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梶原 誠司  KAJIHARA Seiji

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 80252592
その他のID
外部サイト
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2013年度 – 2022年度: 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 教授
2014年度: 九州工業大学, 情報工学研究院, 教授
2012年度: 九州工業大学, 情報工学研究院, 教授
2008年度 – 2011年度: 九州工業大学, 大学院・情報工学研究院, 教授
2003年度 – 2007年度: 九州工業大学, 情報工学部, 教授 … もっと見る
2003年度: 九州工大, 助教授
2002年度: 九州工業大学, 情報工学研究科, 助教授
1995年度 – 2001年度: 九州工業大学, 情報工学部, 助教授
1993年度: 大阪大学, 工学部, 助手 隠す
審査区分/研究分野
研究代表者
計算機科学 / 計算機システム・ネットワーク / 小区分60040:計算機システム関連 / 人工物システムの強化 / 計算機システム
研究代表者以外
計算機科学 / 計算機システム・ネットワーク / 計算機システム / 小区分60040:計算機システム関連
キーワード
研究代表者
テストパターン生成 / 論理回路 / 計算機システム / ディペンダブル・コンピューティング / テストパターン圧縮 / データマイニング / LSIテスト / システムオンチップ / テストコスト削減 / フォールトトレランス … もっと見る / 故障シミュレーション / テスト生成 / 遅延故障 / VLSI / 縮退故障 / 機能安全 / VLSI設計 / コンカレントエラーディテクション / 組み込み自己テスト / 予防安全 / 組込み自己テスト / VLSIテスト / フィールド高信頼化 / LSIテスト / バーインテスト / アダプティブテスト / fault simulation / dependability / delay fault / bridging fault / fault diagnosis / test pattern generation / logic circuit / design and test of LSIs / N回検出テスト / X故障モデル / ディペンダビリティ / ブリッジ故障 / 故障診断 / LSIの設計とテスト / (1)ディペンダブル・コンピューティング / VLSIの設計とテスト / 高信頼設計 / VLSI の設計とテスト / システムLSIのテスト / ハフマン符号 / 低消費電力テスト / 多重スキャン設計 / テスト圧縮 / VLSI CAD / 故障検査 / 冗長故障判定 / 論理設計 / パス遅延故障 / 組合せ論理回路 / 独立故障集合 / 組合せ回路 … もっと見る
研究代表者以外
BDD / LSIテスト / 論理設計 / 関数分解 / FPGA / IR-Drop / 再構成可能論理 / テスト生成 / 遅延テスト / 低電力テスト / 高信頼化 / シフトエラー / Logic design / FGPA / Logic Minimization / AND-OR-EXOR / シフト電力 / LSI回路 / 誤テスト / テスト電力 / スキャンテスト / 高品質化 / 活性化パス / 微小遅延故障 / テスト電力調整 / メモリ / 欠陥検出設計 / 欠陥影響最小化設計 / 欠陥影響定量化 / 欠陥 / 耐ソフトエラー記憶素子 / ディペンダブル・コンピュー / ディペンダブル・コンピュータ / グルーピング / テストクロック / シフトタイミング / ディペンダブル・コンピューティング / 電子デバイス・機器 / 計算機システム / クロックパス / パス遅延 / 信号値遷移 / 誤テスト回避 / テスト電力制御 / クロック / IR Drop / Low Power Test / Scan Design / LSI Test / IRドロップ / 低消費電力テスト / スキャン設計 / functional decomposition / Binary decision diagram / Reconfigurable logic / Memory / 再構成可能倫理 / 再編成可能論理 / Logic synthesis / Reconfigurable logic device / Functional decomposition / Design verification / Logic simulator / 倫理シミュレータ / 設計検証 / 論理シミュレータ / Test pattern generation / Path selection / Path delay fault / Delay testing / High-performance VLSI / 遅延故障 / 故障検査 / VLSI / テストパターン変換 / ハフマン符号 / テストデータ圧縮 / ドント・ケア / 遅延故障テスト / テストパターン生成 / パス選択 / パス遅延故障 / 二分決定グラフ / 高性能VLSI / Multiple-Valued Logic / Time domain multiplexing (TDM) / Symmetric functions / Multiple-output logic function / Multilevel Logic Synthesis / FPGA design / Functional Decomposition / 最小形 / 論理関数 / Complexity of logic networks / Multi-level Logic Synthesis / EXOR Logic Synthesis / Programmable logic device / Three-Level Logic / PLD / 非冗長論理和形 / 論理関数の複雑度 / 論理関数の分解 / 検査容易化設計 / EXOR / 多段論理回路 / 論理合成 / マスク回路 / 入力遷移 / テスト電力安全性 / テストデータ変更 / クロックストレッチ / IR-Dop / キャプチャ電力 / テストデータ / テスト品質 / 最適電力テスト / クロックスキュー / スキャンテスト電力 隠す
  • 研究課題

    (23件)
  • 研究成果

    (237件)
  • 共同研究者

    (24人)
  •  論理LSIの機能安全に向けたコンカレントエラーディテクションに関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      梶原 誠司
    • 研究期間 (年度)
      2021 – 2023
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分60040:計算機システム関連
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  高信頼LSI創出のための欠陥考慮型耐ソフトエラー技術に関する研究

    • 研究代表者
      温 暁青
    • 研究期間 (年度)
      2021 – 2024
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 審査区分
      小区分60040:計算機システム関連
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  フィールド運用中のアダプティブテストに基づくVLSIの予防安全研究代表者

    • 研究代表者
      梶原 誠司
    • 研究期間 (年度)
      2018 – 2022
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      人工物システムの強化
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  高品質な低電力LSI創出に貢献するシフト電力安全型スキャンテスト方式に関する研究

    • 研究代表者
      温 暁青
    • 研究期間 (年度)
      2017 – 2020
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  次世代低電力LSI創出のための誤テスト回避型高品質テスト方式に関する研究

    • 研究代表者
      温 暁青
    • 研究期間 (年度)
      2015 – 2017
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  集積回路の製造テスト結果を利用した信頼性予測研究代表者

    • 研究代表者
      梶原 誠司
    • 研究期間 (年度)
      2015 – 2017
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  体内埋込み型医療機器向けLSI回路のための極低電力自己テスト方式に関する研究

    • 研究代表者
      温 暁青
    • 研究期間 (年度)
      2013 – 2017
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  高品質・低コストLSIの創出に貢献する論理スイッチング均衡型テストに関する研究

    • 研究代表者
      温 暁青
    • 研究期間 (年度)
      2012 – 2014
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  次世代低消費電力LSI回路のための電力調整型テスト方式に関るす研究

    • 研究代表者
      温 暁青
    • 研究期間 (年度)
      2010 – 2012
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  VLSIの高品質フィールドテストに関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      梶原 誠司
    • 研究期間 (年度)
      2009 – 2012
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  次世代LSIのための信号劣化回避型テスト方式に関する研究

    • 研究代表者
      温 暁青
    • 研究期間 (年度)
      2007 – 2009
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  LSI歩留まり向上のための誤テスト回避型テスト方式に関する研究

    • 研究代表者
      温 暁青
    • 研究期間 (年度)
      2005 – 2006
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  ルック・アップ・テーブル・リングの論理合成

    • 研究代表者
      笹尾 勤
    • 研究期間 (年度)
      2004 – 2005
    • 研究種目
      萌芽研究
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  マルチフォールトモデルを対象としたLSIのテストに関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      梶原 誠司
    • 研究期間 (年度)
      2004 – 2006
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  システムLSIに対するテスト効率化手法に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      梶原 誠司
    • 研究期間 (年度)
      2002 – 2004
    • 研究種目
      若手研究(B)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  仮想的配線を用いたプログラム可能論理素子とその論理合成法に関する研究

    • 研究代表者
      笹尾 勤
    • 研究期間 (年度)
      2002 – 2004
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  決定グラフに基づく論理シミュレーション・エンジンの開発

    • 研究代表者
      笹尾 勤
    • 研究期間 (年度)
      2000 – 2002
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  ULSI時代の高機能テスト生成システムの開発研究代表者

    • 研究代表者
      梶原 誠司
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2000
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  超高性能VLSIの論理設計とテスト方式に関する研究

    • 研究代表者
      笹尾 勤
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2001
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  大規模論理関数の分解に関する研究

    • 研究代表者
      笹尾 勤
    • 研究期間 (年度)
      1998 – 2000
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  3段論理回路の構成法に関する研究

    • 研究代表者
      笹尾 勤
    • 研究期間 (年度)
      1996 – 1997
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  論理回路の遅延故障のテストパターン生成手法に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      梶原 誠司
    • 研究期間 (年度)
      1995
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      九州工業大学
  •  組合せ論理回路のテスト集合の圧縮手法に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      梶原 誠司
    • 研究期間 (年度)
      1993
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      大阪大学

すべて 2022 2021 2020 2019 2018 2017 2016 2015 2014 2013 2012 2011 2010 2009 2008 2007 2006 2005 2004 2003 2002 その他

すべて 雑誌論文 学会発表 図書 産業財産権

  • [図書] はかる×わかる半導体-入門編2013

    • 著者名/発表者名
      浅田邦博(監修),温暁青,梶原誠司, (他5名)
    • 出版者
      日経 BPコンサルティング
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [図書] ディペンダブルシステム2005

    • 著者名/発表者名
      米田友洋, 梶原誠司, 土屋達弘
    • 総ページ数
      243
    • 出版者
      共立出版
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16500036
  • [雑誌論文] Probability of Switching activity to Locate Hotspots in Logic Circuits2021

    • 著者名/発表者名
      Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qian
    • 雑誌名

      IEICE Trans. on Inf. & Syst.

