INOUE Tomoo 井上智生

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井上智生イノウエトモオ

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Researcher Number	40252829
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Affiliation (Current)	2025: 広島市立大学, 情報科学研究科, 教授
Affiliation (based on the past Project Information) *help	2024: 広島市立大学, 情報科学研究科, 教授 2015 – 2018: 広島市立大学, 情報科学研究科, 教授 2011 – 2013: 広島市立大学, 情報科学研究科, 教授 2007 – 2009: Hiroshima City University, 情報科学研究科, 教授 2004 – 2005: 広島市立大学, 情報科学部, 教授 … More 2002 – 2003: 広島市立大学, 情報科学部, 助教授 1999 – 2000: 広島市立大学, 情報科学部, 助教授 1997 – 1998: 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助手 1994 – 1995: 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助手 Less
Review Section/Research Field	Principal Investigator 計算機科学 / Computer system/Network / Basic Section 60040:Computer system-related / Computer system Except Principal Investigator 計算機科学 / Computer system/Network
Keywords	Principal Investigator テスト生成 / 高位合成 / 耐故障設計 / 信頼性 / テスト容易化設計 / VLSI-CAD / 安全設計 / エラー・トレラント / 漸次縮退 / 誤りの許容性 … More / フェール・オペレーショナル / 時間制約 / 組込みLSI / 機能安全 / 高信頼化設計 / ディペンダビリティ / リアルタイム性 / 安全性 / モデルベース設計 / 動作合成 / サイバーフィジカルシステム / 3重系 / 誤り訂正・検出 / バインディング / スケジューリング / コントローラ合成 / 耐過渡故障設計 / 誤り訂正・誤り検出 / 3重系/TMR / 過渡故障 / 高位合成/動作合成 / ソフトエラー / ディペンダブル・コンピューティング / システムオンチップ / システムオンチップ.ディペンダブル・コンピューティング / 設計自動化 / リコンフィギャラブル / プロセッサ / 動的再構成 / テスト実行時間 / テスト / マルチコンテキスト / 粗粒度並列プロセッサ / 動的再構成可能 / スキャン設計 / 最適化 / 大規模集積回路 / 順路回路 / 並列処理 / アルゴリズム / 順序回路 / VLSI CAD … More Except Principal Investigator Variable-length coding / Reconfigurability / Test cost / Statistical coding / Test data / Decompressor / Data compression / LSI testing / LSIテスター / ハフマン符号 / テストベクトル / 再構成可能 / 圧縮器 / アーキテクチャ / 再構成可能性 / テストコスト / 統計型符号 / テストデータ / 展開器 / データ圧縮 / LSIテスト / CONTROLLER / DATA PATH / REGISTER TRANSFERLEVEL / DATA FLOW GRAPH / VLSITEST / HIGHLEVEL SYNTHESIS / SYNTHESIS FOR TESTABILITY / DESIGN FOR TESTABILITY / スキャン設計 / テスト容易化合物 / コントローラ / データパス / レジスタ転送レベル / データフローグラフ / VLSIテスト / 高位合成 / テスト容易化合成 / テスト容易化設計 / performance analysis / fault parallelizm / multi-processor system / parallel processing / test generation / VLSI circuit / 性能解析 / 故障並列法 / マルチプロセッサシステム / 並列処理 / テスト生成 / 大規模論理回路 Less

Design of fail-operational systems based on error acceptabilityPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  井上智生
- Project Period (FY)
  2024 – 2026
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Review Section
  
  Basic Section 60040:Computer system-related
- Research Institution
  Hiroshima City University
A method for behavioral synthesis of embedded LSI for dependable cyber-physical systemsPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  INOUE Tomoo
- Project Period (FY)
  2015 – 2018
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Research Field
  
  Computer system
- Research Institution
  Hiroshima City University
A method of high-level synthesis for multi-cycle transient fault tolerant digital systemsPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  INOUE Tomoo
- Project Period (FY)
  2011 – 2013
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Research Field
  
  Computer system/Network
- Research Institution
  Hiroshima City University
Studies on High-Level Synthesis for Testability Based on Combinational Test Generation ComplexityPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  INOUE Tomoo
- Project Period (FY)
  2007 – 2009
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Research Field
  
