谷城康眞 TANISHIRO Yasumasa

… 別表記

谷城康真 TANISHIRO Masaetsu

研究者番号	40143648
その他のID
外部サイト
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2010年度 – 2011年度: 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 助教 2006年度: 東京工業大学, 大学院理工学研究科, 助手 2001年度 – 2005年度: 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 助手 1998年度: 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 助手 1991年度 – 1997年度: 東京工業大学, 理学部, 助手 1986年度 – 1988年度: 東京工業大学, 理学部, 助手
審査区分/研究分野	研究代表者表面界面物性 / 応用物性・結晶工学研究代表者以外結晶学 / 固体物性Ⅰ(光物性・半導体・誘電体) / ナノ構造科学 / 金属物性 / 物理系 / 表面界面物性 / 応用物性
キーワード	研究代表者 SOI / CaF_2 / RHEED / epitaxial growth / surface and interface / silicon / シリコン / Si / 表面界面物性 / 電気伝導 … もっと見る / 表面加工 / 原子付加 / 超イオン伝導体 / STM … もっと見る研究代表者以外 STM / シリコン表面 / 表面再配列構造 / 表面構造 / 走査トンネル顕微鏡 / 吸着構造 / 電子顕微鏡 / 結晶成長 / 高分解能・超高真空電子顕微鏡 / 超高真空電子顕微鏡 / 金 / 走査型トンネル顕微鏡 / 表面 / 表面電子顕微鏡 / REM / SPA-LEED / 反射電顕法 / その場観察 / Gold cluster / Si(111)7x7 / reconstructed surface structure / high-resolution UHV electron microscope / シリコン / 真空蒸着 / ヘテロエピタクシャル成長 / 超高真空・高分解能電子顕微鏡法 / シリコン-金属吸着構造 / シリコンー金属吸着構造 / 金属微粒子の構造 / Hydrogen on Si / Oxygen on Si / Si Surfaces / Reflection Electron Mictoscpy / Surface Electron Mictoscpy / 反射電子顕微法 / Si(III)表面 / ガス吸着 / 低温表面 / 表面顕微鏡法 / Surface Structure / UHV Electron Microsocpy / Scanning tunneling Microscopy / 表面局在構造解析 / STM型超高真空電子顕微鏡 / グラファイト / surface structure analysis by transmission electron diffraction / 7x7 reconstruction of silicon surface / UHV electron microscope / 表面・結晶成長のミクロプロセス / 金原子とクラスター構造の高分解能観察 / 高分解能反射顕微鏡法 / 透過回析法による表面構造解析 / シリコン表面の7×7再配列構造 / active site / rutile / gold / HRTEM / catalyst / in-situ TEM / ultra fine particle / STS / 金触媒 / ナノ粒子 / 活性サイト / ルチル / 高分解能TEM / 触媒 / その場観察TEM / 超微粒子 / Atomic chain / Helical multi-shell nanowire / Super ionic conductor / Nonlinear conductance / Ballistic transport / Quantum Point Contact / 量子化電気伝導 / 量子コンタクト / 融体 / ナノワイヤー / 量子化コンダクタンス / ナノワイヤ / 原子間力顕微鏡 / 原子鎖 / ヘリカル多層ナノワイヤ / 超イオン伝導体 / 非線形コンダクタンス / バリスティック伝導 / 量子ポイントコンタクト / electronic property / atomic structure / surface / Twin-tip / SOI / CaF_2 / Si / 電気伝導 / 表面界面物性 / 表面物性 / 双探針 / facet plane / surface conductivity / high index surfaces / adsorbate strcuctures / phase transition / silicon surfaces / 電子線回折 / サーファクタント / 高指数表面 / 表面超構造 / ファセット面 / 表面電気伝導 / 高指数面 / 相転移 / Reflection elect. microsc. / Transmission elect. microsc. / Si (001) 2x1 / Surface strain / Internal surface stress / Si(111)5x2-Au / Si(111) / 表面再構成 / 反対電顕法 / 透過電顕法 / Si(001)2×1 / 表面内部応力 / 表面歪 / phase transition of Si(III) surface / Si surfaces / current effect on surfaces / electromigration / 通電効果 / ステップ構造 / エレクトロマイグレ-ション / Si(111)表面相転移 / Si(111)相転移 / 表面電流効果 / エレクトロマイグレーション / シリコン表面での混晶成長 / 超高真空電子顕微鏡法 / シリコン(001) / 混晶 / 表面アニール / 表面拡散 / シリコン(111) / 白金(111) / イオンスパッター / 反射電子顕微鏡 / 表面プラズモン / ルミネッセンス / ナノプローブ / 収差補正 / 表面ステップ構造 / エピタクシャル成長 / surfactant / 金属超格子隠す