      巻: E104-D

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01716
  • [雑誌論文] High Precision PLL Delay Matrix with Overclocking and Double Data Rate for Accurate FPGA Time-to-Digital Converter2020

    • 著者名/発表者名
      Poki Chen, Jian-Ting Lan, Ray-Ting Wang, Nguyen My Qui, Yousuke Miyake and Seiji Kajihara
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems

      巻: Volume: 28, Issue: 4 号: 4 ページ: 904-913

    • DOI

      10.1109/tvlsi.2019.2962606

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014, KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [雑誌論文] On Evaluation for Aging-Tolerant Ring Oscillators with Accelerated Life Test And Its Application to A Digital Sensor2020

    • 著者名/発表者名
      Masayuki Gondo, Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji Kajihara
    • 雑誌名

      Proc. IEEE Asian Test Symposium

      巻: - ページ: 1-6

    • DOI

      10.1109/ats49688.2020.9301588

    • NAID

      120007006769

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014, KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [雑誌論文] Path Delay Measurement with Correction for Temperature and Voltage Variations2020

    • 著者名/発表者名
      Yousuke Miyake,Takaaki Kato, Seiji KAJIHARA
    • 雑誌名

      IEEE International Test Conference in Asia

      巻: - ページ: 112-117

    • DOI

      10.1109/itc-asia51099.2020.00031

    • NAID

      120007006757

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014, KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [雑誌論文] On-Chip Delay Measurement for Degradation Detection And Its Evaluation under Accelerated Life Test2020

    • 著者名/発表者名
      Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji KAJIHARA, Masao ASO, Haruji FUTAMI, Satoshi MATSUNAGA, Yukiya MIURA,
    • 雑誌名

      IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, On-line symposium

      巻: - ページ: 1-6

    • DOI

      10.1109/iolts50870.2020.9159717

    • NAID

      120007006773

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014, KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [雑誌論文] A Selection Method of Ring Oscillators for An On-Chip Digital Temperature And Voltage Sensor2019

    • 著者名/発表者名
      Miyake Yousuke、Sato Yasuo、Kajihara Seiji
    • 雑誌名

      IEEE International Test Conference in Asia

      巻: - ページ: 13-18

    • DOI

      10.1109/itc-asia.2019.00016

    • NAID

      120006777000

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014, KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [雑誌論文] On-Chip Test Clock Validation Using A Time-to-Digital Converter in FPGAs2019

    • 著者名/発表者名
      Yousuke Miyake, Seiji Kajihara, Poki Chen
    • 雑誌名

      IEEE International Test Conference in Asia

      巻: - ページ: 57-162

    • DOI

      10.1109/itc-asia.2019.00040

    • NAID

      120006777001

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014, KAKENHI-PROJECT-19K20236
  • [雑誌論文] On-Chip Delay Measurement for In-Field Test of FPGAs2019

    • 著者名/発表者名
      Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara
    • 雑誌名

      IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing

      巻: - ページ: 130-137

    • DOI

      10.1109/itc-asia.2019.00026

    • NAID

      120007006775

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [雑誌論文] Good die prediction modelling from limited test items2018

    • 著者名/発表者名
      Takeru Nishimi, Yasuo Sato, Seiji kajihara, Yoshiyuki Nakamura
    • 雑誌名

      Proc. IEEE Int’l Test Conference in Asia

      巻: 2 ページ: 1-6

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [雑誌論文] Good die prediction modelling from limited test items2018

    • 著者名/発表者名
      98.Takeru Nishimi, Yasuo Sato, Seiji kajihara, Yoshiyuki Nakamura
    • 雑誌名

      Proc. IEEE International Test Conference in Asia.

      巻: - ページ: 115-120

    • DOI

      10.1109/itc-asia.2018.00030

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [雑誌論文] On Flip-Flop Selection for Multi-Cycle Scan Test with Partial Observation in Logic BIST2018

    • 著者名/発表者名
      100.Shigeyuki Oshima, Takaaki Kato, Senling Wang, Yasuo Sato, Seiji Kajihara
    • 雑誌名

      Proc. IEEE Asian Test Symposium

      巻: - ページ: 30-35

    • DOI

      10.1109/ats.2018.00017

    • NAID

      120006776996

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [雑誌論文] Clock-Skew-Aware Scan Chain Grouping for Mitigating Shift Timing Failures in Low-Power Scan Testing2018

    • 著者名/発表者名
      99.Yucong Zhang, Xiaoqing Wen, Stefan Holst, Kohei Miyase, Seiji Kajihara, Hans-Joachim Wunderlich, Jun Qian
    • 雑誌名

      Proc. IEEE Asian Test Symposium

      巻: - ページ: 149-154

    • DOI

      10.1109/ats.2018.00037

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [雑誌論文] On the effects of real time and contiguous measurement with a digital temperature and voltage sensor2017

    • 著者名/発表者名
      Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara
    • 雑誌名

      Proc. IEEE Int’l Test Conference in Asia

      巻: 1 ページ: 1-6

    • DOI

      10.1109/itc-asia.2017.8097126

    • NAID

      120006776995

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [雑誌論文] Analysis and Mitigation of IR-Drop Induced Scan Shift-Errors2017

    • 著者名/発表者名
      Stefan Holst, Hiroshi Kawagoe, Eric Schneider, Michael A. Kochte, Kohei Miyase, Hans-Joachim Wunderlich, Seiji Kajihara, Xiaoqing Wen
    • 雑誌名

      Proc. IEEE International Test Conference

      巻: 48 ページ: 1-8

    • DOI

      10.1109/test.2017.8242055

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [雑誌論文] Locating Hot Spot with Justification Techniques in a Layout Design2017

    • 著者名/発表者名
      Kohei Miyase, Yudai Kawano, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
    • 雑誌名

      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing

      巻: 17 ページ: 1-4

    • NAID

      40021491185

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [雑誌論文] Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption2017

    • 著者名/発表者名
      Yucong Zhang, Stefan Holst, Xiaoqing Wen, Kohei Miyase, Seiji Kajihara, Jun Qian
    • 雑誌名

      Proc. IEEE Asian Test Symposium

      巻: 26 ページ: 140-145

    • DOI

      10.1109/ats.2017.37

    • NAID

      120006784400

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [雑誌論文] A Flexible Scan-in Power Control Method in Logic BIST and Its Evaluation with TEG Chips2017

    • 著者名/発表者名
      T. Kato, S. Wang, Y. Sato, S. Kajihara, X. Wen
    • 雑誌名

      IEEE Trans. on Emerging Topics in Computing

      巻: PP 号: 3 ページ: 1-1

    • DOI

      10.1109/tetc.2017.2767070

    • NAID

      120007006783

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12003, KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [雑誌論文] Temperature and Voltage Measurement for Field Test Using an Aging-Tolerant Monitor2016

    • 著者名/発表者名
      Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara, Yukiya Miura
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems

      巻: 24 号: 11 ページ: 3282-3295

    • DOI

      10.1109/tvlsi.2016.2540654

    • NAID

      120006324033

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [雑誌論文] Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation2016

    • 著者名/発表者名
      F. Li, X. Wen, K. Miyase, S. Holst, S. Kajihara
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E99.A 号: 12 ページ: 2310-2319

    • DOI

      10.1587/transfun.E99.A.2310

    • NAID

      130005170516

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 言語
      英語
    • 査読あり / 謝辞記載あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280016, KAKENHI-PROJECT-15K12003, KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [雑誌論文] Physical Power Evaluation of Low Power Logic-BIST Scheme using TEG Chip2015

    • 著者名/発表者名
      S. Wang, Y. Sato, S. Kajihara, H. Takahashi
    • 雑誌名

      ASP Journal of Low Power Electronics

      巻: 11 号: 4 ページ: 1-13

    • DOI

      10.1166/jolpe.2015.1410

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [雑誌論文] On Achieving Capture Power Safety in At-Speed Scan-Based Logic BIST2014

    • 著者名/発表者名
      A. Tomita, X. Wen, Y. Sato, S. Kajihara, P. Girard, M. Tehranipoor, L.-T. Wang,
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems

      巻: E97.D 号: 10 ページ: 2706-2718

    • DOI

      10.1587/transinf.2014EDP7039

    • NAID

      130004696754

    • ISSN
      0916-8532, 1745-1361
    • 言語
      英語
    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24650022, KAKENHI-PROJECT-25280016
  • [雑誌論文] LCTI-SS: Low-Clock-Tree-Impact Scan Segmentation for Avoiding Shift Timing Failures in Scan Testing2013

    • 著者名/発表者名
      Y. Yamato, X. Wen, M. A. Kochte, K. Miyase, S. Kajihara, L.-T. Wang
    • 雑誌名

      IEEE Design & Test of Computers

      巻: Vol. 30, No. 4 号: 4 ページ: 60-70

    • DOI

      10.1109/mdt.2012.2221152

    • NAID

      120005895737

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24650022, KAKENHI-PROJECT-25280016
  • [雑誌論文] A Capture-Safety Checking Metric Based on Transition-Time-Relation for At-Speed Scan Testing2013

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, R. Sakai, X. Wen, Xiaoqing, M. Aso, H. Furukawa, Y. Yamato, S. Kajihara
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems

      巻: E96.D 号: 9 ページ: 2003-2011

    • DOI

      10.1587/transinf.E96.D.2003

    • NAID

      130003370989

    • ISSN
      0916-8532, 1745-1361
    • 言語
      英語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24650022, KAKENHI-PROJECT-25280016
  • [雑誌論文] DART: Dependable VLSI Test Architecture and Its Implementation2012

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Sato, Seiji Kajihara
    • 雑誌名

      Proc. IEEE Int.Test Conference

      巻: 15 ページ: 2-2

    • DOI

      10.1109/test.2012.6401581

    • NAID

      120006665005

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [雑誌論文] A GA-Based X-Filling for Reducing Launch Switching Activity toward Specific Objectives in At-Speed Scan Testing2011

    • 著者名/発表者名
      Y.Yamato, X.Wen, R.Miyase, H.Furukawa, S.Kajihara
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems

      巻: E94-D 号: 4 ページ: 833-840

    • DOI

      10.1587/transinf.E94.D.833

    • NAID

      10029506602

    • ISSN
      0916-8532, 1745-1361
    • 言語
      英語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22300017
  • [雑誌論文] Delay Testing: Improving Test Quality and Avoiding Over-testing2011

    • 著者名/発表者名
      Seiji Kajihara, (他2名)
    • 雑誌名

      IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology

      巻: 4 ページ: 117-130

    • DOI

      10.2197/ipsjtsldm.4.117

    • NAID

      110009598052

    • ISSN
      1882-6687
    • 言語
      英語
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015, KAKENHI-PROJECT-22700054
  • [雑誌論文] Distribution-Controlled X-Identification for Effective Reduction of Launch-Induced IR-Drop in At-Speed Scan Testing2011

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, K. Noda, H. Ito, K. Hatayama, T. Aikyo, Y. Yamato, H. Furukawa, X. Wen, and S. Kajihara
    • 雑誌名

      IEICE Trans. Inf. & Syst.

