石井秀司 ISHI Hideshi

研究者番号	30251466
外部サイト
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2011年度: 立命館大学, 総合科学技術研究機構, チェアプロフェッサー 2010年度 – 2011年度: 立命館大学, 総合理工学研究機構, チェアプロフェッサー 2006年度: 京大, 工学(系)研究科(研究院), 助手 2006年度: 京都大学, 工学研究科, 助手(18年4月まで) 2003年度 – 2005年度: 京都大学, 工学研究科, 助手 1996年度 – 2002年度: 東京大学, 生産技術研究所, 助手
審査区分/研究分野	研究代表者工業分析化学 / 分析化学研究代表者以外工業分析化学 / 分析化学
キーワード	研究代表者光電子回折 / シンクロトロン放射 / XAFS / リアルタイム測定 / 薄膜構造 / 界面 / 表面 / X線 / エピタキシャル薄膜 / Growth of Films … もっと見る / Epitaxial Films / Sychrotorn Radiation / Structure Analysis / Oxide Thin Films / Chemical State / Interface of Thin Films / Pjotoelectron Diffraction / 酸化物 / 絶縁体界面 / 金属 / 光電子回析 / 薄膜成長 / 構造解析 / 酸化物薄膜 / 化学状態 / 薄膜界面構造 / 放射光 / 超軟X線 / 大気圧測定 / 軽元素 / リチウム / 光触媒リスク評価 / SEM / 9V乾電池小型X線源 / EXEFS / 金属シリサイド半導体 / 有効電荷 / 蛍光X線 / Cu-K励起 / 高耐圧アナライザー / 高分解能蛍光X線分光 / シリサイド半導体 / X線吸収微細構造 / 乾電池X線発生装置 / 化学状態分析 / 高エネルギー光電子検出 / 光電子解析 / マイクロX線光電子回折 / マルチエネルギー測定 / 強力X線 / 光電子ホログラフィー / ガリウム収束イオンビーム / 収束イオンビーム加工 / 二次イオン質量分析 / オージェ電子回折 / X線光電子回折 / マルチエネルギー強力X線光源 / 表面構造 / 薄膜界面 / 集束イオンビーム加工 / 表面構造解析 / 電子アナライザー / 光電子分光 … もっと見る研究代表者以外 Cu / High accurate cross-sectioning of sample / Analytical reliability / Multi-elements detection / Elemental analysis with high spatial resolution / Nano-scale tree-dimensional analysis / Secondary ion mass spectrometry / Gallium focused ion beam / Ultra fine ion beam / 環境微粒子 / 機能性粉体材料 / 機能性工業材料 / 精密試料断面加工 / 分析信頼性 / 多元素同時検出 / 高空間分解能元素分布解析 / ナノスケール三次元分析法 / 二次イオン質量分析法 / ガリウム収束イオンビーム / 超細束イオンビーム / Photoelectron Holography / Ge (111) / Tensor XPED / Surface alloy / Surfactant Epitaxy / Real time XPED / Photoelectron Diffraction / Gu / 光電子ホログラフィー / Ge(111)系 / tensor XPED / 表面合金化プロセス / 表面変性エピタキシー / XPED時間分解測定 / X線光電子回折 / Li電池 / ボロン化合物 / Liイオン電池 / 放射光科学 / XAFS / 軽元素 / 軟X線分光 / 計測工学 / 分析科学 / 状態分析 / ナノ粒子 / 光触媒 / 酸化チタン / エアロゾル / 毒性評価 / 化学状態分析 / SEM 隠す

リチウムから炭素の軽元素の大気圧XAFS測定分析手法の開発研究代表者
- 研究代表者
  
  石井秀司
- 研究期間 (年度)
  2011 – 2012
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  分析化学
- 研究機関
  立命館大学
超ソフトX線分光分析法の開拓
- 研究代表者
  
  渡辺巖 (渡邊巖)
- 研究期間 (年度)
  2008 – 2010
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  分析化学
- 研究機関
  立命館大学
高分解能蛍光X線およびX線光電子分光による金属シリサイドの電子状態分析研究代表者
- 研究代表者
  
  石井秀司
- 研究期間 (年度)
  2005 – 2006
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  分析化学
- 研究機関
  京都大学
走査型電子顕微鏡を用いたX線CTによるナノ粒子断面イメージング法の開発
- 研究代表者
  
