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神谷 庄司  KAMIYA Shoji

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 00204628
その他のID
所属 (現在) 2025年度: 名古屋工業大学, 工学(系)研究科(研究院), 研究員
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2011年度 – 2023年度: 名古屋工業大学, 工学(系)研究科(研究院), 教授
2012年度: 名古屋工業大学, 工学研究科, 教授
2009年度 – 2011年度: 名古屋工業大学, 大学院・工学研究科, 教授
2008年度: 名古屋工業大学, 工学研究科, 教授
2006年度: 名古屋工大, 工学(系)研究科(研究院), 教授 … もっと見る
2004年度 – 2005年度: 名古屋工業大学, 工学研究科, 教授
2003年度 – 2004年度: 東北大, 工学(系)研究科(研究院), 助教授
1998年度 – 2002年度: 東北大学, 大学院・工学研究科, 助教授
1998年度: 東北大, 工学(系)研究科, 講師
1997年度: 東北大学, 大学院・工学研究科, 講師
1997年度: 東北大学, 大学院工学研究科, 講師
1996年度: 東北大学, 工学部, 講師
1995年度: 東北大学, 工学部, 助手
1993年度: 東北大学, 工学部, 講師 隠す
審査区分/研究分野
研究代表者
機械材料・材料力学 / 機械材料・材料力学 / 小区分18010:材料力学および機械材料関連 / ナノマイクロシステム / マイクロ・ナノデバイス / ナノ材料・ナノバイオサイエンス
研究代表者以外
機械材料・材料力学 / 航空宇宙工学 / 複合材料・物性
キーワード
研究代表者
シリコン / ポリシリコン / 付着強度 / crystal slip / fatigue / silicon / 電子顕微鏡観察 / Adhesive Strength / Thin Films / 薄膜 … もっと見る / その場観察 / 疲労試験 / MEMS / 機械材料・材料力学 / マイクロマシン / 疲労 / 損傷 / 準位 / 多結晶粒界 / 半導体材料 / 界面破壊じん性 / き裂進展抵抗曲線 / fatigue process / crystal slip deformation / micro-torsion device / fatiue / 疲労結晶すべり / 疲労過程 / crystal defect / 結晶欠陥 / 有機半導体 / フレキシブルエレクトロニクス / 有機トランジスタ / プリンテッドエレクトロニクス / 銀ナノ粒子インク配線 / 曲げ疲労試験 / 応力発光体 / 電子顕微鏡 / 電気特性変動 / 曲げ試験 / フレキシブルデバイス / 有機薄膜トランジスタ / Toughening / Crystalline structure / Substrate Bias / Non-Diamond Carbon / CVD diamond / 高じん化 / 結晶組織 / 基板バイアス処理 / 非晶質炭素 / 気相合成ダイヤモンド / Interface Fracture Toughness / Fracture resistance / Interface Crack / Quantitative Evaluation / 界面き裂 / 定量評価 / 結晶すべり / 分解せん断応力 / 転位群 / 剪断応力による寿命低下 / 圧縮応力による寿命低下 / すべり変形促進 / 転位集積 / ストライエーション / 疲労寿命低下 / 結晶すべり促進 / 水素 / NEMS / 環境効果 / 水 / 長期信頼性 / 共振デバイス / 透過電子顕微鏡 / 再結合欠陥 / EBIC / 透過型電子顕微鏡 / TEM / 圧縮応力 / 電子ビーム誘起電流 / 電子特性 / 疲労損傷 / 等価き裂 / 寿命分布 / 強度分布 / 寿命予測 / 疲労破壊 / 初期損傷 / 強度 / MEMS(マイクロマシン) / 単結晶シリコン / 強度評価 / はく離 / コーテイング / 電気抵抗特性 / 半導体 / ボロンドープ / 化学気相合成 / ダイヤモンド / はく離進展 / 荷重変位曲線 / 圧子押込み試験 / 結合エネルギー / 単独核破壊試験 / コンピュータシミュレーション / 界面き裂進展 / 破壊抵抗 / 単独粒子破壊試験 / ダイヤモンド薄膜 / 破壊挙動 / ひずみエネルギー解放率 / 層間はく離 / 繊維配向角 / 連続繊維強度複合材料席層板 / 複合材料 … もっと見る
研究代表者以外
電子パッケージ / Inverse Problem / Ultrasonics / 斜角探傷 / 超音波 / 逆問題 / 斜角深傷 / Numerical Simulation / 数値シミュレーション / Sensitivity / Crack Depth / Crack Closing Stress / Ultrasonic Angle-Beam Technique / Shear Wave / Closed Crack / 感度 / き裂深さ / き裂閉口圧 / 横波 / 閉口き裂 / Materials / IC Package / Delamination / Spatial Resolution / Imaging / Focusing Sensor / Microwave / Nondestructive Evaluation / 材料 / はく離 / 空間分解能 / イメージング / 集束センサ / マイクロ波 / 非破壊評価 / Bamboo Line / Polycrystalline Line / Governing Parameter / Failure Prediction / Electromigration / Metal Line / Electronic Package / バンブー配線 / 多結晶配線 / 支配パラメータ / 断線予測 / エレクトロマイグレーション / 金属薄膜配線 / Theoretical Model / Small Angle of Incidence / Ultrasonic Angle Beam Technique / Crack Closure / Crack / Nondestructive Testing / 理論モデル / 微小入射角 / き裂閉口 / き裂 / 超音速 / 非破壊検査 / Active Control System / Piezoelectric Ceramics / Micromechanics / Identification / Damage / Composite Laminate / 損傷拡大抑制システム / 圧電セラミックス / マイクロメカニックス / 同定 / 損傷 / 積層複合材構造 / 耐熱材料 / 繊維 / ゲル 隠す
  • 研究課題

    (21件)
  • 研究成果

    (129件)
  • 共同研究者

    (22人)
  •  シリコンの結晶すべりと疲労過程の3因子その場解析に向けたマイクロトーションテスト研究代表者

    • 研究代表者
      神谷 庄司
    • 研究期間 (年度)
      2022 – 2024
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分18010:材料力学および機械材料関連
    • 研究機関
      名古屋工業大学
  •  単結晶シリコンの疲労過程における結晶すべり進展の動的その場観察研究代表者

    • 研究代表者
      神谷 庄司
    • 研究期間 (年度)
      2019 – 2023
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分18010:材料力学および機械材料関連
    • 研究機関
      名古屋工業大学
  •  応力発光を利用したポリマーMEMSの構造信頼性新規評価体系構築への挑戦研究代表者

    • 研究代表者
      神谷 庄司
    • 研究期間 (年度)
      2016 – 2018
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      ナノマイクロシステム
    • 研究機関
      名古屋工業大学
  •  シリコンにおける水素脆性発現の可能性と疲労破壊に対する関与解明への挑戦研究代表者

    • 研究代表者
      神谷 庄司
    • 研究期間 (年度)
      2013 – 2015
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      名古屋工業大学
  •  透過電子顕微鏡中共振圧縮疲労試験によるシリコンの疲労プロセスのその場観察研究代表者