  Computer system/Network
- Research Institution
  Hiroshima City University
Studies on Test Architecture for Test Data Compression / Decompression
- Principal Investigator
  
  ICHIHARA Hideyuki
- Project Period (FY)
  2003 – 2005
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- Research Field
  
  Computer system/Network
- Research Institution
  Hiroshima City University
再構成可能なプロセッサのテストに関する研究Principal Investigator
- Principal Investigator
  
  井上智生
- Project Period (FY)
  2002 – 2004
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
- Research Field
  
  計算機科学
- Research Institution
  Hiroshima City University
大規模集積回路に対するテスト容易化設計の最適化技術に関する研究Principal Investigator
- Principal Investigator
  
  井上智生
- Project Period (FY)
  1999 – 2000
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
- Research Field
  
  計算機科学
- Research Institution
  Hiroshima City University
大規模順序回路に対するテスト生成の並列処理に関する研究Principal Investigator
- Principal Investigator
  
  井上智生
- Project Period (FY)
  1997 – 1998
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
- Research Field
  
  計算機科学
- Research Institution
  Nara Institute of Science and Technology
BASIC STUDIES ON VLSISYNTHESIS FOR TESTABILITY FROM HIGHER LEVEL
- Principal Investigator
  
  FUJIWARA Hideo
- Project Period (FY)
  1997 – 2000
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (B).
- Research Field
  
  計算機科学
- Research Institution
  NARA INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
Studies on parallel processing of test generation for VLSI circuits
- Principal Investigator
  
  FUJIWARA Hideo
- Project Period (FY)
  1994 – 1995
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
- Research Field
  
  計算機科学
- Research Institution
  Nara Institute of Science and Technology

All 2018 2017 2016 2013 2012 2011 2010 2009 2007 2005 2004 Other

All Journal Article Presentation

[Journal Article] A Heuristic Algorithm for Operational Unit Binding to Synthesize Multi-Cycle Transient Fault Tolerant Datapaths2013
- Author(s)
  Tsuyoshi Iwagaki, Tatsuya Nakaso, Ryoko Ohkubo, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue
- Journal Title
  
  Digest of Papers 14th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT)
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23500065
[Journal Article] High- Level Synthesis for Multi-Cycle Transient Fault Tolerant Datapaths2011
- Author(s)
  Tomoo Inoue, Hayato Henmi, Yuki Yoshikawa, Hideyuki Ichihara
- Journal Title
  
  Proc. IEEE Int. On-Line Testing Symp. (IOLTS)
  
  Pages: 13-18
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23500065
[Journal Article] High-Level Synthesis for Multi-Cycle Transient Fault Tolerant Datapaths2011
- Author(s)
  Tomoo Inoue, Hayato Henmi, Yuki Yoshikawa, Hideyuki Ichihara
- Journal Title
  
  Proc. IEEE Int. On-Line Testing Symposium 2011
  
  Volume: - Pages: 13-18
- DOI
  10.1109/iolts.2011.5993804
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23500065
[Journal Article] A Fast Threshold Test Generation Algorithm Based on 5-Valued Logic2010
- Author(s)
  井上, 出水, 吉川, 市原
- Journal Title
  
  IEEE Proc.DELTA
  
  Pages: 345-349
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500048
[Journal Article] 部分スルー可検査性に基づく順序回路のテスト生成法2009
- Author(s)
  岡, Ooi, 市原, 井上, 藤原
- Journal Title
  
  電子情報通信学会論文誌D Vol.J92-D, No.12
  
  Pages: 2207-2216
- NAID
  110007482414
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500048
[Journal Article] Huffman-Based Test Response Coding2005
- Author(s)
  H.Ichihara, M.Shintani, T.Inoue
- Journal Title
  
  IEICE Trans.Inf. & Syst. E88-D・1
  
  Pages: 158-161
- NAID
  110003214149
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15300021
[Journal Article] テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について2005
- Author(s)
  新谷道広, 市原英行, 越智正邦, 井上智生
- Journal Title
  