  河合潤
- 研究期間 (年度)
  2005 – 2006
- 研究種目
  
  萌芽研究
- 研究分野
  
  分析化学
- 研究機関
  京都大学
高エネルギーX線光電子回折による埋もれた界面のリアルタイム構造評価法の開発研究代表者
- 研究代表者
  
  石井秀司
- 研究期間 (年度)
  2003 – 2004
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  分析化学
- 研究機関
  京都大学
X線光電子回折によるマイクロ領域のリアルタイム表面構造評価法の開発研究代表者
- 研究代表者
  
  石井秀司
- 研究期間 (年度)
  2001 – 2002
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  工業分析化学
- 研究機関
  東京大学
X線光電子回折法を用いた収束イオンビーム加工断面の表層領域損傷評価研究代表者
- 研究代表者
  
  石井秀司
- 研究期間 (年度)
  1999 – 2000
- 研究種目
  
  奨励研究(A)
- 研究分野
  
  工業分析化学
- 研究機関
  東京大学
超細束イオンビームを用いた工業材料のナノスケール三次元分析装置の試作研究
- 研究代表者
  
  二瓶好正
- 研究期間 (年度)
  1999 – 2000
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  工業分析化学
- 研究機関
  東京大学
界面構造解析・制御による薄膜成長プロセスの動的キャラクタリゼーション
- 研究代表者
  
  二瓶好正
- 研究期間 (年度)
  1998 – 1999
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  工業分析化学
- 研究機関
  東京大学
光電子回折による金属/絶縁体薄膜界面反応プロセスの研究研究代表者
- 研究代表者
  
  石井秀司
- 研究期間 (年度)
  1997 – 1998
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  工業分析化学
- 研究機関
  東京大学
高角度分解光電子回折のオンライン解析システムに関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  石井秀司
- 研究期間 (年度)
  1996
- 研究種目
  
  奨励研究(A)
- 研究分野
  
  工業分析化学
- 研究機関
  東京大学

すべて 2013 2012 2011 2010 2007 2006 2005

すべて雑誌論文学会発表

[雑誌論文] Charge compensation mechanisms in Li_<1.16>Ni_<0.15>Co_<0.19>Mn_<0.50>O_2 positive electrode material for Li-ion batteries analyzed by a combination of hard and soft X-ray absorption near edge structure2013
- 著者名/発表者名
  M. Oishi, T. Fujimoto, Y. Takanashi, Y. Orikasa, A. Kawamura, T. Ina, H. Yamashige, D. Takamatsu, K. Sato, H. Murayama, H. Tanida, H. Arai, H. Ishii, C. Yogi, I. Watanabe, T. Ohta, A. Mineshige, Y. Uchimoto, Z. Ogumi
- 雑誌名
  
  Journal of Power Sources
  
  巻: 222 ページ: 45-51
- DOI
  10.1016/j.jpowsour.2012.08.023
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-11J01074, KAKENHI-PROJECT-23550107
[雑誌論文] Partial Fluorescence Yield XAFS Measurements in Lower Soft X-Ray Region by Using Large-Caliber Silicon Drift Detector2012
- 著者名/発表者名
  C. Yogi, H. Ishii, K. Nakairishi, I. Watanabe, K. Kojima, T. Ohta
- 雑誌名
  
  Adv. X-Ray Chem. Anal., Japan
  
  巻: 43 ページ: 147-152
- NAID
  40019263023
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23550107
[雑誌論文] Near-edge X-ray absorption fine structure study of vertically aligned carbon nanotubes grown by the surface decomposition of SiC2012
- 著者名/発表者名
  Takahiro Maruyama, Yuki Ishiguro, Shigeya Naritsuka, Wataru Norimatsu, Michiko Kusunoki, Kenta Amemiya, Hideshi Ishii, Toshiaki Ohta (T. Maruyama)
- 雑誌名
  
  Jpn. J. Appl. Phys.
  
