宮瀬紘平 Miyase Kohei

研究者番号	30452824
その他のID
所属 (現在)	2025年度: 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 准教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2016年度 – 2024年度: 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 准教授 2013年度 – 2015年度: 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 助教 2012年度 – 2014年度: 九州工業大学, 情報工学研究院, 助教 2012年度: 九州工業大学, その他の研究科, 助教 2010年度 – 2012年度: 九州工業大学, 大学院・情報工学研究院, 助教 2011年度: 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 助教
審査区分/研究分野	研究代表者計算機システム / 小区分60040:計算機システム関連 / 計算機システム・ネットワーク研究代表者以外計算機システム / 計算機システム・ネットワーク / 小区分60040:計算機システム関連 / 身体教育学
キーワード	研究代表者 LSIテスト / LSI設計 / 消費電力解析 / VLSI設計技術 / LSIの消費電力解析 / LSIの消費電力 / LSI設計技術研究代表者以外 IR-Drop / LSIテスト / 低電力テスト … もっと見る / シフトエラー / シフト電力 / LSI回路 / 誤テスト / テスト電力 / スキャンテスト / 高信頼化 / 高品質化 / 活性化パス / 微小遅延故障 / 遅延テスト / テスト電力調整 / 計算機システム / ディペンダブル・コンピューティング / 欠陥検出設計 / 欠陥影響最小化設計 / 欠陥影響定量化 / 欠陥 / 耐ソフトエラー記憶素子 / ディペンダブル・コンピュー / ディペンダブル・コンピュータ / グルーピング / テストクロック / シフトタイミング / 電子デバイス・機器 / 運動学習 / 上下動 / ステップ頻度 / ステップ長 / センサー / フラット着地 / 地面反力 / ランニングフォーム / 市民ランナー / クロックパス / パス遅延 / 信号値遷移 / 誤テスト回避 / テスト電力制御 / クロック / マスク回路 / 入力遷移 / テスト電力安全性 / テスト生成 / テストデータ変更 / クロックストレッチ / IR-Dop / キャプチャ電力 / テストデータ / テスト品質 / 最適電力テスト / クロックスキュー / スキャンテスト電力 / (1)ディペンダブル・コンピューティング / VLSIの設計とテスト / 高信頼設計 / 論理回路 / システムオンチップ / VLSI の設計とテスト隠す

高信頼LSI創出のための欠陥考慮型耐ソフトエラー技術に関する研究
- 研究代表者
  
  温暁青
- 研究期間 (年度)
  2021 – 2024
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  九州工業大学
SoCの設計期間短縮を可能にする高速高精度消費電力解析技術に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  宮瀬紘平
- 研究期間 (年度)
  2020 – 2024
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  九州工業大学
最先端LSIの電源供給信号線の欠陥に対するテスト・診断手法に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  宮瀬紘平
- 研究期間 (年度)
  2017 – 2019
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  九州工業大学
高品質な低電力LSI創出に貢献するシフト電力安全型スキャンテスト方式に関する研究
- 研究代表者
  
  温暁青
- 研究期間 (年度)
  2017 – 2020
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  九州工業大学
市民ランナーの安全で効率良いランニングフォーム学習支援システムの構築
- 研究代表者
  
  得居雅人
- 研究期間 (年度)
  2016 – 2018
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  身体教育学
- 研究機関
  九州共立大学
次世代低電力LSI創出のための誤テスト回避型高品質テスト方式に関する研究
- 研究代表者
  
  温暁青
- 研究期間 (年度)
  2015 – 2017
- 研究種目
  
  挑戦的萌芽研究
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  九州工業大学
体内埋込み型医療機器向けLSI回路のための極低電力自己テスト方式に関する研究
- 研究代表者
  
  温暁青
- 研究期間 (年度)
  2013 – 2017
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  九州工業大学
先端LSIテスト手法に対応した設計フロー最適化に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  宮瀬紘平
- 研究期間 (年度)
  2013 – 2015
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  九州工業大学
高品質・低コストＬＳＩの創出に貢献する論理スイッチング均衡型テストに関する研究
- 研究代表者
  
  温暁青
- 研究期間 (年度)
  2012 – 2014
- 研究種目
  
  挑戦的萌芽研究
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  九州工業大学
高速LSIの信号伝搬速度検査対象経路の正確性および網羅性向上に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  宮瀬紘平
- 研究期間 (年度)
  2011 – 2012
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  九州工業大学
次世代低消費電力LSI回路のための電力調整型テスト方式に関るす研究
- 研究代表者
  
  温暁青
- 研究期間 (年度)
  2010 – 2012
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  九州工業大学
VLSIの高品質フィールドテストに関する研究
- 研究代表者
  
  梶原誠司
- 研究期間 (年度)
  2009 – 2012
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  九州工業大学

[雑誌論文] Probability of Switching activity to Locate Hotspots in Logic Circuits2021
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qian
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. on Inf. & Syst.
  
  巻: E104-D
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[雑誌論文] Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation2016
- 著者名/発表者名
  F. Li, X. Wen, K. Miyase, S. Holst, S. Kajihara
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
  
  巻: E99.A 号: 12 ページ: 2310-2319
- DOI
  10.1587/transfun.E99.A.2310
- NAID
  130005170516
- ISSN
  0916-8508, 1745-1337
- 言語
  英語
- 査読あり / 謝辞記載あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016, KAKENHI-PROJECT-15K12003, KAKENHI-PROJECT-15K12004
[雑誌論文] LCTI-SS: Low-Clock-Tree-Impact Scan Segmentation for Avoiding Shift Timing Failures in Scan Testing2013
- 著者名/発表者名
  Y. Yamato, X. Wen, M. A. Kochte, K. Miyase, S. Kajihara, L.-T. Wang
- 雑誌名
  
