稲元勉 INAMOTO TSUTOMU

研究者番号	10379513
その他のID
所属 (現在)	2025年度: 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 講師
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2019年度 – 2023年度: 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 講師 2016年度: 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 助教 2014年度 – 2015年度: 愛媛大学, 理工学研究科, 助教
審査区分/研究分野	研究代表者以外小区分60040:計算機システム関連 / 情報ネットワーク
キーワード	研究代表者以外出力応答圧縮 / テストパターン生成 / フィールドテスト / LSIの故障診断 / アダプティブ故障診断 / LSIテスト / 組込み自己テスト / テストパターン / ニューラルネットワーク / 出力圧縮 … もっと見る / テストポイント / 機械学習 / 故障辞書 / テスト容易化設計 / 故障診断 / セキュリティ / グリッドコンピューティング / 分散処理隠す

アダプティブ故障診断における故障診断時間の短縮に関する研究
- 研究代表者
  
  樋上喜信
- 研究期間 (年度)
  2019 – 2023
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  愛媛大学
セキュアプロセッシング可能な開放型GRIDにおける信頼性確保と処理性能の両立
- 研究代表者
  
  小林真也
- 研究期間 (年度)
  2014 – 2016
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  情報ネットワーク
- 研究機関
  愛媛大学

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すべて雑誌論文学会発表図書

[図書] Hard and Soft Computing for Artificial Intelligence, Multimedia and Security, Chapter 10 ( pp.112-122)2017
- 著者名/発表者名
  K. Yamaguchi, T. Inamoto, K. Endo, Y. Higami, and S. Kobayashi
- 総ページ数
  368
- 出版者
  Springer
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330105
[雑誌論文] Improving of Fault Diagnosis Ability by Test Point Insertion and Output Compaction2023
- 著者名/発表者名
  Higami Yoshinobu、Inamoto Tsutomu、Wang Senling、Takahashi Hiroshi、Saluja Kewal K.
- 雑誌名
  
  Proc. in 2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC)
  
  巻: - ページ: 1-6
- DOI
  10.1109/itc-cscc58803.2023.10212844
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K11955, KAKENHI-PROJECT-19K11877
[雑誌論文] Preliminary Study on Noise-Resilient Artificial Neural Networks for On-Chip Test Generation2022
- 著者名/発表者名
  Tsutomu Inamoto, Tomoki Nishino, Senling Wang, Yoshinobu Higami and Hiroshi Takahashi
- 雑誌名
  
  Proceedings of IEEE 11th Global Conference on Consumer Electronics
  
  巻: - ページ: 561-565
- DOI
  10.1109/gcce56475.2022.10014218
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11877, KAKENHI-PROJECT-19K20234
[雑誌論文] Machine Learning Based Fault Diagnosis for Stuck-at Faults and Bridging Faults2022
- 著者名/発表者名
  Yoshinobu Higami, Takaya Yamauchi, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja
- 雑誌名
  
  Proceedings of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
  
  巻: - ページ: 477-480
- DOI
  10.1109/itc-cscc55581.2022.9894966
- 査読あり / オープンアクセス / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11877, KAKENHI-PROJECT-22K11955, KAKENHI-PROJECT-19K20234
[雑誌論文] Compaction of Fault Dictionary without Degrading Diagnosis Ability,2021
- 著者名/発表者名
  Yoshinobu Higami, Tomokazu Nakamura, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja
- 雑誌名
  
  Proceedings of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
  
  巻: - ページ: 51-54
- DOI
  10.1109/itc-cscc52171.2021.9501474
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11877, KAKENHI-PROJECT-19K20234
[雑誌論文] Preliminary Evaluation of Artificial Neural Networks as Test Pattern Generators for BIST2021
- 著者名/発表者名
  Tsutomu Inamoto, Kazuki Ohtomo, and Yoshinobu Higami
- 雑誌名
  
