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豊田 智史  Toyoda Satoshi

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 20529656
その他のID
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2019年度 – 2023年度: 東北大学, 未来科学技術共同研究センター, 准教授
2016年度: 京都大学, 工学研究科, 助教
2014年度 – 2016年度: 京都大学, 工学(系)研究科(研究院), 助教
審査区分/研究分野
研究代表者
小区分29020:薄膜および表面界面物性関連
研究代表者以外
中区分26:材料工学およびその関連分野 / ナノ材料工学
キーワード
研究代表者
データサイエンス応用 / 深さ方向分布時系列解析 / 雰囲気制御X線光電子分光 / 反応動態計測技術 / Au薄膜/Si基板界面 / オペランド計測 / 正則化法 / 最大エントロピー法 / 深さ方向解析 / 光電子分光 / 表面・界面反応 / 金薄膜 / シリコン半導体 … もっと見る
研究代表者以外
… もっと見る ナノ構造化 / ハロゲン化物 / 高融点 / 共晶体 / 単結晶 / シンチレータ / x線回折 / 固溶体正極 / x線回折 / リチウムイオン電池 / 異常分散 / 固容体正極 / X線回折 / 放射光 / X線異常分散現象 / X線回折 / 高容量系正極材料 / リチウムイオン蓄電池正極材料 隠す
  • 研究課題

    (3件)
  • 研究成果

    (22件)
  • 共同研究者

    (7人)
  •  分野間融合による高特性シンチレータ及び半導体結晶の創製

    • 研究代表者
      横田 有為
    • 研究期間 (年度)
      2021 – 2023
    • 研究種目
      国際共同研究加速基金(国際共同研究強化(B))
    • 審査区分
      中区分26:材料工学およびその関連分野
    • 研究機関
      東北大学
  •  雰囲気制御X線光電子分光を用いたAu薄膜/Si基板における界面反応の動態計測研究代表者

    • 研究代表者
      豊田 智史
    • 研究期間 (年度)
      2019 – 2021
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分29020:薄膜および表面界面物性関連
    • 研究機関
      東北大学
  •  X線回折異常分散微細構造解析によるナノドメイン分散型正極材料の高容量化指針の開拓

    • 研究代表者
      松原 英一郎
    • 研究期間 (年度)
      2014 – 2016
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 研究分野
      ナノ材料工学
    • 研究機関
      京都大学

すべて 2022 2021 2020 2019 2016

すべて 雑誌論文 学会発表

  • [雑誌論文] 時空間分割角度分解APXPS法による多層積層薄膜界面の深さ方向解析2022

    • 著者名/発表者名
      豊田 智史、吉村 真史、住田 弘祐、三根生 晋、町田 雅武、吉越 章隆、 吉川 彰、鈴木 哲、横山 和司
    • 雑誌名

      日本放射光学会誌「放射光」

      巻: 35

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K05269
  • [雑誌論文] X線光電子分光における時空間計測/解析技術の開発~NAP-HARPESから4D-XPSへ~2021

    • 著者名/発表者名
      TOYODA Satoshi、YAMAMOTO Tomoki、YOSHIMURA Masashi、SUMIDA Hirosuke、MINEOI Susumu、MACHIDA Masatake、YOSHIGOE Akitaka、SUZUKI Satoru、YOKOYAMA Kazushi、OHASHI Yuji、KUROSAWA Shunsuke、KAMADA Kei、SATO Hiroki、YAMAJI Akihiro、YOSHINO Masao、HANADA Takashi、YOKOTA Yuui、YOSHIKAWA Akira
    • 雑誌名

      表面と真空

      巻: 64 号: 2 ページ: 86-91

    • DOI

      10.1380/vss.64.86

    • NAID

      130007985448

    • ISSN
      2433-5835, 2433-5843
    • 年月日
      2021-02-10
    • 言語
      日本語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K05269, KAKENHI-PROJECT-20K05338
  • [学会発表] Crystal growth and optical properties of Er-doped La2Hf2O7 by micro-pulling-down method2022

    • 著者名/発表者名
      Naomoto Hayashi, Yuui Yokota, Takahiko Horiai, c, Masao Yoshino, Akihiro Yamaji, Rikito Murakami, Takashi Hanada, Hiroki Sato, Satoshi Toyoda, Yuji Ohashi, Shunsuke Kurosawa, Kei Kamada, Akira Yoshikawa
    • 学会等名
      The 6th International Conference on the Physics of Optical Materials and Devices (ICOM2022)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21KK0082
  • [学会発表] Er添加La2Hf2O7の結晶育成と光学特性2022

