温暁青 Wen Xiaoqing

研究者番号	20250897
その他のID
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所属 (現在)	2025年度: 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2013年度 – 2024年度: 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 教授 2012年度: 九州工業大学, 情報工学研究院, 教授 2012年度: 九州工業大学, 情報工程学院, 教授 2008年度 – 2011年度: 九州工業大学, 大学院・情報工学研究院, 教授 2007年度: 九州工業大学, 大学院・情報工学研究科, 教授 … もっと見る 2006年度: 九州工業大学, 大学院情報工学研究科, 助教授 2004年度 – 2006年度: 九州工業大学, 情報工学研究科, 助教授 1995年度: 秋田大学, 鉱山学部, 講師隠す
審査区分/研究分野	研究代表者計算機システム・ネットワーク / 計算機システム / 小区分60040:計算機システム関連 / 計算機科学研究代表者以外計算機システム・ネットワーク
キーワード	研究代表者 LSIテスト / IR-Drop / 低電力テスト / 高信頼化 / シフトエラー / シフト電力 / LSI回路 / 誤テスト / テスト電力 / スキャンテスト … もっと見る / 高品質化 / 活性化パス / 微小遅延故障 / 遅延テスト / テスト電力調整 / テスト生成 / 欠陥検出設計 / 欠陥影響最小化設計 / 欠陥影響定量化 / 欠陥 / 耐ソフトエラー記憶素子 / ディペンダブル・コンピュー / ディペンダブル・コンピュータ / グルーピング / テストクロック / シフトタイミング / ディペンダブル・コンピューティング / 電子デバイス・機器 / 計算機システム / クロックパス / パス遅延 / 信号値遷移 / 誤テスト回避 / テスト電力制御 / クロック / IR Drop / Low Power Test / Scan Design / LSI Test / IRドロップ / 低消費電力テスト / スキャン設計 / マスク回路 / 入力遷移 / テスト電力安全性 / テストデータ変更 / クロックストレッチ / IR-Dop / キャプチャ電力 / テストデータ / テスト品質 / 最適電力テスト / クロックスキュー / スキャンテスト電力 / 等価故障解析 / 故障モデル / 故障診断 / テスト集合の最小化 / テスト容易化設計 / 電流テスト / VLSIのテスト … もっと見る研究代表者以外計算機システム / 論理回路 / システムオンチップ / ディペンダブル・コンピューティング / fault simulation / dependability / delay fault / bridging fault / fault diagnosis / test pattern generation / logic circuit / design and test of LSIs / N回検出テスト / X故障モデル / テスト生成 / 故障シミュレーション / ディペンダビリティ / 遅延故障 / ブリッジ故障 / 故障診断 / テストパターン生成 / LSIの設計とテスト / (1)ディペンダブル・コンピューティング / VLSIの設計とテスト / 高信頼設計 / VLSI の設計とテスト隠す

高信頼LSI創出のための欠陥考慮型耐ソフトエラー技術に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  温暁青
- 研究期間 (年度)
  2024
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  九州工業大学
高品質な低電力LSI創出に貢献するシフト電力安全型スキャンテスト方式に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  温暁青
- 研究期間 (年度)
  2017 – 2020
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  九州工業大学
次世代低電力LSI創出のための誤テスト回避型高品質テスト方式に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  温暁青
- 研究期間 (年度)
  2015 – 2017
- 研究種目
  
  挑戦的萌芽研究
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  九州工業大学
体内埋込み型医療機器向けLSI回路のための極低電力自己テスト方式に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  温暁青
- 研究期間 (年度)
  2013 – 2017
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  九州工業大学
高品質・低コストＬＳＩの創出に貢献する論理スイッチング均衡型テストに関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  温暁青
- 研究期間 (年度)
  2012 – 2014
- 研究種目
  
  挑戦的萌芽研究
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  九州工業大学
次世代低消費電力LSI回路のための電力調整型テスト方式に関るす研究研究代表者
- 研究代表者
  
  温暁青
- 研究期間 (年度)
  2010 – 2012
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  九州工業大学
VLSIの高品質フィールドテストに関する研究
- 研究代表者
  
  梶原誠司
- 研究期間 (年度)
  2009 – 2012
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  九州工業大学
次世代LSIのための信号劣化回避型テスト方式に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  温暁青
- 研究期間 (年度)
  2007 – 2009
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  九州工業大学
LSI歩留まり向上のための誤テスト回避型テスト方式に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  温暁青
- 研究期間 (年度)
  2005 – 2006
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  九州工業大学
マルチフォールトモデルを対象としたLSIのテストに関する研究
- 研究代表者
  
  梶原誠司
- 研究期間 (年度)
  2004 – 2006
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  九州工業大学
VLSIの電流テスト容易化設計と電流波形による故障検出に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  温暁青
- 研究期間 (年度)
  1995
- 研究種目
  
  奨励研究(A)
- 研究分野
  
  計算機科学
- 研究機関
  秋田大学

[図書] Chapter 9 "Low-Power Testing for 2D/3D Devices and Systems" in Design of 3D Integrated Circuits and Systems2014
- 著者名/発表者名
  X. Lin, X. Wen, D. Xiang
- 総ページ数
  43
- 出版者
  CRC Press
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[図書] はかる×わかる半導体-入門編2013
- 著者名/発表者名
  浅田邦博(監修),温暁青,梶原誠司, (他5名)
- 出版者
  日経 BPコンサルティング
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[図書] Part IV Circuit Testing, Chapter 20: Low-Power Testing for Low-Power LSI Circuits, Advanced Circuits for Emerging Technologies2012
- 著者名/発表者名
  X. Wen and Y. Zorian, John Wiley & Sons
- 出版者
  New Jersey
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[図書] Part IV Circuit Testing, Chapter 20: Low-Power Testing for Low-Power LSI Circuits, in Advanced Circuits for Emerging Technologies2012
- 著者名/発表者名
  X. Wen, Y. Zorian
- 総ページ数
  18
- 出版者
  Part IV Circuit Testing, Chapter 20: Low-Power Testing for Low-Power LSI Circuits
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[図書] Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices2009
- 著者名/発表者名
  X. Wen, S. Wang
- 出版者
  Springer
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[図書] Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices(Chapter 3 : Low-Power Test Generation)2009
- 著者名/発表者名
  X.Wen, S.Wang
- 総ページ数
  51
- 出版者
  Springer(New York, USA)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[図書] Advanced SOC Test Architectures-Towards Nanometer Designs2007
- 著者名/発表者名
  P. Girard, X. Wen, N. A. Touba
- 出版者
  Elsevier Science
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[図書] Advanced SOC Test Architectures - Towards Nanometer Designs (Chapter 7: Low-Power Testing)2007
- 著者名/発表者名
  L.-T. Wang, C. Stroud, N. A. Touba (Chapter 7: P. Girard, X.Wen, N. A. Touba)
- 出版者
  Elsevier Science (Massachusetts, USA)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[雑誌論文] Cost Efficient Flip-Flop Designs with Multiple-Node Upset-Tolerance and Algorithm-Based Verifications2025
- 著者名/発表者名
  X. Guo, J. Zhang, X. Meng, Z. Li, Z. Huang, X. Wen, P. Girard, A. Yan
- 雑誌名
  
  IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
  
  巻: 44 号: 1 ページ: 390-394
- DOI
  10.1109/tcad.2024.3426271
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[雑誌論文] Highly Defect Detectable and SEU-Resilient Robust Scan-Test-Aware Latch Design2025
- 著者名/発表者名
  R. Ma, S. Holst, H. Xu, X. Wen, S. Wang, J. Li, A. Ya
- 雑誌名
  
  IEEE Trans. on VLSI
  
  巻: 33 号: 2 ページ: 449-461
- DOI
  10.1109/tvlsi.2024.3467089
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653, KAKENHI-PROJECT-22K11955
[雑誌論文] GPU-Accelerated Estimation and Targeted Reduction of Peak IR-Drop during Scan Chain Shifting2023
- 著者名/発表者名
  S. Shi, S. Holst, and X. Wen
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems
  
  巻: E106.D 号: 10 ページ: 1694-1704
- DOI
  10.1587/transinf.2023EDP7011
- ISSN
  0916-8532, 1745-1361
- 年月日
  2023-10-01
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[雑誌論文] A Highly Robust and Low Power Flip-Flop Cell with Complete Double-Node-Upset Tolerance for Aerospace Applications2023
- 著者名/発表者名
  A. Yan, Y. He, Z. Li, J. Cui, T. Ni, Z. Huang, P. Girard, and X. Wen
- 雑誌名
  
  IEEE Design & Test
  
  巻: 40 号: 4 ページ: 34-41
- DOI
  10.1109/mdat.2023.3267747
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[雑誌論文] LDAVPM: A Latch Design and Algorithm-based Verification Protected against Multiple-Node-Upsets in Harsh Radiation Environments2023
- 著者名/発表者名
  A. Yan, Z. Li, Z. Zhou, J. Cui, Z. Huang, T. Ni, P. Girard, and X. Wen
- 雑誌名
  
  IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
  
  巻: 42 号: 6 ページ: 2069-2073
- DOI
  10.1109/tcad.2022.3213212
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[雑誌論文] Evaluation and Test of Production Defects in Hardened Latches2022
- 著者名/発表者名
  R. Ma, S. Holst, X. Wen, A. Yan, and H. Xu
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems
  
  巻: E105.D 号: 5 ページ: 996-1009
- DOI
  10.1587/transinf.2021EDP7216
- ISSN
  0916-8532, 1745-1361
- 年月日
  2022-05-01
- 言語
  英語
- 査読あり / オープンアクセス / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[雑誌論文] Probability of Switching activity to Locate Hotspots in Logic Circuits2021
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qian
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. on Inf. & Syst.
  
  巻: E104-D
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[雑誌論文] Non-intrusive Online Distributed Pulse Shrinking Based Interconnect Testing in 2.5D IC2020
- 著者名/発表者名
  T. Ni, H. Chang, T. Song, Q. Xu, Z. Huang, H. Liang, A. Yan, X. Wen
- 雑誌名
  
  IEEE Trans. on Circuits and Systems II: Express Briefs
  
  巻: 67 号: 11 ページ: 2657-2661
- DOI
  10.1109/tcsii.2019.2962824
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[雑誌論文] LCHR-TSV: Novel Low Cost and Highly Repairable Honeycomb-Based TSV Redundancy Architecture for Clustered Fault2020
- 著者名/発表者名
  T. Ni, Y. Yao, H. Chang, L. Lu, H. Liang, A. Yan, Z. Huang, X. Wen
- 雑誌名
  
  IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
  
  巻: 39 号: 10 ページ: 2938-2951
- DOI
  10.1109/tcad.2019.2946243
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[雑誌論文] A Novel TDMA-Based Fault Tolerance Technique for the TSVs in 3D-ICs Using Honeycomb Topology2020
- 著者名/発表者名
  Ni Tianming、Yang Zhao、Chang Hao、Zhang Xiaoqiang、Lu Lin、Yan Aibin、Huang Zhengfeng、Wen Xiaoqing
- 雑誌名
  
  IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing
  
  巻: Early Access 号: 2 ページ: 724-734
- DOI
  10.1109/tetc.2020.2969237
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[雑誌論文] A Double-Node-Upset Self-Recoverable Latch Design for High Performance and Low Power Application2019
- 著者名/発表者名
  A. Yan, K. Yang, Z. Huang, J. Zhang, J. Cui, X. Fang, M. Yi, X. Wen
- 雑誌名
  
  IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs
  
  巻: 66 号: 2 ページ: 287-291
- DOI
  10.1109/tcsii.2018.2849028
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[雑誌論文] Novel Double-Node-Upset-Tolerant Memory Cell Designs through Radiation-Hardening-by-Design and Layout2019
- 著者名/発表者名
  A. Yan, Z. Wu, J. Guo, J. Song, X. Wen
- 雑誌名
  
  IEEE Transactions on Reliability
  
  巻: 68 号: 1 ページ: 354-363
- DOI
  10.1109/tr.2018.2876243
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[雑誌論文] A Method to Detect Bit Flips in a Soft-Error Resilient TCAM2017
- 著者名/発表者名
  Syafalni Infall、Sasao Tsutomu、Wen Xiaoqing
- 雑誌名
  
  IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
  
  巻: 37-8 号: 6 ページ: 1-1
- DOI
  10.1109/tcad.2017.2748019
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K00086, KAKENHI-PROJECT-26330072, KAKENHI-PROJECT-17H01716
[雑誌論文] A Flexible Scan-in Power Control Method in Logic BIST and Its Evaluation with TEG Chips2017
- 著者名/発表者名
  T. Kato, S. Wang, Y. Sato, S. Kajihara, X. Wen
- 雑誌名
  
  IEEE Trans. on Emerging Topics in Computing
  
  巻: PP 号: 3 ページ: 1-1
- DOI
  10.1109/tetc.2017.2767070
- NAID
  120007006783
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003, KAKENHI-PROJECT-15K12004
[雑誌論文] Test Pattern Modification for Average IR-Drop Reduction2016
- 著者名/発表者名
  W.-S. Ding, H.-Y. Hsieh, C.-Y. Han, James C.-M. Li, X. Wen
- 雑誌名
  
  IEEE Trans. on VLSI Systems
  
  巻: 24 号: 1 ページ: 38-49
- DOI
  10.1109/tvlsi.2015.2391291
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[雑誌論文] Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation2016
- 著者名/発表者名
  F. Li, X. Wen, K. Miyase, S. Holst, S. Kajihara
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
  
  巻: E99.A 号: 12 ページ: 2310-2319
- DOI
  10.1587/transfun.E99.A.2310
- NAID
  130005170516
- ISSN
  0916-8508, 1745-1337
- 言語
  英語
- 査読あり / 謝辞記載あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016, KAKENHI-PROJECT-15K12003, KAKENHI-PROJECT-15K12004
[雑誌論文] Thermal-Aware Small-Delay Defect Testing in Integarted Circuits for Mitigating Overkill2016
- 著者名/発表者名
  D. Xiang, K. Shen, B. B. Bhattacharya, X. Wen, X. Lin
- 雑誌名
  
  EEE Trans. on Computer-Aided Design
  
  巻: 35 号: 3 ページ: 499-512
- DOI
  10.1109/tcad.2015.2474365
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[雑誌論文] Test Pattern Modification for Average IR-Drop Reduction2015
- 著者名/発表者名
  W.-S. Ding, H.-Y. Hsieh, C.-Y. Han, James C.-M. Li, X. Wen
- 雑誌名
  
  IEEE Trans. on VLSI Systems
  
  巻: 未定
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[雑誌論文] Test Pattern Modification for Average IR-Drop Reduction2015
- 著者名/発表者名
  W.-S. Ding, H.-Y. Hsieh, C.-Y. Han, James C.-M. Li, X. Wen
- 雑誌名
  
  IEEE Transactions on VLSI Systems
  
  巻: 未定
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[雑誌論文] On Achieving Capture Power Safety in At-Speed Scan-Based Logic BIST2014
- 著者名/発表者名
  A. Tomita, X. Wen, Y. Sato, S. Kajihara, P. Girard, M. Tehranipoor, L.-T. Wang,
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems
  
  巻: E97.D 号: 10 ページ: 2706-2718
- DOI
  10.1587/transinf.2014EDP7039
- NAID
  130004696754
- ISSN
  0916-8532, 1745-1361
- 言語
  英語
- 査読あり / 謝辞記載あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022, KAKENHI-PROJECT-25280016
[雑誌論文] LCTI-SS: Low-Clock-Tree-Impact Scan Segmentation for Avoiding Shift Timing Failures in Scan Testing2013
- 著者名/発表者名
  Y. Yamato, X. Wen, M. A. Kochte, K. Miyase, S. Kajihara, L.-T. Wang
- 雑誌名
  
  IEEE Design & Test of Computers
  
  巻: Vol. 30, No. 4 号: 4 ページ: 60-70
- DOI
  10.1109/mdt.2012.2221152
- NAID
  120005895737
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022, KAKENHI-PROJECT-25280016
[雑誌論文] A Capture-Safety Checking Metric Based on Transition-Time-Relation for At-Speed Scan Testing2013
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, R. Sakai, X. Wen, Xiaoqing, M. Aso, H. Furukawa, Y. Yamato, S. Kajihara
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems
  
  巻: E96.D 号: 9 ページ: 2003-2011
- DOI
  10.1587/transinf.E96.D.2003
- NAID
  130003370989
- ISSN
  0916-8532, 1745-1361
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022, KAKENHI-PROJECT-25280016
[雑誌論文] Launch-on-Shift Test Generation for Testing Scan Designs Containing Synchronous and Asynchronous Clock Domains2012
- 著者名/発表者名
  S. Wu, L.-T. Wang, X. Wen, Z. Jiang, W.-B. Jone, M. S. Hsiao, L. Tan, Y. Zhang, C.-M. Li, J.-L. Huang
- 雑誌名
  
  ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems
  
  巻: Vol. 17, Iss. 4 号: 4 ページ: 1-16
- DOI
  10.1145/2348839.2348852
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[雑誌論文] Fault Detection with Optimum March Test Algorithm2012
- 著者名/発表者名
  N.A. Zakaria, W.Z.W. Hasan, I.A. Halin, R.M. Sidek, X. Wen
- 雑誌名
  
  Journal of Theoretical and Applied Information Technology
  
  巻: Vol. 47, No. 1 ページ: 18-27
- DOI
  10.1109/isms.2012.88
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[雑誌論文] Layout-Aware Pattern Evaluation and Analysis for Power-Safe Application of TDF Patterns2012
- 著者名/発表者名
  H. Salmani, W. Zhao, M. Tehranipoor, S. Chacravarty, P. Girard, and X. Wen
- 雑誌名
  
  ASP Journal of Lower Power Electronics
  
  巻: Vol. 8, No. 2 ページ: 248-258
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[雑誌論文] Launch-on-Shift Test Generation for Testing Scan Designs Containing Synchronous and Asynchronous Clock Domains2012
- 著者名/発表者名
  S. Wu, L. -T. Wang, X. Wen, Z. Jiang, W. -B. Jone, M. S. Hsiao, L. Tan, Y. Zhang, C. -M. Li, and J. -L. Huang
- 雑誌名
  
  ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems
  
  巻: Vol. 17, Issue 4, Article No. 48
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[雑誌論文] A GA-Based X-Filling for Reducing Launch Switching Activity toward Specific Objectives in At-Speed Scan Testing2011
- 著者名/発表者名
  Y.Yamato, X.Wen, R.Miyase, H.Furukawa, S.Kajihara
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems
  
  巻: E94-D 号: 4 ページ: 833-840
- DOI
  10.1587/transinf.E94.D.833
- NAID
  10029506602
- ISSN
  0916-8532, 1745-1361
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[雑誌論文] Distribution-Controlled X-Identification for Effective Reduction of Launch-Induced IR-Drop in At-Speed Scan Testing2011
- 著者名/発表者名
  K.Miyase, K.Noda, H.Ito, K.Hatayama, T.Aikyo, Y.Yamato, H.Furukawa, X.Wen, S.Kaiihara
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems
  
  巻: E94.D 号: 6 ページ: 1216-1226
- DOI
  10.1587/transinf.E94.D.1216
- NAID
  10029805011
- ISSN
  0916-8532, 1745-1361
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[雑誌論文] Distribution-Controlled X-Identification for Effective Reduction of Launch-Induced IR-Drop in At-Speed Scan Testing2011
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, K. Noda, H. Ito, K. Hatayama, T. Aikyo, Y. Yamato, H. Furukawa, X. Wen, and S. Kajihara
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. Inf. & Syst.
  
  巻: Vol. E94-D, No. 6 ページ: 1216-1226
- NAID
  10029805011
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[雑誌論文] On Delay Test Quality for Test Cubes2010
- 著者名/発表者名
  S. Oku, S. Kajihara, Y. Sato, K. Miyase, X. Wen
- 雑誌名
  
  IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology
  
  巻: 3 ページ: 283-291
- DOI
  10.2197/ipsjtsldm.3.283
- NAID
  110009599095
- ISSN
  1882-6687
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] On Estimation of NBTI-Induced Delay Degradation2010
- 著者名/発表者名
  M.Noda, S.Kajihara, Y.Sato, K.Miyase, X.Wen, Y.Miura
- 雑誌名
  
  Proc.of 5th IEEE European Test Symposium
  
  ページ: 107-111
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] A Comprehensive Analysis of Transition Fault Coverage and Test Power Dissipation for LOS and LOC Schemes2010
- 著者名/発表者名
  F.Wu, L..Dilillo, A.Bosio, P.Girard, S.Pravossoudovitch, A.Virazel, M.Tehranipoor, X.Wen, N.Ahmed
- 雑誌名
  
  ASP Journal of Lower Power Electronics
  
  巻: 6 ページ: 359-374
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[雑誌論文] A Study of Capture-Safe Test Generation Flow for At-Speed Testing2010
- 著者名/発表者名
  K.Miyase, X.Wen, S.Kajihara, Y.Yamato, A.Takashima, H.Furukawa, K.Noda, N.Ito, K.Hatayama, T.Aikyo, K.Saluja
- 雑誌名
  
  IEICE Trans.Inf.& Syst.
  
  巻: E93-A ページ: 1309-1318
- NAID
  10027367482
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[雑誌論文] High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing Using CTX: A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme2010
- 著者名/発表者名
  Kohei Miyase, Xiaoqing Wen, Hiroshi Furukawa, Yuta Yamato, Seiji Kajihara, (他3名)
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems
  
  巻: E93-D 号: 1 ページ: 2-9
- DOI
  10.1587/transinf.E93.D.2
- NAID
  10026812940
- ISSN
  0916-8532, 1745-1361
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] A Study of Capture-Safe Test Generation Flow for At-Speed Testing2010
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, X. Wen, S. Ka j ihara, Y. Yamato, A. Takashima, H. Furukawa, K. Noda, H. Ito, K. Hatayama, T. Aikyo, and K. K. Saluja
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. Inf. & Syst.
  
  巻: Vol. E93-A, No. 7 ページ: 1309-1318
- NAID
  10027367482
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[雑誌論文] On Test Pattern Compaction with Multi-Cycle and Multi-Observation Scan Test2010
- 著者名/発表者名
  Seiji Kajihara, Makoto Matsuzono, Hisato Yamaguchi, Yasuo Sato, Kohei Miyase, Xiaoqing Wen
- 雑誌名
  
  Int. Symp. on Communications and Information Technologies
  
  ページ: 723-726
- DOI
  10.1109/iscit.2010.5665084
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] On Delay Test Quality for Test Cubes2010
- 著者名/発表者名
  S.Oku, S.Kajihara, Y.Sato, K.Miyase, X.Wen
- 雑誌名
  
  IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology
  
  巻: Vol.3 ページ: 283-291
- NAID
  130000418476
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] On Test Pattern Compaction with Multi-Cycle and Multi-Observation Scan Test2010
- 著者名/発表者名
  S.Kajihara, M.Matsuzono, H.Yamaguchi, Y.Sato, K.Miyase, X.Wen
- 雑誌名
  
  Proc.of 10th International Symposium on Communications and Information Technologies
  
  ページ: 723-726
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing using CTX : A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme2010
- 著者名/発表者名
  K.Miyase, X.Wen, H.Furukawa, Y.Yamato, S.Kajihara, P.Girard, L.-T.Wang, M.Tehranipoor
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems Vol.E93-D
  
  ページ: 2-9
- NAID
  10026812940
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] On Estimation of NBTI-Induced Delay Degradation2010
- 著者名/発表者名
  M. Noda, S. Kajihara, Y. Sato, K. Miyase, X. Wen, Y. Miura
- 雑誌名
  
  15thIEEE European Test Symp
  
  ページ: 107-111
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing using CTX: A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme2009
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, X. Wen, H. Furukawa, Y. Yamato, S. Kajihara, P. Girard, L.-T. Wang, M. Tehranipoor
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. Inf. & Syst. Vol.E93-D,No.1
  