      巻: Vol. E94-D, No. 6 ページ: 1216-1226

    • NAID

      10029805011

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22300017
  • [雑誌論文] On Delay Test Quality for Test Cubes2010

    • 著者名/発表者名
      S. Oku, S. Kajihara, Y. Sato, K. Miyase, X. Wen
    • 雑誌名

      IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology

      巻: 3 ページ: 283-291

    • DOI

      10.2197/ipsjtsldm.3.283

    • NAID

      110009599095

    • ISSN
      1882-6687
    • 言語
      英語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [雑誌論文] On Estimation of NBTI-Induced Delay Degradation2010

    • 著者名/発表者名
      M.Noda, S.Kajihara, Y.Sato, K.Miyase, X.Wen, Y.Miura
    • 雑誌名

      Proc.of 5th IEEE European Test Symposium

      ページ: 107-111

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [雑誌論文] Aging test strategy and adaptive test scheduling for soc failure prediction2010

    • 著者名/発表者名
      H.Yi, T.Yoneda, M.Inoue, Y.Sato, S.Kajihara, H.Fujiwara
    • 雑誌名

      Proc.of IEEE International On-Line Testing Symposium

      ページ: 21-26

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [雑誌論文] A Study of Capture-Safe Test Generation Flow for At-Speed Testing2010

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, X.Wen, S.Kajihara, Y.Yamato, A.Takashima, H.Furukawa, K.Noda, N.Ito, K.Hatayama, T.Aikyo, K.Saluja
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Inf.& Syst.

      巻: E93-A ページ: 1309-1318

    • NAID

      10027367482

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22300017
  • [雑誌論文] High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing Using CTX: A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme2010

    • 著者名/発表者名
      Kohei Miyase, Xiaoqing Wen, Hiroshi Furukawa, Yuta Yamato, Seiji Kajihara, (他3名)
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems

      巻: E93-D 号: 1 ページ: 2-9

    • DOI

      10.1587/transinf.E93.D.2

    • NAID

      10026812940

    • ISSN
      0916-8532, 1745-1361
    • 言語
      英語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [雑誌論文] On Test Pattern Compaction with Multi-Cycle and Multi-Observation Scan Test2010

    • 著者名/発表者名
      Seiji Kajihara, Makoto Matsuzono, Hisato Yamaguchi, Yasuo Sato, Kohei Miyase, Xiaoqing Wen
    • 雑誌名

      Int. Symp. on Communications and Information Technologies

      ページ: 723-726

    • DOI

      10.1109/iscit.2010.5665084

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [雑誌論文] On Delay Test Quality for Test Cubes2010

    • 著者名/発表者名
      S.Oku, S.Kajihara, Y.Sato, K.Miyase, X.Wen
    • 雑誌名

      IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology

      巻: Vol.3 ページ: 283-291

    • NAID

      130000418476

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [雑誌論文] On Test Pattern Compaction with Multi-Cycle and Multi-Observation Scan Test2010

    • 著者名/発表者名
      S.Kajihara, M.Matsuzono, H.Yamaguchi, Y.Sato, K.Miyase, X.Wen
    • 雑誌名

      Proc.of 10th International Symposium on Communications and Information Technologies

      ページ: 723-726

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [雑誌論文] High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing using CTX : A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme2010

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, X.Wen, H.Furukawa, Y.Yamato, S.Kajihara, P.Girard, L.-T.Wang, M.Tehranipoor
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems Vol.E93-D

      ページ: 2-9

    • NAID

      10026812940

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [雑誌論文] On Estimation of NBTI-Induced Delay Degradation2010

    • 著者名/発表者名
      M. Noda, S. Kajihara, Y. Sato, K. Miyase, X. Wen, Y. Miura
    • 雑誌名

      15thIEEE European Test Symp

      ページ: 107-111

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [雑誌論文] High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing using CTX: A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme2009

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, X. Wen, H. Furukawa, Y. Yamato, S. Kajihara, P. Girard, L.-T. Wang, M. Tehranipoor
    • 雑誌名

      IEICE Trans. Inf. & Syst. Vol.E93-D,No.1

      ページ: 2-9

    • NAID

      10026812940

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [雑誌論文] On Calculation of Delay Range in Fault Simulation for Test Cubes2009

    • 著者名/発表者名
      S.KAJIHARA, S.OKU, K.MIYASE, X.WEN, Y.SATO
    • 雑誌名

      Proc.of International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test

      ページ: 64-67

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [雑誌論文] A GA-Based Method for High-Quality X-Filling to Reduce Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2009

    • 著者名/発表者名
      Yuta Yamato, Xiaoqing Wen, Kohei Miyase, Hiroshi Furukawa, Seiji Kajihara
    • 雑誌名

      IEEE 15th Pacific Rim Int. Symp. on Dependable Computing

      ページ: 81-86

    • DOI

      10.1109/prdc.2009.21

    • NAID

      120006784394

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [雑誌論文] On Calculation of Delay Range in Fault Simulation for Test Cubes2009

    • 著者名/発表者名
      Seiji KAJIHARA, (他4名)
    • 雑誌名

      the 2009 Int.Symp. on VLSI Design, Automation, and Test

      ページ: 64-67

    • DOI

      10.1109/vdat.2009.5158096

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [雑誌論文] CAT : A Critical-Area-Targeted Test Set Modification Scheme for Reducing Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2009

    • 著者名/発表者名
      K.Enokimoto, X.Wen, Y.Yamato, K.Miyase, H.Sone, S.Kajihara, M.Aso, H.Furukawa
    • 雑誌名

      Proc.of Asian Test Symposium

      ページ: 99-104

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [雑誌論文] A GA-Based Method for High-Quality X-Filling to Reduce Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2009

    • 著者名/発表者名
      Y.Yamato, X.Wen, K.Miyase, H.Furukawa, S.Kajihara
    • 雑誌名

      Proc.of IEEE 15th Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing

      ページ: 81-86

    • NAID

      120006784394

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [雑誌論文] A Novel Post-ATPG IR-Drop Reduction Scheme for At-Speed Scan Testing in Broadcast-Scan-Based Test Compression Environment2009

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, Y.Yamato, K.Noda, H.Ito, K.Hatayama, T.Aikyo, X.Wen, S.Kajihara
    • 雑誌名

      Proc.of International Conference on Computer-Aided Design

      ページ: 97-104

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [雑誌論文] CAT: A Critical-Area-Targeted Test Set Modification Scheme for Reducing Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2009

    • 著者名/発表者名
      Kazunari Enokimoto, Xiaoqing Wen, Yuta Yamato, Kohei Miyase, Hiroaki Sone, Seiji Kajihara(他2名)
    • 雑誌名

      Proc. Asian Test Symp

      ページ: 99-104

    • DOI

      10.1109/ats.2009.22

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [雑誌論文] High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing using CTX : A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme2009

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, X.Wen, H.Furukawa, Y.Yamato, S.Kajihara, P.Girard, L.-T.Wang, M.Tehranipoor
    • 雑誌名

      IEICE Trans. Inf.& Syst. E93-D

      ページ: 2-9

    • NAID

      10026812940

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [雑誌論文] Estimation of Delay Test Quality and Its Application to Test Generation2008

    • 著者名/発表者名
      S. Kajihara, S. Morishima, M. Yamamoto, X. Wen, M. Fukunaga, K. Hatayama, T. Aikyo
    • 雑誌名

      IPSJ Transaction of System LSI Design Methodology 1

      ページ: 104-115

    • NAID

      130002073185

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [雑誌論文] Estimation of Delay Test Quality and Its Application to Test Generation2008

    • 著者名/発表者名
      S. Kajihara, S. Morishima, M. Yamamoto, X. Wen, M. Fukunaga, K. Hatayama, T. Aikyo
    • 雑誌名

      IPSJ Transaction of System LSI Design Methodology Vol.1

      ページ: 104-115

    • NAID

      130002073185

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [雑誌論文] A Framework of High-quality Transition Fault ATPG for Scan Circuits2006

    • 著者名/発表者名
      Kajihara, Seiji
    • 雑誌名

      Proceedings of International Test Conference (CD-ROM)

      ページ: 6-6

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16500036
  • [雑誌論文] Efficient Space/Time Compression to Reduce Test Data Volume and Testing Time for IP Cores2005

    • 著者名/発表者名
      L.Li, K.Chakrabarty, S.Kajihara, S.Swaminathan
    • 雑誌名

      Proceedings of International Conference on VLSI Design

      ページ: 53-58

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16500036
  • [雑誌論文] 中間故障電圧値を扱う故障シミュレーションの高速化について2005

    • 著者名/発表者名
      温暁青, 梶原誠司, 玉本英夫, K. K. Saluja, 樹下行三
    • 雑誌名

      電子情報通信学会論文誌D-I Vol. J88-D-1,No. 4

      ページ: 906-907

    • NAID

      10016599053

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17500039
  • [雑誌論文] Efficient Test Set Modification for Capture Power Reduction2005

    • 著者名/発表者名
      Xiaoqing Wen, Tatsuya Suzuki, Seiji Kajihara, Kohei Miyase, Yoshihiro Minamoto, Laung-Terng Wang, K. K. Saluja
    • 雑誌名

      Journal of Low Power Electronics Issue 3

      ページ: 319-330

    • NAID

      120006782190

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17500039
  • [雑誌論文] Test compression for scan circuits using scan polarity adjustment and pinpoint test relaxation2005

    • 著者名/発表者名
      Y.Doi, S.Kajihara, X.Wen, L.Li, K.Chakrabarty
    • 雑誌名

      Proceedings of Asia and South Pacific Design Automation Conference

      ページ: 59-64

    • NAID

      110003318193

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16500036
  • [雑誌論文] On Design for IDDQ-Based Diagnosability of CMOS Circuits Using Multiple Power Supplies2005

    • 著者名/発表者名
      X.WEN, S.KAJIHARA, H.TAMAMOTO, K.K.SALUJA, K.KINOSHITA
    • 雑誌名

      IEICE Trans. Info. and Syst. (発表予定)

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16650013
  • [雑誌論文] On Speed-Up of Fault Simulation for Handling Intermediate Faulty Voltages2005

    • 著者名/発表者名
      Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara, Hideo Tamamoto, Kewal K. Saluja, Kozo Kinoshita
    • 雑誌名

      IEICE Trans. Inf. & Syst D-I, Vol. J88-D-I, No. 4

      ページ: 906-907

    • NAID

      10016599053

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17500039
  • [雑誌論文] Efficient Test Set Modification for Capture Power Reduction2005

    • 著者名/発表者名
      X.Wen, T.Suzuki, S.Kajihara, K.Miyase, Y.Minamoto, L.-T.Wang, K.K.Saluja
    • 雑誌名