    • 研究代表者
      神谷 庄司
    • 研究期間 (年度)
      2011 – 2013
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      名古屋工業大学
  •  生体埋込MEMS実現に向けた液中疲労試験と無限寿命ステンレスシリコンへの挑戦研究代表者

    • 研究代表者
      神谷 庄司
    • 研究期間 (年度)
      2011 – 2012
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      マイクロ・ナノデバイス
    • 研究機関
      名古屋工業大学
  •  表面の局所電子プローブイメージングによるシリコンの機械的疲労損傷機構描像への挑戦研究代表者

    • 研究代表者
      神谷 庄司
    • 研究期間 (年度)
      2009 – 2010
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      名古屋工業大学
  •  統計解析と.傷電子センサによる疲労試験上要のシリコン材料疲労信頼性評価体系の創出研究代表者

    • 研究代表者
      神谷 庄司
    • 研究期間 (年度)
      2008 – 2010
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      名古屋工業大学
  •  粒界ディープレベルと疲労損傷との関連によるポリシリコンの新しい信頼性評価研究代表者

    • 研究代表者
      神谷 庄司
    • 研究期間 (年度)
      2004 – 2006
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      名古屋工業大学
  •  多結晶半導体材料の準位に基づくエレクトロナノメカニクスへの期待研究代表者

    • 研究代表者
      神谷 庄司
    • 研究期間 (年度)
      2004 – 2005
    • 研究種目
      萌芽研究
    • 研究分野
      ナノ材料・ナノバイオサイエンス
    • 研究機関
      名古屋工業大学
      東北大学
  •  In-Situセンサによるダイヤモンド薄膜の応力計測と超耐久コーティングの設計研究代表者

    • 研究代表者
      神谷 庄司
    • 研究期間 (年度)
      2002 – 2003
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東北大学
  •  閉じたき裂への斜角横波超音波の応答解明とき裂閉口圧・寸法の高感度非破壊定量評価

    • 研究代表者
      坂 真澄
    • 研究期間 (年度)
      2000 – 2001
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東北大学
  •  電子パッケージ薄膜配線の高密度電流による断線寿命および断線箇所の新規予測手法構築

    • 研究代表者
      笹川 和彦
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2000
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      弘前大学
  •  マイクロ波集束センサの開発と高分解能材料非破壊イメージングシステムの構築

    • 研究代表者
      坂 真澄
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2000
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東北大学
  •  炭素同素体の積極的複合による気相合成ダイヤモンドの飛躍的高じん化研究代表者

    • 研究代表者
      神谷 庄司
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2000
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東北大学
  •  閉じたき裂への高感度超音波応答の発現と非破壊定量評価手法の開拓

    • 研究代表者
      坂 真澄
    • 研究期間 (年度)
      1998 – 1999
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東北大学
  •  二軸制御マイクロインデンテーションによる薄膜付着強度の新規計測手法の確立研究代表者

    • 研究代表者
      神谷 庄司
    • 研究期間 (年度)
      1998 – 1999
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東北大学
  •  微視付着力の直接計測とダイヤモンド薄膜付着の新しい強度評価基準の創成研究代表者

    • 研究代表者
      神谷 庄司
    • 研究期間 (年度)
      1997 – 1998
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東北大学
  •  有機-無機複合均一ゲル繊維を前駆体とする超耐熱性無機繊維合成

    • 研究代表者
      黒川 洋一
    • 研究期間 (年度)
      1996 – 1997
    • 研究種目
      萌芽的研究
    • 研究分野
      複合材料・物性
    • 研究機関
      東北大学
  •  航空機積層複合構造の実時間・遠隔損傷拡大抑制システム

    • 研究代表者
      関根 英樹
    • 研究期間 (年度)
      1995 – 1997
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 研究分野
      航空宇宙工学
    • 研究機関
      東北大学
  •  マルチレイヤーFEMによる連続繊維強化複合材料積層板のはく離進展と破壊挙動の解析研究代表者

    • 研究代表者
      神谷 庄司
    • 研究期間 (年度)
      1993
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      機械材料・材料力学
    • 研究機関
      東北大学

すべて 2023 2022 2021 2019 2018 2017 2016 2015 2014 2013 2012 2011 2010 2009 2008 2006 2005 その他

すべて 雑誌論文 学会発表 産業財産権

  • [雑誌論文] The origin of fatigue fracture in single-crystal silicon2022

    • 著者名/発表者名
      H.Izumi, T. Kita, S. Arai, K. Sasaki, S. Kamiya
    • 雑誌名

      Journal of Material Science

      巻: 57 号: 18 ページ: 8557-8566

    • DOI

      10.1007/s10853-022-07055-5

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K03836, KAKENHI-PROJECT-19K04091
  • [雑誌論文] The origin of fatigue fracture in single-crystal silicon2022

    • 著者名/発表者名
      H. Izumi, T. Kita, S. Arai, K. Sasaki, and Shoji Kamiya
    • 雑誌名

      Journal of Materials Science

      巻: 57 ページ: 8557-8566

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K04091
  • [雑誌論文] Sehar stress enhanced fatigue damage accumulation in single crystalline silicon under cyclic mechanical loading2016

    • 著者名/発表者名
      Shoji Kamiya, Arasu Udhayakumar, Hayato Izumi, Kozo Koiwa
    • 雑誌名

      Sensors and Actuators A

      巻: still unknown

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630008
  • [雑誌論文] Hydrogen enhanced mechanical fatigue in single crystal silicon2015

    • 著者名/発表者名
      Hayato Izumi, Arasu Udhayakumar, Shoji Kamiya
    • 雑誌名

      Materials Letters

      巻: 142 ページ: 130132-130132

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630008
  • [雑誌論文] Effect of hydrogen at room temperature on electronic and mechanical properties of dislocations in silicon2014

    • 著者名/発表者名
      Masatoshi Ogawa, Shoji Kamiya, Hayato Izumi, Yutaka Tokuda
    • 雑誌名

      Materials Letters

      巻: 120 ページ: 236238-236238

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630008
  • [雑誌論文] Defect accumulation and strength reduction in single crystalline silicon induced by cyclic compressive stress2014

    • 著者名/発表者名
      S.Kamiya, T.Kita, H.Izumi
    • 雑誌名

      Sensors and Actuators A

      巻: 208 ページ: 30-36

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [雑誌論文] Defect accumulation and strength reduction in single crystalline silicon induced by cyclic compressive stress2014

    • 著者名/発表者名
      Shoji Kamiya, Toshifumi Kita, Hayato Izumi
    • 雑誌名

      Sensors and Actuators A

      巻: 208 ページ: 3036-3036

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [雑誌論文] A prediction scheme of the static fracture strength of MEMS structures based on the characterization of damage distribution on a processed surface2013

    • 著者名/発表者名
      V.L.Huy, S.Kamiya, K.Nagayoshi, H.Izumi, J.Gaspar, O.Paul
    • 雑誌名