  巻: 51 号: 5R ページ: 55102-55102
- DOI
  10.1143/jjap.51.055102
- NAID
  40019280423
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21510119, KAKENHI-PROJECT-23550107
[雑誌論文] Pyroelectric X-ray application to X-ray adsorption and emission spectroscopies2012
- 著者名/発表者名
  Jun Kawai, Hideshi Ishii, Hiroyuki Ida
- 雑誌名
  
  X-ray Spectrum
  
  巻: 41 号: 4 ページ: 216-218
- DOI
  10.1002/xrs.2406
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23550107
[雑誌論文] Size Effect of Au Nanoparticles on TiO_2 Crystalline Phase of Nanocomposite Thin Films and Their Photocatalytic Properties2011
- 著者名/発表者名
  C.Yogi, K.Kojima, T.Hashishin, N.Wada, Y.Inada, E.D.Gaspera, M.Bersani, A.Martucci, L.Liu, T.K.Sham
- 雑誌名
  
  J.Phys.Chem.C 115
  
  ページ: 6554-6560
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20550088
[雑誌論文] Fabrication of a compact transfer vessel system for anerobic samples at BL-2 and BL-102010
- 著者名/発表者名
  K.Nakanishi
- 雑誌名
  
  MEMOIRES OF THE SR CENTER, Ritsumeikan University
  
  巻: 12 ページ: 161-163
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20550088
[雑誌論文] XAFSによる微粒子の化学状態分析2007
- 著者名/発表者名
  松本諭, 石井秀司, 田辺晃生, 河合潤
- 雑誌名
  
  鉄と鋼 93
  
  ページ: 132-137
- NAID
  110006164995
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17655032
[雑誌論文] X-ray Absorption Fine Structure Measurement with a 9 V Electric Battery X-ray Emitter2006
- 著者名/発表者名
  S.Mitsuya, H.Ishii, J.Kawai
- 雑誌名
  
  Appl.Phys.Lett 89
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17655032
[雑誌論文] 酸化チタン光触媒粒子リスク評価のための個別粒子分析2006
- 著者名/発表者名
  石井秀司, 松本諭, 松井康人, 寺田靖子, 田邊晃生, 内山巌雄, 河合潤
- 雑誌名
  
  環境科学会誌 19
  
  ページ: 209-216
- NAID
  10019246652
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17655032
[雑誌論文] 水素吸蔵合金のSEM-EDXによる元素分布分析2006
- 著者名/発表者名
  武田匡史, 石井秀司, 田辺晃生, 河合潤
- 雑誌名
  
  X線分析の進歩 37
  
  ページ: 273-279
- NAID
  40007459876
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17655032
[雑誌論文] シリコンドリフトX線検出器による走査電子顕微鏡でのSEM-EDX2006
- 著者名/発表者名
  石井秀司, 河合潤
- 雑誌名
  
  X線分析の進歩 37
  
  ページ: 281-288
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17655032
[雑誌論文] Sulfur chemical state analysis of diesel emissions of vehicles using X-ray absorption2006
- 著者名/発表者名
  S.Matsumoto, Y.Tanaka, H.Ishii, T.Tanabe, Y.Kitajima, J.Kawai
- 雑誌名
  
  Spectrochim.Acta, Part B 61
  
  ページ: 991-994
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17655032
[雑誌論文] Si Kα chemical shift and charge state of Si in metal silicides2005
- 著者名/発表者名
  Hideshi ISHII
- 雑誌名
  
  J.Surf.Anal. 12
  
  ページ: 277-281
- NAID
  40007162384
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17550079
[雑誌論文] 乾電池X線発生装置による米・米ぬかの蛍光X線分析2005
- 著者名/発表者名
  石井秀司
- 雑誌名
  
  分析化学 54
  
  ページ: 321-324
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17550079
[雑誌論文] 乾電池X線発生装置による環境標準試料の蛍光X線分析2005
- 著者名/発表者名
  石井秀司
- 雑誌名
  
  X線分析の進歩 36
  
  ページ: 225-234
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15750064
[雑誌論文] SEM-EDX-SR-XRF-XANES2005
- 著者名/発表者名
  河合潤, 石井秀司
- 雑誌名
  
  J.Surf.Anal. 12
  
  ページ: 384-389
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17655032
[雑誌論文] Investigation of individual micrometer-size Kosa particle with on-site combination of electron microscope and synchrotron X-ray microscope2005
- 著者名/発表者名
  Y.Tanaka, Y.Taniguchi, D.Tanaka, M.Toyoda, H.Ishii, T.Tanabe, Y.Terada, S.Hayakawa, J.Kawai
- 雑誌名
  
  Anal.Sci. 21
  
  ページ: 839-843
- NAID
  10016579472
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17655032
[雑誌論文] Black-body approximation to the continuous X-ray spectra2005
- 著者名/発表者名
  J.Kawai, H.Ishii
- 雑誌名
  