      Journal of Low Power Electronics Issue 3

      ページ: 319-330

    • NAID

      120006782190

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17500039
  • [雑誌論文] 中間故障電圧値を扱う故障シミュレーションの高速化について2005

    • 著者名/発表者名
      温 暁青, 梶原 誠司, 玉本 英夫, Kewal K.Saluja, 樹下 行三
    • 雑誌名

      電子情報通信学会論文誌D-1(レター) (発表予定)

    • NAID

      10016599053

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16650013
  • [雑誌論文] Scan tree design : test compression with test vector modification2004

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, S.Kajihara
    • 雑誌名

      情報処理学会論文誌 Vol.44, No.5

      ページ: 1270-1278

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14380146
  • [雑誌論文] Test data compression using don't-care identification and statistical encoding2004

    • 著者名/発表者名
      S.Kajihara, K.Taniguchi, K.Miyase, I.Pomeranz, S.M.Reddy
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Info.and Sys. Vol.87-D, No.3

      ページ: 544-550

    • NAID

      110003317948

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14380146
  • [雑誌論文] Test cost reduction for logic circuits-Reduction of test data volume and test application time-2004

    • 著者名/発表者名
      Y.Higami, S.Kajihara, H.Ichihara, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Info.and Sys. Vol.E87-D-I, No.3

      ページ: 291-307

    • NAID

      110003171307

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14380146
  • [雑誌論文] XID : Don't care identification of test patterns for combinational circuits2004

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, S.Kajihara
    • 雑誌名

      IEEE Trans.Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems Vol.23, No.2

      ページ: 321-326

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14380146
  • [雑誌論文] On Per-Test Fault Diagnosis Using the X-Fault Model2004

    • 著者名/発表者名
      X.Wen, T.Miyoshi, S.Kajihara, L.T.Wang, K.K.Saluja, K.Kinoshita
    • 雑誌名

      Proceedings of Int'l Conf.on Computer-Aided Design

      ページ: 633-640

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16500036
  • [雑誌論文] Scan tree design : test compression with test vector modification2004

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, S.Kajihara
    • 雑誌名

      IPSJ Trans. Vol.44, No.5

      ページ: 1270-1278

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14380146
  • [雑誌論文] Multiple Scan Tree Design with Test Vector Modification2004

    • 著者名/発表者名
      Kohei Miyase, Seiji Kajihara, Sudhakar M.Reddy
    • 雑誌名

      Proceedings of Asian Test Symposium

      ページ: 76-81

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16500036
  • [雑誌論文] 論理回路に対するテストコスト削減法-テストデータ量およびテスト実行時間の削減-(サーベイ論文)2004

    • 著者名/発表者名
      樋上喜信, 梶原誠司, 市原英行, 高松雄三
    • 雑誌名

      電子情報通信学会論文誌D-I Vol.J87-D-I, No.3

      ページ: 291-307

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14380146
  • [雑誌論文] Scan tree design : Test compression with test vector modification2004

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, S.Kajihara
    • 雑誌名

      情報処理学会論文誌 Vol.44, No.5

      ページ: 1270-1278

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16650013
  • [雑誌論文] Enhanced 3-valued logic/fault simulation for full scan circuits using implicit logic values2004

    • 著者名/発表者名
      Seiji Kajihara, Kewal K.Saluja, Sudhakar M.Reddy
    • 雑誌名

      Proceedings of 9^<th> IEEE European Test Symposium

      ページ: 108-113

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16500036
  • [雑誌論文] 論理回路に対するテストコスト削減法-テストデータ量およびテスト実行時間の削減-(サーベイ論文)2004

    • 著者名/発表者名
      樋上喜信, 梶原誠司, 市原英行, 高松雄三
    • 雑誌名

      電子情報通信学会論文誌D-I Vol.J87-D-I No.3

      ページ: 291-307

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14380146
  • [雑誌論文] Test data compression using don't-care identification and statistical encoding2004

    • 著者名/発表者名
      S.Kajihara, K.Taniguchi, K.Miyase, I.Pomeranz, S.M.Reddy
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Info.and Syst. Vol.E87-D, No.3

      ページ: 544-550

    • NAID

      110003317948

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14380146
  • [雑誌論文] On test data volume reduction for multiple scan chain designs2003

    • 著者名/発表者名
      S.M.Reddy, K.Miyase, S.Kajihara, I.Pomeranz
    • 雑誌名

      ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems Vol.8, No.4

      ページ: 460-469

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14380146
  • [雑誌論文] Evaluation of delay testing based on path selection2003

    • 著者名/発表者名
      M.Fukunaga, S.Kajihara, S.Takeoka, S.Yoshimura
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Fundamentals. E86-A, No.12

      ページ: 3208-3210

    • NAID

      110003212604

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14380146
  • [雑誌論文] On selecting testable paths in scan designs2003

    • 著者名/発表者名
      Y.Shao, S.M.Reddy, I.Pomeranz, S.Kajihara
    • 雑誌名

      Journal of Electronic Testing Theory and Applications (Kluwer Academic Publishers) Vol.19, Issue 4

      ページ: 447-456

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14380146
  • [雑誌論文] Evaluation of delay testing based on path selection2003

    • 著者名/発表者名
      M.Fukunaga, S.Kajihara, S.Takeoka, S.Yoshimura
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Fundamentals E86-A, No.12

      ページ: 3208-3210

    • NAID

      110003212604

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14380146
  • [雑誌論文] On selecting testable paths in scan designs2003

    • 著者名/発表者名
      Y.Shao, S.M.Reddy, I.Pomeranz, S.Kajihara
    • 雑誌名

      Journal of Electronic Testing Theory and Applications(Kluwer Academic Publishers) Vol.19, Issue 4

      ページ: 447-456

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14380146
  • [雑誌論文] A Method of static test compaction based on don't care identification2002

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, S.Kajihara, S.M.Reddy
    • 雑誌名

      IPSJ Trans. Vol.43, No.5

      ページ: 1290-1293

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14380146
  • [雑誌論文] Hybrid BIST design for n-detection test using partially rotational scan2002

    • 著者名/発表者名
      K.Ichino, T.Asakawa, S.Fukumoto, K.Iawasaki, S.Kajihara
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Info.and Syst. Vol.E85-D, No.10

      ページ: 1490-1497

    • NAID

      110006376578

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14380146
  • [雑誌論文] Average power reduction in scan testing by test vector modification2002

    • 著者名/発表者名
      S.Kajihara, K.Ishida, K.Miyase
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Info.and Syst. Vol.E85-D, No.10

      ページ: 1483-1489

    • NAID

      110006376577

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14380146
  • [雑誌論文] テストパターン中の特定ビットにおけるドントケア判定法について2002

    • 著者名/発表者名
      宮瀬紘平, 梶原誠司, イリス ポメランツ, スダーカ レディ
    • 雑誌名

      FIT2002 情報科学技術フォーラム 情報技術レターズ 第1巻2002年, LC-3

      ページ: 47-48

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14380146
  • [雑誌論文] Average power reduction in scan testing by test vector Modification2002

    • 著者名/発表者名
      S.Kajihara, K.Ishida, K.Miyase
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Info.and Syst. Vol.E85-D, No.10

      ページ: 1483-1489

    • NAID

      110006376577

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14380146
  • [雑誌論文] Don't-C are Identification on Specific Bits of Test Patterns2002

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, S.Kajihara, I.Pomeranz, S.M.Reddy
    • 雑誌名

      FIT2002, Information Technology Letters Vol.1, LC-3

      ページ: 47-48

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14380146
  • [雑誌論文] A Method of static test compaction based on don't care identification2002

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, S.Kajihara, S.M.Reddy
    • 雑誌名

      情報処理学会論文誌 Vol.43, No.5

      ページ: 1290-1293

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14380146
  • [産業財産権] 論理値決定方法及び論理値決定プログラム2008

    • 発明者名
      宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司, 大和勇太
    • 権利者名
      九州工業大学
    • 産業財産権番号
      2008-211473
    • 出願年月日
      2008-08-02
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [産業財産権] 論理値決定方法及び論理値決定プログラム2008

    • 発明者名
      宮瀬絋平, 温暁青, 梶原誠司, 大和勇太
    • 権利者名
      九州工業大学
    • 産業財産権番号
      2008-211473
    • 出願年月日
      2008-08-20
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [産業財産権] 半導体論理回路装置のテスト方法、装置及び半導体論理回路装置のテストプログラムを記憶した記憶媒体2005

    • 発明者名
      温 暁青, 梶原 誠司
    • 権利者名
      *九州工業大学
    • 産業財産権番号
      2005-130806
    • 出願年月日
      2005-04-28
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17500039
  • [産業財産権] 半導体論理回路装置のテストベクトル生成方法、装置及び半導体論理回路装置のテストベクトル生成プログラムを記憶した記憶媒体2005

    • 発明者名
      温暁青, 梶原誠司
    • 権利者名
      九州工業大学
    • 産業財産権番号
      2005-215214
    • 出願年月日
      2005-07-26
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17500039
  • [産業財産権] 半導体論理回路装置のテストベクトル生成方法、装置及び半導体論理回路装置のテストベクトル生成プログラムを記憶した記憶媒体2005

    • 発明者名
      温 暁青, 梶原 誠司
    • 権利者名
      *九州工業大学
    • 産業財産権番号
      2005-215214
    • 出願年月日
      2005-04-28
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17500039
  • [産業財産権] 半導体論理回路装置のテスト方法、装置及び半導体論理回路装置のテストプログラムを記憶した記憶媒体2005

    • 発明者名
      温暁青, 梶原誠司
    • 権利者名
      九州工業大学
    • 産業財産権番号
      2005-130806
    • 出願年月日
      2005-04-28
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17500039
  • [学会発表] 信号値遷移確率を用いた高消費電力エリア特定技術の計算処理評価に関する研究2022

    • 著者名/発表者名
      星野 龍, 宇都宮大喜, 宮瀬紘平, 温 暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] オンチップ遅延測定における製造バラツキを考慮した温度電圧影響の補正手法2022

    • 著者名/発表者名
      加藤隆明, 三宅庸資, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] Effective Switching Probability Calculation to Locate Hotspots in Logic Circuits2022

    • 著者名/発表者名
      T. Utsunomiya, R. Hoshino, K. Miyase, S.-K. Lu, X. Wen, and S. Kajihara
    • 学会等名
      IEEE Int'l Test Conf. in Asia
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K21653
  • [学会発表] メモリのサイズおよび形状に起因するロジック部の高消費電力エリア特定に関する研究2021