  ページ: 2-9
- NAID
  10026812940
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[雑誌論文] Power Supply Noise Reduction for At-Speed Scan Testing in Linear-Decompression Environment2009
- 著者名/発表者名
  M.-F. Wu, J.-L. Huang, X. Wen, K. Miyase
- 雑誌名
  
  IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems Vol.28,No.11
  
  ページ: 1767-1776
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[雑誌論文] On Calculation of Delay Range in Fault Simulation for Test Cubes2009
- 著者名/発表者名
  S.KAJIHARA, S.OKU, K.MIYASE, X.WEN, Y.SATO
- 雑誌名
  
  Proc.of International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test
  
  ページ: 64-67
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] シグナルインテグリティ考慮型LSIテストを目指して2009
- 著者名/発表者名
  温暁青
- 雑誌名
  
  信頼性学会誌 Vol.31,No.7
  
  ページ: 498-505
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[雑誌論文] A GA-Based Method for High-Quality X-Filling to Reduce Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2009
- 著者名/発表者名
  Yuta Yamato, Xiaoqing Wen, Kohei Miyase, Hiroshi Furukawa, Seiji Kajihara
- 雑誌名
  
  IEEE 15th Pacific Rim Int. Symp. on Dependable Computing
  
  ページ: 81-86
- DOI
  10.1109/prdc.2009.21
- NAID
  120006784394
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] シグナルインテグリティ考慮型LSIテストを目指して2009
- 著者名/発表者名
  温暁青
- 雑誌名
  
  信頼性学会誌 31
  
  ページ: 498-505
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[雑誌論文] CAT : A Critical-Area-Targeted Test Set Modification Scheme for Reducing Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2009
- 著者名/発表者名
  K.Enokimoto, X.Wen, Y.Yamato, K.Miyase, H.Sone, S.Kajihara, M.Aso, H.Furukawa
- 雑誌名
  
  Proc.of Asian Test Symposium
  
  ページ: 99-104
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] A GA-Based Method for High-Quality X-Filling to Reduce Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2009
- 著者名/発表者名
  Y.Yamato, X.Wen, K.Miyase, H.Furukawa, S.Kajihara
- 雑誌名
  
  Proc.of IEEE 15th Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing
  
  ページ: 81-86
- NAID
  120006784394
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] Power Supply Noise Reduction for At-Speed Scan Testing in Linear-Decompression Environment2009
- 著者名/発表者名
  M.-F.Wu, J.-L.Huang, X.Wen, K.Miyase
- 雑誌名
  
  IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 28
  
  ページ: 1767-1776
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[雑誌論文] A Novel Post-ATPG IR-Drop Reduction Scheme for At-Speed Scan Testing in Broadcast-Scan-Based Test Compression Environment2009
- 著者名/発表者名
  K.Miyase, Y.Yamato, K.Noda, H.Ito, K.Hatayama, T.Aikyo, X.Wen, S.Kajihara
- 雑誌名
  
  Proc.of International Conference on Computer-Aided Design
  
  ページ: 97-104
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] CAT: A Critical-Area-Targeted Test Set Modification Scheme for Reducing Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2009
- 著者名/発表者名
  Kazunari Enokimoto, Xiaoqing Wen, Yuta Yamato, Kohei Miyase, Hiroaki Sone, Seiji Kajihara(他2名)
- 雑誌名
  
  Proc. Asian Test Symp
  
  ページ: 99-104
- DOI
  10.1109/ats.2009.22
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing using CTX : A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme2009
- 著者名/発表者名
  K.Miyase, X.Wen, H.Furukawa, Y.Yamato, S.Kajihara, P.Girard, L.-T.Wang, M.Tehranipoor
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. Inf.& Syst. E93-D
  
  ページ: 2-9
- NAID
  10026812940
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[雑誌論文] Test Strategies for Low-Power Devices2008
- 著者名/発表者名
  C.P. Ravikumar, M. Hirech, X. Wen
- 雑誌名
  
  Journal of Low Power Electronics Vol.4
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[雑誌論文] Estimation of Delay Test Quality and Its Application to Test Generation2008
- 著者名/発表者名
  S. Kajihara, S. Morishima, M. Yamamoto, X. Wen, M. Fukunaga, K. Hatayama, T. Aikyo
- 雑誌名
  
  IPSJ Transaction of System LSI Design Methodology 1
  
  ページ: 104-115
- NAID
  130002073185
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[雑誌論文] Low Capture Switching Activity Test Generation for Reducing IR-Drop in At-Speed Scan Testing2008
- 著者名/発表者名
  X. Wen, K. Miyase, T. Suzuki, S. Kajiihara, L. -T. Wang, K. K. Saluja, K. Kinoshita
- 雑誌名
  
  Journal of Electronic Testing : Theory and Applications, Special Issue on Low Power Testing 24
  
  ページ: 379-391
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[雑誌論文] Test Strategies for Low-Power Devices2008
- 著者名/発表者名
  C. P. Ravikumar, M. Hirech, X. Wen
- 雑誌名
  
  Journal of Low Power Electronics 4
  
  ページ: 127-138
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[雑誌論文] Estimation of Delay Test Quality and Its Application to Test Generation2008
- 著者名/発表者名
  S. Kajihara, S. Morishima, M. Yamamoto, X. Wen, M. Fukunaga, K. Hatayama, T. Aikyo
- 雑誌名
  
  IPSJ Transaction of System LSI Design Methodology Vol.1
  
  ページ: 104-115
- NAID
  130002073185
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[雑誌論文] Low Capture Switching Activity Test Generation for Reducing IR-Drop in At-Speed Scan Testing2008
- 著者名/発表者名
  X. Wen, K. Miyase, T. Suzuki, S. Kajiihara, L.-T. Wang, K.K. Saluja, K. Kinoshita
- 雑誌名
  
  Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Special Issue on Low Power Testing Vol.24
  
  ページ: 379-391
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[雑誌論文] A Novel ATPG Method for Capture Power Reduction During Scan Testing2007
- 著者名/発表者名
  X.Wen, S.Kajiihara, K.Miyase, T.Suzuki, K.K.Saluja, L.-T.Wang, K.Kinoshita
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. Inf. & Syst. E90-D
  
  ページ: 1398-1405
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[雑誌論文] A Novel ATPG Method for Capture Power Reduction During Scan Testing2007
- 著者名/発表者名
  X. Wen, S. Kajiihara, K. Miyase, T. Suzuki, K.K. Saluja, L.-T. Wang, K. Kinoshita
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. Inf. & Syst. E90-D,No.9
  
  ページ: 1398-1405
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[雑誌論文] A New Method for Low-Capture-Power Test Generation for Scan Testing2006
- 著者名/発表者名
  X.Wen, Y.Yamashita, S.Kajiihara, L.-T.Wang, K.K.Saluja, K.Kinoshita
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. Inf. ＆ Syst. Vol.E89-D,No.5
  
  ページ: 1679-1686
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17500039
[雑誌論文] A New Method for Low-Capture-Power Test Generation for Scan Testing2006
- 著者名/発表者名
  X.Wen, Y.Yamashita, S.Kajiihara, L.-T.Wang, K.K.Saluja, K.Kinoshita・
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. Inf. ＆ Syst. Vol. E89-D, No. 5
  
  ページ: 1679-1686
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17500039
[雑誌論文] A New Method for Low-Capture-Power Test Generation for Scan Testing2006
- 著者名/発表者名
  X.Wen, Y.Yamashita, S.Kajiihara, L.-T.Wang, K.K.Saluja, K.Kinoshita
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. Inf. ＆ Syst. Vol. E89-D,No. 5
  
  ページ: 1679-1686
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17500039
[雑誌論文] 中間故障電圧値を扱う故障シミュレーションの高速化について2005
- 著者名/発表者名
  温暁青, 梶原誠司, 玉本英夫, K. K. Saluja, 樹下行三
- 雑誌名
  
  電子情報通信学会論文誌D-I Vol. J88-D-1,No. 4
  
  ページ: 906-907
- NAID
  10016599053
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17500039
[雑誌論文] 中間故障電圧値を扱う故障シミュレーションの高速化について2005
- 著者名/発表者名
  温暁青, 他
- 雑誌名
  
  電子情報通信学会論文誌D-I Vol.J88-D-I, No.4
  
  ページ: 906-907
- NAID
  10016599053
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16500036
[雑誌論文] Efficient Test Set Modification for Capture Power Reduction2005
- 著者名/発表者名
  Xiaoqing Wen, Tatsuya Suzuki, Seiji Kajihara, Kohei Miyase, Yoshihiro Minamoto, Laung-Terng Wang, K. K. Saluja
- 雑誌名
  
  Journal of Low Power Electronics Issue 3
  
  ページ: 319-330
- NAID
  120006782190
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17500039
[雑誌論文] Test compression for scan circuits using scan polarity adjustment and pinpoint test relaxation2005
- 著者名/発表者名
  Y.Doi, S.Kajihara, X.Wen, L.Li, K.Chakrabarty
- 雑誌名
  
  Proceedings of Asia and South Pacific Design Automation Conference
  
  ページ: 59-64
- NAID
  110003318193
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16500036
[雑誌論文] 中間故障電圧値を扱う故障シミュレーションの高速化について2005
- 著者名/発表者名
  温暁青
- 雑誌名
  
  電子情報通信学会論文誌 D-I Vol. J88-D-I No. 4
  
  ページ: 906-907
- NAID
  10016599053
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16500036
[雑誌論文] On Speed-Up of Fault Simulation for Handling Intermediate Faulty Voltages2005
- 著者名/発表者名
  Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara, Hideo Tamamoto, Kewal K. Saluja, Kozo Kinoshita
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. Inf. ＆ Syst D-I, Vol. J88-D-I, No. 4
  
  ページ: 906-907
- NAID
  10016599053
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17500039
[雑誌論文] On Speed-Up of Fault Simulation for Handling Intermediate Faulty Voltages2005
- 著者名/発表者名
  Xiaoqing WEN
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. Info. and Syst. Vol. J88-D-I-No. 4
  
  ページ: 906-907
- NAID
  10016599053
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16500036
[雑誌論文] On Design for IDDQ-Based Diagnosability of CMOS Circuits Using Multiple Power Supplies2005
- 著者名/発表者名
  Xiaoqing WEN, 他
- 雑誌名
  
  IEICE Trans.Info.and Syst. Vol.E88-D, No.4
  
  ページ: 703-710
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16500036
[雑誌論文] Efficient Test Set Modification for Capture Power Reduction2005
- 著者名/発表者名
  X.Wen, T.Suzuki, S.Kajihara, K.Miyase, Y.Minamoto, L.-T.Wang, K.K.Saluja
- 雑誌名
  
  Journal of Low Power Electronics Issue 3
  
  ページ: 319-330
- NAID
  120006782190
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17500039
[雑誌論文] On Design for IDDQ-Based Diagnosability of CMOS Circuits Using Multiple Power Supplies2005
- 著者名/発表者名
  Xiaoqing WEN
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. Info. and Syst. Vol. E88-D-No. 4
  
  ページ: 703-710
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16500036
[雑誌論文] On Design for IDDQ-Based Diagnosability of CMOS Circuits Using Multiple Power Supplies2005
- 著者名/発表者名
  Xiaoqing WEN
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. Info. and Syst. Vol. E88-D No. 4
  
  ページ: 703-710
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16500036
[雑誌論文] On Per-Test Fault Diagnosis Using the X-Fault Model2004
- 著者名/発表者名
  X.Wen, T.Miyoshi, S.Kajihara, L.T.Wang, K.K.Saluja, K.Kinoshita
- 雑誌名
  
  Proceedings of Int'l Conf.on Computer-Aided Design
  
  ページ: 633-640
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16500036
[雑誌論文] A New Method for Low-Capture-Power Test Generation for Scan Testing
- 著者名/発表者名
  Xiaoqing Wen (温暁青)
- 雑誌名
  