      Journal of Micromechanics and Microengineering

      巻: 23

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [雑誌論文] A prediction scheme of the static fracture strength of MEMS structures based on the characterization of damage distribution on a processed surface2013

    • 著者名/発表者名
      Vu Le Huy, Shoji, Kamiya, Kei Nagayoshi, Hayato Izumi, Joao Gaspar, Oliver Paul
    • 雑誌名

      Journal of Micromechanics and Microengineering

      巻: 23 ページ: 45008-45008

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [雑誌論文] Effect of hydrogen on the mechanical properties of silicon crystal surface2013

    • 著者名/発表者名
      Hayato Izumi, Ryota Mukaiyama, Nobuyuki Shishido, Shoji Kamiya
    • 雑誌名

      Proceedings of the ASME 2013 International Technical Conference and Exhibition on Packaging and Integration of Electronic and Photonic Microsystems

      ページ: 73324-73324

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630008
  • [雑誌論文] Effect of hydrogen on mechanical properties of single crystal surface2013

    • 著者名/発表者名
      H. Izumi, R. Mukaiyama, N. Shishido, S. Kamiya
    • 雑誌名

      ASME InterPACK 2013

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [雑誌論文] Electronic properties of dislocations introduced mechanically at room temperature on single crystal silicon surface2012

    • 著者名/発表者名
      M. Ogawa, S. Kamiya, H. Izumi, Y. Tokuda
    • 雑誌名

      Physica B

      巻: 407 ページ: 3034-4037

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [雑誌論文] Statistical characterization of fatigue lifetime of polysilicon thin films2012

    • 著者名/発表者名
      Vu Le Huy, Joao Gaspar, Oliver Paul, Shoji Kamiya
    • 雑誌名

      Sensors and Actuators A

      巻: 179 ページ: 251-262

    • DOI

      10.1016/j.sna.2012.03.011

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [雑誌論文] Statistical characterization of fatigue lifetime of polysiliocn thin films2012

    • 著者名/発表者名
      V.L.Huy, J.Gaspar, O.Paul, S.Kamiya
    • 雑誌名

      Sensors and Actuators A

      巻: 179 ページ: 251-262

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [雑誌論文] Statistical characterization of fracture strength and fatigue lifetime of polysilicon thin films with different stress concentration fields2012

    • 著者名/発表者名
      Vu Le Huy, Shoji, Kamiya, Joao Gaspar, Oliver Paul
    • 雑誌名

      Journal of Solid Mechanics and Materials Engineering

      巻: 6 ページ: 10131029-10131029

    • NAID

      130003323429

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [雑誌論文] Statistical characterization of fracture strength and fatigue lifetime of polysilicon thin films with different stress concentration fields2012

    • 著者名/発表者名
      V.L.Huy, S.Kamiya, J.Gaspar, O.Paul
    • 雑誌名

      Journal of Solid Mechanics and Materials Engineering

      巻: 6 ページ: 1013-1029

    • NAID

      130003323429

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [雑誌論文] Electronic properties of dislocations infroduced mechanically at room temperature on a single crystal silicon substrate2012

    • 著者名/発表者名
      Masatoshi Ogawa, Shoji Kamiya, Hayato Izumi, Yutaka Tokuda
    • 雑誌名

      Physica B

      巻: 407

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [雑誌論文] CROSS COMPARISON OF FATIGUE LIFETIME TESTING ON SILICON THIN FILM SPECIMENS2011

    • 著者名/発表者名
      S.Kamiya, T.Tsuchiya, T.Ikehara, K.Sato, T.Ando, T.Namazu, K.Takashima
    • 雑誌名

      Technical digest of the 24th IEEE conference on micro electro mechanical systems

      ページ: 404-407

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [雑誌論文] FINITE FATIGUE LIFETIME OF SILICON UNDER INERT ENVIRONMENT2011

    • 著者名/発表者名
      S.Kamiya, Y.Ikeda, M.Ishikawa, H.Izumi, J.Gaspar, O.Paul
    • 雑誌名

      Technical digest of the 24th IEEE conference on micro electro mechanical systems

      ページ: 432-435

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [雑誌論文] Effect of humidity and temperature on the fatigue behavior of polysilicon thin film2011

    • 著者名/発表者名
      Shoji Kamiya, Yusuke Ikeda, Joao Gaspar, Oliver Paul
    • 雑誌名

      Sensors and Actuators A

      巻: 170 ページ: 187-195

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [雑誌論文] Accuracy of the Fatigue Lifetime of Polysilicon Predicted from its Strength Distribution2010

    • 著者名/発表者名
      Le Huy Vu, Joao Gaspar, Oliver Paul, Shoji Kamiya
    • 雑誌名

      Mater.Res.Soc.Symp.Proc.

      巻: Vol.1245

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [雑誌論文] Accuracy of the Fatigue Lifetime of Polysilicon Predicted from its Strength Distribution2010

    • 著者名/発表者名
      Vu Le Huy, Joao Gaspar, Oliver Paul, Shoji Kamiya
    • 雑誌名

      Mater. Res. Soc. Symp. Proc

      巻: Vol.1245 ページ: 17-2

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [雑誌論文] Seamless Interpretation of Strength and Fatigue Lifetime of Poly crystalline Silicon Thin Films2008

    • 著者名/発表者名
      Shoji Kamiya, Shingo Amaki, Taku Kawai, Naoko Honda, Patrick Ruther, Joao Gaspar, Oliver Paul
    • 雑誌名

      Journal of Micromechanics and Microengineering 18

      ページ: 95023-95023

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [雑誌論文] 切断加工による損傷に基づくシリコンチップの機械的信頼性評価2006

    • 著者名/発表者名
      神谷庄司, 井上大喜郎, 神藤弘章
    • 雑誌名

      日本機械学会東海支部第55期総会講演会講演論文集 063-1

      ページ: 217-218

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16651054
  • [雑誌論文] 切断加工による損傷に基づくシリコンチップの機械的信頼性評価2006

    • 著者名/発表者名
      神谷庄司、井上大喜郎、神藤弘章
    • 雑誌名

      日本機械学会東海支部第55期総会講演会講演論文集 063-1

      ページ: 217-218

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16360047
  • [雑誌論文] 半導体材料の高サイクル疲労特性に関する研究2005

    • 著者名/発表者名
      神谷庄司、井上大喜郎、坂真澄、市村正也
    • 雑誌名

      日本機械学会2005年度年次大会講演論文集 Vol.6

      ページ: 263-264

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16360047
  • [雑誌論文] 多結晶シリコン薄膜の機械的信頼性評価に関する新しい試み2005

    • 著者名/発表者名
      神谷庄司, 本田直子, ポールオリバー, ルターパトリック, 坂真澄
    • 雑誌名

      日本機械学会2005年度年次大会講演論文集 Vol.6

      ページ: 261-262

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16651054
  • [雑誌論文] 半導体材料の高サイクル疲労特性に関する研究2005

