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Yoshikawa Yuki  吉川 祐樹

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YOSHIKAWA Yuki  吉川 祐樹

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Researcher Number 50453212
Other IDs
Affiliation (Current) 2025: 呉工業高等専門学校, 機械工学分野, 准教授
Affiliation (based on the past Project Information) *help 2014: 呉工業高等専門学校, 機械工学分野, 准教授
2013: 呉工業高等専門学校, 機械工学分野, 講師
2012: 呉工業高等専門学校, その他部局等, 講師
2007 – 2009: Hiroshima City University, 情報科学研究科, 助教
2008: Hiroshima City University, 大学院・情報科学研究科, 助教
Review Section/Research Field
Principal Investigator
Computer system/Network
Except Principal Investigator
Computer system/Network
Keywords
Principal Investigator
LSIのテスト / LSIのCAD / 遅延故障のテスト / LSIの高信頼設計 / 高位合成 / 遅延テスト容易性 / 許容故障 / 許容故障判定 / 耐故障設計 / 設計工学 … More
Except Principal Investigator
… More ディペンダブル・コンピューティング / システムオンチップ / テスト生成 / システムオンチップ.ディペンダブル・コンピューティング / VLSI-CAD / テスト容易化設計 / 設計自動化 Less
  • Research Projects

    (3 results)
  • Research Products

    (11 results)
  • Co-Researchers

    (2 People)
  •  Development of a High-level Synthesis System for Path Delay TestabilityPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      YOSHIKAWA Yuki
    • Project Period (FY)
      2012 – 2014
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
    • Research Field
      Computer system/Network
    • Research Institution
      Kure National College of Technology
  •  Studies on High-Level Synthesis for Testability Based on Combinational Test Generation Complexity

    • Principal Investigator
      INOUE Tomoo
    • Project Period (FY)
      2007 – 2009
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Research Field
      Computer system/Network
    • Research Institution
      Hiroshima City University
  •  Test cost reduction based on acceptable fault identification using high-level circuit informationPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      YOSHIKAWA Yuki
    • Project Period (FY)
      2007 – 2008
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Young Scientists (Start-up)
    • Research Field
      Computer system/Network
    • Research Institution
      Hiroshima City University

All 2013 2010 2009 2008 2007 Other

All Journal Article Presentation

  • [Journal Article] パス遅延故障の過剰テストを削減するためのテストパタン生成法2013

    • Author(s)
      古本圭, 吉川祐樹
    • Journal Title

      情報科学技術フォーラム講演論文集

      Volume: RC-004 Pages: 85-88

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24700056
  • [Journal Article] A Fast Threshold Test Generation Algorithm Based on 5-Valued Logic2010

    • Author(s)
      井上, 出水, 吉川, 市原
    • Journal Title

      IEEE Proc.DELTA

      Pages: 345-349

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19500048
  • [Presentation] A Scheme of Test Pattern Generation to Reduce Over-testing of Path Delay Faults2013

    • Author(s)
      Kei Furumoto and Yuki Yoshikawa
    • Organizer
      Proc. 3rd International Symposium on Technology for Sustainability (ISTS)
    • Place of Presentation
      香港(中国)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24700056
  • [Presentation] A Binding Algorithm in High-Level Synthesis for Path Delay Testability2013

    • Author(s)
      Yuki Yoshikawa
    • Organizer
      18th Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)
    • Place of Presentation
      国際会議場 パシフィコ横浜
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24700056
  • [Presentation] スイッチの機能を考慮した部分スルー可検査性に関する考察2010

    • Author(s)
      岡伸也, 吉川祐樹, 市原英行, 井上智生
    • Organizer
      信学技法(ディペンダブルコンピューティング研究会)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19500048
  • [Presentation] 閾値テストのための5値論理に基づくテスト生成アルゴリズムに関する考察2009

    • Author(s)
      出水伸和, 吉川祐樹, 市原英行, 井上智生
    • Organizer
      信学技報
    • Place of Presentation
      (発表予定)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19800035
  • [Presentation] 故障の許容性に基づく閾値テスト生成アルゴリズムの高速化2009

    • Author(s)
      中島佑介, 吉川祐樹, 市原英行, 井上智生
    • Organizer
      信学技報
    • Place of Presentation
      Vol. 108, No. 431, 1-6
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19800035
  • [Presentation] 故障の許容性に基づく閾値テスト生成のための回路モデル2008

    • Author(s)
      周藤健太, 吉川祐樹, 市原英行, 井上智生
    • Organizer
      信学技報
    • Place of Presentation
      (Vol.108, No.352, 5-10)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19800035
  • [Presentation] スト生成のための最適スルー木集合構成法2007

    • Author(s)
      森永広介, 岡伸也, 吉川祐樹, 市原英行, 井上智生
    • Organizer
      信学技法
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19500048
  • [Presentation] 遅延故障のテスト容易性を指向した高位合成におけるスケジューリングに関する研究

    • Author(s)
      中谷夏主政, 吉川祐樹
    • Organizer
      総合大会 情報・システムソサイエティ特別企画
    • Place of Presentation
      立命館大学(滋賀県草津)
    • Year and Date
      2015-03-10 – 2015-03-13
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24700056
  • [Presentation] A Binding Method to Synthesize Path Delay Testable RTL Circuits

    • Author(s)
      Kei Furumoto and Yuki Yoshikawa
    • Organizer
      Proc. 4rd International Symposium on Technology for Sustainability (ISTS)
    • Place of Presentation
      台北(台湾)
    • Year and Date
      2014-11-19 – 2014-11-21
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24700056
  • 1.  ICHIHARA Hideyuki (50326427)
    # of Collaborated Projects: 2 results
    # of Collaborated Products: 3 results
  • 2.  INOUE Tomoo (40252829)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 3 results

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