  Spectrochim.Acta, Part B 60
  
  ページ: 1586-1591
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17655032
[雑誌論文] マルチエネルギー強力X線光源強度の加速電圧依存性とその経時変化2005
- 著者名/発表者名
  石井秀司
- 雑誌名
  
  X線分析の進歩 36
  
  ページ: 293-301
- NAID
  40006919967
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15750064
[雑誌論文] Effective charge on silicon atom in metal silicides, Mg_2Si and CaSi2005
- 著者名/発表者名
  Hideshi ISHII
- 雑誌名
  
  Phys.Rev. B71
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17550079
[雑誌論文] 乾電池X線発生装置による環境標準試料の蛍光X線分析2005
- 著者名/発表者名
  石井秀司
- 雑誌名
  
  X線分析の進歩 36,
  
  ページ: 225-234
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17550079
[雑誌論文] X-ray Absorption Spectrum Analysis with a 9V Battery X-ray Generator2005
- 著者名/発表者名
  Hideshi ISHII
- 雑誌名
  
  Anal.Sci. 21
  
  ページ: 783-784
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17550079
[学会発表] Study of local structure and optical properties of luminescent YBO_3:Eu^<3+> by using X-ray absorption fine structure spectroscopy2010
- 著者名/発表者名
  A.Nishimura
- 学会等名
  The 2010 International Chemical Congress of Pacific Basin Societies
- 発表場所
  Honolulu(USA)
- 年月日
  2010-12-18
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20550088
[学会発表] 立命館大学SRセンターUltra Soft XASビームラインの高度化とXAFS測定2010
- 著者名/発表者名
  石井秀司
- 学会等名
  第13回XAFS討論会
- 発表場所
  立命館大学(滋賀)
- 年月日
  2010-09-04
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20550088
[学会発表] 立命館大学SRセンターUltra Soft XASビームラインの高度化とXAFS測定2010
- 著者名/発表者名
  石井秀司
- 学会等名
  第13回XAFS討論会
- 発表場所
  立命館大学(滋賀県)
- 年月日
  2010-09-04
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20550088
[学会発表] Study of local structure and optical properties of luminescent YBO_3 : Eu^<3+> by using X-ray absorption fine structure spectroscopy2010
- 著者名/発表者名
  A.Nishimura
- 学会等名
  The 2010 International Chemical Congress of Pacific Basin Societies
- 発表場所
  Honolulu, USA
- 年月日
  2010-12-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20550088

1. 二瓶好正 (10011016)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
2. 渡辺巖 (50028239)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
3. 小島一男 (30131311)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 1件
4. 尾張真則 (70160950)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
5. 坂本哲夫 (20313067)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
6. 河合潤 (60191996)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 9件
7. 丸山隆浩

共同の研究課題数: 0件

共同の研究成果数: 1件
8. 成塚重弥

共同の研究課題数: 0件

共同の研究成果数: 1件

石井 秀司 ISHI Hideshi

研究課題

研究成果

共同研究者

リチウムから炭素の軽元素の大気圧XAFS測定分析手法の開発研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

超ソフトX線分光分析法の開拓

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

高分解能蛍光X線およびX線光電子分光による金属シリサイドの電子状態分析研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

走査型電子顕微鏡を用いたX線CTによるナノ粒子断面イメージング法の開発

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

高エネルギーX線光電子回折による埋もれた界面のリアルタイム構造評価法の開発研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

X線光電子回折によるマイクロ領域のリアルタイム表面構造評価法の開発研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

X線光電子回折法を用いた収束イオンビーム加工断面の表層領域損傷評価研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

超細束イオンビームを用いた工業材料のナノスケール三次元分析装置の試作研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

界面構造解析・制御による薄膜成長プロセスの動的キャラクタリゼーション

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

光電子回折による金属/絶縁体薄膜界面反応プロセスの研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

高角度分解光電子回折のオンライン解析システムに関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[雑誌論文] Charge compensation mechanisms in Li_<1.16>Ni_<0.15>Co_<0.19>Mn_<0.50>O_2 positive electrode material for Li-ion batteries analyzed by a combination of hard and soft X-ray absorption near edge structure2013

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Partial Fluorescence Yield XAFS Measurements in Lower Soft X-Ray Region by Using Large-Caliber Silicon Drift Detector2012

著者名/発表者名

雑誌名

NAID

データソース

石井秀司 ISHI Hideshi