    • 著者名/発表者名
      神谷庄司, 井上大喜郎, 坂真澄, 市村正也
    • 雑誌名

      日本機械学会2005年度年次大会講演論文集 Vol.6

      ページ: 263-264

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16651054
  • [雑誌論文] 多結晶シリコン薄膜の機械的信頼性評価に関する新しい試み2005

    • 著者名/発表者名
      神谷庄司、本田直子、ポールオリバー、ルターパトリック、坂真澄
    • 雑誌名

      日本機械学会2005年度年次大会講演論文集 Vol.6

      ページ: 261-262

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16360047
  • [雑誌論文] Electronic properties of dislocations introduced mechanically at room temperature on a single crystal silicon surface

    • 著者名/発表者名
      Masatoshi Ogawa, Shoji Kamiya, Hayato Izumi, Yutaka Tokuda, Physica B
    • 雑誌名

      Physica B

      巻: (in press)

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [産業財産権] 材料の疲労特性決定方法および疲労寿命予測方法2010

    • 発明者名
      神谷・池田・Vu Le
    • 権利者名
      名古屋工業大学
    • 産業財産権番号
      2010-012493
    • 出願年月日
      2010-01-22
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [産業財産権] 材料の疲労特性決定方法および疲労寿命予測方法2010

    • 発明者名
      神谷庄司、池田裕介、ヴレフイ
    • 権利者名
      国立大学法人名古屋工業大学
    • 産業財産権番号
      2011-012493
    • 出願年月日
      2010-01-22
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] 切欠き先端近傍におけるせん断応力場におけるシリコンの結晶すべり系と疲労損傷2023

    • 著者名/発表者名
      shoji kamiya
    • 学会等名
      日本機械学会2023年年次大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K04091
  • [学会発表] 繰返し圧縮負荷によるシリコン単結晶中の結晶欠陥集積と疲労亀裂進展の電子顕微鏡解析2021

    • 著者名/発表者名
      神谷 庄司
    • 学会等名
      2019年度日本機械学会年次大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K04091
  • [学会発表] シリコンの疲労破壊 「なんとなく、メタリック」2021

    • 著者名/発表者名
      神谷 庄司
    • 学会等名
      日本機械学会材料力学部門「ナノ・マイクロ疲労研究会」第4回研究会
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K04091
  • [学会発表] A novel scheme of characterization for performance deterioration behavior of flexible devices under bending deformation2019

    • 著者名/発表者名
      S. Kamiya, H. Izumi, T. Sekine, N. Shishido, H. Sugiyama, Y. Haga, T. Minari, M. Koganemaru, S. Tokito
    • 学会等名
      46th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K13651
  • [学会発表] Bending Durability of Organic Thin Film Transistor and Stress Sensing using Mechanoluminecence2018

    • 著者名/発表者名
      H. Izumi, Y. Haga, N. Shishido, S. Kamiya
    • 学会等名
      The 9th Asia-Pacific Conference of Transducers and Micro-Nano Technology
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K13651
  • [学会発表] レキシブル基板上に印刷された銀粒子配線の曲げ疲労損傷挙動とその評価2018

    • 著者名/発表者名
      神谷庄司、泉隼人、関根智仁、杉山裕子、芳賀康子、宍戸信之、小金丸正明
    • 学会等名
      日本機械学会2018年度年次大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K13651
  • [学会発表] 応力発光を用いた積層構造フィルムの屈曲変形に伴う損傷挙動の評価2018

    • 著者名/発表者名
      泉隼人、芳賀康子、宍戸信之、神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会東海支部第67期総会・講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K13651
  • [学会発表] 印刷有機薄膜トランジスタの曲げ変形による損傷と電気特性変動2018

    • 著者名/発表者名
      宍戸信之、泉隼人、関根智仁、杉山裕子、神谷庄司、小金丸正明
    • 学会等名
      日本機械学会2018年度年次大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K13651
  • [学会発表] フレキシブル有機トランジスタの曲げ変形による性能劣化モードのその場観察2017

    • 著者名/発表者名
      宍戸信之、末松祐一、泉隼人、神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会2017年度年次大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K13651
  • [学会発表] 曲げ試験による有機薄膜トランジスタの信頼性評価2016

    • 著者名/発表者名
      宍戸信之、末松祐一、神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会2016年度年次大会
    • 発表場所
      九州大学伊都キャンパス、福岡
    • 年月日
      2016-09-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K13651
  • [学会発表] Shear stress with hydrogen, not oxygen, matters to the fatigue lifetime of silicon2015

    • 著者名/発表者名
      S. Kamiya, A. Udhayakumar, H. Izumi, K. Koiwa
    • 学会等名
      18th International Conference on Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems (Transducers 2015)
    • 発表場所
      Anchorage, Alaska, USA
    • 年月日
      2015-06-21
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630008
  • [学会発表] 繰り返し荷重によるシリコンの疲労損傷集積の観察2014

    • 著者名/発表者名
      泉隼人、喜多俊文、田中健太郎、神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会東海支部第63会総会講演会
    • 発表場所
      名古屋市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] 繰り返し荷重によるシリコンの疲労損傷集積の観察2014

    • 著者名/発表者名
      泉隼人、喜多俊文、田中健太郎、神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会東海支部第63期総会
    • 発表場所
      大同大学、愛知県
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] Effect of hydrogen on mechanical properties of single crystal surface2013

    • 著者名/発表者名
      H. Izumi, R. Mukaiyama, N. Shishido, S. Kamiya
    • 学会等名
      ASME International Technical Conference & Exhibition Packaging and Integration of Electronic and Photonic Microsystems (InterPACK 2013)
    • 発表場所
      Burlingame, USA
    • 年月日
      2013-07-20
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [学会発表] 電子線誘起電流を用いた圧縮応力下におけるシリコンの疲労損傷の観察2013

    • 著者名/発表者名
      喜多俊文、神谷庄司、泉隼人、梅原徳次、野老山貴行、Ve Le Huy、小川将史
    • 学会等名
      日本機械学会東海支部第62期総会講演会
    • 発表場所
      津市
    • 年月日
      2013-03-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [学会発表] EBIC observation of the defects in single crystalline silicon induced by mechanical compressive stress2013

    • 著者名/発表者名
      T.Kita, S.Kamiya, H.Izumi
    • 学会等名
      The 27th International Conference on Defects in Semiconductors 2013 (ICDS2013)
    • 発表場所
      Bologna, Italy
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] Effect of hydrogen on the mechanical properties of silicon crystal surface2013

    • 著者名/発表者名
      Hayato Izumi, Ryota Mukaiyama, Nobuyuki Shishido, Shoji Kamiya
    • 学会等名
      ASME 2013 International Technical Conference and Exhibition on Packaging and Integration of Electronic and Photonic Microsystems (InterPACK 2013)
    • 発表場所
      San Francisco
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630008
  • [学会発表] 繰り返し圧縮応力によるシリコン単結晶中の欠陥形成と残存引張強度2013

