渡辺直也 Watanabe Naoya

研究者番号	10380734
所属 (現在)	2025年度: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, エレクトロニクス・製造領域, 主任研究員
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2006年度: 九州工大, 助手 2004年度 – 2005年度: 九州工業大学, マイクロ化総合技術センター, 助手
審査区分/研究分野	研究代表者マイクロ・ナノデバイス研究代表者以外薄膜・表面界面物性
キーワード	研究代表者 3次元集積回路 / 3次元実装 / 常温接合 / 形態機能 / 円錐バンプ / ピラミッドバンプ研究代表者以外 SOI / metal induced crystallization / laser annealing / excimer laser … もっと見る / single grain / thin film transistor / silicon / nanoimprint / システム・オン・パネル / 薄膜集積回路 / TFT / 固相結晶化 / レーザー結晶化 / TFT回路 / 単一結晶粒トランジスタ / 結晶粒位置制御 / 多結晶シリコン / SO1 / 金属誘起固相結晶化 / レーザーアニール / エキシマレーザー / 疑似単結晶 / 薄膜トランジスタ / シリコン / ナノインプリント隠す

形態紀能を利用した常温電極接続法の研究研究代表者
- 研究代表者
  
  渡辺直也
- 研究期間 (年度)
  2005 – 2006
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  マイクロ・ナノデバイス
- 研究機関
  九州工業大学
ナノ・インプリント技術によるシリコン薄膜の結晶位置と方位制御の研究
- 研究代表者
  
  浅野種正
- 研究期間 (年度)
  2003 – 2005
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  薄膜・表面界面物性
- 研究機関
  九州工業大学

すべて 2006 2005

すべて雑誌論文

[雑誌論文] TFT Characterization of Laterally Grown Polycrystalline Si Film Prepared Using Double-Pulse Laser Scanning2006
- 著者名/発表者名
  T.Asano, K.Watanabe, M.Esaki, G.Nakagawa, S.Sakuragi, T.Kudo, K.Yamasaki
- 雑誌名
  
  Proc.2nd International TFT Conference
  
  ページ: 154-157
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15360022
[雑誌論文] TFT Charaterization of Laterally Grown Polycrystalline Si Film Prepared Using Double-Pulse Laser Scanning2006
- 著者名/発表者名
  T.Asano, K.Watanabe, M.Esaki, G.Nakagawa, S.Sakuragi, T.Kudo, K.Yamasaki
- 雑誌名
  
  Proc.2nd International TFT Conference
  
  ページ: 154-157
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15360022
[雑誌論文] Wafer-level Compliant Bump for Three-Dimensional LSI with High-Density Area Bump Connections2005
- 著者名/発表者名
  Naoya Watanabe, Takeaki Kojima, Tanemasa Asano
- 雑誌名
  
  International Electron Devices Meeting (IEDM) Technical Digest
  
  ページ: 687-690
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17710116
[雑誌論文] Pyramid Bumps for Fine-Pitch Chip-Stack Interconnection2005
- 著者名/発表者名
  Naoya Watanabe, Youhei Ootani, Tanemasa Asano
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics (JJAP) 44
  
  ページ: 2751-2755
- NAID
  10022538478
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17710116
[雑誌論文] TFT Characterization of Latrally Grown Polycrystalline Si Film Prepared Using Double-Pulse Laser Scanning2005
- 著者名/発表者名
  T.Asano, K.Watanabe, M.Esaki, G.Nakagawa, S.Sakuragi, T.Kudo, K.Yamasaki
- 雑誌名
  
  Proc.2nd International TFT Conference
  
  ページ: 154-157
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15360022
[雑誌論文] Connection Test of Area Bump Using Active-Matrix Switches2005
- 著者名/発表者名
  Naoya Watanabe, Satoshi Hasegawa, Tanemasa Asano
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics (JJAP) 44
  
  ページ: 2770-2773
- NAID
  10022538485
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17710116

1. 浅野種正 (50126306)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 3件
2. 馬場昭好 (80304872)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
3. 西坂美香 (50336096)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
4. 牧平憲治 (10253569)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件

渡辺 直也 Watanabe Naoya

研究課題

研究成果

共同研究者

形態紀能を利用した常温電極接続法の研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

ナノ・インプリント技術によるシリコン薄膜の結晶位置と方位制御の研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[雑誌論文] TFT Characterization of Laterally Grown Polycrystalline Si Film Prepared Using Double-Pulse Laser Scanning2006

著者名/発表者名

雑誌名

説明

データソース

[雑誌論文] TFT Charaterization of Laterally Grown Polycrystalline Si Film Prepared Using Double-Pulse Laser Scanning2006

著者名/発表者名

雑誌名

説明

データソース

[雑誌論文] Wafer-level Compliant Bump for Three-Dimensional LSI with High-Density Area Bump Connections2005

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] Pyramid Bumps for Fine-Pitch Chip-Stack Interconnection2005

著者名/発表者名

雑誌名

NAID

データソース

[雑誌論文] TFT Characterization of Latrally Grown Polycrystalline Si Film Prepared Using Double-Pulse Laser Scanning2005

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] Connection Test of Area Bump Using Active-Matrix Switches2005

著者名/発表者名

雑誌名

NAID

データソース

渡辺直也 Watanabe Naoya