  IEICE Trans.Inf.& Syst. (平成17年11月4日採録済み)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17500039
[産業財産権] 論理値決定方法及び論理値決定プログラム2008
- 発明者名
  宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司, 大和勇太
- 権利者名
  九州工業大学
- 産業財産権番号
  2008-211473
- 出願年月日
  2008-08-02
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[産業財産権] 論理値決定方法及び論理値決定プログラム2008
- 発明者名
  宮瀬絋平, 温暁青, 梶原誠司, 大和勇太
- 権利者名
  九州工業大学
- 産業財産権番号
  2008-211473
- 出願年月日
  2008-08-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[産業財産権] 判別方法及びプログラム2008
- 発明者名
  呉孟帆, 黄俊郎, 温暁青, 宮瀬紘平
- 権利者名
  九州工業大学, 台湾大学
- 産業財産権番号
  2008-273484
- 取得年月日
  2008-10-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[産業財産権] 判別方法及びプログラム2008
- 発明者名
  呉孟帆, 黄俊郎, 温暁青, 宮瀬絋平
- 権利者名
  九州工業大学・台湾大学
- 産業財産権番号
  2008-273484
- 出願年月日
  2008-10-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[産業財産権] 半導体論理回路装置のテスト方法、装置及び半導体論理回路装置のテストプログラムを記憶した記憶媒体2005
- 発明者名
  温暁青, 梶原誠司
- 権利者名
  *九州工業大学
- 産業財産権番号
  2005-130806
- 出願年月日
  2005-04-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17500039
[産業財産権] 半導体論理回路装置のテストベクトル生成方法、装置及び半導体論理回路装置のテストベクトル生成プログラムを記憶した記憶媒体2005
- 発明者名
  温暁青, 梶原誠司
- 権利者名
  九州工業大学
- 産業財産権番号
  2005-215214
- 出願年月日
  2005-07-26
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17500039
[産業財産権] 半導体論理回路装置のテストベクトル生成方法、装置及び半導体論理回路装置のテストベクトル生成プログラムを記憶した記憶媒体2005
- 発明者名
  温暁青, 梶原誠司
- 権利者名
  *九州工業大学
- 産業財産権番号
  2005-215214
- 出願年月日
  2005-04-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17500039
[産業財産権] 半導体論理回路装置のテスト方法、装置及び半導体論理回路装置のテストプログラムを記憶した記憶媒体2005
- 発明者名
  温暁青, 梶原誠司
- 権利者名
  九州工業大学
- 産業財産権番号
  2005-130806
- 出願年月日
  2005-04-28
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17500039
[学会発表] 耐ソフトエラー記憶素子の機能検証に関する研究2025
- 著者名/発表者名
  渕上天翔, S. Holst, 宮瀬紘平, 温暁青
- 学会等名
  第16回LSIテストセミナー
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] SHRCO: Design of an SRAM with High Reliability and Cost Optimization for Safety-Critical Applications2024
- 著者名/発表者名
  Y. Chang, G. Liu, Z. Li, J. Zhang, X. Wen, A. Yan
- 学会等名
  The 8th International Test Conference in Asia
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] CQCTL: A Cost-Optimized and Quadruple-Node-Upset Completely Tolerant Latch Design for Safety-Critical Applications2024
- 著者名/発表者名
  Z. Shen, Q. Zhang, Y. Zhou, J. Cui, X. Wen
- 学会等名
  The 8th International Test Conference in Asia
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] Mutiple-Error Interceptive Voter Designs for Safety-Critical Applications2024
- 著者名/発表者名
  X. Li, J. Song, G. Liu, Y. He, X. Wen, Z. Huang
- 学会等名
  The 8th International Test Conference in Asia
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] SRBML: A Single-Event-Upset Recoverable and BTI-Mitigated Latch Design for Long-Term Reliability Enhancement2024
- 著者名/発表者名
  F. Xia, J. Zhang, Z. Huang, T. Ni, X. Wen, A. Yan
- 学会等名
  The 8th International Test Conference in Asia
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] 配線長がランダムなMUXチェーンによる高分解能な二段階パス遅延測定法2024
- 著者名/発表者名
  加藤健太郎, 名倉, 温暁青, 小林春夫
- 学会等名
  第207回SLDM研究発表会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] A Robust and High-Performance Flip-Flop with Complete Soft-Error Recovery2023
- 著者名/発表者名
  A. Yan, X. Li, , T. Ni, Z. Huang, and X. Wen
- 学会等名
  The 10th Int'l Conf. on Dependable systems and Their Applications
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] Mitigating Test-Induced Yield-Loss by IR-Drop-Aware X-Filling2023
- 著者名/発表者名
  S. Shi, S. Holst, and X. Wen
- 学会等名
  The 16th IEEE Int`l Symp. on Embedded Milticore/Many-core Systems-on-Chip
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] A High-Performance and P-Type FeFET-Based Non-Volatile Latch2023
- 著者名/発表者名
  A. Yan, Y. Chen, Z. Huang, J. Cui, and X. Wen
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] A Low Area and Low Dealy Latch Design with Complete Double-Node-Upset-Recovery For Aerospace Applications2023
- 著者名/発表者名
  A. Yan, S. Wei, J. Zhang, J. Cui, J. Song, Xiang, T. Ni, P. Girard, and X. Wen
- 学会等名
  The 33rd Great Lake Symp. on VLSI
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] BiSTAHL: A Built-In Self-Testable Soft-Error-Hardened Scan-Cell2023
- 著者名/発表者名
  S. Holst, R. Ma, X. Wen, A. Yan, and H. Xu
- 学会等名
  IEEE European Test Symp.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] A Low Overhead and Double-Node-Upset Self-Recoverable Latch2023
- 著者名/発表者名
  A. Yan, F. Xia, T. Ni, J. Cui, Z. Huang, P. Girard, and X. Wen
- 学会等名
  The 7th Int'l Test Conf. in Asia
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] Cost-Optimized and Robust Latch Hardened against Quadruple Node Upsets for Nanoscale CMOS2022
- 著者名/発表者名
  A. Yan, S. Song, J. Zhang, J. Cui, Z. Huang, T. Ni, X. Wen, and P. Girard
- 学会等名
  IEEE Int'l Test Conf. in Asia
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] Functional Safety of AI Accelerators with Hardware Defects2022
- 著者名/発表者名
  B. Lim, S. Holst, X. Wen
- 学会等名
  第13回LSIテストセミナー
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] A Highly Robust, Low Delay and DNU-Recovery Latch Design for Nanoscale CMOS Technology2022
- 著者名/発表者名
  A. Yan, Z. Zhou, S. Wei, J. Cui, Y. Zhou, T. Ni, P. Girard, and X. Wen
- 学会等名
  the 32nd Great Lake Symp. on VLSI
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] Estimation and Reduction of Peak IR-Drop in Scan Shift2022
- 著者名/発表者名
  S. Shi, S. Holst, and X. Wen
- 学会等名
  the 10th Int'l Symp. on Applied Engineering and Sciences
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] A Low-Cost and Robust Latch Protected against Triple Node Upsets in Nanoscale CMOS based on Source-Drain Cross-Coupled Inverters2022
- 著者名/発表者名
  A. Yan, S. Song, Y. Chen, J. Cui, Z. Huang, and X. Wen
- 学会等名
  IEEE Int'l Conf. on Nanotechnology
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] Effective Switching Probability Calculation to Locate Hotspots in Logic Circuits2022
- 著者名/発表者名
  T. Utsunomiya, R. Hoshino, K. Miyase, S.-K. Lu, X. Wen, and S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE Int'l Test Conf. in Asia
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] Power-Aware Testing in the Era of IoT2022
- 著者名/発表者名
  X. Wen
- 学会等名
  IEEE Int'l Conf. on Solid-State and Integrated Circuit Technology
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] Functional Safety of AI Accelerators with Hardware Defects2021
- 著者名/発表者名
  S. Holst, B. Lim, X. Wen
- 学会等名
  The 9th Int'l Symp. on Applied Engineering and Sciences
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] STAHL: A Novel Scan-Test-Aware Hardened Latch2021
- 著者名/発表者名
  R. Ma, S. Holst, X. Wen
- 学会等名
  The 9th Int'l Symp. on Applied Engineering and Sciences
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] LSI Testing: A Core Technology to A Successful LSI Industry2021
- 著者名/発表者名
  X. Wen
- 学会等名
  IEEE Int'l Conf. on ASIC
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] GPU-Accelerated Timing Simulation of Systolic Array Based AI Accelerators2021
- 著者名/発表者名
  S. Holst, B. Lim, X. Wen
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究2020
- 著者名/発表者名
  史傑, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  信学技報, Vol. 119, No. 420, DC2019-94
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Probability of Switching activity to Locate Hotspots in Logic Circuits2020
- 著者名/発表者名
  R. Oba, K. Miyase, R. Hoshino, S.-K. Lu, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] メモリのサイズおよび形状に起因するロジック部の高消費電力エリア特定に関する研究2020
- 著者名/発表者名
  高藤大輝, 星野龍, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告, DC2020-72
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究2020
- 著者名/発表者名
  大庭涼, 星野竜, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  信学技報, Vol. 120, No. 236, DC2020-33
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch Design2020
- 著者名/発表者名
  R. Ma, S. Holst, X. Wen, A. Yan, H. Xu,
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告, DC2020-71
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] メモリ搭載LSIに対するロジック部の消費電力解析に関する研究2020
- 著者名/発表者名
  児玉優也, 宮瀬紘平, 高藤大輝, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  信学技報, Vol. 119, No. 420, DC2019-93
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Logic Fault Diagnosis of Hidden Delay Defects2020
- 著者名/発表者名
  . Holst, M. Kampmann, A. Sprenger, J. D. Reimer, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, X. Wen
- 学会等名
  Int'l Test Conf.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Variation-Aware Small Delay Fault Diagnosis on Compacted Failure Data2019
- 著者名/発表者名
  S. Holst, E. Schneider, M. A. Kochte, X. Wen, H.-J. Wunderlich
- 学会等名
  Int'l Test Conf.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] ower-Aware Testing for Low-Power VLSI Circuits2019
- 著者名/発表者名
  X. Wen
- 学会等名
  IEEE Int'l Conf. on Electron Devices and Solid-State Circuits
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] LSIのホットスポット分布の解析に関する研究2019
- 著者名/発表者名
  河野雄大, 宮瀬紘平, 呂學坤, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティン研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Single-Event Double-Upset Self-Recoverable and Single-Event Transient Pulse Filterable Latch Design for Low Power Applications2019
- 著者名/発表者名
  A. Yan, Z. Wu, K. Yang, Y. Ling, X. Wen
- 学会等名
  22nd Design, Automation and Test in Europe
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] A Static Method for Analyzing Hotspot Distribution on the LSI2019
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, Y. Kawano, S.-K. Lu, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE Int'l Test Conf. in Asia
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption2019
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qian
- 学会等名
  第11回LSIテストセミナー
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Small Delay Fault Diagnosis on Compacted Responses2019
- 著者名/発表者名
  S. Holst, E. Schneider, M. A. Kochte, X. Wen, H.-J. Wunderlich
- 学会等名
  第80回 FTC 研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Targeted Partial-Shift For Mitigating Shift Switching Activity Hot-Spots During Scan Test2019
- 著者名/発表者名
  S. Holst, S. Shi, and X. Wen
- 学会等名
  IEEE Pacific Rim Int'l Symp. on Dependable Computing
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Bit-Flip Errors Detection using Random Partial Don't-Care Keys for a Soft-Error-Tolerant TCAM2018
- 著者名/発表者名
  I. Syafalni, T. Sasao, X. Wen
- 学会等名
  27th International Workshop on Logic and Synthesis
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] The Impact of Production Defects on the Soft-Error Tolerance of Hardened Latches2018
- 著者名/発表者名
  S. Holst, R. Ma, X. Wen
- 学会等名
  第17 回情報科学技術フォーラム
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Clock-Skew-Aware Scan Chain Grouping for Mitigating Shift Timing Failures in Low-Power Scan Testing2018
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, X. Wen, S. Holst, K. Miyase, S. Kajihara, H.-J. Wunderlich, J. Qian
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symposium
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption2018
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qian
- 学会等名
  第17 回情報科学技術フォーラム
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] 正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究2018
- 著者名/発表者名
  河野雄大, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会DC研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] The Impact of Production Defects on the Soft-Error Tolerance of Hardened Latches2018
- 著者名/発表者名
  S. Holst, R. Ma, X. Wen
- 学会等名
  IEEE European Test Symposium
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Analysis and Mitigation of IR-Drop Induced Scan Shift-Errors2017
- 著者名/発表者名
  S. Holst, E. Schneiderz, H. Kawagoe, M. A. Kochtez, K. Miyase, H.-J. Wunderlichz, S. Kajihara, X. Wen
- 学会等名
  Proc. of IEEE Int'l Test Conf.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Locating Hot Spot with Justification Techniques in a Layout Design2017
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, Y. Kawano, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] 電源ネットワークに対するIR-Dropの影響範囲特定に関する研究2017
- 著者名/発表者名
  宮瀬紘平, 濱崎機一, ザウアーマティアス, ポリアンイリア, ベッカーベルンド, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会 DC研究会
- 発表場所
  東京都
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Analysis and Mitigation of IR-Drop Induced Scan Shift-Errors2017
- 著者名/発表者名
  S. Holst, E. Schneider, H. Kawagoe, M. A. Kochtez, K. Miyase, H.-J. Wunderlichz, S. Kajihara, X. Wen
- 学会等名
  IEEE Int'l Test Conf.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] Locating Hot Spot with Justification Techniques in a Layout Design2017
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, Y. Kawano, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  Proc. of IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption2017
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qia
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] On Avoiding Test Data Corruption by Optimal Scan Chain Grouping2017
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qian
- 学会等名
  第181回SLDM・第46回EMB合同研究発表会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Locating Hot Spot with Justification Techniques in a Layout Design2017
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, Y. Kawano, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] 高品質実速度スキャンテスト生成に関する研究2017
- 著者名/発表者名
  宮崎俊紀、温暁青、ホルストシュテファン、宮瀬紘平、梶原誠司
- 学会等名
  第9回LSIテストセミナー
- 発表場所
  福岡市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption2017
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qian
- 学会等名
  Proc. of IEEE Asian Test Symp.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Timing-Accurate Estimation of IR-Drop Impact on Logic- and Clock-Paths During At-Speed Scan Test2016
- 著者名/発表者名
  S. Holst, E. Schneider, X. Wen, S. Kajihara, Y. Yamato, H.-J. Wunderlich, M. A. Kochte