    • 著者名/発表者名
      高藤大輝, 星野 龍, 宮瀬紘平, 温 暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] Evaluation of Power Consumption with Logic Simulation and Placement Information for At-Speed Testing2021

    • 著者名/発表者名
      Taiki Utsunomiya, Kohei Miyase, Ryu Hoshino, Shyue-Kung Lu, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
    • 学会等名
      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究2020

    • 著者名/発表者名
      史傑, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      信学技報, Vol. 119, No. 420, DC2019-94
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01716
  • [学会発表] 勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について2020

    • 著者名/発表者名
      森誠一郎, 権藤昌之, 三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] Probability of Switching activity to Locate Hotspots in Logic Circuits2020

    • 著者名/発表者名
      R. Oba, K. Miyase, R. Hoshino, S.-K. Lu, X. Wen, S. Kajihara
    • 学会等名
      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01716
  • [学会発表] 機械学習を用いたデジタル温度電圧センサの精度向上手法の検討2020

    • 著者名/発表者名
      権藤昌之, 三宅庸資, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] メモリのサイズおよび形状に起因するロジック部の高消費電力エリア特定に関する研究2020

    • 著者名/発表者名
      高藤大輝, 星野龍, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告, DC2020-72
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01716
  • [学会発表] LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究2020

    • 著者名/発表者名
      大庭涼, 星野竜, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      信学技報, Vol. 120, No. 236, DC2020-33
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01716
  • [学会発表] メモリ搭載LSIに対するロジック部の消費電力解析に関する研究2020

    • 著者名/発表者名
      児玉優也, 宮瀬紘平, 高藤大輝, 温暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      信学技報, Vol. 119, No. 420, DC2019-93
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01716
  • [学会発表] オンチップ遅延測定における温度電圧影響の補正手法について2020

    • 著者名/発表者名
      加藤 隆明, 三宅 庸資, 梶原 誠司
    • 学会等名
      第82回FTC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] Innovative Test Practices in Asia2020

    • 著者名/発表者名
      T. Iwasaki, M. Aso, H. Futami, S. Matsunaga, Y. Miyake, T. Kato, S. Kajihara, Y. Miura, S. Lai, G. Hung, H.H. Chen, H. Kobayashi, K. Hatayama
    • 学会等名
      IEEE VLSI Test Symposium
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究2020

    • 著者名/発表者名
      大庭 涼, 星野 竜, 宮瀬紘平, 温 暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] LSIのホットスポット分布の解析に関する研究2019

    • 著者名/発表者名
      河野雄大, 宮瀬紘平, 呂學坤, 温暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティン研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01716
  • [学会発表] A Static Method for Analyzing Hotspot Distribution on the LSI2019

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, Y. Kawano, S.-K. Lu, X. Wen, S. Kajihara
    • 学会等名
      IEEE Int'l Test Conf. in Asia
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01716
  • [学会発表] LSIのホットスポット分布の解析に関する研究2019

    • 著者名/発表者名
      河野雄大, 宮瀬紘平, 呂 學坤, 温 暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption2019

    • 著者名/発表者名
      Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qian
    • 学会等名
      第11回LSIテストセミナー
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01716
  • [学会発表] 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測2019

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司, 麻生正雄, 二見治司, 松永恵士, 三浦幸也
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定2018

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] FPGAにおける自己補正可能なオンチップデジタル温度センサ2018

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資, 梶原誠司
    • 学会等名
      第17回情報科学技術フォーラム講演論文集(FIT2018)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] Clock-Skew-Aware Scan Chain Grouping for Mitigating Shift Timing Failures in Low-Power Scan Testing2018

    • 著者名/発表者名
      Y. Zhang, X. Wen, S. Holst, K. Miyase, S. Kajihara, H.-J. Wunderlich, J. Qian
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symposium
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01716
  • [学会発表] 特定のテスト項目を用いた良品予測モデル作成2018

    • 著者名/発表者名
      西見 武,梶原 誠司,中村 芳行
    • 学会等名
      第78回FTC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [学会発表] Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption2018

    • 著者名/発表者名
      Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qian
    • 学会等名
      第17 回情報科学技術フォーラム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01716
  • [学会発表] 論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について2018

    • 著者名/発表者名
      加藤隆明, 王 森レイ, 佐藤康夫, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] デジタル温度電圧センサにおける特定温度電圧領域の推定精度向上手法2018

    • 著者名/発表者名
      井上賢二,三宅庸資,梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [学会発表] 正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究2018

    • 著者名/発表者名
      河野雄大, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会DC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280016
  • [学会発表] FPGAにおける自己補正可能なオンチップデジタル温度センサ2018

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資, 梶原誠司
    • 学会等名
      第17回情報科学技術フォーラム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18KT0014
  • [学会発表] Analysis and Mitigation of IR-Drop Induced Scan Shift-Errors2017

    • 著者名/発表者名
      S. Holst, E. Schneiderz, H. Kawagoe, M. A. Kochtez, K. Miyase, H.-J. Wunderlichz, S. Kajihara, X. Wen
    • 学会等名
      Proc. of IEEE Int'l Test Conf.
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01716
  • [学会発表] Locating Hot Spot with Justification Techniques in a Layout Design2017

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, Y. Kawano, X. Wen, S. Kajihara
    • 学会等名
      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12003
  • [学会発表] 電源ネットワークに対するIR-Dropの影響範囲特定に関する研究2017

    • 著者名/発表者名
      宮瀬紘平, 濱崎機一, ザウアー マティアス, ポリアン イリア, ベッカー ベルンド, 温暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会 DC研究会
    • 発表場所
      東京都
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280016
  • [学会発表] Analysis and Mitigation of IR-Drop Induced Scan Shift-Errors2017

    • 著者名/発表者名
      S. Holst, E. Schneider, H. Kawagoe, M. A. Kochtez, K. Miyase, H.-J. Wunderlichz, S. Kajihara, X. Wen
    • 学会等名
      IEEE Int'l Test Conf.
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12003
  • [学会発表] FPGAの自己テストのためのTDCを用いたテストクロック観測手法の検討2017

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資,佐藤康夫,梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [学会発表] Locating Hot Spot with Justification Techniques in a Layout Design2017

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, Y. Kawano, X. Wen, S. Kajihara
    • 学会等名
      Proc. of IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01716
  • [学会発表] Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption2017

    • 著者名/発表者名
      Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qia
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symp.
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12003
  • [学会発表] On Avoiding Test Data Corruption by Optimal Scan Chain Grouping2017

    • 著者名/発表者名
      Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qian
    • 学会等名
      第181回SLDM・第46回EMB合同研究発表会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280016
  • [学会発表] 製造テスト項目毎の予測モデルに基づくテストコスト削減について2017

    • 著者名/発表者名
      木村浩隆, 梶原誠司, 佐藤康夫, 中村芳行
    • 学会等名
      第76回 FTC研究会
    • 発表場所
      宮崎市
    • 年月日
      2017-01-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [学会発表] Locating Hot Spot with Justification Techniques in a Layout Design2017

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, Y. Kawano, X. Wen, S. Kajihara
    • 学会等名
      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280016
  • [学会発表] 高品質実速度スキャンテスト生成に関する研究2017

    • 著者名/発表者名
      宮崎俊紀、温暁青、ホルスト シュテファン、宮瀬紘平 、梶原誠司
    • 学会等名
      第9回LSIテストセミナー
    • 発表場所
      福岡市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280016
  • [学会発表] Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption2017

    • 著者名/発表者名
      Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qian
    • 学会等名
      Proc. of IEEE Asian Test Symp.
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01716
  • [学会発表] スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について2017

    • 著者名/発表者名
      大島繁之,加藤隆明,王 森レイ,佐藤康夫,梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [学会発表] FPGAのフィールドテストにおけるオンチップ遅延劣化検出システムについて2016

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資,佐藤康夫,梶原誠司
    • 学会等名
      第74回FTC研究会
    • 発表場所
      廿日市市(広島)
    • 年月日
      2016-01-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [学会発表] Timing-Accurate Estimation of IR-Drop Impact on Logic- and Clock-Paths During At-Speed Scan Test2016

    • 著者名/発表者名
      S. Holst, E. Schneider, X. Wen, S. Kajihara, Y. Yamato, H.-J. Wunderlich, M. A. Kochte
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symp.
    • 発表場所
      Hiroshima, Japan
    • 年月日
      2016-11-24
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12003
  • [学会発表] Measurement of On-Chip Temperature and Voltage Variation Using Digital Sensors2016

    • 著者名/発表者名
      Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara
    • 学会等名
      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      広島
    • 年月日
      2016-11-24
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [学会発表] 論理BISTにおけるスキャンイン電力制御手法とTEG評価2016

    • 著者名/発表者名
      加藤隆明, 王森レイ, 佐藤康夫, 梶原誠司, 温暁青
    • 学会等名
      情報処理学会DAシンポジウム2016
    • 発表場所
      加賀市
    • 年月日
      2016-09-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [学会発表] A Flexible Power Control Method for Right Power Testing of Scan-Based Logic BIST2016

    • 著者名/発表者名
      Takaaki KATO, Senling WANG, Yasuo SATO, Seiji KAJIHARA
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symposium
    • 発表場所
      広島
    • 年月日
      2016-11-21
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [学会発表] Timing-Accurate Estimation of IR-Drop Impact on Logic- and Clock-Paths During At- Speed Scan Test2016

    • 著者名/発表者名
      S. Holst, E. Schneider, X. Wen, S. Kajihara, Y. Yamato, H.-J. Wunderlich, M. A. Kochte
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symp.
    • 発表場所
      Hiroshima, Japan
    • 年月日
      2016-11-21
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280016
  • [学会発表] Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation2016

    • 著者名/発表者名
      F. Li, X. Wen, S. Holst, K. Miyase, S. Kajihara
    • 学会等名
      Int'l Symp. on Applied Engineering and Sciences
    • 発表場所
      Kitakyushu, Japan
    • 年月日
      2016-12-17
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12003
  • [学会発表] 論理BISTにおけるスキャンイン電力 制御手法とTEG評価2016

    • 著者名/発表者名
      加藤隆明, 王森レイ, 佐藤康夫, 梶原誠司, 温暁青
    • 学会等名
      情報処理学会 DAシンポジウム
    • 発表場所
      石川県加賀市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280016
  • [学会発表] Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation2016