    • 著者名/発表者名
      喜多俊文、神谷庄司、泉隼人
    • 学会等名
      日本機械学会2013年度年次大会
    • 発表場所
      岡山大学、岡山県
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] 単結晶シリコンの塑性特性における吸蔵水素の影響2013

    • 著者名/発表者名
      向山諒太、泉隼人、宍戸信之、神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会東海支部第62期総会講演会
    • 発表場所
      Tsu, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [学会発表] Direct observation of damage accumulation process inside silicon under mechanical fatigue loading2013

    • 著者名/発表者名
      S.Kamiya, R.Hirai, H.Izumi, N.Umehara, T.Tokoroyama
    • 学会等名
      The 17th International Conference on Solid-State Sensors, Actuators, and Microsystems (Transducers2013&EurosensorsXXXVII)
    • 発表場所
      Barcelona, Spain
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] 繰り返し圧縮応力によるシリコン単結晶中の欠陥形成と残存引張強度2013

    • 著者名/発表者名
      喜多俊文、神谷庄司、泉隼人
    • 学会等名
      日本機械学会2013年度年次大会
    • 発表場所
      岡山市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] 電子線誘起電流を用いた圧縮応力下におけるシリコン疲労損傷の観察2013

    • 著者名/発表者名
      喜多俊文、神谷庄司、泉隼人、梅原徳次、野老山貴行、Vu Le Huy、小川将史
    • 学会等名
      日本機械学会東海支部第62会総会講演会
    • 発表場所
      津市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] Direct observation of damage accumulation process inside silicon under mechanical fatigue loading2013

    • 著者名/発表者名
      S. Kamiya, R. Hirai, H. Izumi, N. Umehara, T. Tokoroyama
    • 学会等名
      The 17th International Conference on Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems (Transducers 2013)
    • 発表場所
      Barcelona, Spain
    • 年月日
      2013-06-20
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [学会発表] 単結晶シリコンの塑性特性における吸蔵水素の影響2013

    • 著者名/発表者名
      向山諒太、泉隼人、宍戸信之、神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会東海支部第62会総会講演会
    • 発表場所
      津市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] Fatigue behavior of silicon wafer under bending load in different environment2013

    • 著者名/発表者名
      Arasu Udhayakumar, Hayato Izumi, Shoji Kamiya
    • 学会等名
      JSME Materials and Mechanics Division 2013
    • 発表場所
      Gifu University,Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630008
  • [学会発表] 電子線誘起電流を用いた圧縮応力下におけるシリコンの疲労損傷の観察2013

    • 著者名/発表者名
      喜多俊文、神谷庄司、泉隼人、梅原徳次、野老山貴行、Vu Le Huy、小川将史
    • 学会等名
      日本機械学会東海支部第62期総会
    • 発表場所
      三重大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] Direct observation of damage accumulation process inside silicon under mechanical fatigue loading2013

    • 著者名/発表者名
      Shoji Kamiya, Ryutaro Hirai, Hayato Izumi, Noritsugu Umehara, Takayuki Tokoroyama
    • 学会等名
      Technical Digest of the 17th International Conference on Solid-State Sensors, Actuators, and Microsystems (Transducers2013&Eurosensors XXVII)
    • 発表場所
      Barcelona, Spain
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] 電子線誘起電流を用いた圧縮応力下におけるシリコンの疲労損傷の観察2013

    • 著者名/発表者名
      喜多俊文、神谷庄司、泉隼人、梅原徳次、野老山貴行、Vu Le Huy、小川将史
    • 学会等名
      日本機械学会東海支部第62期総会講演会
    • 発表場所
      Tsu, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [学会発表] 単結晶シリコンの塑性特性における吸蔵水素の影響2013

    • 著者名/発表者名
      向山諒太、泉隼人、宍戸信之、神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会東海支部第62期総会
    • 発表場所
      三重大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] 繰返し応力に対するシリコンMEMS構造体の疲労寿命と長期信頼性評価2012

    • 著者名/発表者名
      神谷庄司
    • 学会等名
      平成23年度第10回九州地区ナノテクノロジー拠点ネットワーク講演会
    • 発表場所
      北九州産業学術研究都市早稲田大学講義室(招待講演)
    • 年月日
      2012-01-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] 単結晶シリコン薄膜の破壊挙動に及ぼす水と温度の影響の評価2012

    • 著者名/発表者名
      イスラムエムデイワヘドウル、泉隼人、小川将史、神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会2012年度年次大会
    • 発表場所
      金沢市
    • 年月日
      2012-09-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [学会発表] 異なる疲労機構に基づくシリコン微小構造物の寿命評価モデルの比較2012

    • 著者名/発表者名
      平川 創、泉隼人、生津資大、神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会M&M2012カンファレンス
    • 発表場所
      Matsuyama, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [学会発表] IDENTIFICATION OF FATIGUE CRACK EXTENSION PROCESS INZERO-TENSION CYCLIC STRESS TEST OF POLYSILICON FILMS2012

    • 著者名/発表者名
      Vu Le Huy, Shoji Kamiya, Joao Gaspar, Oliver Paul
    • 学会等名
      25th IEEE International Conference on Micro Electro Mechanical Systems
    • 発表場所
      Paris, France
    • 年月日
      2012-01-30
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] 電子線誘起電流によるシリコンの疲労過程の微視観察2012

    • 著者名/発表者名
      平井隆太郎,神谷庄司,泉隼人,梅原徳次
    • 学会等名
      日本機械学会東海支部第61期総会講演会
    • 発表場所
      名古屋工業大学(愛知県)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [学会発表] TEM内疲労試験その場観察を目的としたMEMS共振デバイスの開発2012

    • 著者名/発表者名
      Lam Hoanson、泉隼人、神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会2012年度年次大会
    • 発表場所
      金沢大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] Mysteries in fracture behavior of silicon and polysilicon micro-scale structures in various environments and under repeated loading2012

    • 著者名/発表者名
      Shoji Kamiya
    • 学会等名
      OKMETIC-Nagoya seminar 2012
    • 発表場所
      Nagoya, Japan(招待講演)
    • 年月日
      2012-03-02
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] Mysteries in fracture behavior of silicon and polysilicon micro-scale structures in various environments and under repeated loading2012

    • 著者名/発表者名
      S.Kamiya
    • 学会等名
      OKMETIC-Nagoya seminar 2012
    • 発表場所
      Nagoya
    • 年月日
      2012-03-02
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] 単結晶シリコン薄膜の破壊挙動に及ぼす水と温度の影響の評価2012

    • 著者名/発表者名
      イスラムエムディワヘドゥル、泉隼人、小川将史、神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会2012年度年次大会
    • 発表場所
      Kanazawa, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [学会発表] 繰返し応力に対するシリコンMEMS 構造体の疲労寿命と信頼性評価2012