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Hiroshima, Japan
- 年月日
  2016-11-24
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] Formal Test Point Insertion for Region-based Low-Capture-Power Compact At-Speed Scan Test2016
- 著者名/発表者名
  S. Eggersgluess, S. Holst, D. Tillex, K. Miyase, X. Wen
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Hiroshima, Japan
- 年月日
  2016-11-21
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] SAT-Based Post-Processing for Regional Capture Power Reduction in At-Speed Scan Test Generation2016
- 著者名/発表者名
  S. Eggersgluess, K. Miyase, X. Wen
- 学会等名
  IEEE European Test Symp.
- 発表場所
  Amsterdam, The Netherlands
- 年月日
  2016-05-23
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] Power-Aware Testing For Low-Power VLSI Circuits2016
- 著者名/発表者名
  X. Wen
- 学会等名
  The 13th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology
- 発表場所
  Hangzhu, China
- 年月日
  2016-10-25
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] Timing-Accurate Estimation of IR-Drop Impact on Logic- and Clock-Paths During At- Speed Scan Test2016
- 著者名/発表者名
  S. Holst, E. Schneider, X. Wen, S. Kajihara, Y. Yamato, H.-J. Wunderlich, M. A. Kochte
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Hiroshima, Japan
- 年月日
  2016-11-21
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Power-Aware Testing For Low-Power VLSI Circuits2016
- 著者名/発表者名
  X. Wen
- 学会等名
  The 13th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology
- 発表場所
  Hangzhu, China
- 年月日
  2016-10-25
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Formal Test Point Insertion for Region-based Low-Capture-Power Compact At-Speed Scan Test2016
- 著者名/発表者名
  S. Eggersgluess, S. Holst, D. Tillex, K. Miyase, X. Wen
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Hiroshima, Japan
- 年月日
  2016-11-24
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] A Flexible Power Control Method for Right Power Testing of Scan-Based Logic BIST2016
- 著者名/発表者名
  T. Kato, S. Wang, Y. Sato, S. Kajiahara, X. Wen
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Hiroshima, Japan
- 年月日
  2016-11-21
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation2016
- 著者名/発表者名
  F. Li, X. Wen, S. Holst, K. Miyase, S. Kajihara
- 学会等名
  Int'l Symp. on Applied Engineering and Sciences
- 発表場所
  Kitakyushu, Japan
- 年月日
  2016-12-17
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] On Optimal Power-Aware Path Sensitization2016
- 著者名/発表者名
  M. Sauer, J. Jiang, S. Reimer, K. Miyase, X. Wen, B. Becker, I. Polian
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Hiroshima, Japan
- 年月日
  2016-11-24
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] On Optimal Power-Aware Path Sensitization2016
- 著者名/発表者名
  M. Sauer, J. Jiang, S. Reimer, K. Miyase, X. Wen, B. Becker, I. Polian
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Hiroshima, Japan
- 年月日
  2016-11-21
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] SAT-Based Post-Processing for Regional Capture Power Reduction in At-Speed Scan Test Generation2016
- 著者名/発表者名
  S. Eggersgluess, K. Miyase, X. Wen
- 学会等名
  IEEE European Test Symp.
- 発表場所
  Amsterdam, The Netherlands
- 年月日
  2016-05-23
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Multiple-Bit-Flip Detection Scheme for A Soft-Error Resilient TCAM2016
- 著者名/発表者名
  Syafalni, T. Sasao, X. Wen
- 学会等名
  IEEE Computer Society Annual Symp. on VLSI
- 発表場所
  Pittsburgh, USA
- 年月日
  2016-07-11
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] A Flexible Power Control Method for Right Power Testing of Scan-Based Logic BIST2016
- 著者名/発表者名
  T. Kato, S. Wang, Y. Sato, S. Kajiahara, X. Wen
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Hiroshima, Japan
- 年月日
  2016-11-21
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] 論理BISTにおけるスキャンイン電力制御手法とTEG評価2016
- 著者名/発表者名
  加藤隆明, 王森レイ, 佐藤康夫, 梶原誠司, 温暁青
- 学会等名
  情報処理学会 DAシンポジウム
- 発表場所
  石川県加賀市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation2016
- 著者名/発表者名
  F. Li, X. Wen, S. Holst, K. Miyase, S. Kajihara
- 学会等名
  Int'l Symp. on Applied Engineering and Sciences
- 発表場所
  Kitakyushu, Japan
- 年月日
  2016-12-17
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] A Soft-Error Tolerant TCAM for Multiple-Bit Flips Using Partial Don't Care Keys2015
- 著者名/発表者名
  I. Syafalni, T. Sasao, X. Wen
- 学会等名
  The 24th Int'l Workshop on Logic and Synthesis
- 発表場所
  Mountain View, USA
- 年月日
  2015-06-12
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Power Supply Noise and Its Reduction in At-Speed Scan Testing2015
- 著者名/発表者名
  X. Wen
- 学会等名
  IEEE Int'l Conf. on ASIC
- 発表場所
  Chengdu, China
- 年月日
  2015-11-05
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Power Supply Noise and Its Reduction in At-Speed Scan Testing2015
- 著者名/発表者名
  X. Wen
- 学会等名
  IEEE Int'l Conf. on ASIC
- 発表場所
  Chengdu, China
- 年月日
  2015-11-05
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] Identification of High Power Consuming Areas with Gate Type and Logic Level Information2015
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE European Test Symp.
- 発表場所
  Cluj-Napoca, Romania
- 年月日
  2015-05-28
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] Logic/Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation for Avoiding False Capture Failures and Reducing Clock Stretch2015
- 著者名/発表者名
  K. Asada, X. Wen, S. Holst, K. Miyase, S. Kajihara, M. A. Kochte, E. Schneider, H.-J. Wunderlich, J. Qian
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Bombay, India
- 年月日
  2015-11-24
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] A Soft-Error Tolerant TCAM Using Partial Don’t-Care Keys2015
- 著者名/発表者名
  I. Syafalni, T. Sasao, X. Wen, S. Holst, K. Miyase
- 学会等名
  IEEE European Test Symp.
- 発表場所
  Cluj-Napoca, Romania
- 年月日
  2015-11-05
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] On Guaranteeing Capture Safety in At-Speed Scan Testing With Broadcast-Scan-Based Test Compression2013
- 著者名/発表者名
  K. Enokimoto, X. Wen, K. Miyase, J.-L. Huang, S. Kajihara, L.-T. Wang
- 学会等名
  26th Intl. Conf. on VLSI Design
- 発表場所
  Pune, India
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] On Achieving Capture Power Safety in At-Speed Scan-Based Logic BIST2013
- 著者名/発表者名
  A. Tomita, X. Wen, Y. Sato, S. Kajihara, P. Girard, M. Tehranipoor, L.-T. Wang
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Yilan, Taiwan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[学会発表] Low-Power LSI Testing2013
- 著者名/発表者名
  X. Wen
- 学会等名
  The 13th International Workshop on Microelectronics Assembling and Packaging
- 発表場所
  Fukuoka, Japan
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[学会発表] Controllability Analysis of Local Switching Activity for Layout Design2013
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  Workshop on Design and Test Methodologies for Emerging Technologies
- 発表場所
  Avignon, France
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[学会発表] Controllability Analysis of Local Switching Activity for Layout Design2013
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  Workshop on Design and Test Methodologies for Emerging Technologies
- 発表場所
  Avignon, France
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Low-Power LSI Testing2013
- 著者名/発表者名
  X. Wen
- 学会等名
  The 13th International Workshop on Microelectronics Assembling and Packaging
- 発表場所
  Fukuoka, Japan
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Power-Aware Testing: The Next Stage2013
- 著者名/発表者名
  X. Wen
- 学会等名
  Taiwan Tech and Kyutech Advanced VLSI Testing Workshop
- 発表場所
  Taipei, Taiwan
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[学会発表] ATPG Enhancement Technology2013
- 著者名/発表者名
  N.A. Zakaria, M.Z Khalid, X. Wen
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  Yilan, Taiwan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[学会発表] ロジック BIST のキャプチャ電力安全性に関する研究2013
- 著者名/発表者名
  冨田明宏, 温暁青, 宮瀬紘平, 梶原誠司
- 学会等名
  第68回 FTC 研究会
- 発表場所
  秋田市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] On Achieving Capture Power Safety in At-Speed Scan-Based Logic BIST2013
- 著者名/発表者名
  A. Tomita, X. Wen, Y. Sato, S. Kajihara, P. Girard, M. Tehranipoor, L.-T. Wang
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Yilan, Taiwan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] SafeTIDE: A Technique for Transition Isolation Scan Cells Hardware Overhead Reduction2013
- 著者名/発表者名
  Y.-T. Lin, J.-L. Huang, X. Wen
- 学会等名
  VLSI Test Technology Workshop
- 発表場所
  New Taipei City, Taiwan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Power-Aware Testing: The Next Stage2013
- 著者名/発表者名
  X. Wen
- 学会等名
  Taiwan Tech and Kyutech Advanced VLSI Testing Workshop
- 発表場所
  Taipei, Taiwan
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Search Space Reduction for Low-Power Test Generation2013
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Yilan, Taiwan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[学会発表] SafeTIDE: A Technique for Transition Isolation Scan Cells Hardware Overhead Reduction2013
- 著者名/発表者名
  Y.-T. Lin, J.-L. Huang, X. Wen
- 学会等名
  VLSI Test Technology Workshop
- 発表場所
  New Taipei City, Taiwan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[学会発表] On Guaranteeing Capture Safety in At-Speed Scan Testing With Broadcast-Scan-Based Test Compression2013
- 著者名/発表者名
  K. Enokimoto, X. Wen, K. Miyase, J.-L. Huang, S. Kajihara, and L.-T. Wang
- 学会等名
  Proc. 26th Intl. Conf. on VLSI Design
- 発表場所
  Pune, India
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Search Space Reduction for Low-Power Test Generation2013
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Yilan, Taiwan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] ATPG Enhancement Technology2013
- 著者名/発表者名
  N.A. Zakaria, M.Z Khalid, X. Wen
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  Yilan, Taiwan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] New Test Partition Approach for Segmented Testing with Lower System Failure Rate2012
- 著者名/発表者名
  S.Wang, S.Kajihara, Y.Sato, K.Miyase, Xiaoqing Wen
- 学会等名
  第66回FTC研究会
- 発表場所
  大分県ホテルソラージュ大分・日出
- 年月日
  2012-01-19
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] A Transition Isolation Scan Cell Design for Low Shift and Capture Power2012
- 著者名/発表者名
  Y.-T. Lin, J.-L Huang, X. Wen
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Niigata, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究2012
- 著者名/発表者名
  宮瀬紘平, 梶原誠司, 温暁青
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告
- 発表場所
  福岡市
- 年月日
  2012-11-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] Power-Aware Testing: The Next Stage2012
- 著者名/発表者名
  X. Wen
- 学会等名
  IEEE European Test Symposium
- 発表場所
  Annecy, France
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] New Test Partition Approach for Rotating Test with Lower Rate2012
- 著者名/発表者名
  S.Wang, S.Kajihara, Y.Sato, K.Miyase, X.Wen
- 学会等名
  FTC研究会
- 発表場所
  日本大分県
- 年月日
  2012-01-19
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Towards the Next-Generation Power-Aware Testing Technologies2012
- 著者名/発表者名
  X. Wen
- 学会等名
  CMOS Emerging Technologies Conference
- 発表場所
  Vancouver, Canada
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Fault Detection with Optimum March Test Algorithm2012
- 著者名/発表者名
  N.A.Zakariz, W.Z.W.Hasan, I.A.Halin, R.M.Sidek, X.Wen
- 学会等名
  IEEE International Conference on Intelligent Systems, Modeling and Simulation
- 発表場所
  Kota Kinabalu, Malaysia
- 年月日
  2012-02-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] A Transition Isolation Scan Cell Design for Low Shift and Capture Power2012
- 著者名/発表者名
  Y. -T. Lin, J. -L Huang, and X. Wen
- 学会等名
  Proc. IEEE Asian Test Symp
- 発表場所
  Niigata, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Estimation of the Amount of Don't-Care Bits in Test Vectors2012
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, S. Kajihara, X. Wen
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  Niigata, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] On Pinpoint Capture Power Management in At-Speed Scan Test Generation2012
- 著者名/発表者名
  X. Wen, Y. Nishida, K. Miyase, S. Kajihara, P. Girard, M. Tehranipoor, L.-T. Wang
- 学会等名
  IEEE Int'l Test Conf.
- 発表場所
  Anaheim, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[学会発表] New Test Partition Approach for Segmented Testing with Lower System Failure Rate2012
- 著者名/発表者名
  Senling Wang, Seiji Kajihara, Yasuo Sato, Kohei Miyase, Xiaoqing Wen
- 学会等名
  第66回 FTC 研究会
- 発表場所
  大分
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] 実速度スキャンテストにおける高品質なキャプチャ安全性保障型テスト生成について2012
- 著者名/発表者名
  西田優一郎, 温暁青, 工藤雅幸, 宮瀬紘平, 梶原誠司
- 学会等名
  FTC研究会
- 発表場所
  日本大分県
- 年月日
  2012-01-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] A Novel Capture-Safety Checking Method for Multi-Clock Designs and Accuracy Evaluation with Delay Capture Circuits2012
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, M. Aso, R. Ootsuka, X. Wen, H. Furukawa, Y. Yamato, K, Enokimoto, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE VLSI Test Symp.
- 発表場所
  Hawaii, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Estimation of the Amount of Don' t-Care Bits in Test Vectors2012
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, S. Kajihara, and X. Wen
- 学会等名
  Proc. IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  Niigata, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] A Novel Capture-Safety Checking Method for Multi-Clock Designs and Accuracy Evaluation with Delay Capture Circuits2012
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, M. Aso, R. Ootsuka, X. Wen, H. Furukawa, Y. Yamato, K, Enokimoto, and S. Kajihara
- 学会等名
  Proc. IEEE VLSI Test Symp.
- 発表場所