  IEEE Design & Test of Computers
  
  巻: Vol. 30, No. 4 号: 4 ページ: 60-70
- DOI
  10.1109/mdt.2012.2221152
- NAID
  120005895737
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022, KAKENHI-PROJECT-25280016
[雑誌論文] A Capture-Safety Checking Metric Based on Transition-Time-Relation for At-Speed Scan Testing2013
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, R. Sakai, X. Wen, Xiaoqing, M. Aso, H. Furukawa, Y. Yamato, S. Kajihara
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems
  
  巻: E96.D 号: 9 ページ: 2003-2011
- DOI
  10.1587/transinf.E96.D.2003
- NAID
  130003370989
- ISSN
  0916-8532, 1745-1361
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022, KAKENHI-PROJECT-25280016
[雑誌論文] A GA-Based X-Filling for Reducing Launch Switching Activity toward Specific Objectives in At-Speed Scan Testing2011
- 著者名/発表者名
  Y.Yamato, X.Wen, R.Miyase, H.Furukawa, S.Kajihara
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems
  
  巻: E94-D 号: 4 ページ: 833-840
- DOI
  10.1587/transinf.E94.D.833
- NAID
  10029506602
- ISSN
  0916-8532, 1745-1361
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[雑誌論文] Distribution-Controlled X-Identification for Effective Reduction of Launch-Induced IR-Drop in At-Speed Scan Testing2011
- 著者名/発表者名
  K.Miyase, K.Noda, H.Ito, K.Hatayama, T.Aikyo, Y.Yamato, H.Furukawa, X.Wen, S.Kaiihara
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems
  
  巻: E94.D 号: 6 ページ: 1216-1226
- DOI
  10.1587/transinf.E94.D.1216
- NAID
  10029805011
- ISSN
  0916-8532, 1745-1361
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[雑誌論文] Distribution-Controlled X-Identification for Effective Reduction of Launch-Induced IR-Drop in At-Speed Scan Testing2011
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, K. Noda, H. Ito, K. Hatayama, T. Aikyo, Y. Yamato, H. Furukawa, X. Wen, and S. Kajihara
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. Inf. & Syst.
  
  巻: Vol. E94-D, No. 6 ページ: 1216-1226
- NAID
  10029805011
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[雑誌論文] On Delay Test Quality for Test Cubes2010
- 著者名/発表者名
  S. Oku, S. Kajihara, Y. Sato, K. Miyase, X. Wen
- 雑誌名
  
  IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology
  
  巻: 3 ページ: 283-291
- DOI
  10.2197/ipsjtsldm.3.283
- NAID
  110009599095
- ISSN
  1882-6687
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] On Estimation of NBTI-Induced Delay Degradation2010
- 著者名/発表者名
  M.Noda, S.Kajihara, Y.Sato, K.Miyase, X.Wen, Y.Miura
- 雑誌名
  
  Proc.of 5th IEEE European Test Symposium
  
  ページ: 107-111
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] A Study of Capture-Safe Test Generation Flow for At-Speed Testing2010
- 著者名/発表者名
  K.Miyase, X.Wen, S.Kajihara, Y.Yamato, A.Takashima, H.Furukawa, K.Noda, N.Ito, K.Hatayama, T.Aikyo, K.Saluja
- 雑誌名
  
  IEICE Trans.Inf.& Syst.
  
  巻: E93-A ページ: 1309-1318
- NAID
  10027367482
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[雑誌論文] High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing Using CTX: A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme2010
- 著者名/発表者名
  Kohei Miyase, Xiaoqing Wen, Hiroshi Furukawa, Yuta Yamato, Seiji Kajihara, (他3名)
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems
  
  巻: E93-D 号: 1 ページ: 2-9
- DOI
  10.1587/transinf.E93.D.2
- NAID
  10026812940
- ISSN
  0916-8532, 1745-1361
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] A Study of Capture-Safe Test Generation Flow for At-Speed Testing2010
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, X. Wen, S. Ka j ihara, Y. Yamato, A. Takashima, H. Furukawa, K. Noda, H. Ito, K. Hatayama, T. Aikyo, and K. K. Saluja
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. Inf. & Syst.
  
  巻: Vol. E93-A, No. 7 ページ: 1309-1318
- NAID
  10027367482
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[雑誌論文] On Test Pattern Compaction with Multi-Cycle and Multi-Observation Scan Test2010
- 著者名/発表者名
  Seiji Kajihara, Makoto Matsuzono, Hisato Yamaguchi, Yasuo Sato, Kohei Miyase, Xiaoqing Wen
- 雑誌名
  
  Int. Symp. on Communications and Information Technologies
  
  ページ: 723-726
- DOI
  10.1109/iscit.2010.5665084
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] On Delay Test Quality for Test Cubes2010
- 著者名/発表者名
  S.Oku, S.Kajihara, Y.Sato, K.Miyase, X.Wen
- 雑誌名
  
  IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology
  
  巻: Vol.3 ページ: 283-291
- NAID
  130000418476
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] On Test Pattern Compaction with Multi-Cycle and Multi-Observation Scan Test2010
- 著者名/発表者名
  S.Kajihara, M.Matsuzono, H.Yamaguchi, Y.Sato, K.Miyase, X.Wen
- 雑誌名
  
  Proc.of 10th International Symposium on Communications and Information Technologies
  
  ページ: 723-726
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing using CTX : A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme2010
- 著者名/発表者名
  K.Miyase, X.Wen, H.Furukawa, Y.Yamato, S.Kajihara, P.Girard, L.-T.Wang, M.Tehranipoor
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems Vol.E93-D
  
  ページ: 2-9
- NAID
  10026812940
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] On Estimation of NBTI-Induced Delay Degradation2010
- 著者名/発表者名
  M. Noda, S. Kajihara, Y. Sato, K. Miyase, X. Wen, Y. Miura
- 雑誌名
  