    • 著者名/発表者名
      神谷庄司
    • 学会等名
      平成13年度第10回九州地区ナノテクノロジー拠点ネットワーク講演会
    • 発表場所
      北九州市
    • 年月日
      2012-01-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] Identification of fatigue crack extension process inzero-tension cyclic stress test of polysilicon films2012

    • 著者名/発表者名
      V.L.Huy, S.Kamiya, J.Gaspar, O.Paul
    • 学会等名
      25th IEEE International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS2012)
    • 発表場所
      Paris, France
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] TEM 内疲労試験その場観察を目的としたMEMS 共振デバイスの開発2012

    • 著者名/発表者名
      Lam Hoanson、泉隼人、神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会2012年度年次大会
    • 発表場所
      金沢市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] 電子線誘起電流によるシリコンの疲労過程の微視観察2012

    • 著者名/発表者名
      平井隆太郎、神谷庄司、泉隼人、梅原徳次
    • 学会等名
      日本機械学会年東海支部第61期総会講演会
    • 発表場所
      名古屋市
    • 年月日
      2012-03-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [学会発表] 単結晶シリコン薄膜の破壊挙動に及ぼす水と温度の影響の評価2012

    • 著者名/発表者名
      Isram Md. Wahedul、泉隼人、小川将史、神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会2012年度年次大会
    • 発表場所
      金沢市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] 異なる疲労機構に基づくシリコン微小構造物の寿命評価モデルの比較2012

    • 著者名/発表者名
      平川創、泉隼人、生津資大、神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会M&M2012カンファレンス
    • 発表場所
      松山市
    • 年月日
      2012-09-22
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [学会発表] 単結晶シリコン薄膜の破壊挙動に及ぼす水と温度の影響の評価2012

    • 著者名/発表者名
      Isram Md. Wahedul、泉隼人、小川将史、神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会2012年度年次大会
    • 発表場所
      金沢大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] 異なる疲労機構に基づくシリコン微小構造物の寿命評価モデルの比較2012

    • 著者名/発表者名
      平川創、泉隼人、生津資大、神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会M&M2012材料力学カンファレンス
    • 発表場所
      愛媛大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] 異なる疲労機構に基づくシリコン微小構造物の寿命評価モデルの比較2012

    • 著者名/発表者名
      平川創、泉隼人、生津資大、神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会M&M2012材料力学カンファレンス
    • 発表場所
      松山市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] 単結晶シリコンの塑性特性における吸蔵水素の影響2012

    • 著者名/発表者名
      向山諒太、泉隼人、宍戸信之、神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会東海支部第62期総会講演会
    • 発表場所
      津市
    • 年月日
      2012-03-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [学会発表] 単結晶シリコンの疲労挙動とその環境依存性2011

    • 著者名/発表者名
      石川正芳、神谷庄司、泉隼人、宍戸信之
    • 学会等名
      日本機械学会M&M2011材料力学カンファレンス
    • 発表場所
      北九州市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] Electronic properties of dislocations introduced mechanically at room temperature on single crystal silicon surface2011

    • 著者名/発表者名
      M. Ogawa, S. Kamiya, H. Izumi, Y. Tokuda
    • 学会等名
      26th International Conference on Defects in Semiconductors
    • 発表場所
      Rutherford Hotel(ニュージーランド)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [学会発表] Fracture Behavior of Silicon Thin Film under Liquid Water2011

    • 著者名/発表者名
      Hayato Izumi, Ya-Chi Cheng, Masayoshi Ishikawa, Shoji Kamiya, Ming-Tzer Lin
    • 学会等名
      13th International Conference on Electronics Materials and Packaging
    • 発表場所
      Kyoto, Japan
    • 年月日
      2011-12-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] Fracture behavior of silicon thin film under liquid water2011

    • 著者名/発表者名
      H.Izumi, Y.Cheng, M.Ishikawa, S.Kamiya, M-T.Lin
    • 学会等名
      13th International Conference on Electronics Materials and Packaging (EMAP2011)
    • 発表場所
      Kyoto
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] Cross comparison of fatigue lifetime testing on silicon thin film specimens2011

    • 著者名/発表者名
      S. Kamiya, T. Tsuchiya, T. Ikehara, K. Sato, T. Ando, T. Namazu, K. Takashima
    • 学会等名
      The 24th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems MEMS 2011
    • 発表場所
      Cancun, Mexico
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] シリコンの疲労破壊-MEMSの長期信頼性は本当に大丈夫か?-2011

    • 著者名/発表者名
      神谷庄司
    • 学会等名
      MEMS engineer forum 2011
    • 発表場所
      大田区産業プラザPiO(蒲田)(invited)
    • 年月日
      2011-03-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] Evaluation and comparison of fracture behavior of silicon thin films under various environmental conditions2011

    • 著者名/発表者名
      H. Izumi, Y-C. Cheng, M. Ishikawa, S. Kamiya, M-T. Lin
    • 学会等名
      日本実験力学学会2011年度年次講演会
    • 発表場所
      奈良県文化会館(奈良県)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [学会発表] Finite fatigue lifetime of silicon under inert environment2011

    • 著者名/発表者名
      S. Kamiya, Y. Ikeda, M. Ishikawa, H. Izumi, J. Gaspar, O. Paul
    • 学会等名
      The 24th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems MEMS 2011
    • 発表場所
      Cancun, Mexico
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] 異なる試験手法により得られたシリコンの疲労挙動の相互比較2011

    • 著者名/発表者名
      神谷庄司、土屋智由、池原毅、佐藤一雄、安藤妙子、生津資大、高島和希
    • 学会等名
      第3回マイクロ・ナノ工学シンポジウム
    • 発表場所
      船堀、東京
    • 年月日
      2011-09-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] Fracture behavior of silicon thin film under liquid water2011

    • 著者名/発表者名
      H. Izumi, Y-C. Cheng, M. Ishikawa, S. Kamiya, M-T. Lin
    • 学会等名
      The 13th International Conference on Electronics Materials and Pachaging (EMAP2011)
    • 発表場所
      京都ガーデンパレス(京都府)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [学会発表] Electronic sensing of mechanical damage on a single crystal silicon surface2011

    • 著者名/発表者名
      M. Ogawa, S. Kamiya, H. Izumi, Y. Tokuda
    • 学会等名
      マイクロ・ナノ工学国際ワークショップ
    • 発表場所
      京都大学桂キャンパス(京都府)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [学会発表] 異なる試験手法により得られたシリコンの疲労挙動の相互比較2011

    • 著者名/発表者名
      神谷庄司、土屋智由、池原毅、佐藤一雄、安藤妙子、生津資大、高島和希
    • 学会等名
      第3回マイクロ・ナノ工学シンポジウム
    • 発表場所
      船掘
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] ESTIMATION OF THE PARAMETERS DETERMINING STRENGTH AND FATIGUE BEHAVIORS OF ARBITRARILY-SHAPED POLYSILICON THIN FILMS2011