    • 著者名/発表者名
      林直志、横田有為、堀合毅彦、山ノ井航平、吉野将生、山路晃広、村上力輝斗、花田貴、佐藤浩樹、豊田智史、大橋雄二、黒澤 俊介、鎌田圭、猿倉信彦、吉川彰
    • 学会等名
      2022年第83回応用物理学会秋季学術講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21KK0082
  • [学会発表] 4D-XPS計測ビッグデータの逆解析による多層積層膜に埋もれた界面の高解像度可視化2021

    • 著者名/発表者名
      豊田 智史、吉村 真史、住田 弘祐、三根生 晋、町田 雅武、吉越 章隆、吉川 彰、鈴木 哲、横山 和司
    • 学会等名
      第69回応用物理学会春季学術講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K05269
  • [学会発表] XPS計測のデジタル化による埋もれた積層薄膜界面の時空間データ解析2021

    • 著者名/発表者名
      豊田 智史、吉村 真史、住田 弘祐、三根生 晋、町田 雅武、吉越 章隆、吉川 彰 、鈴木 哲、横山 和司
    • 学会等名
      人工知能学会第2種研究会計測インフォマティクス研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K05269
  • [学会発表] 4D-XPS計測ビッグデータの順逆解析シミュレーション検証2021

    • 著者名/発表者名
      豊田 智史、吉村 真史、住田 弘祐、三根生 晋、町田 雅武、吉越 章隆、吉川 彰、鈴木 哲、横山 和司
    • 学会等名
      電子デバイス界面テクノロジー研究会(第27回)ー材料・プロセス・デバイス特性の物理ー
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K05269
  • [学会発表] 時空間分割X線光電子分光による界面反応場の計測解析技術開発2021

    • 著者名/発表者名
      豊田 智史
    • 学会等名
      第82回応用物理学会秋季学術講演会
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K05269
  • [学会発表] ゲートスタック界面反応における時分割深さ方向分布解析法の開発: NAP-HARPESから4D-XPSへ2020

    • 著者名/発表者名
      豊田 智史、山本 知樹、吉村 真史、住田 弘祐、三根生 晋、町田 雅武、吉越 章隆、鈴木 哲、横山 和司、大橋 雄二、黒澤 俊介、鎌田 圭、佐藤 浩樹、山路 晃広、吉野 将生、花田 貴、横田 有為、吉川 彰
    • 学会等名
      電子デバイス界面テクノロジー研究会(第26回)ー材料・プロセス・デバイス特性の物理ー
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K05269
  • [学会発表] 多層積層膜に埋もれた界面反応可視化のための4D-XPS計測データ逆解析ソフトウェア開発2020

    • 著者名/発表者名
      豊田 智史、山本 知樹、吉村 真史、住田 弘祐、三根生 晋、町田 雅武、吉越 章隆、吉川 彰、鈴木 哲、横山 和司
    • 学会等名
      第68回応用物理学会春季学術講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K05269
  • [学会発表] 4D-XPS法による多層積層膜に埋もれた界面反応可視化の逆解析シミュレーション検証2020

    • 著者名/発表者名
      豊田 智史、山本 知樹、吉村 真史、住田 弘祐、三根生 晋、町田 雅武、吉越 章隆、鈴木 哲、横山 和司、大橋 雄二、黒澤 俊介、鎌田 圭、佐藤 浩樹、山路 晃広、吉野 将生、花田 貴、横田 有為、吉川 彰
    • 学会等名
      第81回応用物理学会秋季学術講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K05269
  • [学会発表] 時分割角度分解AP-XPS法による多層積層薄膜界面の時空間深さ方向分布解析2020

    • 著者名/発表者名
      豊田 智史、山本 知樹、吉村 真史、住田 弘祐、三根生 晋、町田 雅武、 吉越 章隆、吉川 彰、鈴木 哲、横山 和司
    • 学会等名
      第34回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K05269
  • [学会発表] NAP-HARPESによる多層積層膜界面の深さ方向反応場計測の実現可能性2019

    • 著者名/発表者名
      豊田 智史、山本 知樹、吉村 真史、住田 弘祐、三根生 晋、町田 雅武、吉越 章隆、吉川 彰、鈴木 哲、横山 和司
    • 学会等名
      最先端光電子分光で拓く量子物質科学研究に関するワークショップ
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K05269
  • [学会発表] 雰囲気制御軟X線光電子分光によるAu薄膜/Si基板界面反応の動的観察2019