  15thIEEE European Test Symp
  
  ページ: 107-111
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] On Calculation of Delay Range in Fault Simulation for Test Cubes2009
- 著者名/発表者名
  S.KAJIHARA, S.OKU, K.MIYASE, X.WEN, Y.SATO
- 雑誌名
  
  Proc.of International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test
  
  ページ: 64-67
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] A GA-Based Method for High-Quality X-Filling to Reduce Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2009
- 著者名/発表者名
  Yuta Yamato, Xiaoqing Wen, Kohei Miyase, Hiroshi Furukawa, Seiji Kajihara
- 雑誌名
  
  IEEE 15th Pacific Rim Int. Symp. on Dependable Computing
  
  ページ: 81-86
- DOI
  10.1109/prdc.2009.21
- NAID
  120006784394
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] A Novel Post-ATPG IR-Drop Reduction Scheme for At-Speed Scan Testing in Broadcast-Scan-Based Test Compression Environment2009
- 著者名/発表者名
  Kohei Miyase, (他7名)
- 雑誌名
  
  Int. Conf. on ComputerAided Design
  
  ページ: 97-104
- DOI
  10.1145/1687399.1687420
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] CAT : A Critical-Area-Targeted Test Set Modification Scheme for Reducing Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2009
- 著者名/発表者名
  K.Enokimoto, X.Wen, Y.Yamato, K.Miyase, H.Sone, S.Kajihara, M.Aso, H.Furukawa
- 雑誌名
  
  Proc.of Asian Test Symposium
  
  ページ: 99-104
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] A GA-Based Method for High-Quality X-Filling to Reduce Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2009
- 著者名/発表者名
  Y.Yamato, X.Wen, K.Miyase, H.Furukawa, S.Kajihara
- 雑誌名
  
  Proc.of IEEE 15th Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing
  
  ページ: 81-86
- NAID
  120006784394
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] A Novel Post-ATPG IR-Drop Reduction Scheme for At-Speed Scan Testing in Broadcast-Scan-Based Test Compression Environment2009
- 著者名/発表者名
  K.Miyase, Y.Yamato, K.Noda, H.Ito, K.Hatayama, T.Aikyo, X.Wen, S.Kajihara
- 雑誌名
  
  Proc.of International Conference on Computer-Aided Design
  
  ページ: 97-104
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[雑誌論文] CAT: A Critical-Area-Targeted Test Set Modification Scheme for Reducing Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing2009
- 著者名/発表者名
  Kazunari Enokimoto, Xiaoqing Wen, Yuta Yamato, Kohei Miyase, Hiroaki Sone, Seiji Kajihara(他2名)
- 雑誌名
  