    • 著者名/発表者名
      F. Li, X. Wen, S. Holst, K. Miyase, S. Kajihara
    • 学会等名
      Int'l Symp. on Applied Engineering and Sciences
    • 発表場所
      Kitakyushu, Japan
    • 年月日
      2016-12-17
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280016
  • [学会発表] VLSIテスト技術によるシステムディペンダビリティ向上への期待2015

    • 著者名/発表者名
      梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会デザインガイア2015
    • 発表場所
      長崎市
    • 年月日
      2015-12-01
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [学会発表] Failure Prediction of Logic Circuits for High Field Reliability2015

    • 著者名/発表者名
      Seiji Kajihara
    • 学会等名
      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Mumbai, India
    • 年月日
      2015-11-25
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [学会発表] Identification of High Power Consuming Areas with Gate Type and Logic Level Information2015

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
    • 学会等名
      IEEE European Test Symp.
    • 発表場所
      Cluj-Napoca, Romania
    • 年月日
      2015-05-28
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12003
  • [学会発表] Logic/Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation for Avoiding False Capture Failures and Reducing Clock Stretch2015

    • 著者名/発表者名
      K. Asada, X. Wen, S. Holst, K. Miyase, S. Kajihara, M. A. Kochte, E. Schneider, H.-J. Wunderlich, J. Qian
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symp.
    • 発表場所
      Bombay, India
    • 年月日
      2015-11-24
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280016
  • [学会発表] デジタルモニタを用いたチップ内温度電圧変動の測定について2015

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資, 加藤隆明, 糸永卓矢, 佐藤康夫, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      村上市(新潟)
    • 年月日
      2015-12-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [学会発表] FPGAのオンチップ遅延測定における温度影響補正の検討2015

    • 著者名/発表者名
      喜納 猛, 三宅 庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      長崎市
    • 年月日
      2015-12-03
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12004
  • [学会発表] On Guaranteeing Capture Safety in At-Speed Scan Testing With Broadcast-Scan-Based Test Compression2013

    • 著者名/発表者名
      K. Enokimoto, X. Wen, K. Miyase, J.-L. Huang, S. Kajihara, L.-T. Wang
    • 学会等名
      26th Intl. Conf. on VLSI Design
    • 発表場所
      Pune, India
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22300017
  • [学会発表] On Achieving Capture Power Safety in At-Speed Scan-Based Logic BIST2013

    • 著者名/発表者名
      A. Tomita, X. Wen, Y. Sato, S. Kajihara, P. Girard, M. Tehranipoor, L.-T. Wang
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symp.
    • 発表場所
      Yilan, Taiwan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24650022
  • [学会発表] Controllability Analysis of Local Switching Activity for Layout Design2013

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
    • 学会等名
      Workshop on Design and Test Methodologies for Emerging Technologies
    • 発表場所
      Avignon, France
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24650022
  • [学会発表] Controllability Analysis of Local Switching Activity for Layout Design2013

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
    • 学会等名
      Workshop on Design and Test Methodologies for Emerging Technologies
    • 発表場所
      Avignon, France
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280016
  • [学会発表] ロジック BIST のキャプチャ電力安全性に関する研究2013

    • 著者名/発表者名
      冨田明宏, 温暁青, 宮瀬紘平, 梶原誠司
    • 学会等名
      第68回 FTC 研究会
    • 発表場所
      秋田市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] On Achieving Capture Power Safety in At-Speed Scan-Based Logic BIST2013

    • 著者名/発表者名
      A. Tomita, X. Wen, Y. Sato, S. Kajihara, P. Girard, M. Tehranipoor, L.-T. Wang
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symp.
    • 発表場所
      Yilan, Taiwan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280016
  • [学会発表] Search Space Reduction for Low-Power Test Generation2013

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symp.
    • 発表場所
      Yilan, Taiwan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24650022
  • [学会発表] On Guaranteeing Capture Safety in At-Speed Scan Testing With Broadcast-Scan-Based Test Compression2013

    • 著者名/発表者名
      K. Enokimoto, X. Wen, K. Miyase, J.-L. Huang, S. Kajihara, and L.-T. Wang
    • 学会等名
      Proc. 26th Intl. Conf. on VLSI Design
    • 発表場所
      Pune, India
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22300017
  • [学会発表] VLSI design and testing for enhanced systems dependability2013

    • 著者名/発表者名
      Seiji Kajihara
    • 学会等名
      IEEE International Workshop on Reliability Aware System Design and Test
    • 発表場所
      Pune, India
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] VLSI design and testing for enhanced systems dependability2013

    • 著者名/発表者名
      Seiji Kajihara, Shojiro Asai
    • 学会等名
      IEEE Int.Workshop on Reliability Aware System Design and Test (Invited talk)
    • 発表場所
      Pune, India Jan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] Search Space Reduction for Low-Power Test Generation2013

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symp.
    • 発表場所
      Yilan, Taiwan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280016
  • [学会発表] Failure Prediction of Logic Circuits for High Field Reliability2012

    • 著者名/発表者名
      Seiji Kajihara
    • 学会等名
      Int. Workshop on Reliability Aware System Design and Test
    • 発表場所
      Hyderabad, India
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] マルチサイクル BIST におけるスキャン出力の電力低減手法2012

    • 著者名/発表者名
      王 森レイ,佐藤康夫,梶原誠司,宮瀬紘平
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告
    • 発表場所
      福岡市
    • 年月日
      2012-11-28
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] New Test Partition Approach for Segmented Testing with Lower System Failure Rate2012

    • 著者名/発表者名
      S.Wang, S.Kajihara, Y.Sato, K.Miyase, Xiaoqing Wen
    • 学会等名
      第66回FTC研究会
    • 発表場所
      大分県ホテルソラージュ大分・日出
    • 年月日
      2012-01-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究2012

    • 著者名/発表者名
      宮瀬紘平, 梶原誠司, 温暁青
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告
    • 発表場所
      福岡市
    • 年月日
      2012-11-28
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] New Test Partition Approach for Rotating Test with Lower Rate2012

    • 著者名/発表者名
      S.Wang, S.Kajihara, Y.Sato, K.Miyase, X.Wen
    • 学会等名
      FTC研究会
    • 発表場所
      日本大分県
    • 年月日
      2012-01-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22300017
  • [学会発表] Estimation of the Amount of Don't-Care Bits in Test Vectors2012

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, S. Kajihara, X. Wen
    • 学会等名
      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Niigata, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22300017
  • [学会発表] On Pinpoint Capture Power Management in At-Speed Scan Test Generation2012

    • 著者名/発表者名
      X. Wen, Y. Nishida, K. Miyase, S. Kajihara, P. Girard, M. Tehranipoor, L.-T. Wang
    • 学会等名
      IEEE Int'l Test Conf.
    • 発表場所
      Anaheim, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24650022
  • [学会発表] New Test Partition Approach for Segmented Testing with Lower System Failure Rate2012

    • 著者名/発表者名
      Senling Wang, Seiji Kajihara, Yasuo Sato, Kohei Miyase, Xiaoqing Wen
    • 学会等名
      第66回 FTC 研究会
    • 発表場所
      大分
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] 組込み自己テストによるフィールド高信頼化に2012

    • 著者名/発表者名
      梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会 デザインガイア2012
    • 発表場所
      福岡市
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] 組込み自己テストによるフィールド高信頼化について2012

    • 著者名/発表者名
      梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会 デザインガイア 2012(招待講演)
    • 発表場所
      福岡市
    • 年月日
      2012-11-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] 実速度スキャンテストにおける高品質なキャプチャ安全性保障型テスト生成について2012

    • 著者名/発表者名
      西田優一郎, 温暁青, 工藤雅幸, 宮瀬紘平, 梶原誠司
    • 学会等名
      FTC研究会
    • 発表場所
      日本大分県
    • 年月日
      2012-01-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22300017
  • [学会発表] A Novel Capture-Safety Checking Method for Multi-Clock Designs and Accuracy Evaluation with Delay Capture Circuits2012

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, M. Aso, R. Ootsuka, X. Wen, H. Furukawa, Y. Yamato, K, Enokimoto, S. Kajihara
    • 学会等名
      IEEE VLSI Test Symp.
    • 発表場所
      Hawaii, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22300017
  • [学会発表] Estimation of the Amount of Don' t-Care Bits in Test Vectors2012

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, S. Kajihara, and X. Wen
    • 学会等名
      Proc. IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Niigata, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22300017
  • [学会発表] Failure Prediction of Logic Circuits for High Field Reliability2012

    • 著者名/発表者名
      S.Kajihara
    • 学会等名
      International Workshop on Reliability Aware System Design and Test
    • 発表場所
      Hyderabad, India(Invited talk)
    • 年月日
      2012-01-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] A Novel Capture-Safety Checking Method for Multi-Clock Designs and Accuracy Evaluation with Delay Capture Circuits2012

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, M. Aso, R. Ootsuka, X. Wen, H. Furukawa, Y. Yamato, K, Enokimoto, and S. Kajihara
    • 学会等名
      Proc. IEEE VLSI Test Symp.
    • 発表場所
      Hawaii, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22300017
  • [学会発表] Additional Path Delay Fault Detection with Adaptive Test Data2011

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, H.Tanaka, K.Enokimoto, X.Wen, S.Kajihara
    • 学会等名
      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Jaipur, India
    • 年月日
      2011-11-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22300017
  • [学会発表] A Pattern Partitioning Algorithm for Field Test2011

    • 著者名/発表者名
      S.Wang, S.Kajihara, Y.Sato, Xiaoxin Fan, S.M.Reddy
    • 学会等名
      IEEE International Workshop on Reliability Aware System Design and Test
    • 発表場所
      Chennai (India)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] A Pattern Partitioning Algorithm for Field Test2011

    • 著者名/発表者名
      Senling Wang, Seiji Kajihara, (他3名)
    • 学会等名
      IEEE Int. Workshop on Reliability Aware System Design and Test
    • 発表場所
      Chennai (India)
    • 年月日
      2011-01-07
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] Genetic Algorithm Based Approach for Segmented Testing2011

    • 著者名/発表者名
      X.Fan, S.M.Reddy, S.Wang, S.Kajihara, Y.Sato
    • 学会等名
      5th Workshop on Dependable and Secure Nanocomputing
    • 発表場所
      Hong Kong, China
    • 年月日
      2011-06-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] SAT-based Capture-Power Reduction for At-Speed Broadcast-Scan-Based Test Compression Architectures2011