  Hawaii, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] A Transition Isolation Scan Cell Design for Low Shift and Capture Power2012
- 著者名/発表者名
  Y. -T. Lin, J. -L. Huang, and X. Wen
- 学会等名
  Proc. VLSI Test Technology Workshop
- 発表場所
  Yilan, Taiwan
- 年月日
  2012-01-10
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] A Transition Isolation Scan Cell Design for Low Shift and Capture Power2012
- 著者名/発表者名
  Y.-T. Lin, J.-L Huang, X. Wen
- 学会等名
  VLSI Test Technology Workshop
- 発表場所
  Yilan, Taiwan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] VLSI Testing and Test Power2011
- 著者名/発表者名
  X. Wen
- 学会等名
  Proc. Workshop on Low Power System on Chip (SoC)
- 発表場所
  Orlando, USA
- 年月日
  2011-07-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Additional Path Delay Fault Detection with Adaptive Test Data2011
- 著者名/発表者名
  K.Miyase, H.Tanaka, K.Enokimoto, X.Wen, S.Kajihara
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  Jaipur, India
- 年月日
  2011-11-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Power Reduction Through X-filling of Transition Fault Test Vectors for LOS Testing2011
- 著者名/発表者名
  F.Wu, L.Dilillo, A.Bosio, P.Girard, S.Pravossoudovitch, A.Virazel, M.Tehranipoor, K.Miyase, X.Wen, N.Ahmed
- 学会等名
  6th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
- 発表場所
  Athens, Grace
- 年月日
  2011-04-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Mapping Test Power to Functional Power Through Smart X-Filling for LOS Scheme2011
- 著者名/発表者名
  F.Wu, L.Dilillo, A.Bosio, P.Girard, M.Tehranipoor, K.Miyase, X.Wen, N.Ahmed
- 学会等名
  IEEE Intl.Workshop on Impact of Low-Power design on Test and Reliability
- 発表場所
  Trodheim, Norway
- 年月日
  2011-05-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] A Novel Scan Segmentation Design Method for Avoiding Shift Timing Failure in Scan Testing2011
- 著者名/発表者名
  Y. Yamato, X. Wen, M. A. Kochte, K. Miyase, S. Ka j ihara, and L. -T. Wang
- 学会等名
  Proc. IEEE Intl. Test Conf.
- 発表場所
  Anaheim, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] SAT-based Capture-Power Reduction for At-Speed Broadcast-Scan-Based Test Compression Architectures2011
- 著者名/発表者名
  M.A.Kochte, K.Miyase, X.Wen, S.Kajihara, Y.Yamato, K.Enokimoto, H.-J.Wunderlich
- 学会等名
  IEEE International Symposium on Low Power Electronics and Design
- 発表場所
  Fukuoka, Japan
- 年月日
  2011-08-01
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Power-Aware Test Pattern Generation for At-Speed LOS Testing2011
- 著者名/発表者名
  A.Bosio, L.Dilillo, P.Girard, A.Todri, A.Virazel, K.Miyase, X.Wen
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symposium
- 発表場所
  New Delhi, India
- 年月日
  2011-11-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] 実速度テストに対する品質考慮ドントケア判定2011
- 著者名/発表者名
  河野潤, 宮瀬紘平, 榎元和成, 大和勇太, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  第64回FTC研究会
- 発表場所
  岐阜県恵那市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] 実速度テストに対する品質考慮ドントケア判定2011
- 著者名/発表者名
  河野潤, 宮瀬紘平,榎元和成,大和勇太,温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  第64回FTC研究会
- 発表場所
  恵那市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] VLSI Testing and Test Power2011
- 著者名/発表者名
  X.Wen
- 学会等名
  IEEE Workshop on Low Power System on Chip (SoC)
- 発表場所
  Orlando, USA(招待講演)
- 年月日
  2011-07-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] SAT-based Capture-Power Reduction for At-Speed Broadcast-Scan-Based Test Compression Architectures2011
- 著者名/発表者名
  M. A. Kochte, K. Miyase, X. Wen, S. Ka j ihara, Y. Yamato, K. Enokimoto, and H.-J. Wunderlich
- 学会等名
  Proc. IEEE Intl. Symp. on Low Power Electronics and Design
- 発表場所
  Fukuoka, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Additional Path Delay Fault Detection with Adaptive Test Data2011
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, H. Tanaka, K. Enokimoto, X. Wen, and S. Kajihara
- 学会等名
  Proc. IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  Jaipur, India
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Effective Launch Power Reduction for Launch-Off-Shift Scheme with Adjacent-Probability-Based X-Filling2011
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, U. Uchinodan, K. Enokimoto, Y. Yamato, X. Wen, S. Kajihara, F. Wu, L. Dilillo, A. Bosio, and P. Girard
- 学会等名
  Proc. IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  New Delhi, India
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Efficient BDD-based Fault Simulation in Presence of Unknown Values2011
- 著者名/発表者名
  M.A.Kochte, S.Rundu, K.Miyase, X.Wen, H.-J.Wunderlich
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symposium
- 発表場所
  New Delhi, India
- 年月日
  2011-11-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Power-Aware Test Generation with Guaranteed Launch Safety for At-Speed Scan Testing2011
- 著者名/発表者名
  X.Wen, K.Enokimoto, K.Miyase, Y.Yamato, M.Kochte, S.Kajihara, P.Girard, M.Tehranipoor
- 学会等名
  IEEE VLSI Test Symposium
- 発表場所
  Dana Point, USA
- 年月日
  2011-05-03
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Effective Launch Power Reduction for Launch-Off-Shift Scheme with Adjacent-Probability-Based X-Filling2011
- 著者名/発表者名
  K.Miyase, U.Uchinodan, K.Enokimoto, Y.Yamato, X.Wen, S.Kajihara, F.Wu, L.Dilillo, A.Bosio, P.Girard
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symposium
- 発表場所
  New Delhi, India
- 年月日
  2011-11-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Power-Aware Test Generation with Guaranteed Launch Safety for At-Speed Scan Testing2011
- 著者名/発表者名
  X. Wen, K. Enokimoto, K. Miyase, Y. Yamato, M. Kochte, S. Ka j ihara, P. Girard, and M. Tehranipoor
- 学会等名
  Proc. IEEE VLSI Test Symp.
- 発表場所
  Dana Point, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Efficient BDD-based Fault Simulation in Presence of Unknown Values2011
- 著者名/発表者名
  M. A. Kochte, S. Kundu, K. Miyase, X. Wen, and H. -J. Wunderlich
- 学会等名
  Proc. IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  New Delhi, India
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Layout-Aware Pattern Evaluation and Analysis for Power-Safe Application of TDF Patterns2011
- 著者名/発表者名
  H.Salmani, W.Zhao, M.Tehranipoor, S.Chacravarty, X.Wen
- 学会等名
  IEEE Intl.Workshop on Impact of Low-Power design on Test and Reliability
- 発表場所
  Trodheim, Norway
- 年月日
  2011-05-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Clock-Gating-Aware Low Launch WSA Test Pattern Generation for At-Speed Scan Testing2011
- 著者名/発表者名
  Y. -T. Lin, J. -L. Huang, and X. Wen
- 学会等名
  Proc. IEEE Intl. Test Conf.
- 発表場所
  Anaheim, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Towards the Next Generation of Low-Power Test Technologies2011
- 著者名/発表者名
  X. Wen
- 学会等名
  Proc. IEEE Int' 1. Conf. on ASIC
- 発表場所
  Hong Kong, China
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] 3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について2010
- 著者名/発表者名
  奥慎治, 梶原誠司, 佐藤康夫, 宮瀬紘平, 温暁青
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京都
- 年月日
  2010-02-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] Power-Aware Test for Low-Power LSI Circuits2010
- 著者名/発表者名
  X.Wen
- 学会等名
  CMOS Emerging Technologies Workshop
- 発表場所
  Whistler, Canada
- 年月日
  2010-05-19
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Power-Aware Test for Low-Power LSI Circuits2010
- 著者名/発表者名
  X.Wen
- 学会等名
  International Workshop on Microelectronics Assembling and Packaging
- 発表場所
  Fukuoka, Japan
- 年月日
  2010-11-18
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Power-Aware Test for Low-Power Devices2010
- 著者名/発表者名
  X.Wen
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  Shanghai, China
- 年月日
  2010-12-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Low-Aware Test for Low-Power Devices2010
- 著者名/発表者名
  X.Wen
- 学会等名
  IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
- 発表場所
  Kyoto, Japan
- 年月日
  2010-10-07
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Towards the Next Generation of Low-Power Test Technologies2010
- 著者名/発表者名
  X.Wen
- 学会等名
  IEEE International Test on ASIC
- 発表場所
  Amoi, China(招待講演)
- 年月日
  2010-10-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Clock-Gating-Aware Low Launch WSA Test Pattern Generation for At-Speed Scan Testing2010
- 著者名/発表者名
  Y.-T.Lin, J.-L.Huang, X.Wen
- 学会等名
  IEEE International Test Conference
- 発表場所
  Anaheim, USA
- 年月日
  2010-09-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] A Path Selection Method for Delay Test Targeting Transistor Aging2010
- 著者名/発表者名
  M.Noda, S.Kajihara, Y.Sato, K.Miyase, X.Wen, Y.Miura
- 学会等名
  IEEE International Workshop on Reliability Aware System Design and Test
- 発表場所
  Bangalore, India
- 年月日
  2010-01-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] X-Identification of Transition Delay Fault Tests for Launch-off Shift Scheme2010
- 著者名/発表者名
  K.Miyase, F.Wu, L.Dilillo, A.Bosio, P.Girard, X.Wen, S.Kajihara
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  Shanghai, China
- 年月日
  2010-12-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Architectures for Testing 3D Chips Using Time-Division Demultiplexing/Multiplexing2010
- 著者名/発表者名
  L.-T.Wang, N.A.Touba, M.S.Hsiao, J.-L.Huang, C.-M.Li, S.Wu, X.Wen, M.Bhattarai, F.Li, Z.Jiang
- 学会等名
  IEEE International Workshop on Testing Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits
- 発表場所
  Anaheim, USA
- 年月日
  2010-09-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] A Path Selection Method for Delay Test Targeting Transistor Aging2010
- 著者名/発表者名
  Mitsumasa Noda, Seiji Kajihara, Yasuo Sato, Kohei Miyase, Xiaoqing Wen, Yukiya Miura
- 学会等名
  Digest of IEEE International Workshop on Reliability Aware System Design and Test
- 発表場所
  Bangalore, India
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] CAT(Critical-Area-Targeted) : A New Paradigm for Reducing Yield Loss Risk in At-Speed Scan Testing2010
- 著者名/発表者名
  X.Wen, K.Enokimoto, K.Miyase, S.Kajihara, M.Aso, H.Furukawa
- 学会等名
  Symposium II(ISTC/CSTIC) : Metrology, Reliability and Testing
- 発表場所
  Shanghai, China
- 年月日
  2010-03-19
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] 3 値テストパターンに対する遅延テスト品質計算と X 割当について2010
- 著者名/発表者名
  奥慎治, 梶原誠司, 佐藤康夫 ,宮瀬紘平, 温暁青
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2010-02-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] Test Power Reduction : From Artillery Fire to Sniper Fire2010
- 著者名/発表者名
  X.Wen
- 学会等名
  International Workshop on the Impact of Low-Power Design on Test and Reliability
- 発表場所
  Prague, Czech
- 年月日
  2010-05-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Low-Capture-Power Post-Processing Test Vectors for Test Compression Using SAT Solver2010
- 著者名/発表者名
  K K.Miyase, M.A.Kochte, X.Wen, S.Kajihara, H.-J.Wunderlich
- 学会等名
  IEEE Workshop on Defect and Date Driven Testing
- 発表場所
  Austin, USA
- 年月日
  2010-11-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] A Novel Scan Segmentation Design Method for Avoiding Shift Timing Failure in Scan Testing2010
- 著者名/発表者名
  Y.Yamato, X.Wen, M.A.Kochte, K.Miyase, S.Kajihara, L.-T.Wang
- 学会等名
  IEEE International Test Conference
- 発表場所
  Anaheim, USA
- 年月日
  2010-09-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] A Path Selection Method for Delay Test Targeting Transistor Aging2010
- 著者名/発表者名
  M.Noda, S.Kajihara, Y.Sato, K.Miyase, X.Wen, Y.Miura
- 学会等名
  IEEE Int' 1 Workshop on Reliability Aware System Design and Test
- 発表場所
  Bangalore, India
- 年月日
  2010-01-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化2010
- 著者名/発表者名
  宮瀬紘平, 中村優介, 大和勇太, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京都
- 年月日
  2010-02-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] A Path Selection Method for Delay Test Targeting Transistor Aging2010
- 著者名/発表者名
  M. Noda, S. Kajihara, Y. Sato, K. Miyase, X. Wen, Y. Miura
- 学会等名
  Digest of First IEEE Int'l Workshop on Reliability Aware System Design and Test
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化2010
- 著者名/発表者名
  宮瀬紘平, 中村優介, 大和勇太, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2010-02-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] フィールドテストにおける巡回テストとテスト集合印加順序について2010
- 著者名/発表者名
  広実一輝, 梶原誠司, 佐藤康夫, 宮瀬紘平, 温暁青
- 学会等名
  第62回FTC研究会
- 発表場所
  岡山県総社市
- 年月日
  2010-01-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] フィールドテストにおける巡回テストとテスト集合印加順序について2010
- 著者名/発表者名
  広実一輝, 梶原誠司, 佐藤康夫, 宮瀬紘平, 温暁青
- 学会等名
  第62回FTC研究会
- 発表場所
  総社市
- 年月日
  2010-01-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] Power-Aware Test Generation for Reducing Yield Loss Risk in At-Speed Scan Testing2009
- 著者名/発表者名
  Y. Yainato, X. Wen, K. Miyase, H. Furukawa, S. Rajihara
- 学会等名
  Symposium II (ISTC/CSTIC) : Metrology, Reliability and Testing
- 発表場所
  Shanghai, China
- 年月日
  2009-03-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] X-Identification According to Required Distribution for Industrial Circuits2009
- 著者名/発表者名
  I.Beppu, K.Miyase, Y.Yamato, X.Wen
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing,
- 発表場所
  Hong Kong
- 年月日
  2009-11-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] CAT: A Critical-Area-Targeted Test Set Modification Scheme for Reducing Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2009
- 著者名/発表者名
  K. Enokimoto, X. Wen, Y. Yamato, K. Miyase, H. Sone, S. Kajihara, M. Aso, H. Furukawa
- 学会等名
  Proc. IEEE Asian Test Symp.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] On Calculation of Delay Range in Fault Simulation for Test Cubes2009
- 著者名/発表者名
  S. Oku, S. Kajihara, K. Miyase, X. Wen, Y. Sato
- 学会等名
  Proc. Int'l Symp. on VLSI Design, Automation, and Test
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] On Calculation of Delay Range in Fault Simulation for Test Cubes2009
- 著者名/発表者名
  S.Oku, S.Kajihara, K.Miyase, X.Wen, Y.Sato
- 学会等名
  Int' 1 Symp.on VLSI Design, Automation, and Test
- 発表場所
  Hsinchu, Taiwan