  Proc. Asian Test Symp
  
  ページ: 99-104
- DOI
  10.1109/ats.2009.22
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] 論理回路の分岐再収斂構造解析による高消費電力エリア特定に関する研究2024
- 著者名/発表者名
  山下友哉，宮瀬紘平，温暁青
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告（DC研究会）
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K11736
[学会発表] 回路情報を用いた入力パターンによって異なる高消費電力エリア特定に関する研究2024
- 著者名/発表者名
  章子晗，山下友哉，宮瀬紘平，温暁青
- 学会等名
  第88回FTC研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K11736
[学会発表] 論理回路内のホットスポット特定手法とテストパターンごとに異なるホットスポットの評価に関する研究2023
- 著者名/発表者名
  宇都宮大喜, 宮瀬紘平, 星野龍, ルーシュエクン, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  DC研究会（電子情報通信学会）
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K11736
[学会発表] Effective Switching Probability Calculation to Locate Hotspots in Logic Circuits2022
- 著者名/発表者名
  Taiki Utsunomiya, Ryu Hoshino, Kohei Miyase, Shyue-Kung Lu, Xiaoqing Wen, and Seiji Kajihara
- 学会等名
  IEEE International Test Conference in Asia
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K11736
[学会発表] 信号値遷移確率を用いた高消費電力エリア特定技術の計算処理評価に関する研究2022
- 著者名/発表者名
  星野龍, 宇都宮大喜, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告, DC2021-73, pp. 51-56
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K11736
[学会発表] Effective Switching Probability Calculation to Locate Hotspots in Logic Circuits2022
- 著者名/発表者名
  T. Utsunomiya, R. Hoshino, K. Miyase, S.-K. Lu, X. Wen, and S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE Int'l Test Conf. in Asia
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K21653
[学会発表] Evaluation of Power Consumption with Logic Simulation and Placement Information for At-Speed Testing2021
- 著者名/発表者名
  Taiki Utsunomiya, Kohei Miyase, Ryu Hoshino, Shyue-Kung Lu, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
- 学会等名
  Digest. of IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K11736
[学会発表] LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究2020
- 著者名/発表者名
  史傑, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  信学技報, Vol. 119, No. 420, DC2019-94
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Probability of Switching activity to Locate Hotspots in Logic Circuits2020
- 著者名/発表者名
  R. Oba, K. Miyase, R. Hoshino, S.-K. Lu, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Probability of Switching Activity to Locate Hotspots in Logic Circuits2020
- 著者名/発表者名
  Ryo Oba, Kohei Miyase, Ryu Hoshino, Shyue-Kung Lu, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
- 学会等名
  Digest. of IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K11736
[学会発表] LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究2020
- 著者名/発表者名
  大庭涼, 星野龍, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告, vol. 120, no. 236, DC2020-33, pp. 12-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K11736
[学会発表] メモリのサイズおよび形状に起因するロジック部の高消費電力エリア特定に関する研究2020
- 著者名/発表者名
  高藤大輝, 星野龍, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告, DC2020-72
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究2020
- 著者名/発表者名
  大庭涼, 星野竜, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  信学技報, Vol. 120, No. 236, DC2020-33
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] メモリのサイズおよび形状に起因するロジック部の高消費電力エリア特定に関する研究2020
- 著者名/発表者名
  高藤大輝, 星野龍, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告, DC2020-72, pp. 18-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K11736
[学会発表] メモリ搭載LSIに対するロジック部の消費電力解析に関する研究2020
- 著者名/発表者名
  児玉優也, 宮瀬紘平, 高藤大輝, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  信学技報, Vol. 119, No. 420, DC2019-93
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究2020
- 著者名/発表者名
  史傑, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  信学技報, vol. 119, no. 420, DC2019-94, pp. 49-54
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K00081
[学会発表] メモリ搭載LSIに対するロジック部の消費電力解析に関する研究2020
- 著者名/発表者名
  児玉優也, 宮瀬紘平, 高藤大輝, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  信学技報, vol. 119, no. 420, DC2019-93, pp. 43-48
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K00081
[学会発表] LSIのホットスポット分布の解析に関する研究2019
- 著者名/発表者名
  河野雄大, 宮瀬紘平, 呂學坤, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティン研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] A Static Method for Analyzing Hotspot Distribution on the LSI2019
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, Y. Kawano, S.-K. Lu, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE Int'l Test Conf. in Asia
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption2019
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qian
- 学会等名
  第11回LSIテストセミナー
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] A Static Method for Analyzing Hotspot Distribution on the LSI2019
- 著者名/発表者名
  Kohei Miyase, Yudai Kawano, Shyue-Kung Lu, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
- 学会等名
  IEEE International Test Conference in Asia
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K00081
[学会発表] Clock-Skew-Aware Scan Chain Grouping for Mitigating Shift Timing Failures in Low-Power Scan Testing2018
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, X. Wen, S. Holst, K. Miyase, S. Kajihara, H.-J. Wunderlich, J. Qian
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symposium
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Progressive ECC Techniques for Phase Change Memory2018
- 著者名/発表者名
  Shyue-Kung Lu, Hui-Ping Li, and Kohei Miyase
- 学会等名
  2018 IEEE 27th Asian Test Symposium
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K00081
[学会発表] 正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究2018
- 著者名/発表者名
  河野雄大, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  DC研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K00081
[学会発表] Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption2018
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qian
- 学会等名
  第17 回情報科学技術フォーラム
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] 正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究2018
- 著者名/発表者名
  河野雄大, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会DC研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Analysis and Mitigation of IR-Drop Induced Scan Shift-Errors2017
- 著者名/発表者名
  S. Holst, E. Schneiderz, H. Kawagoe, M. A. Kochtez, K. Miyase, H.-J. Wunderlichz, S. Kajihara, X. Wen
- 学会等名
  Proc. of IEEE Int'l Test Conf.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Locating Hot Spot with Justification Techniques in a Layout Design2017
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, Y. Kawano, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] 電源ネットワークに対するIR-Dropの影響範囲特定に関する研究2017
- 著者名/発表者名
  宮瀬紘平, 濱崎機一, ザウアーマティアス, ポリアンイリア, ベッカーベルンド, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会 DC研究会
- 発表場所
  東京都
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Analysis and Mitigation of IR-Drop Induced Scan Shift-Errors2017
- 著者名/発表者名
  S. Holst, E. Schneider, H. Kawagoe, M. A. Kochtez, K. Miyase, H.-J. Wunderlichz, S. Kajihara, X. Wen
- 学会等名
  IEEE Int'l Test Conf.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] ランニングフォームに対する動作解析システムに関する研究2017
- 著者名/発表者名
  池松宅磨、松原健人、ホルストシュテファン、宮瀬紘平、得居雅人
- 学会等名
  第７８回ＦＴＣ研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16K01644
[学会発表] Locating Hot Spot with Justification Techniques in a Layout Design2017
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, Y. Kawano, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  Proc. of IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption2017
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qia
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] On Avoiding Test Data Corruption by Optimal Scan Chain Grouping2017