    • 著者名/発表者名
      M.A.Kochte, K.Miyase, X.Wen, S.Kajihara, Y.Yamato, K.Enokimoto, H.-J.Wunderlich
    • 学会等名
      IEEE International Symposium on Low Power Electronics and Design
    • 発表場所
      Fukuoka, Japan
    • 年月日
      2011-08-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22300017
  • [学会発表] 実速度テストに対する品質考慮ドントケア判定2011

    • 著者名/発表者名
      河野潤, 宮瀬紘平, 榎元和成, 大和勇太, 温暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      第64回FTC研究会
    • 発表場所
      岐阜県恵那市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] 実速度テストに対する品質考慮ドントケア判定2011

    • 著者名/発表者名
      河野潤, 宮瀬紘平,榎元和成,大和勇太,温暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      第64回FTC研究会
    • 発表場所
      恵那市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] Additional Path Delay Fault Detection with Adaptive Test Data2011

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, H. Tanaka, K. Enokimoto, X. Wen, and S. Kajihara
    • 学会等名
      Proc. IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Jaipur, India
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22300017
  • [学会発表] Effective Launch Power Reduction for Launch-Off-Shift Scheme with Adjacent-Probability-Based X-Filling2011

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, U. Uchinodan, K. Enokimoto, Y. Yamato, X. Wen, S. Kajihara, F. Wu, L. Dilillo, A. Bosio, and P. Girard
    • 学会等名
      Proc. IEEE Asian Test Symp.
    • 発表場所
      New Delhi, India
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22300017
  • [学会発表] Power-Aware Test Generation with Guaranteed Launch Safety for At-Speed Scan Testing2011

    • 著者名/発表者名
      X.Wen, K.Enokimoto, K.Miyase, Y.Yamato, M.Kochte, S.Kajihara, P.Girard, M.Tehranipoor
    • 学会等名
      IEEE VLSI Test Symposium
    • 発表場所
      Dana Point, USA
    • 年月日
      2011-05-03
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22300017
  • [学会発表] Effective Launch Power Reduction for Launch-Off-Shift Scheme with Adjacent-Probability-Based X-Filling2011

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, U.Uchinodan, K.Enokimoto, Y.Yamato, X.Wen, S.Kajihara, F.Wu, L.Dilillo, A.Bosio, P.Girard
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symposium
    • 発表場所
      New Delhi, India
    • 年月日
      2011-11-22
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22300017
  • [学会発表] 3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について2010

    • 著者名/発表者名
      奥慎治, 梶原誠司, 佐藤康夫, 宮瀬紘平, 温暁青
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      東京都
    • 年月日
      2010-02-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] フィールド高信頼化のためのVLSI劣化検知技術(DART)2010

    • 著者名/発表者名
      佐藤康夫, 梶原誠司, 井上美智子, 米田友和, 大竹哲史, 藤原秀雄, 三浦幸也
    • 学会等名
      第63回FTC研究会
    • 発表場所
      埼玉県秩父郡皆野町
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] Circuit failure prediction by field test (DART) with delay-shift measurement mechanism2010

    • 著者名/発表者名
      Y.Sato, S.Kajihara, M.Inoue, T.Yoneda, S.Ohtake, H.Fujiwara, Y.Miura
    • 学会等名
      IEICE Integrated Circuits and Devices in Vietnam
    • 発表場所
      Ho Chi Minh, (Vietnam)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] A Path Selection Method for Delay Test Targeting Transistor Aging2010

    • 著者名/発表者名
      M.Noda, S.Kajihara, Y.Sato, K.Miyase, X.Wen, Y.Miura
    • 学会等名
      IEEE International Workshop on Reliability Aware System Design and Test
    • 発表場所
      Bangalore, India
    • 年月日
      2010-01-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] X-Identification of Transition Delay Fault Tests for Launch-off Shift Scheme2010

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, F.Wu, L.Dilillo, A.Bosio, P.Girard, X.Wen, S.Kajihara
    • 学会等名
      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Shanghai, China
    • 年月日
      2010-12-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22300017
  • [学会発表] A Path Selection Method for Delay Test Targeting Transistor Aging2010

    • 著者名/発表者名
      Mitsumasa Noda, Seiji Kajihara, Yasuo Sato, Kohei Miyase, Xiaoqing Wen, Yukiya Miura
    • 学会等名
      Digest of IEEE International Workshop on Reliability Aware System Design and Test
    • 発表場所
      Bangalore, India
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] CAT(Critical-Area-Targeted) : A New Paradigm for Reducing Yield Loss Risk in At-Speed Scan Testing2010

    • 著者名/発表者名
      X.Wen, K.Enokimoto, K.Miyase, S.Kajihara, M.Aso, H.Furukawa
    • 学会等名
      Symposium II(ISTC/CSTIC) : Metrology, Reliability and Testing
    • 発表場所
      Shanghai, China
    • 年月日
      2010-03-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] フィールド高信頼化のための VLSI 劣化検知技術(DART)2010

    • 著者名/発表者名
      佐藤康夫, 梶原誠司, (他 5 名)
    • 学会等名
      第63回FTC研究会資料
    • 発表場所
      埼玉県皆野町
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価2010

    • 著者名/発表者名
      山口久登・松薗誠・佐藤康夫・梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      福岡市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] 3 値テストパターンに対する遅延テスト品質計算と X 割当について2010

    • 著者名/発表者名
      奥 慎治, 梶原誠司, 佐藤康夫 ,宮瀬紘平, 温 暁青
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2010-02-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] Circuit failure prediction by field test (DART) with delay-shift measurement mechanism2010

    • 著者名/発表者名
      Y. Sato, S. Kajihara (他5名)
    • 学会等名
      IEICE 集積回路研究会
    • 発表場所
      Ho Chi Minh, Vietnam
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] Low-Capture-Power Post-Processing Test Vectors for Test Compression Using SAT Solver2010

    • 著者名/発表者名
      K K.Miyase, M.A.Kochte, X.Wen, S.Kajihara, H.-J.Wunderlich
    • 学会等名
      IEEE Workshop on Defect and Date Driven Testing
    • 発表場所
      Austin, USA
    • 年月日
      2010-11-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22300017
  • [学会発表] A Novel Scan Segmentation Design Method for Avoiding Shift Timing Failure in Scan Testing2010

    • 著者名/発表者名
      Y.Yamato, X.Wen, M.A.Kochte, K.Miyase, S.Kajihara, L.-T.Wang
    • 学会等名
      IEEE International Test Conference
    • 発表場所
      Anaheim, USA
    • 年月日
      2010-09-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22300017
  • [学会発表] A Path Selection Method for Delay Test Targeting Transistor Aging2010

    • 著者名/発表者名
      M.Noda, S.Kajihara, Y.Sato, K.Miyase, X.Wen, Y.Miura
    • 学会等名
      IEEE Int' 1 Workshop on Reliability Aware System Design and Test
    • 発表場所
      Bangalore, India
    • 年月日
      2010-01-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化2010

    • 著者名/発表者名
      宮瀬紘平, 中村優介, 大和勇太, 温暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      東京都
    • 年月日
      2010-02-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] A Path Selection Method for Delay Test Targeting Transistor Aging2010

    • 著者名/発表者名
      M. Noda, S. Kajihara, Y. Sato, K. Miyase, X. Wen, Y. Miura
    • 学会等名
      Digest of First IEEE Int'l Workshop on Reliability Aware System Design and Test
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化2010

    • 著者名/発表者名
      宮瀬紘平, 中村優介, 大和勇太, 温暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2010-02-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] フィールドテストにおける巡回テストとテスト集合印加順序について2010

    • 著者名/発表者名
      広実一輝, 梶原誠司, 佐藤康夫, 宮瀬紘平, 温暁青
    • 学会等名
      第62回FTC研究会
    • 発表場所
      岡山県総社市
    • 年月日
      2010-01-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] フィールドテストにおける巡回テストとテスト集合印加順序について2010

    • 著者名/発表者名
      広実一輝, 梶原誠司, 佐藤康夫, 宮瀬紘平, 温暁青
    • 学会等名
      第62回FTC研究会
    • 発表場所
      総社市
    • 年月日
      2010-01-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] CAT: A Critical-Area-Targeted Test Set Modification Scheme for Reducing Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2009

    • 著者名/発表者名
      K. Enokimoto, X. Wen, Y. Yamato, K. Miyase, H. Sone, S. Kajihara, M. Aso, H. Furukawa
    • 学会等名
      Proc. IEEE Asian Test Symp.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] On Calculation of Delay Range in Fault Simulation for Test Cubes2009

    • 著者名/発表者名
      S. Oku, S. Kajihara, K. Miyase, X. Wen, Y. Sato
    • 学会等名
      Proc. Int'l Symp. on VLSI Design, Automation, and Test
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] On Calculation of Delay Range in Fault Simulation for Test Cubes2009

    • 著者名/発表者名
      S.Oku, S.Kajihara, K.Miyase, X.Wen, Y.Sato
    • 学会等名
      Int' 1 Symp.on VLSI Design, Automation, and Test
    • 発表場所
      Hsinchu, Taiwan
    • 年月日
      2009-04-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] ブロードキャストスキャン圧縮環境下における実速度テストに対するIR-Drop削減Post-ATPG手法2009

    • 著者名/発表者名
      宮瀬紘平, 大和勇太, 埜田健治, 伊藤秀昭, 畠山一実, 相京隆, 温暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      第61回FTC研究会
    • 発表場所
      三重県多気郡大台町
    • 年月日
      2009-07-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] A Novel Post-ATPG IR-Drop Reduction Scheme for At-Speed Scan Testing in Broadcast-Scan-Based Test Compression Environment2009

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, K.Noda, H.Ito, K.Hatayama, T.Aikyo, Y.Yamato, X.Wen, S.Kajihara
    • 学会等名
      IEEE/ACM Int'1 Conf.on Computer Aided Design
    • 発表場所
      San Jose, USA
    • 年月日
      2009-11-02
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] CAT : A Critical-Area-Targeted Test Set Modification Scheme for Reducing Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2009

    • 著者名/発表者名
      K.Enokimoto, X.Wen, Y.Yamato, K.Miyase, H.Sone, S.Kajihara, M.Aso, H.Furukawa
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symp.
    • 発表場所
      Taichung, Taiwan
    • 年月日
      2009-11-24
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] On Calculation of Delay Range in Fault Simulation for Test Cubes2009

