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大和 勇太  YAMATO Yuta

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 20707244
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2013年度 – 2015年度: 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教
審査区分/研究分野
研究代表者以外
計算機システム
キーワード
研究代表者以外
ディペダブル・コンピューティング / ディペンダブル・コンピューティング / 計算機システム / 組み込みメモリ / IRドロップ / 組み込み自己テスト / LSI信頼性
  • 研究課題

    (1件)
  • 研究成果

    (12件)
  • 共同研究者

    (2人)
  •  LSIライフサイクル全般の信頼性向上のための組込み自己テストに関する研究

    • 研究代表者
      井上 美智子
    • 研究期間 (年度)
      2013 – 2015
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      奈良先端科学技術大学院大学

すべて 2016 2015 2014 2013 その他

すべて 学会発表

  • [学会発表] 重み付きランダムパターンとリシードを組み合わせた組込み自己テスト手法2016

    • 著者名/発表者名
      里中 沙矢香, 米田 友和, 大和 勇太, 井上 美智子
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      機械振興会館(東京都港区)
    • 年月日
      2016-02-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] ゼロ遅延論理シミュレーションに基づく遅延故障インジェクション環境2016

    • 著者名/発表者名
      川崎 真司, 米田 友和, 大和 勇太, 井上 美智子
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      機械振興会館(東京都港区)
    • 年月日
      2016-02-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] Reliability enhancement of embedded memory with combination of aging-aware adaptive in-field self-repair and ECC2016

    • 著者名/発表者名
      Gian Mayuga, Yuta Yamato, Tomokazu Yoneda, Yasuo Sato and Michiko Inoue
    • 学会等名
      the 21st IEEE European Test Symposium
    • 発表場所
      Amsterdam, The Netherlands
    • 年月日
      2016-05-24
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] An ECC-Based memory architecture with online self-repair capabilities for reliability enhancement2015

    • 著者名/発表者名
      Gian Mayuga, Yuta Yamato, Tomokazu Yoneda, Yasuo Sato and Michiko Inoue
    • 学会等名
      the 20th IEEE European Test Symposium
    • 発表場所
      Cluj-Napoca, Romania
    • 年月日
      2015-05-25
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] メモリの隣接パタン依存故障テストに対するバックグラウンド列の生成2015

    • 著者名/発表者名
      上岡真也, 米田友和, 大和勇太, 井上美智子
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      福江文化会館(長崎県五島市)
    • 年月日
      2015-12-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] Memory block based scan-BIST architecture for application-dependent FPGA testing2014

    • 著者名/発表者名
      Keita Ito, Tomokazu Yoneda, Yuta Yamato, Kazumi Hatayama, Michiko Inoue
    • 学会等名
      ACM/SIGDA International Symposium on Field-Programmable Gate Arrays
    • 発表場所
      Monterey, California, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] Reliability of ECC-based memory architectures with online self-repair capabilities2014

    • 著者名/発表者名
      Gian Mayuga, Yuta Yamato, Tomokazu Yoneda, Yasuo Sato and Michiko Inoue
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      高岡テクノドーム(富山県高岡市)
    • 年月日
      2014-12-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] FPGA向けアプリケーション依存テストのための効率的なスキャンBISTアーキテクチャ2013

    • 著者名/発表者名
      伊藤 渓太, 米田 友和, 大和 勇太, 畠山 一実, 井上 美智子
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      石川県七尾市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] Efficient scan-based BIST architecture for application-dependent FPGA test2013

    • 著者名/発表者名
      Keita Ito, Tomokazu Yoneda, Yuta Yamato, Kazumi Hatayama, Michiko Inoue
    • 学会等名
      The Forteenth Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      台湾・宜蘭
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] An online repair strategy and reliability for ECC-Based memory architectures

    • 著者名/発表者名
      Gian Mayuga, Yuta Yamato, Tomokazu Yoneda, Yasuo Sato and Michiko Inoue
    • 学会等名
      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Hangzhou, China
    • 年月日
      2014-11-19 – 2014-11-20
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] Parallel path delay fault simulation for multi/many-core processors with SIMD units

    • 著者名/発表者名
      Yussuf Ali, Yuta Yamato, Tomokazu Yoneda, Kazumi Hatayama, Michiko Inoue
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symposium
    • 発表場所
      Hangzhou, China
    • 年月日
      2014-11-16 – 2014-11-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] An ECC-Based memory architecture with online self-repair capabilities for reliability enhancement

    • 著者名/発表者名
      Gian Mayuga, Yuta Yamato, Tomokazu Yoneda, Yasuo Sato and Michiko Inoue
    • 学会等名
      IEEE European Test Symposium
    • 発表場所
      Cluj-Napoca, Romania
    • 年月日
      2015-05-25 – 2015-05-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • 1.  井上 美智子 (30273840)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 12件
  • 2.  米田 友和 (20359871)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 12件

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