| Researcher Number |
40556908
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| Other IDs |
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| Affiliation (Current) |
2025: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, 計量標準総合センター, 主任研究員
2025: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, 情報・人間工学領域, 主任研究員
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| Affiliation (based on the past Project Information) *help |
2025: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, 計量標準総合センター, 主任研究員
2020 – 2022: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, 計量標準総合センター, 主任研究員
2017: 大阪大学, 超高圧電子顕微鏡センター, 助教
2013 – 2014: 大阪大学, 超高圧電子顕微鏡センター, 助教
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| Review Section/Research Field |
- Principal Investigator
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Basic Section 21030:Measurement engineering-related /
Nanostructural chemistry
- Except Principal Investigator
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Thin film/Surface and interfacial physical properties
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| Keywords |
- Principal Investigator
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透過電子顕微鏡 / SIトレーサビリティー / 試料加工 / 不確かさ / 測長 / 試料調製 / シリコン / 倍率校正 / ナノメトロロジー / 原子間力顕微鏡
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/ アラニン / 炭化ニオブ / カーボンナノホーン / 電子エネルギー損失分光 / 走査透過電子顕微鏡 / ナノ制限空間 / 電子エネルギー損失分光分析 / 構造相転移 / 氷 / カルコゲン / カーボンナノチューブ / ナノマテリアル
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- Except Principal Investigator
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単原子 / ナノ構造 / 深さ分解能 / 三次元計測 / 動画計測 / ナノ粒子 / 結晶格子縞 / 焦点位置スキャン / 収差補正TEM / 三次元観察 / 非整合エピタキシャル界面 / 三次元分布 / 金属ナノ粒子 / 格子縞コントラスト / 正焦点 / 収差補正電子顕微鏡
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