  Proceedings of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
  
  巻: - ページ: 307-310
- DOI
  10.1109/itc-cscc52171.2021.9501263
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11877
[雑誌論文] Regeneration of Test Patterns for BIST by Using Artificial Neural Networks2020
- 著者名/発表者名
  Tsutomu Inamoto, Yoshinobu Higami
- 雑誌名
  
  Proc. Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications
  
  巻: - ページ: 137-140
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11877
[雑誌論文] Reduction of Fault Dictionary Size by Optimizing the Order of Test Patterns Application2020
- 著者名/発表者名
  Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja
- 雑誌名
  
  Proc. Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications
  
  巻: - ページ: 131-136
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11877
[雑誌論文] Formulation of a Test Pattern Measure that Counts Distinguished Fault-Pairs for Circuit Fault Diagnosis2020
- 著者名/発表者名
  Tsutomu Inamoto and Yoshinobu Higami
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. on Fundamentals
  
  巻: E103-A ページ: 1456-1463
- NAID
  130007948287
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11877
[雑誌論文] Compact Dictionaries for Reducing Compute Time in Adaptive Diagnosis2019
- 著者名/発表者名
  Yoshinobu Higami, Tomokazu Nakamura, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K Saluja
- 雑誌名
  
  Proceedings Internationa Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
  
  巻: - ページ: 525-528
- DOI
  10.1109/itc-cscc.2019.8793429
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11877, KAKENHI-PROJECT-19K20234
[雑誌論文] 畳み込みニューラルネットワークを用いたテストパターンの再生2019
- 著者名/発表者名
  稲元勉, 樋上喜信
- 雑誌名
  
  第32回回路とシステムワークショップ (KWS 32) 論文集
  
  巻: - ページ: 234-239
- NAID
  40021991413
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11877
[雑誌論文] Application of Convolutional Neural Networks to RegenerateDeterministic Test Pattern for BIST2019
- 著者名/発表者名
  Tsutomu Inamoto and Yoshinobu Higami
- 雑誌名
  
  Proceedings Internationa Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
  
  巻: - ページ: 523-524
- DOI
  10.1109/itc-cscc.2019.8793374
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11877
[雑誌論文] Evaluation of Influence Exerted by a Malicious Group’s Various Aims in the External Grid2016
- 著者名/発表者名
  K. Yamaguchi, T. Inamoto, K. Endo, Y. Higami, and S. Kobayashi
- 雑誌名
  
