劣化予測モデル更新の有効性について2021

    • Author(s)
      権藤昌之, 三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司
    • Organizer
      電子情報通信学会2021年総合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [Presentation] 機械学習を用いたデジタル温度電圧センサの精度向上手法の検討2020

    • Author(s)
      権藤昌之, 三宅庸資, 梶原誠司
    • Organizer
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [Presentation] 機械学習を用いたデジタル温度電圧センサの精度向上について2020

    • Author(s)
      権藤昌之, 三宅庸資, 梶原誠司
    • Organizer
      電子情報通信学会技術研究報告,DC研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [Presentation] 勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について2020

    • Author(s)
      森誠一郎, 権藤昌之, 三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司
    • Organizer
      電子情報通信学会DC研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [Presentation] オンチップ遅延測定における温度電圧影響の補正手法について2020

    • Author(s)
      加藤 隆明, 三宅 庸資, 梶原 誠司
    • Organizer
      第82回FTC研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [Presentation] フィールドテスト向けオンチップ遅延測定回路のIoT適用2020

    • Author(s)
      三宅庸資, 梶原誠司
    • Organizer
      電子情報通信学会2020年総合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [Presentation] Innovative Test Practices in Asia2020

    • Author(s)
      T. Iwasaki, M. Aso, H. Futami, S. Matsunaga, Y. Miyake, T. Kato, S. Kajihara, Y. Miura, S. Lai, G. Hung, H.H. Chen, H. Kobayashi, K. Hatayama
    • Organizer
      IEEE VLSI Test Symposium
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [Presentation] 勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について2020

    • Author(s)
      森誠一郎, 権藤昌之, 三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司
    • Organizer
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [Presentation] FPGAにおけるオンチップ可変テストクロック生成器の検討2019

    • Author(s)
      古川大悟, 三宅庸資, 梶原誠司, Poki Chen
    • Organizer
      第80回FTC研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17K12660
  • [Presentation] 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測2019

    • Author(s)
      三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司, 麻生正雄, 二見治司, 松永恵士, 三浦幸也
    • Organizer
      電子情報通信学会技術研究報告,DC研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [Presentation] 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測2019

    • Author(s)
      三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司, 麻生正雄, 二見治司, 松永恵士, 三浦幸也
    • Organizer
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [Presentation] FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定2018

    • Author(s)
      三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司
    • Organizer
      電子情報通信学会技術研究報告
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17K12660
  • [Presentation] FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定2018

    • Author(s)
      三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司
    • Organizer
      電子情報通信学会DC研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [Presentation] FPGAにおける自己補正可能なオンチップデジタル温度センサ2018

    • Author(s)
      三宅庸資, 梶原誠司
    • Organizer
      第17回情報科学技術フォーラム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [Presentation] デジタル温度電圧センサの精度向上のための推定式の拡充について2018

    • Author(s)
      波多江雅貴, 三宅庸資, 加藤隆明, 佐藤康夫, 梶原誠司
    • Organizer
      電子情報通信学会2018年総合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17K12660
  • [Presentation] FPGAにおける自己補正可能なオンチップデジタル温度センサ2018

    • Author(s)
      三宅庸資, 梶原誠司
    • Organizer
      第17回情報科学技術フォーラム講演論文集(FIT2018)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17K12660
  • [Presentation] On-Chip Delay Measurement for In-field Periodic Test of FPGAs2018

    • Author(s)
      Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara
    • Organizer
      IEEE International Workshop on Automotive Reliability & Test
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17K12660
  • [Presentation] デジタル温度電圧センサにおける特定温度電圧領域の推定精度向上手法2018

    • Author(s)
      井上賢二, 三宅庸資, 梶原誠司
    • Organizer
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17K12660
  • [Presentation] FPGAにおける自己補正可能なオンチップデジタル温度センサ2018

    • Author(s)
      三宅庸資, 梶原誠司
    • Organizer
      第17回情報科学技術フォーラム講演論文集(FIT2018)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [Presentation] デジタル温度電圧センサにおける温度2点補正手法の検討2017

    • Author(s)
      三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司
    • Organizer
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17K12660
  • [Presentation] FPGAの自己テストのためのTDCを用いたテストクロック観測手法の検討2017

    • Author(s)
      三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司
    • Organizer
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17K12660
  • 1.  梶原 誠司 (80252592)
    # of Collaborated Projects: 2 results
    # of Collaborated Products: 25 results
  • 2.  大竹 哲史 (20314528)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results

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