- 年月日
  2009-04-29
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] ブロードキャストスキャン圧縮環境下における実速度テストに対するIR-Drop削減Post-ATPG手法2009
- 著者名/発表者名
  宮瀬紘平, 大和勇太, 埜田健治, 伊藤秀昭, 畠山一実, 相京隆, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  第61回FTC研究会
- 発表場所
  三重県多気郡大台町
- 年月日
  2009-07-18
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] A Novel Post-ATPG IR-Drop Reduction Scheme for At-Speed Scan Testing in Broadcast-Scan-Based Test Compression Environment2009
- 著者名/発表者名
  K.Miyase, K.Noda, H.Ito, K.Hatayama, T.Aikyo, Y.Yamato, X.Wen, S.Kajihara
- 学会等名
  IEEE/ACM Int'1 Conf.on Computer Aided Design
- 発表場所
  San Jose, USA
- 年月日
  2009-11-02
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] CAT : A Critical-Area-Targeted Test Set Modification Scheme for Reducing Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2009
- 著者名/発表者名
  K.Enokimoto, X.Wen, Y.Yamato, K.Miyase, H.Sone, S.Kajihara, M.Aso, H.Furukawa
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Taichung, Taiwan
- 年月日
  2009-11-24
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] On Calculation of Delay Range in Fault Simulation for Test Cubes2009
- 著者名/発表者名
  Y.Yamato, X.Wen, K.Miyase, H.Furukawa, S.Kajihara
- 学会等名
  IEEE 15th Pacific Rim Int' 1 Symp.on Dependable Computing, Automation, and Test
- 発表場所
  Shanghai, China
- 年月日
  2009-11-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] A Novel Post-ATPG IR-Drop Reduction Scheme for At-Speed Scan Testing in Broadcast-Scan-Based Test Compression Environment2009
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, K. Noda, H. Ito, K. Hatayama, T. Aikyo, Y. Yamato, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  Proc. IEEE/ACM Int'l Conf. on Computer Aided Design
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究2009
- 著者名/発表者名
  別府厳,宮瀬紘平,大和勇太,温暁青,梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告
- 発表場所
  高知市
- 年月日
  2009-10-04
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] 劣化検知テストにおけるパス選択について2009
- 著者名/発表者名
  野田光政, 梶原誠司, 佐藤康夫, 宮瀬紘平, 温暁青, 三浦幸也
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  高知市
- 年月日
  2009-12-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] X-Identification According to Required Distribution for Industrial Circuits2009
- 著者名/発表者名
  I.Beppu, K.Miyase, Y.Yamato, X.Wen, S.Kajihara
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  Hong Kong
- 年月日
  2009-11-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] X-Identification According to Required Distribution for Industrial Circuits2009
- 著者名/発表者名
  I. Beppu, K. Miyase, Y. Yamato, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  Proc. IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究2009
- 著者名/発表者名
  別府厳, 宮瀬紘平, 大和勇太, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  高知市
- 年月日
  2009-12-04
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] On Calculation of Delay Range in Fault Simulation for Test Cubes2009
- 著者名/発表者名
  Y. Yamato, X. Wen, K. Miyase, H. Furukawa, S. Kajihara
- 学会等名
  Proc. IEEE 15th Pacific Rim Int'l Symp. on Dependable Computing, Automation, and Test
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] 劣化検知テストにおけるパス選択について2009
- 著者名/発表者名
  野田光政, 梶原誠司, 佐藤康夫, 宮瀬紘平, 温暁青, 三浦幸也
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告
- 発表場所
  高知市
- 年月日
  2009-10-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] Optimizing the Percentage of X-Bits to Reduce Switching Activity2009
- 著者名/発表者名
  I.Beppu, K.Miyase, Y.Yamato, X.Wen, S.Kajihara
- 学会等名
  IEEE International Workshop on Defect and Data Driven Testing
- 発表場所
  Austin, TX, USA
- 年月日
  2009-11-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] X-Identification According to Required Distribution for Industrial Circuits2009
- 著者名/発表者名
  Isao Beppu, Kohei Miyase, Yuta Yamato, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  Hong, Kong
- 年月日
  2009-10-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] Optimizing the Percentage of X-Bits to Reduce Switching Activity2009
- 著者名/発表者名
  Isao Beppu, Kohei Miyase, Yuta Yamato, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
- 学会等名
  IEEE International Workshop on Defect and Data Driven Testing
- 発表場所
  USA
- 年月日
  2009-10-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] A Capture- Safe Test Generation Scheme for At-Speed Scan Testing2008
- 著者名/発表者名
  X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, H. Furukawa, Y. Yamato, A. Takashima, K. Noda, H. Ito, K. Hatayama, T. Aikyo, K.K. Saluja
- 学会等名
  Proc. IEEE European Test Symp.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] Effective IR-Drop Reduction in At-Speed Scan Testing Using Distribution-Controlling X-Identification2008
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, K. Noda, H. Ito, K. Hatayama, T. Aikyo, Y. Yamato, H. Furukawa, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE/ACM Int'l Conf. on Computer Aided Design
- 発表場所
  San Jose, USA
- 年月日
  2008-11-10
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] GA-Based X-Filling for Reducing Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2008
- 著者名/発表者名
  Y. Yamato, X. Wen, K. Miyase, H. Furukawa, S. Kajihara
- 学会等名
  Proc. IEEE Int'l Workshop on Defect Based Testing
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] Reducing Power Supply Noise in Linear-Decompressor-Based Test Data Compression Environment for At-Speed Scan Testing2008
- 著者名/発表者名
  M. -F. Wu, J. -L. Huang, X. Wen, K. Miyase
- 学会等名
  Proc. IEEE Int'l Test Conf.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] Effective IR-Drop Reduction in At-Speed Scan Testing Using Distribution-Controlling X-Identification2008
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, K. Noda, H. Ito, K. Hatayama, T. Aikyo, Y. Yamato, H. Furukawa, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  Proc. IEEE/ACM Int'l Conf. on Computer Aided Design
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] Identification of IR-drop Hot-spots in Defective Power Distribution Network Using TDF ATPG2008
- 著者名/発表者名
  J. Ma, J. Lee, M. Tehranipoor, X. Wen, A. Crouch
- 学会等名
  Proc. IEEE Int'l Workshop on Defect Based Testing
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] Reducing Power Supply Noise in Linear-Decompressor-Based Test Data Compression Environment for At-Speed Scan Testing2008
- 著者名/発表者名
  Meng-Fan Wu, Jiun-Lang Huang, Xiaoqing Wen, Kohei Miyase
- 学会等名
  IEEE International Test Conference
- 発表場所
  Santa Clara, USA
- 年月日
  2008-10-29
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] Identification of IR-drop Hot-spots in Defective Power Distribution Network Using TDF ATPG2008
- 著者名/発表者名
  J. Ma, J. Lee, M. Tehranipoor, X. Wen, A. Crouch
- 学会等名
  IEEE Workshop on Defect and Date Driven Testing (D3T)
- 発表場所
  Santa Clara, USA
- 年月日
  2008-10-30
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] GA-Based X-Filling for Reducing Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2008
- 著者名/発表者名
  Y. Yamato, X. Wen, K. Miyase, H. Furukawa, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE Workshop on Defect and Date Driven Testing (D3T)
- 発表場所
  Santa Clara, USA
- 年月日
  2008-10-30
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] A Capture-Safe Test Generation Scheme for At-Speed Scan Testing2008
- 著者名/発表者名
  X. Wen, K. Miyase, S. Rajihara, H. Furukawa, Y. Yamato, A. Takashima, K. Noda, H. It o, K. Hatayama, T. Aikyo, K. K. Saluia
- 学会等名
  IEEE European Test Symposium
- 発表場所
  Verbania, Italy
- 年月日
  2008-05-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] CTX: A Clock- Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme for Reducing Yield Loss Risk in At-Speed Scan Testing2008
- 著者名/発表者名
  H. Furukawa, X. Wen, K. Miyase, Yuta Yamato, S. Kajihara, Patrick Girard, L. -T. Wang, M. Teharanipoor
- 学会等名
  Proc. IEEE Asian Test Symp.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] CTX : A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme for Reducing Yield Loss Risk in At-Speed Scan Testing2008
- 著者名/発表者名
  H. Furukawa, X. Wen, K. Miyase, Yuta Yamato, S. Kajihara, Patrick Girard, L. -T. Wang, M. Teharanipoor
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symposium
- 発表場所
  Saporro, Japan
- 年月日
  2008-11-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] A Method for Improving the Bridging Defect Coverage of a Transition Delay Test Set2007
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, X. Wen, S. Kajihara, M. Haraguchi, H. Furukawa
- 学会等名
  Proc. IEEE Int'l Workshop on Defect Based Testing
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] Critical-Path-Aware X-Filling for Effective IR-Drop Reduction in At-Speed Scan Testing2007
- 著者名/発表者名
  X. Wen, K. Miyase, T. Suzuki, S. Kajihara, Y. Ohsumi, K.K. Saluja
- 学会等名
  Proc. IEEE/ACM Design Automation Conf.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] A Novel Scheme to Reduce Power Supply Noise for High-Quality At-Speed Scan Testing2007
- 著者名/発表者名
  X.Wen, K.Miyase, S.Kajihara, T.Suzuki, Y.Yamato, P.Girard, Y.Ohsumi, and L.-T.Wang
- 学会等名
  Proc.IEEE Int'l Test Conf.
- 発表場所
  Santa Clara, USA
- 年月日
  2007-10-25
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] Estimation of Delay Test Quality and Its Application to Test Generation2007
- 著者名/発表者名
  S.Kajihara, S.Morishima, M.Yamamoto, X.Wen, M.Fukunaga, K.Hatayama, and T.Aikyo
- 学会等名
  IEEE/ACM Int'l Conf.on Computer-Aided Design
- 発表場所
  San Jose, USA
- 年月日
  2007-11-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] Critical-Path-Aware X-Filling for Effective IR-Drop Reduction in At-Speed Scan Testing2007
- 著者名/発表者名
  X.Wen, K.Miyase, T.Suzuki, S.Kajihara, Y.Ohsumi, K.K.Saluja
- 学会等名
  IEEE/ACM Design Automation Conference
- 発表場所
  San Diego, USA
- 年月日
  2007-06-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] A Novel Scheme to Reduce Power Supply Noise for High-Quality At-Speed Scan Testing2007
- 著者名/発表者名
  X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, T. Suzuki, Y. Yamato, P. Girard, Y. Ohsumi, L. -T. Wang
- 学会等名
  Proc. IEEE Int'l Test Conf.
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] A Method for Improving the Bridging Defect Coverage of a Transition Delay Test Set2007
- 著者名/発表者名
  K.Miyase, X.Wen, S.Kajihara, M.Haraguchi, and H.Furukawa
- 学会等名
  IEEE Int'l Workshop on Defect Based Testing
- 発表場所
  Santa Clara, USA
- 年月日
  2007-10-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] Estimation of Delay Test Quality and Its Application to Test Generation2007
- 著者名/発表者名
  S. Kajihara, S. Morishima, M. Yamamoto, X. Wen, M. Fukunaga, K. Hatayama, T. Aikyo
- 学会等名
  Proc. IEEE/ACM Int'l Conf. on Computer-Aided Design
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19500047
[学会発表] A Soft-Error Tolerant TCAM for Multiple-Bit Flips Using Partial Don't Care Keys
- 著者名/発表者名
  I. Syafalni, T. Sasao, X. Wen
- 学会等名
  24th International Conference on Logic and Synthesis
- 発表場所
  Mountain View, USA
- 年月日
  2015-06-12 – 2015-06-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[学会発表] Identification of High Power Consuming Areas with Gate Type and Logic Level Information
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE European Test Symposium
- 発表場所
  Cluj-Napoca, Romania
- 年月日
  2015-05-25 – 2015-05-29
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[学会発表] A Soft-Error Tolerant TCAM Using Partial Don’t-Care Keys
- 著者名/発表者名
  I. Syafalni, T. Sasao, X. Wen, S. Holst, K. Miyase
- 学会等名
  IEEE European Test Symposium
- 発表場所
  Cluj-Napoca, Romania
- 年月日
  2015-05-25 – 2015-05-29
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[学会発表] Data-Parallel Switch-Level Simulation for Fast and Accurate Timing Validation of CMOS Circuits
- 著者名/発表者名
  E. Schneider, S. Holst, X. Wen, H.-J. Wunderlich
- 学会等名
  Design Automation Conference
- 発表場所
  San Francisco, USA
- 年月日
  2014-06-01 – 2014-06-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] GPU-Accelerated Small Delay Fault Simulation
- 著者名/発表者名
  E. Schneider, S. Holst, M.-A. Kochte, X. Wen, H.-J. Wunderlich
- 学会等名
  Design and Test in Europe
- 発表場所
  Grenoble, France
- 年月日
  2015-03-09 – 2015-03-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[学会発表] Data-Parallel Switch-Level Simulation for Fast and Accurate Timing Validation of CMOS Circuits
- 著者名/発表者名
  E. Schneider, S. Holst, X. Wen, H.-J. Wunderlich
- 学会等名
  Design Automation Conference
- 発表場所
  San Francisco, USA
- 年月日
  2014-06-01 – 2014-06-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[学会発表] Data-Parallel Switch-Level Simulation for Fast and Accurate Timing Validation of CMOS Circuits
- 著者名/発表者名
  E. Schneider, S. Holst, X. Wen, H.-J. Wunderlich
- 学会等名
  IEEE International Conference on Computer-Aided Design
- 発表場所
  San Jose, USA
- 年月日
  2014-11-03 – 2014-11-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Identification of High Power Consuming Areas with Gate Type and Logic Level Information
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE European Test Symposium
- 発表場所
  Cluj-Napoca, Romania
- 年月日
  2015-05-25 – 2015-05-29
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Soft-Error Tolerant TCAMs for High-Reliability Packet Classification
- 著者名/発表者名
  I. Syafalni, T. Sasao, X. Wen, S. Holst, K. Miyase
- 学会等名
  IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems
- 発表場所
  Ishigaki Island, Japan
- 年月日
  2014-11-17 – 2014-11-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[学会発表] Data-Parallel Switch-Level Simulation for Fast and Accurate Timing Validation of CMOS Circuits
- 著者名/発表者名
  E. Schneider, S. Holst, X. Wen, H.-J. Wunderlich
- 学会等名
  IEEE International Conference on Computer-Aided Design
- 発表場所
  San Jose, USA
- 年月日
  2014-11-02 – 2014-11-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022