    • 著者名/発表者名
      Y.Yamato, X.Wen, K.Miyase, H.Furukawa, S.Kajihara
    • 学会等名
      IEEE 15th Pacific Rim Int' 1 Symp.on Dependable Computing, Automation, and Test
    • 発表場所
      Shanghai, China
    • 年月日
      2009-11-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] A Novel Post-ATPG IR-Drop Reduction Scheme for At-Speed Scan Testing in Broadcast-Scan-Based Test Compression Environment2009

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, K. Noda, H. Ito, K. Hatayama, T. Aikyo, Y. Yamato, X. Wen, S. Kajihara
    • 学会等名
      Proc. IEEE/ACM Int'l Conf. on Computer Aided Design
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究2009

    • 著者名/発表者名
      別府厳,宮瀬紘平,大和勇太,温暁青,梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告
    • 発表場所
      高知市
    • 年月日
      2009-10-04
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] 劣化検知テストにおけるパス選択について2009

    • 著者名/発表者名
      野田光政, 梶原誠司, 佐藤康夫, 宮瀬紘平, 温暁青, 三浦幸也
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      高知市
    • 年月日
      2009-12-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] X-Identification According to Required Distribution for Industrial Circuits2009

    • 著者名/発表者名
      I.Beppu, K.Miyase, Y.Yamato, X.Wen, S.Kajihara
    • 学会等名
      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Hong Kong
    • 年月日
      2009-11-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] X-Identification According to Required Distribution for Industrial Circuits2009

    • 著者名/発表者名
      I. Beppu, K. Miyase, Y. Yamato, X. Wen, S. Kajihara
    • 学会等名
      Proc. IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究2009

    • 著者名/発表者名
      別府厳, 宮瀬紘平, 大和勇太, 温暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      高知市
    • 年月日
      2009-12-04
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] On Calculation of Delay Range in Fault Simulation for Test Cubes2009

    • 著者名/発表者名
      Y. Yamato, X. Wen, K. Miyase, H. Furukawa, S. Kajihara
    • 学会等名
      Proc. IEEE 15th Pacific Rim Int'l Symp. on Dependable Computing, Automation, and Test
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] 劣化検知テストにおけるパス選択について2009

    • 著者名/発表者名
      野田光政, 梶原誠司, 佐藤康夫, 宮瀬紘平, 温暁青, 三浦幸也
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告
    • 発表場所
      高知市
    • 年月日
      2009-10-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] Optimizing the Percentage of X-Bits to Reduce Switching Activity2009

    • 著者名/発表者名
      I.Beppu, K.Miyase, Y.Yamato, X.Wen, S.Kajihara
    • 学会等名
      IEEE International Workshop on Defect and Data Driven Testing
    • 発表場所
      Austin, TX, USA
    • 年月日
      2009-11-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] X-Identification According to Required Distribution for Industrial Circuits2009

    • 著者名/発表者名
      Isao Beppu, Kohei Miyase, Yuta Yamato, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
    • 学会等名
      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Hong, Kong
    • 年月日
      2009-10-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] Optimizing the Percentage of X-Bits to Reduce Switching Activity2009

    • 著者名/発表者名
      Isao Beppu, Kohei Miyase, Yuta Yamato, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
    • 学会等名
      IEEE International Workshop on Defect and Data Driven Testing
    • 発表場所
      USA
    • 年月日
      2009-10-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21300015
  • [学会発表] A Capture- Safe Test Generation Scheme for At-Speed Scan Testing2008

    • 著者名/発表者名
      X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, H. Furukawa, Y. Yamato, A. Takashima, K. Noda, H. Ito, K. Hatayama, T. Aikyo, K.K. Saluja
    • 学会等名
      Proc. IEEE European Test Symp.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] Effective IR-Drop Reduction in At-Speed Scan Testing Using Distribution-Controlling X-Identification2008

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, K. Noda, H. Ito, K. Hatayama, T. Aikyo, Y. Yamato, H. Furukawa, X. Wen, S. Kajihara
    • 学会等名
      IEEE/ACM Int'l Conf. on Computer Aided Design
    • 発表場所
      San Jose, USA
    • 年月日
      2008-11-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] GA-Based X-Filling for Reducing Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2008

    • 著者名/発表者名
      Y. Yamato, X. Wen, K. Miyase, H. Furukawa, S. Kajihara
    • 学会等名
      Proc. IEEE Int'l Workshop on Defect Based Testing
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] Effective IR-Drop Reduction in At-Speed Scan Testing Using Distribution-Controlling X-Identification2008

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, K. Noda, H. Ito, K. Hatayama, T. Aikyo, Y. Yamato, H. Furukawa, X. Wen, S. Kajihara
    • 学会等名
      Proc. IEEE/ACM Int'l Conf. on Computer Aided Design
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] GA-Based X-Filling for Reducing Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2008

    • 著者名/発表者名
      Y. Yamato, X. Wen, K. Miyase, H. Furukawa, S. Kajihara
    • 学会等名
      IEEE Workshop on Defect and Date Driven Testing (D3T)
    • 発表場所
      Santa Clara, USA
    • 年月日
      2008-10-30
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] CTX: A Clock- Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme for Reducing Yield Loss Risk in At-Speed Scan Testing2008

    • 著者名/発表者名
      H. Furukawa, X. Wen, K. Miyase, Yuta Yamato, S. Kajihara, Patrick Girard, L. -T. Wang, M. Teharanipoor
    • 学会等名
      Proc. IEEE Asian Test Symp.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] CTX : A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme for Reducing Yield Loss Risk in At-Speed Scan Testing2008

    • 著者名/発表者名
      H. Furukawa, X. Wen, K. Miyase, Yuta Yamato, S. Kajihara, Patrick Girard, L. -T. Wang, M. Teharanipoor
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symposium
    • 発表場所
      Saporro, Japan
    • 年月日
      2008-11-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] A Method for Improving the Bridging Defect Coverage of a Transition Delay Test Set2007

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, X. Wen, S. Kajihara, M. Haraguchi, H. Furukawa
    • 学会等名
      Proc. IEEE Int'l Workshop on Defect Based Testing
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] Critical-Path-Aware X-Filling for Effective IR-Drop Reduction in At-Speed Scan Testing2007

    • 著者名/発表者名
      X. Wen, K. Miyase, T. Suzuki, S. Kajihara, Y. Ohsumi, K.K. Saluja
    • 学会等名
      Proc. IEEE/ACM Design Automation Conf.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] A Novel Scheme to Reduce Power Supply Noise for High-Quality At-Speed Scan Testing2007

    • 著者名/発表者名
      X.Wen, K.Miyase, S.Kajihara, T.Suzuki, Y.Yamato, P.Girard, Y.Ohsumi, and L.-T.Wang
    • 学会等名
      Proc.IEEE Int'l Test Conf.
    • 発表場所
      Santa Clara, USA
    • 年月日
      2007-10-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] Estimation of Delay Test Quality and Its Application to Test Generation2007

    • 著者名/発表者名
      S.Kajihara, S.Morishima, M.Yamamoto, X.Wen, M.Fukunaga, K.Hatayama, and T.Aikyo
    • 学会等名
      IEEE/ACM Int'l Conf.on Computer-Aided Design
    • 発表場所
      San Jose, USA
    • 年月日
      2007-11-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] Critical-Path-Aware X-Filling for Effective IR-Drop Reduction in At-Speed Scan Testing2007

    • 著者名/発表者名
      X.Wen, K.Miyase, T.Suzuki, S.Kajihara, Y.Ohsumi, K.K.Saluja
    • 学会等名
      IEEE/ACM Design Automation Conference
    • 発表場所
      San Diego, USA
    • 年月日
      2007-06-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] A Novel Scheme to Reduce Power Supply Noise for High-Quality At-Speed Scan Testing2007

    • 著者名/発表者名
      X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, T. Suzuki, Y. Yamato, P. Girard, Y. Ohsumi, L. -T. Wang
    • 学会等名
      Proc. IEEE Int'l Test Conf.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] A Method for Improving the Bridging Defect Coverage of a Transition Delay Test Set2007

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, X.Wen, S.Kajihara, M.Haraguchi, and H.Furukawa
    • 学会等名
      IEEE Int'l Workshop on Defect Based Testing
    • 発表場所
      Santa Clara, USA
    • 年月日
      2007-10-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] Estimation of Delay Test Quality and Its Application to Test Generation2007

    • 著者名/発表者名
      S. Kajihara, S. Morishima, M. Yamamoto, X. Wen, M. Fukunaga, K. Hatayama, T. Aikyo
    • 学会等名
      Proc. IEEE/ACM Int'l Conf. on Computer-Aided Design
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500047
  • [学会発表] Identification of High Power Consuming Areas with Gate Type and Logic Level Information

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
    • 学会等名
      IEEE European Test Symposium
    • 発表場所
      Cluj-Napoca, Romania
    • 年月日
      2015-05-25 – 2015-05-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24650022
  • [学会発表] Identification of High Power Consuming Areas with Gate Type and Logic Level Information

    • 著者名/発表者名
      K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
    • 学会等名
      IEEE European Test Symposium
    • 発表場所
      Cluj-Napoca, Romania
    • 年月日
      2015-05-25 – 2015-05-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280016
  • 1.  温 暁青 (20250897)
    共同の研究課題数: 10件
    共同の研究成果数: 133件
  • 2.  笹尾 勤 (20112013)
    共同の研究課題数: 7件
    共同の研究成果数: 0件
  • 3.  宮瀬 紘平 (30452824)
    共同の研究課題数: 7件
    共同の研究成果数: 89件
  • 4.  井口 幸洋 (60201307)
    共同の研究課題数: 4件
    共同の研究成果数: 2件
  • 5.  Holst Stefan (40710322)
    共同の研究課題数: 4件
    共同の研究成果数: 15件
  • 6.  大竹 哲史 (20314528)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 7.  Tehranipoor M.
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 1件
  • 8.  Girard P.
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 1件
  • 9.  神田 徳夫 (10099864)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 10.  三宅 庸資 (60793403)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 16件
  • 11.  樹下 行三
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 12.  相京 隆
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 13.  高木 範明
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 14.  浜田 周治
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 15.  羽立 幸司
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 16.  佐藤 康夫
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 13件
  • 17.  中村 芳行
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 3件
  • 18.  Saluja K. K.
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 19.  Keller B.
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 20.  Varma P.
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 21.  Chakravarty K.
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 22.  Wunderlich H.-J.
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 2件
  • 23.  Wang L.-T.
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 1件
  • 24.  Jan M. E.
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

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