    • 著者名/発表者名
      豊田 智史、山本 知樹、西 静佳、下出 直幸、吉村 真史、住田 弘祐、三根生 晋、 町田 雅武、鈴木 哲、横山 和司、吉川 彰、富永 亜希、吉越 章隆
    • 学会等名
      電子デバイス界面テクノロジー研究会(第25回)ー材料・プロセス・デバイス特性の物理ー
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K05269
  • [学会発表] X線光電子分光における時空間計測・解析手法の開発 II2019

    • 著者名/発表者名
      豊田 智史、山本 知樹、吉村 真史、住田 弘祐、三根生 晋、町田 雅武、吉越 章隆、吉川 彰、鈴木 哲、横山 和司
    • 学会等名
      第80回応用物理学会秋季学術講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K05269
  • [学会発表] NAP-HARPESによるゲート積層薄膜界面深さ方向プロファイルの動態計測法の開発2019

    • 著者名/発表者名
      豊田 智史、山本 知樹、吉村 真史、住田 弘祐、三根生 晋、町田 雅武、 吉越 章隆、吉川 彰、鈴木 哲、横山 和司
    • 学会等名
      電子デバイス界面テクノロジー研究会(第25回)ー材料・プロセス・デバイス特性の物理ー
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K05269
  • [学会発表] 近大気圧下硬X線角度分解光電子分光を用いた多層積層膜/SiC界面における深さ方向分布の時系列解析2019

    • 著者名/発表者名
      豊田 智史,山本 知樹,吉村 真史,住田 弘祐,三根生 晋,町田 雅武,吉越 章隆,吉川 彰,鈴木 哲,横山 和司
    • 学会等名
      先進パワー半導体分科会 第14回研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K05269
  • [学会発表] NAP-HARPESとMEMの有機的な融合による多層積層膜に埋もれた界面の深さ方向分布動態計測2019

    • 著者名/発表者名
      豊田 智史、山本 知樹、吉村 真史、住田 弘祐、三根生 晋、町田 雅武、 吉越 章隆、吉川 彰、鈴木 哲、横山 和司
    • 学会等名
      第33回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K05269
  • [学会発表] Development of Time-Division Depth-Profiling Techniques in Multi-Layered Dielectric Thin Films by using Near-Ambient-Pressure Hard X-ray Angle-Resolved Photoemission Spectroscopy2019

    • 著者名/発表者名
      Satoshi Toyoda, Tomoki Yamamoto, Masashi Yoshimura, Hirosuke Sumida, Susumu Mineoi, Masatake Machida, Akitaka Yoshigoe, Akira Yoshikawa, Satoru Suzuki, Kazushi Yokoyama
    • 学会等名
      2019 International Workshop on DIELECTRIC THIN FILMS FOR FUTURE ELECTRON DEVICES: SCIENCE AND TECHNOLOGY
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K05269
  • [学会発表] X線光電子分光における時空間計測・解析手法の開発 III2019

    • 著者名/発表者名
      豊田 智史、山本 知樹、吉村 真史、住田 弘祐、三根生 晋、町田 雅武、吉越 章隆、吉川 彰、鈴木 哲、横山 和司
    • 学会等名
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K05269
  • [学会発表] Time series analysis of depth profiles in multi-layered stack-film interfaces studied by near-ambient-pressure hard x-ray angle-resolved photoemission spectroscopy2019

    • 著者名/発表者名
      Satoshi Toyoda, Tomoki Yamamoto, Masashi Yoshimura, Hirosuke Sumida, Susumu Mineoi, Masatake Machida, Akitaka Yoshigoe, Akira Yoshikawa, Satoru Suzuki, Kazushi Yokoyama
    • 学会等名
      International Conference on Materials and Systems for Sustainability
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K05269
  • [学会発表] 絶縁体物質界面電気二重層の非接触解析:表面電荷反転XPS法による誘電分極と界面分極の分離2016

    • 著者名/発表者名
      豊田智史,福田勝利,菅谷英生,森田将史,中田明良,内本喜晴,松原英一郎
    • 学会等名
      放射光学会
    • 発表場所
      東京大学柏の葉キャンパス
    • 年月日
      2016-01-09
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26246007
  • 1.  松原 英一郎 (90173864)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 1件
  • 2.  河口 智也 (00768103)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 3.  横田 有為 (60517671)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 2件
  • 4.  市坪 哲 (40324826)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 5.  水木 純一郎 (90354977)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 6.  大石 昌嗣 (30593587)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 7.  吉野 将生 (30789938)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 2件

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