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qian
- 学会等名
  第181回SLDM・第46回EMB合同研究発表会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Locating Hot Spot with Justification Techniques in a Layout Design2017
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, Y. Kawano, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] 高品質実速度スキャンテスト生成に関する研究2017
- 著者名/発表者名
  宮崎俊紀、温暁青、ホルストシュテファン、宮瀬紘平、梶原誠司
- 学会等名
  第9回LSIテストセミナー
- 発表場所
  福岡市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Locating Hot Spot with Justification Techniques in a Layout Design2017
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, Y. Kawano, X. Wen, and S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K00081
[学会発表] Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption2017
- 著者名/発表者名
  Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, J. Qian
- 学会等名
  Proc. of IEEE Asian Test Symp.
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01716
[学会発表] Formal Test Point Insertion for Region-based Low-Capture-Power Compact At-Speed Scan Test2016
- 著者名/発表者名
  S. Eggersgluess, S. Holst, D. Tillex, K. Miyase, X. Wen
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Hiroshima, Japan
- 年月日
  2016-11-21
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] SAT-Based Post-Processing for Regional Capture Power Reduction in At-Speed Scan Test Generation2016
- 著者名/発表者名
  S. Eggersgluess, K. Miyase, X. Wen
- 学会等名
  IEEE European Test Symp.
- 発表場所
  Amsterdam, The Netherlands
- 年月日
  2016-05-23
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] Formal Test Point Insertion for Region-based Low-Capture-Power Compact At-Speed Scan Test2016
- 著者名/発表者名
  S. Eggersgluess, S. Holst, D. Tillex, K. Miyase, X. Wen
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Hiroshima, Japan
- 年月日
  2016-11-24
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation2016
- 著者名/発表者名
  F. Li, X. Wen, S. Holst, K. Miyase, S. Kajihara
- 学会等名
  Int'l Symp. on Applied Engineering and Sciences
- 発表場所
  Kitakyushu, Japan
- 年月日
  2016-12-17
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] On Optimal Power-Aware Path Sensitization2016
- 著者名/発表者名
  M. Sauer, J. Jiang, S. Reimer, K. Miyase, X. Wen, B. Becker, I. Polian
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Hiroshima, Japan
- 年月日
  2016-11-24
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] On Optimal Power-Aware Path Sensitization2016
- 著者名/発表者名
  M. Sauer, J. Jiang, S. Reimer, K. Miyase, X. Wen, B. Becker, I. Polian
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Hiroshima, Japan
- 年月日
  2016-11-21
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] SAT-Based Post-Processing for Regional Capture Power Reduction in At-Speed Scan Test Generation2016
- 著者名/発表者名
  S. Eggersgluess, K. Miyase, X. Wen
- 学会等名
  IEEE European Test Symp.
- 発表場所
  Amsterdam, The Netherlands
- 年月日
  2016-05-23
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation2016
- 著者名/発表者名
  F. Li, X. Wen, S. Holst, K. Miyase, S. Kajihara
- 学会等名
  Int'l Symp. on Applied Engineering and Sciences
- 発表場所
  Kitakyushu, Japan
- 年月日
  2016-12-17
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Identification of High Power Consuming Areas with Gate Type and Logic Level Information2015
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE European Test Symp.
- 発表場所
  Cluj-Napoca, Romania
- 年月日
  2015-05-28
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K12003
[学会発表] Logic/Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation for Avoiding False Capture Failures and Reducing Clock Stretch2015
- 著者名/発表者名
  K. Asada, X. Wen, S. Holst, K. Miyase, S. Kajihara, M. A. Kochte, E. Schneider, H.-J. Wunderlich, J. Qian
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Bombay, India
- 年月日
  2015-11-24
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] レイアウトデータを用いたテスト時の高消費電力エリア特定手法に関する研究2015
- 著者名/発表者名
  宮瀬紘平, ザウアーマティアス, ベッカーベルンド, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京：機械振興会館
- 年月日
  2015-06-16
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25730031
[学会発表] Identification of High Power Consuming Areas with Gate Type and Logic Level Information2015
- 著者名/発表者名
  Kohei Miyase, Matthias Sauer, Bernd Becker, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
- 学会等名
  European Test Symposium
- 発表場所
  ルーマニア
- 年月日
  2015-05-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25730031
[学会発表] A Soft-Error Tolerant TCAM Using Partial Don’t-Care Keys2015
- 著者名/発表者名
  I. Syafalni, T. Sasao, X. Wen, S. Holst, K. Miyase
- 学会等名
  IEEE European Test Symp.
- 発表場所
  Cluj-Napoca, Romania
- 年月日
  2015-11-05
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Identification of High Power Consuming Areas with Gate Type and Logic Level Information2015
- 著者名/発表者名
  Kohei Miyase, Matthias Sauer, Bernd Becker, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
- 学会等名
  European Test Symposium 2015
- 発表場所
  ルーマニア　クルージュ・ナポカ
- 年月日
  2015-05-26
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25730031
[学会発表] On Guaranteeing Capture Safety in At-Speed Scan Testing With Broadcast-Scan-Based Test Compression2013
- 著者名/発表者名
  K. Enokimoto, X. Wen, K. Miyase, J.-L. Huang, S. Kajihara, L.-T. Wang
- 学会等名
  26th Intl. Conf. on VLSI Design
- 発表場所
  Pune, India
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Controllability Analysis of Local Switching Activity for Layout Design2013
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  Workshop on Design and Test Methodologies for Emerging Technologies
- 発表場所
  Avignon, France
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[学会発表] Controllability Analysis of Local Switching Activity for Layout Design2013
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  Workshop on Design and Test Methodologies for Emerging Technologies
- 発表場所
  Avignon, France
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Controllability Analysis of Local Switching Activity for Layout Design2013
- 著者名/発表者名
  Kohei Miyase, Matthias Sauer, Bernd Becker, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
- 学会等名
  South European Test Seminar 2013
- 発表場所
  オーストリア
- 年月日
  2013-02-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700061
[学会発表] ロジック BIST のキャプチャ電力安全性に関する研究2013
- 著者名/発表者名
  冨田明宏, 温暁青, 宮瀬紘平, 梶原誠司
- 学会等名
  第68回 FTC 研究会
- 発表場所
  秋田市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] Search Space Reduction for Low-Power Test Generation2013
- 著者名/発表者名
  Kohei Miyase, Matthias Sauer, Bernd Becker, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
- 学会等名
  Asian Test Symposium
- 発表場所
  台湾
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25730031
[学会発表] Search Space Reduction for Low-Power Test Generation2013
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Yilan, Taiwan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[学会発表] On Guaranteeing Capture Safety in At-Speed Scan Testing With Broadcast-Scan-Based Test Compression2013
- 著者名/発表者名
  K. Enokimoto, X. Wen, K. Miyase, J.-L. Huang, S. Kajihara, and L.-T. Wang
- 学会等名
  Proc. 26th Intl. Conf. on VLSI Design
- 発表場所
  Pune, India
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Search Space Reduction for Low-Power Test Generation2013
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  Yilan, Taiwan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] マルチサイクル BIST におけるスキャン出力の電力低減手法2012
- 著者名/発表者名
  王森レイ,佐藤康夫,梶原誠司,宮瀬紘平
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告
- 発表場所
  福岡市
- 年月日
  2012-11-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] New Test Partition Approach for Segmented Testing with Lower System Failure Rate2012
