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下山 宏  SHIMOYAMA Hiroshi

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 30023261
外部サイト
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 1992年度 – 1993年度: 名城大学, 理工学部, 教授
1991年度: 名古屋大学, 工学部, 助教授
1986年度 – 1989年度: 名古屋大学, 工学部, 助教授
審査区分/研究分野
研究代表者
物理計測・光学
研究代表者以外
電子機器工学 / 物理計測・光学
キーワード
研究代表者
磁界重畳型電子銃 / 電子レンズ / 減速レンズ / 加速レンズ / 静電レンズ / 電子銃 / 磁界放畳型電子銃 / 電界放出電子銃 / 低加速電子銃 / 元素分布像 … もっと見る / 信号演算処理 / STEM / 電位コントラスト / 電子ビームテスティング / 低加速SEM … もっと見る
研究代表者以外
ノイズ除去 / 走査透過電子顕微鏡 / SN比 / 電界放出電子銃 / Noise elimination / Specific contrast / Electron signal manipulation / Digital processing system / Inelastically scattered electron / Elastically scattered electron / Scanning transmission electron microscopy / 量子検出効率 / 非弾性散乱 / 弾性散乱 / デコンボリュ-ション処理 / 特殊コントラスト / 電子信号間演算 / ディジタル処理システム / 非弾性散乱電子 / 弾性散乱電子 / Image processing / Manipulation among signal electrons / Signal electron detection / Specimen damage / High resolution observation / Field emission electron gun / High voltage STEM / 信号演算処理 / 信号間演算処理 / YAG単結晶シンチレータ / 像のSN比 / 信号電子演算 / 高解像度電子顕微鏡観察 / 画像処理 / 信号電子間演算 / 信号電子検出法 / 試料損傷 / 高解像度観察 / 超高圧走査透過電子顕微鏡 / Recolution / Scanning Transmission Election Microscopy (STEM) / Electron Probe / Foil Lend / Correction / Shperical aberration / Electron lens / 球面収差補正 / 分解能 / 走査透過電子顕微鏡(STEM) / 電子プローブ / 薄膜レンズ / 収差補正 / 球面収差 / 電子レンズ / Decelerating Lens / Accelerating Lens / Magnetic-Field-Superimposed Electron Gun / Field Emission Gun / Loe Voltage Electron Gun / Electron Gum / 超高真空 / 減速レンズ / 加速レンズ / 磁界重畳型電子銃 / 低加速電子銃 / 電子銃 隠す
  • 研究課題

    (5件)
  • 共同研究者

    (7人)
  •  磁界重畳型電界放出電子銃の装備による超低加速電子線プローブ応用装置の超高性能化研究代表者

    • 研究代表者
      下山 宏
    • 研究期間 (年度)
      1991 – 1993
    • 研究種目
      一般研究(A)
    • 研究分野
      物理計測・光学
    • 研究機関
      名城大学
      名古屋大学
  •  走査透過電子顕微鏡における弾性・非弾性散乱信号のオンライン・ディジタル演算処理

    • 研究代表者
      日比野 倫夫
    • 研究期間 (年度)
      1988 – 1989
    • 研究種目
      試験研究
    • 研究分野
      電子機器工学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  試料損傷のない高解像度電子顕微鏡観察法の研究

    • 研究代表者
      日比野 倫夫
    • 研究期間 (年度)
      1987 – 1989
    • 研究種目
      一般研究(A)
    • 研究分野
      物理計測・光学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  高性能低加速電子銃の開発に関する研究

    • 研究代表者
      丸勢 進
    • 研究期間 (年度)
      1986 – 1987
    • 研究種目
      試験研究
    • 研究分野
      物理計測・光学
    • 研究機関
      名古屋大学
  •  球面収差補正用薄膜レンズを用いた走査透過電子顕微鏡の高分解能化に関する研究

    • 研究代表者
      日比野 倫夫
    • 研究期間 (年度)
      1986 – 1987
    • 研究種目
      試験研究
    • 研究分野
      電子機器工学
    • 研究機関
      名古屋大学
  • 1.  日比野 倫夫 (40023139)
    共同の研究課題数: 5件
    共同の研究成果数: 0件
  • 2.  花井 孝明 (00156366)
    共同の研究課題数: 5件
    共同の研究成果数: 0件
  • 3.  内川 嘉樹 (20023260)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 0件
  • 4.  杉山 せつ子 (00115586)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 0件
  • 5.  丸勢 進 (20022981)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 6.  大江 俊美 (30076632)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 7.  池田 晋 (20076623)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

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