  The 20th International Multi-Conference on Advanced Computer Systems
  
  巻: - ページ: 112-122
- DOI
  10.1007/978-3-319-48429-7_11
- ISBN
  9783319484280, 9783319484297
- 査読あり / 謝辞記載あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330105
[学会発表] 圧縮優先度の近似的計算による故障辞書の圧縮処理時間の短縮2022
- 著者名/発表者名
  濱野郁也，稲元勉，樋上喜信
- 学会等名
  令和4年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11877
[学会発表] 機械学習を用いた複数故障モデルの故障診断2021
- 著者名/発表者名
  山内崇矢，稲元勉，王森レイ，樋上喜信，高橋寛
- 学会等名
  令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11877
[学会発表] 悪人集団の盗視に対抗する保護処理を用いたエクスターナルグリッドの性能評価2016
- 著者名/発表者名
  山口晃右，稲元勉，樋上喜信，小林真也
- 学会等名
  情報処理学会マルチメディア, 分散, 協調とモバイルシンポジウム (DICOMO2016)
- 発表場所
  鳥羽シーサイドホテル（三重県鳥羽市）
- 年月日
  2016-07-07
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330105
[学会発表] 暫定閾値に基づく先行処理を用いたエクスターナルグリッドにおける閾値と処理時間の関係2016
- 著者名/発表者名
  田中祐生, 井上竜太郎, 稲元勉, 遠藤慶一, 樋上喜信, 小林真也
- 学会等名
  平成28年度電気関係学会四国支部連合大会
- 発表場所
  徳島大学（徳島県・徳島市）
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330105
[学会発表] 悪人集団の盗視に対抗する保護処理を用いたエクスターナルグリッドの性能評価2016
- 著者名/発表者名
  山口晃右, 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也
- 学会等名
  マルチメディア，分散，協調とモバイルシンポジウム (DICOMO2016)
- 発表場所
  鳥羽シーサイドホテル（三重県・鳥羽市）
- 年月日
  2016-07-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330105
[学会発表] エクスターナルグリッドに対する依存関係を利用した不正解析のリスクを軽減する手法2016
- 著者名/発表者名
  山口晃右，稲元　勉，樋上喜信，小林真也
- 学会等名
  第78回情報処理学会全国大会
- 発表場所
  慶應義塾大学矢上キャンパス（神奈川県横浜市）
- 年月日
  2016-03-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330105
[学会発表] セキュアプロセッシングにおける先行処理による処理時間改善に対する定量的評価2015
- 著者名/発表者名
  廣瀬吉隆，稲元勉，樋上喜信，小林真也
- 学会等名
  第14回情報科学技術フォーラム (FIT2015)
- 発表場所
  愛媛大学（愛媛県松山市）
- 年月日
  2015-09-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330105
[学会発表] プログラム断片の連続性に基づくセキュアプロセッシングの秘匿性能に関する調査2015
- 著者名/発表者名
  中矢匠, 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也
- 学会等名
  情報処理学会マルチメディア, 分散, 協調とモバイルシンポジウム (DICOMO2015)
- 発表場所
  ホテル安比グランド（岩手県八幡平市）
- 年月日
  2015-07-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330105
[学会発表] プログラム断片の連続性に基づくセキュアプロセッシングの秘匿性能に関する調査
- 著者名/発表者名
  中矢匠, 稲元勉, 樋上喜信, 小林真也
- 学会等名
  マルチメディア, 分散, 協調とモバイルシンポジウム(DICOMO2015)
- 発表場所
  岩手県八幡平市安比高原
- 年月日
  2015-07-08 – 2015-07-10
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26330105

1. 小林真也 (10234824)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 9件
2. 樋上喜信 (40304654)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 13件
3. 高橋寛 (80226878)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 7件
4. 王森レイ (90735581)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 7件

稲元 勉 INAMOTO TSUTOMU

研究課題

研究成果

共同研究者

アダプティブ故障診断における故障診断時間の短縮に関する研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

セキュアプロセッシング可能な開放型GRIDにおける信頼性確保と処理性能の両立

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[図書] Hard and Soft Computing for Artificial Intelligence, Multimedia and Security, Chapter 10 ( pp.112-122)2017

著者名/発表者名

総ページ数

出版者

データソース

[雑誌論文] Improving of Fault Diagnosis Ability by Test Point Insertion and Output Compaction2023

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Preliminary Study on Noise-Resilient Artificial Neural Networks for On-Chip Test Generation2022

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Machine Learning Based Fault Diagnosis for Stuck-at Faults and Bridging Faults2022

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Compaction of Fault Dictionary without Degrading Diagnosis Ability,2021

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Preliminary Evaluation of Artificial Neural Networks as Test Pattern Generators for BIST2021

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Regeneration of Test Patterns for BIST by Using Artificial Neural Networks2020

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] Reduction of Fault Dictionary Size by Optimizing the Order of Test Patterns Application2020

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] Formulation of a Test Pattern Measure that Counts Distinguished Fault-Pairs for Circuit Fault Diagnosis2020

著者名/発表者名

雑誌名

NAID

データソース

[雑誌論文] Compact Dictionaries for Reducing Compute Time in Adaptive Diagnosis2019

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] 畳み込みニューラルネットワークを用いたテストパターンの再生2019

著者名/発表者名

雑誌名

NAID

データソース

[雑誌論文] Application of Convolutional Neural Networks to RegenerateDeterministic Test Pattern for BIST2019

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Evaluation of Influence Exerted by a Malicious Group’s Various Aims in the External Grid2016

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

ISBN

データソース

稲元勉 INAMOTO TSUTOMU

[学会発表] 悪人集団の盗視に対抗する保護処理を用いたエクスターナルグリッドの性能評価2016