- 著者名/発表者名
  S.Wang, S.Kajihara, Y.Sato, K.Miyase, Xiaoqing Wen
- 学会等名
  第66回FTC研究会
- 発表場所
  大分県ホテルソラージュ大分・日出
- 年月日
  2012-01-19
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究2012
- 著者名/発表者名
  宮瀬紘平, 梶原誠司, 温暁青
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告
- 発表場所
  福岡市
- 年月日
  2012-11-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] New Test Partition Approach for Rotating Test with Lower Rate2012
- 著者名/発表者名
  S.Wang, S.Kajihara, Y.Sato, K.Miyase, X.Wen
- 学会等名
  FTC研究会
- 発表場所
  日本大分県
- 年月日
  2012-01-19
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Estimation of the Amount of Don't-Care Bits in Test Vectors2012
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, S. Kajihara, X. Wen
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  Niigata, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] On Pinpoint Capture Power Management in At-Speed Scan Test Generation2012
- 著者名/発表者名
  X. Wen, Y. Nishida, K. Miyase, S. Kajihara, P. Girard, M. Tehranipoor, L.-T. Wang
- 学会等名
  IEEE Int'l Test Conf.
- 発表場所
  Anaheim, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[学会発表] New Test Partition Approach for Segmented Testing with Lower System Failure Rate2012
- 著者名/発表者名
  Senling Wang, Seiji Kajihara, Yasuo Sato, Kohei Miyase, Xiaoqing Wen
- 学会等名
  第66回 FTC 研究会
- 発表場所
  大分
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] 実速度スキャンテストにおける高品質なキャプチャ安全性保障型テスト生成について2012
- 著者名/発表者名
  西田優一郎, 温暁青, 工藤雅幸, 宮瀬紘平, 梶原誠司
- 学会等名
  FTC研究会
- 発表場所
  日本大分県
- 年月日
  2012-01-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] A Novel Capture-Safety Checking Method for Multi-Clock Designs and Accuracy Evaluation with Delay Capture Circuits2012
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, M. Aso, R. Ootsuka, X. Wen, H. Furukawa, Y. Yamato, K, Enokimoto, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE VLSI Test Symp.
- 発表場所
  Hawaii, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Estimation of the Amount of Don' t-Care Bits in Test Vectors2012
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, S. Kajihara, and X. Wen
- 学会等名
  Proc. IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  Niigata, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] A Novel Capture-Safety Checking Method for Multi-Clock Designs and Accuracy Evaluation with Delay Capture Circuits2012
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, M. Aso, R. Ootsuka, X. Wen, H. Furukawa, Y. Yamato, K, Enokimoto, and S. Kajihara
- 学会等名
  Proc. IEEE VLSI Test Symp.
- 発表場所
  Hawaii, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法2011
- 著者名/発表者名
  田中広彬, 宮瀬紘平, 榎元和成, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告　vol. 111, no. 435, DC2011-78
- 発表場所
  東京
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700061
[学会発表] Additional Path Delay Fault Detection with Adaptive Test Data2011
- 著者名/発表者名
  Kohei Miyase, Hiroaki Tanaka, Kazunari Enokimoto, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  インド
- 年月日
  2011-11-25
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700061
[学会発表] Additional Path Delay Fault Detection with Adaptive Test Data2011
- 著者名/発表者名
  K.Miyase, H.Tanaka, K.Enokimoto, X.Wen, S.Kajihara
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  Jaipur, India
- 年月日
  2011-11-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Power Reduction Through X-filling of Transition Fault Test Vectors for LOS Testing2011
- 著者名/発表者名
  F.Wu, L.Dilillo, A.Bosio, P.Girard, S.Pravossoudovitch, A.Virazel, M.Tehranipoor, K.Miyase, X.Wen, N.Ahmed
- 学会等名
  6th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
- 発表場所
  Athens, Grace
- 年月日
  2011-04-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Mapping Test Power to Functional Power Through Smart X-Filling for LOS Scheme2011
- 著者名/発表者名
  F.Wu, L.Dilillo, A.Bosio, P.Girard, M.Tehranipoor, K.Miyase, X.Wen, N.Ahmed
- 学会等名
  IEEE Intl.Workshop on Impact of Low-Power design on Test and Reliability
- 発表場所
  Trodheim, Norway
- 年月日
  2011-05-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] A Novel Scan Segmentation Design Method for Avoiding Shift Timing Failure in Scan Testing2011
- 著者名/発表者名
  Y. Yamato, X. Wen, M. A. Kochte, K. Miyase, S. Ka j ihara, and L. -T. Wang
- 学会等名
  Proc. IEEE Intl. Test Conf.
- 発表場所
  Anaheim, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] SAT-based Capture-Power Reduction for At-Speed Broadcast-Scan-Based Test Compression Architectures2011
- 著者名/発表者名
  M.A.Kochte, K.Miyase, X.Wen, S.Kajihara, Y.Yamato, K.Enokimoto, H.-J.Wunderlich
- 学会等名
  IEEE International Symposium on Low Power Electronics and Design
- 発表場所
  Fukuoka, Japan
- 年月日
  2011-08-01
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Power-Aware Test Pattern Generation for At-Speed LOS Testing2011
- 著者名/発表者名
  A.Bosio, L.Dilillo, P.Girard, A.Todri, A.Virazel, K.Miyase, X.Wen
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symposium
- 発表場所
  New Delhi, India
- 年月日
  2011-11-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] 実速度テストに対する品質考慮ドントケア判定2011
- 著者名/発表者名
  河野潤, 宮瀬紘平, 榎元和成, 大和勇太, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  第64回FTC研究会
- 発表場所
  岐阜県恵那市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] 実速度テストに対する品質考慮ドントケア判定2011
- 著者名/発表者名
  河野潤, 宮瀬紘平,榎元和成,大和勇太,温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  第64回FTC研究会
- 発表場所
  恵那市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] SAT-based Capture-Power Reduction for At-Speed Broadcast-Scan-Based Test Compression Architectures2011
- 著者名/発表者名
  M. A. Kochte, K. Miyase, X. Wen, S. Ka j ihara, Y. Yamato, K. Enokimoto, and H.-J. Wunderlich
- 学会等名
  Proc. IEEE Intl. Symp. on Low Power Electronics and Design
- 発表場所
  Fukuoka, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Additional Path Delay Fault Detection with Adaptive Test Data2011
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, H. Tanaka, K. Enokimoto, X. Wen, and S. Kajihara
- 学会等名
  Proc. IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  Jaipur, India
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Efficient BDD-based Fault Simulation in Presence of Unknown Values2011
- 著者名/発表者名
  M.A.Kochte, S.Rundu, K.Miyase, X.Wen, H.-J.Wunderlich
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symposium
- 発表場所
  New Delhi, India
- 年月日
  2011-11-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Effective Launch Power Reduction for Launch-Off-Shift Scheme with Adjacent-Probability-Based X-Filling2011
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, U. Uchinodan, K. Enokimoto, Y. Yamato, X. Wen, S. Kajihara, F. Wu, L. Dilillo, A. Bosio, and P. Girard
- 学会等名
  Proc. IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  New Delhi, India
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法2011
- 著者名/発表者名
  田中広彬、宮瀬紘平、榎元和成、温暁青、梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告、Vol.111、No.435、DC2011-78
- 発表場所
  機械振興会館(東京)
- 年月日
  2011-02-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700061
[学会発表] Power-Aware Test Generation with Guaranteed Launch Safety for At-Speed Scan Testing2011
- 著者名/発表者名
  X.Wen, K.Enokimoto, K.Miyase, Y.Yamato, M.Kochte, S.Kajihara, P.Girard, M.Tehranipoor
- 学会等名
  IEEE VLSI Test Symposium
- 発表場所
  Dana Point, USA
- 年月日
  2011-05-03
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Effective Launch Power Reduction for Launch-Off-Shift Scheme with Adjacent-Probability-Based X-Filling2011
- 著者名/発表者名
  K.Miyase, U.Uchinodan, K.Enokimoto, Y.Yamato, X.Wen, S.Kajihara, F.Wu, L.Dilillo, A.Bosio, P.Girard
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symposium