  電子情報通信学会技術研究報告 104・629
  
  Pages: 35-40
- NAID
  110003318242
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15300021
[Journal Article] 高圧縮可能かつコンパクトなテスト生成について2005
- Author(s)
  市原英行, 井上智生
- Journal Title
  
  電子情報通信学会論文誌D-I J88D-I・6
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15300021
[Journal Article] A Huffman-based coding with efficient test application2005
- Author(s)
  M.Shintani, T.Ohara, H.Ichihara, T.Inoue
- Journal Title
  
  Proc.ASP-DAC
  
  Pages: 75-78
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15300021
[Journal Article] A Test Compression Algorithm for Reducing Test Application Time2004
- Author(s)
  M.Shintani, T.Ohara, H.Ichihara, T.Inoue
- Journal Title
  
  5th Workshop on RTL and High Level Testing
  
  Pages: 53-58
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15300021
[Journal Article] A Test Decompression Scheme for Variable-Length Coding2004
- Author(s)
  H.Ichihara, M.Ochi, M.Shintani, T.Inoue
- Journal Title
  
  IEEE Proc.Asian Test Symp.
  
  Pages: 426-431
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15300021
[Journal Article] 部分スルー可検査性に基づく順序回路のテスト生成法
- Author(s)
  岡伸也, Ooi Chia Yee, 市原英行, 井上智生, 藤原秀雄
- Journal Title
  
  電子情報通信学会論文誌D Vol.J92-D,No.12
- NAID
  110007482414
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500048
[Presentation] MATLAB/Simulink を用いた自動運転システムの性能低下故障に関する考察2018
- Author(s)
  行廣和倫，岩垣剛，市原英行，井上智生
- Organizer
  電子情報通信学会機能集積情報システム研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15K00081
[Presentation] Zynq を用いた相互再構成型耐故障システムの実装2017
- Author(s)
  塩山創，岩垣剛，市原英行，井上智生
- Organizer
  第62回電子情報通信学会機能集積情報システム研究会
- Place of Presentation
  湘南工科大学
- Year and Date
  2017-03-03
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15K00081
[Presentation] 精度切り替え可能な演算回路の設計とその応用について2017
- Author(s)
  川嶋聖也，岩垣剛，市原英行，井上智生
- Organizer
  第62回電子情報通信学会機能集積情報システム研究会
- Place of Presentation
  湘南工科大学
- Year and Date
  2017-03-03
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15K00081
[Presentation] 自動追従制御機構のサイバーフィジカルモデルとその実装2016
- Author(s)
  三藤泰武，川嶋聖也，岩垣剛，市原英行，井上智生
- Organizer
  第59回　電子情報通信学会機能集積情報システム研究会
- Place of Presentation
  長崎大学文教キャンパス
- Year and Date
  2016-03-04
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15K00081
[Presentation] ディペンダビリティを考慮したサイバーフィジカルシステムのモデル化について2016
- Author(s)
  石森裕太郎，川嶋聖也，三藤泰武，岩垣剛，市原英行，井上智生
- Organizer
  第59回　電子情報通信学会機能集積情報システム研究会
- Place of Presentation
  長崎大学文教キャンパス
- Year and Date
  2016-03-04
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15K00081
[Presentation] 耐マルチサイクル過渡故障を指向した高位合成におけるコントローラの設計について2013
- Author(s)
  石森裕太郎, 中祖達也, 岩垣剛, 市原英行, 井上智生
- Organizer
  信学技報 (DC2013-34)
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23500065
[Presentation] 耐マルチサイクル過渡故障を指向した高位合成におけるコントローラの設計について2013
- Author(s)
  石森裕太郎, 中祖達也, 岩垣剛, 市原英行, 井上智生
- Organizer
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- Place of Presentation
  鹿児島県文化センター
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23500065
[Presentation] A Heuristic Algorithm for Operational Unit Binding to Synthesize Multi-Cycle Transient Fault Tolerant Datapaths2013
- Author(s)
  Tsuyoshi Iwagaki, Tatsuya Nakaso, Ryoko Ohkubo, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue
- Organizer
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- Place of Presentation
  Taiwan
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23500065
[Presentation] 耐過渡故障データパス合成における演算器バインディングのためのヒューリスティックアルゴリズム2012
- Author(s)
  中祖達也, 大窪凉子, 岩垣剛, 市原英行, 井上智生
- Organizer
  デザインガイア2012 -VLSI設計の新しい大地-
- Place of Presentation
  九州大学医学部百年講堂
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23500065
[Presentation] 耐過渡故障データパス合成における演算器バインディングのためのヒューリスティックアルゴリズム2012
- Author(s)
  中祖達也, 大窪凉子, 岩垣剛, 市原英行, 井上智生
- Organizer
  信学技報(DC2012-50)
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23500065
[Presentation] スイッチの機能を考慮した部分スルー可検査性に関する考察2010
- Author(s)
  岡伸也, 吉川祐樹, 市原英行, 井上智生
- Organizer
  信学技法(ディペンダブルコンピューティング研究会)
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500048
[Presentation] Test Generation and DFT Based on Partial Thru Testability2009
- Author(s)
  Nobuya Oka, Chia Yee Ooi, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
- Organizer
  Proc. European Test Symposium
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500048
[Presentation] An Extended Class of Acyclically Testable Circuits2007
- Author(s)
  岡, ウイ, 市原, 井上, 藤原
- Organizer
  Workshop on RTL and High Level Testing
- Place of Presentation
  北京(中国)
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500048
[Presentation] An Extended Class of Acyclically Testable Circuits2007
- Author(s)
  Nobuya Oka, Chia Yee Ooi, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
- Organizer
  Dig. of Papers of 8th Workshop on RTL and High-Level Testing (WRTLT '07)
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500048
[Presentation] スト生成のための最適スルー木集合構成法2007
- Author(s)
  森永広介, 岡伸也, 吉川祐樹, 市原英行, 井上智生
- Organizer
  信学技法
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500048

