| 研究者番号 |
00221606
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| その他のID |
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| 所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 |
1990年度 – 1994年度: 大阪大学, 工学部, 助手
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| 審査区分/研究分野 |
- 研究代表者以外
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工業分析化学 /
応用光学・量子光工学 /
物理計測・光学 /
広領域
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| キーワード |
- 研究代表者以外
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収差 / 位相差顕微鏡 / フォトリフラクティブ結晶 / フォトポリマー / レ-ザ走査顕微鏡 / metallic probe / rock-in / scattering / evanescent / scanning microscope
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/ near field / STM / トラッピング / 金属ロープ / 金属プローブ / ロックイン / 散乱 / エバネッセント場 / 走査顕微鏡 / ニアフィールド / Aberration / Photorefractive crystal / Phase-contrast microscope / Photo-polmer / Three dimensional optical memory / Laser scanning microscope / フォトリフラクテイブ結晶 / 3次元光メモリ / レーザー走査顕微鏡 / three dimensional optics / nonlinear / photorefractive / photopolymer / confocal / optical memory / 位相差光学系 / 共焦点 / 3次元 / ホログラフィックメモリ / 非線形光学 / 共焦点光学系 / 三次元光学 / 光メモリ / grating / zone plate / photo lithography / aberration / 0th order Bassel Beam / axicon / 超長焦点深度スポット / 非回折性ビ-ム / J_0ビ-ム / 光リングラフィ / レーザー走査光学システム / フォトレジスト / ベッセルビーム / リソグラフィー / アキシコン・プリズム / 回折格子 / ゾーンプレート / 光リソグラフィ / 0次ベッセルビーム / アキシコン / Phase-contrast Microscope / Image Processing for Microscopy / Fluorescent Life-time Mapping / Fluorescent Life-time Measurement / Laser CT Microscope / Analytical Optical Microscope / Optical CT Microscope / 画像処理 / 物質動態・測定 / 蛍光寿命分布測定 / 光トモグラフィ / 分析光学顕微鏡 / 顕微鏡画像処理 / 蛍光寿命マッピング / 蛍光寿命測定 / レ-ザCT顕微鏡 / 分折光学顕微鏡 / 光CT顕微鏡
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