- 発表場所
  New Delhi, India
- 年月日
  2011-11-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Power-Aware Test Generation with Guaranteed Launch Safety for At-Speed Scan Testing2011
- 著者名/発表者名
  X. Wen, K. Enokimoto, K. Miyase, Y. Yamato, M. Kochte, S. Ka j ihara, P. Girard, and M. Tehranipoor
- 学会等名
  Proc. IEEE VLSI Test Symp.
- 発表場所
  Dana Point, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] Efficient BDD-based Fault Simulation in Presence of Unknown Values2011
- 著者名/発表者名
  M. A. Kochte, S. Kundu, K. Miyase, X. Wen, and H. -J. Wunderlich
- 学会等名
  Proc. IEEE Asian Test Symp.
- 発表場所
  New Delhi, India
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] 3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について2010
- 著者名/発表者名
  奥慎治, 梶原誠司, 佐藤康夫, 宮瀬紘平, 温暁青
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京都
- 年月日
  2010-02-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] A Path Selection Method for Delay Test Targeting Transistor Aging2010
- 著者名/発表者名
  M.Noda, S.Kajihara, Y.Sato, K.Miyase, X.Wen, Y.Miura
- 学会等名
  IEEE International Workshop on Reliability Aware System Design and Test
- 発表場所
  Bangalore, India
- 年月日
  2010-01-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] X-Identification of Transition Delay Fault Tests for Launch-off Shift Scheme2010
- 著者名/発表者名
  K.Miyase, F.Wu, L.Dilillo, A.Bosio, P.Girard, X.Wen, S.Kajihara
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  Shanghai, China
- 年月日
  2010-12-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] A Path Selection Method for Delay Test Targeting Transistor Aging2010
- 著者名/発表者名
  Mitsumasa Noda, Seiji Kajihara, Yasuo Sato, Kohei Miyase, Xiaoqing Wen, Yukiya Miura
- 学会等名
  Digest of IEEE International Workshop on Reliability Aware System Design and Test
- 発表場所
  Bangalore, India
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] 3 値テストパターンに対する遅延テスト品質計算と X 割当について2010
- 著者名/発表者名
  奥慎治, 梶原誠司, 佐藤康夫 ,宮瀬紘平, 温暁青
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2010-02-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] Low-Capture-Power Post-Processing Test Vectors for Test Compression Using SAT Solver2010
- 著者名/発表者名
  K K.Miyase, M.A.Kochte, X.Wen, S.Kajihara, H.-J.Wunderlich
- 学会等名
  IEEE Workshop on Defect and Date Driven Testing
- 発表場所
  Austin, USA
- 年月日
  2010-11-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] A Novel Scan Segmentation Design Method for Avoiding Shift Timing Failure in Scan Testing2010
- 著者名/発表者名
  Y.Yamato, X.Wen, M.A.Kochte, K.Miyase, S.Kajihara, L.-T.Wang
- 学会等名
  IEEE International Test Conference
- 発表場所
  Anaheim, USA
- 年月日
  2010-09-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22300017
[学会発表] 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化2010
- 著者名/発表者名
  宮瀬紘平, 中村優介, 大和勇太, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京都
- 年月日
  2010-02-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化2010
- 著者名/発表者名
  宮瀬紘平, 中村優介, 大和勇太, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2010-02-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] フィールドテストにおける巡回テストとテスト集合印加順序について2010
- 著者名/発表者名
  広実一輝, 梶原誠司, 佐藤康夫, 宮瀬紘平, 温暁青
- 学会等名
  第62回FTC研究会
- 発表場所
  岡山県総社市
- 年月日
  2010-01-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] フィールドテストにおける巡回テストとテスト集合印加順序について2010
- 著者名/発表者名
  広実一輝, 梶原誠司, 佐藤康夫, 宮瀬紘平, 温暁青
- 学会等名
  第62回FTC研究会
- 発表場所
  総社市
- 年月日
  2010-01-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] X-Identification According to Required Distribution for Industrial Circuits2009
- 著者名/発表者名
  I.Beppu, K.Miyase, Y.Yamato, X.Wen
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing,
- 発表場所
  Hong Kong
- 年月日
  2009-11-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] ブロードキャストスキャン圧縮環境下における実速度テストに対するIR-Drop削減Post-ATPG手法2009
- 著者名/発表者名
  宮瀬紘平, 大和勇太, 埜田健治, 伊藤秀昭, 畠山一実, 相京隆, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  第61回FTC研究会
- 発表場所
  三重県多気郡大台町
- 年月日
  2009-07-18
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究2009
- 著者名/発表者名
  別府厳,宮瀬紘平,大和勇太,温暁青,梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告
- 発表場所
  高知市
- 年月日
  2009-10-04
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] 劣化検知テストにおけるパス選択について2009
- 著者名/発表者名
  野田光政, 梶原誠司, 佐藤康夫, 宮瀬紘平, 温暁青, 三浦幸也
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  高知市
- 年月日
  2009-12-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究2009
- 著者名/発表者名
  別府厳, 宮瀬紘平, 大和勇太, 温暁青, 梶原誠司
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  高知市
- 年月日
  2009-12-04
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] 劣化検知テストにおけるパス選択について2009
- 著者名/発表者名
  野田光政, 梶原誠司, 佐藤康夫, 宮瀬紘平, 温暁青, 三浦幸也
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告
- 発表場所
  高知市
- 年月日
  2009-10-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] Optimizing the Percentage of X-Bits to Reduce Switching Activity2009
- 著者名/発表者名
  I.Beppu, K.Miyase, Y.Yamato, X.Wen, S.Kajihara
- 学会等名
  IEEE International Workshop on Defect and Data Driven Testing
- 発表場所
  Austin, TX, USA
- 年月日
  2009-11-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] ブロードキャストスキャン圧縮環境下における実速度テストに対する IR-Drop 削減Post-ATPG 手法2009
- 著者名/発表者名
  宮瀬紘平, (他7名)
- 学会等名
  第61回FTC研究会
- 発表場所
  三重県大台町
- 年月日
  2009-07-18
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] X-Identification According to Required Distribution for Industrial Circuits2009
- 著者名/発表者名
  Isao Beppu, Kohei Miyase, Yuta Yamato, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  Hong, Kong
- 年月日
  2009-10-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] Optimizing the Percentage of X-Bits to Reduce Switching Activity2009
- 著者名/発表者名
  Isao Beppu, Kohei Miyase, Yuta Yamato, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
- 学会等名
  IEEE International Workshop on Defect and Data Driven Testing
- 発表場所
  USA
- 年月日
  2009-10-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] Identification of High Power Consuming Areas with Gate Type and Logic Level Information
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE European Test Symposium
- 発表場所
  Cluj-Napoca, Romania
- 年月日
  2015-05-25 – 2015-05-29
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[学会発表] A Soft-Error Tolerant TCAM Using Partial Don’t-Care Keys
- 著者名/発表者名
  I. Syafalni, T. Sasao, X. Wen, S. Holst, K. Miyase
- 学会等名
  IEEE European Test Symposium
- 発表場所
  Cluj-Napoca, Romania
- 年月日
  2015-05-25 – 2015-05-29
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[学会発表] ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究
- 著者名/発表者名
  宮瀬紘平
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  福岡市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21300015
[学会発表] Identification of High Power Consuming Areas with Gate Type and Logic Level Information
- 著者名/発表者名
  K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
- 学会等名
  IEEE European Test Symposium
- 発表場所
  Cluj-Napoca, Romania
- 年月日
  2015-05-25 – 2015-05-29
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280016
[学会発表] Soft-Error Tolerant TCAMs for High-Reliability Packet Classification
- 著者名/発表者名
  I. Syafalni, T. Sasao, X. Wen, S. Holst, K. Miyase
- 学会等名
  IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems
- 発表場所
  Ishigaki Island, Japan
- 年月日
  2014-11-17 – 2014-11-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24650022
[学会発表] Controllability of Analysis of Local Switching Activity for Layout Design
- 著者名/発表者名
  Kohei Miyase, Matthias Sauer, Bernd Becker, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
- 学会等名
  Workshop on Design and Test Methodologies for Emerging Technologies
- 発表場所
  フランス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25730031