    • 著者名/発表者名
      Vu Le Huy, Joao Gaspar, Oliver Paul, Shoji Kamiya
    • 学会等名
      ASME 2011 Pacific Rim Technical Conference & Exposition on Packaging and Integration of Electronic and Photonic Systems
    • 発表場所
      Portland, OR, USA
    • 年月日
      2011-07-07
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] 単結晶シリコンの疲労挙動とその環境依存性2011

    • 著者名/発表者名
      石川正芳、神谷庄司、泉隼人、宍戸信之
    • 学会等名
      日本機械学会M&M 2011
    • 発表場所
      北九州、福岡
    • 年月日
      2011-07-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] Estimation of the parameters determining strength and fatigue behaviors of arbitrarily-shaped polysilicon thin films2011

    • 著者名/発表者名
      V.L.Huy, J.Gaspar, O.Paul, S.Kamiya
    • 学会等名
      ASME2011 Pacific Rim Technical Conference & Exposition on Packaging and Integration of Electronic and Photonic Systems (InterPACK2011)
    • 発表場所
      Portland, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360054
  • [学会発表] Fracture behavior of silicon thin film under liquid water2011

    • 著者名/発表者名
      H. Izumi, Y-C. Cheng, M. Ishikawa, S. Kamiya, M-T. Lin
    • 学会等名
      International Conference on Electronics Materials and Packaging (EMAP)
    • 発表場所
      Kyoto
    • 年月日
      2011-12-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [学会発表] Electronic properties of dislocations introduced mechanically at room temperature on single crystal silicon surface2011

    • 著者名/発表者名
      M. Ogawa, S. Kamiya, H. Izumi, Y. Tokuda
    • 学会等名
      26th International Conference on Defects in Semiconductor (ICDS)
    • 発表場所
      New Zealand
    • 年月日
      2011-07-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [学会発表] Evaluation and comparison of fracture behavior of silicon thin films under various environmental conditions2011

    • 著者名/発表者名
      Y-C. Cheng, H. Izumi, M. Ishikawa, S. Kamiya, M-T. Lin
    • 学会等名
      The Japanese Society for Experimental Mechanics
    • 発表場所
      Nara
    • 年月日
      2011-08-30
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23651137
  • [学会発表] 単結晶シリコンの機械的損傷の電子的性質に関する研究2010

    • 著者名/発表者名
      小川将史、神谷庄司、泉隼人、徳田豊
    • 学会等名
      第27回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム
    • 発表場所
      くにびきメッセ(松江市)
    • 年月日
      2010-10-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21656030
  • [学会発表] Electrical properties of mechanically induced defects in single crystal silicon2010

    • 著者名/発表者名
      Masatoshi Ogawa, Shoji Kamiya, Hayato Izumi Yutaka Tokuda
    • 学会等名
      The 27th Sensor Symposium on Sensors
    • 発表場所
      Shimane, Japan, Book of Abstracts
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] Comparison of Fatigue Behavior Between Single and Polycrystalline Silicon Investigated Using a Novel Testing Method2010

    • 著者名/発表者名
      Masayoshi Ishikawa, Hayato Izumi, Shoji Kamiya
    • 学会等名
      2010 MRS Fall Meeting
    • 発表場所
      Hyne convention center(Boston, USA)
    • 年月日
      2010-11-30
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] 単結晶シリコンの機械的損傷の電子的性質に関する研究2010

    • 著者名/発表者名
      小川将史、神谷庄司、泉隼人、徳田豊
    • 学会等名
      第27回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム
    • 発表場所
      くにびきメッセ(松江市)
    • 年月日
      2010-10-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] 上活性環境下におけるシリコンの疲労寿命定量評価と環境による寿命変化に基づく疲労機構推測の試み2010

    • 著者名/発表者名
      神谷庄司,池田祐介,石川正芳,泉隼人ジョアオガスパー,オリバーポール
    • 学会等名
      日本機械学会第2回マイクロ・ナノ工学シンポジウム講演論文集
    • 発表場所
      松江くにびきメッセ
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] ボッシュプロセスで作製されたMEMS構造体の強度設計法に関する基礎的研究2010

    • 著者名/発表者名
      永吉径、神谷庄司、ジョアオガスパー、オリバーポール
    • 学会等名
      日本機械学会2010年度年次大会
    • 発表場所
      名古屋工業大学(名古屋市)
    • 年月日
      2010-09-07
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] Comparison of fatigue behavior between single and polycrystalline silicon investigated using a novel testing method2010

    • 著者名/発表者名
      Masayoshi Ishikawa, Hayato Izumi, Shoji Kamiya
    • 学会等名
      MRS 2010 Fall Meeting
    • 発表場所
      Boston USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] A novel fatigue test with ramping stress amplitude to evaluate fatigue behavior of polyrilison thin films2010

    • 著者名/発表者名
      Vu Le Huy, Joao Gaspar, Oliver Paul, Shoji Kamiya
    • 学会等名
      The 23rd IEEE International Conference on Micro Electro Mechanical Systems MEMS 2010
    • 発表場所
      Hong Kong, China, Technical Digest
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] シリコンの疲労メカニズムの描像を目的としたSEM内疲労試験の試み2010

    • 著者名/発表者名
      平井隆太郎,梅原徳次,月山陽介,泉隼人,神谷庄司
    • 発表場所
      名古屋工業大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] 不活性環境下におけるシリコンの疲労寿命定量評価と環境による寿命変化に基づく疲労機構推測の試み2010

    • 著者名/発表者名
      神谷庄司、池田裕介、石川正芳、泉隼人、ジョアオガスパー、オリバーポール
    • 学会等名
      第2回マイクロ・ナノ工学シンポジウム
    • 発表場所
      くにびきメッセ(松江市)
    • 年月日
      2010-10-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] 多結晶シリコン薄膜の疲労挙動に及ぼす環境因子の影響2010

    • 著者名/発表者名
      池田祐介,ガスパージョアオ,ポールオリバー,神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会東海支部第59期総会講演会講演論文集
    • 発表場所
      名城大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] ボッシュプロセスで作製されたMEMS構造体の強度設計法に関する基礎的研究2010

    • 著者名/発表者名
      永吉径,神谷庄司,ジョアオガスパー,オリバーポール
    • 学会等名
      日本機械学会2010年度年次大会講演論文集
    • 発表場所
      名古屋工業大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] 新規疲労試験手法を用いた単結晶および多結晶シリコンの疲労特性の評価2010

    • 著者名/発表者名
      石川正芳,池田祐介,泉隼人,神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会2010年度年次大会講演論文集
    • 発表場所
      名古屋工業大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] 新規疲労試験手法を用いた単結晶および多結晶シリコンの疲労特性の評価2010

    • 著者名/発表者名
      石川正芳、池田裕介、泉隼人、神谷庄司
    • 学会等名
      日本機械学会2010年度年次大会
    • 発表場所
      名古屋工業大学(名古屋市)
    • 年月日
      2010-09-07
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] Statistical evaluation of fracture and fatigue behavior of polysilicon thin films with arbitrary shapes2010