1. 梶原誠司 (80252592)

共同の研究課題数: 10件

共同の研究成果数: 133件
2. 宮瀬紘平 (30452824)

共同の研究課題数: 7件

共同の研究成果数: 108件
3. Holst Stefan (40710322)

共同の研究課題数: 4件

共同の研究成果数: 36件
4. Tehranipoor M.

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 1件
5. Girard P.

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 1件
6. 樹下行三

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
7. 相京隆

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
8. 高木範明

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
9. 浜田周治

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
10. 羽立幸司

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
11. Saluja K. K.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
12. Keller B.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
13. Varma P.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
14. Chakravarty K.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
15. Wunderlich H.-J.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 2件
16. Wang L.-T.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 2件
17. Jan M. E.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
18. 笹尾勤

共同の研究課題数: 0件

共同の研究成果数: 1件

温 暁青 Wen Xiaoqing

研究課題

研究成果

共同研究者

高信頼LSI創出のための欠陥考慮型耐ソフトエラー技術に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

高品質な低電力LSI創出に貢献するシフト電力安全型スキャンテスト方式に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

次世代低電力LSI創出のための誤テスト回避型高品質テスト方式に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

体内埋込み型医療機器向けLSI回路のための極低電力自己テスト方式に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

高品質・低コストＬＳＩの創出に貢献する論理スイッチング均衡型テストに関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

次世代低消費電力LSI回路のための電力調整型テスト方式に関るす研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

VLSIの高品質フィールドテストに関する研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

次世代LSIのための信号劣化回避型テスト方式に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

LSI歩留まり向上のための誤テスト回避型テスト方式に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

マルチフォールトモデルを対象としたLSIのテストに関する研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

VLSIの電流テスト容易化設計と電流波形による故障検出に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[図書] Chapter 9 "Low-Power Testing for 2D/3D Devices and Systems" in Design of 3D Integrated Circuits and Systems2014

著者名/発表者名

総ページ数

出版者

データソース

[図書] はかる×わかる半導体-入門編2013

著者名/発表者名

出版者

データソース

[図書] Part IV Circuit Testing, Chapter 20: Low-Power Testing for Low-Power LSI Circuits, Advanced Circuits for Emerging Technologies2012

温暁青 Wen Xiaoqing