1. 梶原誠司 (80252592)

共同の研究課題数: 7件

共同の研究成果数: 89件
2. 温暁青 (20250897)

共同の研究課題数: 7件

共同の研究成果数: 107件
3. Holst Stefan (40710322)

共同の研究課題数: 4件

共同の研究成果数: 16件
4. Tehranipoor M.

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
5. Girard P.

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
6. 得居雅人 (00227571)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 1件
7. 小木曽一之 (20249808)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
8. 樹下行三

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
9. 相京隆

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
10. 高木範明

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
11. 浜田周治

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
12. 羽立幸司

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
13. Saluja K. K.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
14. Keller B.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
15. Varma P.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
16. Chakravarty K.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
17. Wunderlich H.-J.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 1件
18. Wang L.-T.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
19. Jan M. E.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件

宮瀬 紘平 Miyase Kohei

研究課題

研究成果

共同研究者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

SoCの設計期間短縮を可能にする高速高精度消費電力解析技術に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

最先端LSIの電源供給信号線の欠陥に対するテスト・診断手法に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

先端LSIテスト手法に対応した設計フロー最適化に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

高速LSIの信号伝搬速度検査対象経路の正確性および網羅性向上に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[雑誌論文] Probability of Switching activity to Locate Hotspots in Logic Circuits2021

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation2016

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

ISSN

言語

データソース

宮瀬紘平 Miyase Kohei