1. ICHIHARA Hideyuki (50326427)

# of Collaborated Projects: 3 results

# of Collaborated Products: 14 results
2. YOSHIKAWA Yuki (50453212)

# of Collaborated Projects: 2 results

# of Collaborated Products: 3 results
3. FUJIWARA Hideo (70029346)

# of Collaborated Projects: 2 results

# of Collaborated Products: 0 results
4. MASUZAWA Toshimitsu (50199692)

# of Collaborated Projects: 1 results

# of Collaborated Products: 0 results
5. 井上美智子 (30273840)

# of Collaborated Projects: 1 results

# of Collaborated Products: 0 results

INOUE Tomoo 井上 智生

井上 智生 イノウエ トモオ

Research Projects

Research Products

Co-Researchers

Design of fail-operational systems based on error acceptabilityPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Review Section

Research Institution

A method for behavioral synthesis of embedded LSI for dependable cyber-physical systemsPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

A method of high-level synthesis for multi-cycle transient fault tolerant digital systemsPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

Studies on High-Level Synthesis for Testability Based on Combinational Test Generation ComplexityPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

Studies on Test Architecture for Test Data Compression / Decompression

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

再構成可能なプロセッサのテストに関する研究Principal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

大規模集積回路に対するテスト容易化設計の最適化技術に関する研究Principal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

大規模順序回路に対するテスト生成の並列処理に関する研究Principal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

BASIC STUDIES ON VLSISYNTHESIS FOR TESTABILITY FROM HIGHER LEVEL

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

Studies on parallel processing of test generation for VLSI circuits

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

[Journal Article] A Heuristic Algorithm for Operational Unit Binding to Synthesize Multi-Cycle Transient Fault Tolerant Datapaths2013

Author(s)

Journal Title

Data Source

[Journal Article] High- Level Synthesis for Multi-Cycle Transient Fault Tolerant Datapaths2011

Author(s)

Journal Title

Data Source

[Journal Article] High-Level Synthesis for Multi-Cycle Transient Fault Tolerant Datapaths2011

Author(s)

Journal Title

DOI

Data Source

[Journal Article] A Fast Threshold Test Generation Algorithm Based on 5-Valued Logic2010

Author(s)

INOUE Tomoo 井上智生

井上智生イノウエトモオ