    • 著者名/発表者名
      Vu Le Huy, Joao Gaspar, Oliver Paul, Shoji Kamiya
    • 学会等名
      日本機械学会2010年度年次大会
    • 発表場所
      名古屋工業大学(名古屋市)
    • 年月日
      2010-09-07
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] シリコンの疲労メカニズムの描像を目的とした電子顕微鏡内疲労試験の試み2010

    • 著者名/発表者名
      平井隆太郎、泉隼人、神谷庄司、梅原徳次、巨陽
    • 学会等名
      日本機械学会2010年度年次大会
    • 発表場所
      名古屋工業大学(名古屋市)
    • 年月日
      2010-09-07
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21656030
  • [学会発表] Mechanical Fatigue Fracture of Silicon-potential danger to the reliability of silicon MEMS structures2010

    • 著者名/発表者名
      Shoji Kamiya
    • 学会等名
      2010 International Symposium on Micro-NanoMechatronics and Human Science
    • 発表場所
      Nagoya University(Nagoya, Japan)(invited)
    • 年月日
      2010-11-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] Statistical evaluation of fracture and fatigue behavior of polysilicon thin films with arbitrary shapes2010

    • 著者名/発表者名
      Vu Le Huy, Joao Gaspar, Oliver Paul, Shoji Kamiya
    • 学会等名
      本機械学会2010年度年次大会講演論文集
    • 発表場所
      名古屋工業大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] Prediction of strength and fatigue lifetime of MEMS structures with arbitrary shapes2009

    • 著者名/発表者名
      T. Kawai, J. Gaspar, O. Paul, and S. Kamiya
    • 学会等名
      IEEE Transducers 2009 conference
    • 発表場所
      Denver, Colorado USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] ボッシュプロセスで作製されたMEMS構造体の傷に基づく静的強度予測2009

    • 著者名/発表者名
      永吉径,神谷庄司,ジョアオガスパー,オリバーポール
    • 学会等名
      日本機械学会2009年度年次大会講演論文集
    • 発表場所
      岩手大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] Evaluation of fatigue behavior of polysilicon thin films2009

    • 著者名/発表者名
      Taku Kawai, Joao Gaspar, Vu Le Huy, Oliver Paul, Shoji Kamiya
    • 学会等名
      日本機械学会2009年度年次大会講演論文集
    • 発表場所
      岩手大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] 不活性環境下でのシリコンの疲労挙動2009

    • 著者名/発表者名
      池田祐介, Vu Le Huy,神谷庄司,ガスパージョアオ,ポールオリバー
    • 学会等名
      日本機械学会2009年度年次大会講演論文集
    • 発表場所
      岩手大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] Prediction of strength and fatigue lifetime of MEMS structures with arbitrary shapes2009

    • 著者名/発表者名
      Shoji Kamiya
    • 学会等名
      Transducers 2009
    • 発表場所
      Denver CO., USA
    • 年月日
      2009-06-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] シリコン材料の疲労特性に影響を及ぼす諸因子に関する研究2008

    • 著者名/発表者名
      河合拓, 神谷庄司, ボールオリバー・ガスバージョアオ
    • 学会等名
      日本機械学会2008年度年次大会
    • 発表場所
      横浜国立大学
    • 年月日
      2008-08-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] シリコン材料の疲労特性に影響を及ぼす諸因子に関する研究2008

    • 著者名/発表者名
      河合拓,池田祐介,神谷庄司,ポールオリバー,ガスパージョアオ
    • 学会等名
      日本機械学会2008年度年次大会講演論文集
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] 単結晶シリコンのエッチング損傷と切欠き強度2008

    • 著者名/発表者名
      永吉径, J. Gaspar, 0. Paul, 神谷庄司
    • 学会等名
      第4回マイクロマテリアルシンポジウム
    • 発表場所
      東京大学山上会館
    • 年月日
      2008-09-24
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360052
  • [学会発表] Effect of crystal orientation and environment on fatigue lifetime of single crystal silicon

    • 著者名/発表者名
      Arasu Udhayakumar, Hayato Izumi, Kozo Koiwa, Shoji Kamiya
    • 学会等名
      第6回マイクロナノ工学シンポジウム
    • 発表場所
      くにびきメッセ 松江
    • 年月日
      2014-10-20 – 2014-10-22
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630008
  • [学会発表] Mechanical fatigue damage accumulation in silicon visualized by electronic defect analysis technique

    • 著者名/発表者名
      Shoji Kamiya
    • 学会等名
      IEC standard SC47F/WG1, MEMS Standardization Workshop
    • 発表場所
      Geneve, Switzerland
    • 年月日
      2014-06-24 – 2014-06-25
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630008
  • [学会発表] Effect of hydrogen on fatigue lifetime of silicon with the aid of shear and compressive stress

    • 著者名/発表者名
      Arasu Udhayakumar, Hayato Izumi, Kozo Koiwa, Shoji Kamiya
    • 学会等名
      日本機械学会東海支部第64期総会
    • 発表場所
      中部大学 愛知
    • 年月日
      2015-03-13 – 2015-03-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630008
  • [学会発表] シリコン単結晶における疲労損傷の集積過程に及ぼす応力比の効果

    • 著者名/発表者名
      喜多俊文,泉隼人,神谷庄司,Vu Le Huy
    • 学会等名
      2014年度日本機械学会年次大会
    • 発表場所
      東京電機大学 北千住
    • 年月日
      2014-09-07 – 2014-09-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630008
  • [学会発表] Fatigue failure and fracture surface analysis of single crystal silicon exposed to oxygen, hydrogen and humidity air environment

    • 著者名/発表者名
      Arasu Udhayakumar, Shoji Kamiya, Hayato Izumi, Nobuyuki Shishido
    • 学会等名
      41th International Conference on Metallurgical Coating and Thin Films
    • 発表場所
      San Diego, US
    • 年月日
      2014-04-28 – 2014-05-02
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630008
  • 1.  坂 真澄 (20158918)
    共同の研究課題数: 9件
    共同の研究成果数: 4件
  • 2.  祖山 均 (90211995)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 0件
  • 3.  笹川 和彦 (50250676)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 0件
  • 4.  泉 隼人 (90578337)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 48件
  • 5.  三原 毅 (20174112)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 6.  梅原 徳次 (70203586)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 7.  林 高弘 (30324479)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 8.  徳田 豊 (30078927)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 3件
  • 9.  佐藤 一雄 (30262851)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 2件
  • 10.  中島 正博 (80377837)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 11.  森谷 智一 (50362322)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 12.  関根 英樹 (20005359)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 13.  福永 久雄 (50134664)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 14.  宮田 寛 (80312479)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 15.  巨 陽 (60312609)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 16.  黒川 洋一 (80005298)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 17.  鈴木 光政 (40091706)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 18.  小野 崇人 (90282095)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 19.  胡 寧 (60250685)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 20.  鈴木 寛 (90179242)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 21.  竹内 正浩
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 22.  羽生 博之
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

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