低加速ナノプローブで電子励起したナノ構造からの放射光角度分解分光観察
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  2007 – 2011
- 研究種目
  
  基盤研究(S)
- 研究分野
  
  ナノ構造科学
- 研究機関
  東京工業大学
TEM-STM法による金ナノアイランド/MOX触媒活性量子効果観察
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  2004 – 2006
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 研究分野
  
  ナノ構造科学
- 研究機関
  東京工業大学
量子コンタクト
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  2000 – 2003
- 研究種目
  
  特別推進研究
- 審査区分
  
  物理系
- 研究機関
  東京工業大学
超イオン伝導体走査探針による金属原子の連続付加による表面加工研究代表者
- 研究代表者
  
  谷城康眞
- 研究期間 (年度)
  1997 – 1998
- 研究種目
  
  萌芽的研究
- 研究分野
  
  応用物性・結晶工学
- 研究機関
  東京工業大学
エピタクシャル成長のメカニズムとコヒーレント超薄膜の物性
- 研究代表者
  
  八木克道
- 研究期間 (年度)
  1995 – 1997
- 研究種目
  
  国際学術研究
- 研究分野
  
  表面界面物性
- 研究機関
  東京工業大学
双探針STM法の開発とその表面物性研究への応用研究代表者
- 研究代表者
  
  谷城康眞, 八木克道
- 研究期間 (年度)
  1995 – 1997
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 研究分野
  
  固体物性Ⅰ(光物性・半導体・誘電体)
- 研究機関
  東京工業大学
超薄膜シリコンの物性と構造のRHEED・電気伝導度測定法による研究研究代表者
- 研究代表者
  
  谷城康眞
- 研究期間 (年度)
  1994 – 1995
- 研究種目
  
  一般研究(C)
- 研究分野
  
  表面界面物性
- 研究機関
  東京工業大学
再構成表面および金属吸着表面の内部応力の透過電子顕微鏡法による研究
- 研究代表者
  
  八木克道
- 研究期間 (年度)
  1993 – 1994
- 研究種目
  
  一般研究(B)
- 研究分野
  
  固体物性Ⅰ(光物性・半導体・誘電体)
- 研究機関
  東京工業大学
金属超格子を作る新しい試みのその場電顕法による研究
- 研究代表者
  
  八木克道
- 研究期間 (年度)
  1991
- 研究種目
  
  重点領域研究
- 研究機関
  東京工業大学
シリコン表面における試料通電効果の反射電子顕微鏡法による研究
- 研究代表者
  
  八木克道
- 研究期間 (年度)
  1991 – 1992
- 研究種目
  
  一般研究(B)
- 研究分野
  
  応用物性
- 研究機関
  東京工業大学
超高真空・高分解能電子顕微鏡法による表面・ヘテロ膜成長過程の研究
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  1987 – 1988
- 研究種目
  
  一般研究(B)
- 研究分野
  
  結晶学
- 研究機関
  東京工業大学
反射電子顕微鏡法によるイオンスパッター過程のその場観察
- 研究代表者
  
  八木克道
- 研究期間 (年度)
  1986
- 研究種目
  
  特定研究
- 研究機関
  東京工業大学
超高真空電子顕微鏡による非平衡状態からの混晶成長と構造の解析
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  1986
- 研究種目
  
  特定研究
- 研究機関
  東京工業大学
表面局在構造解析のためのSTM型表面電子顕微鏡の試作
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  1986 – 1987
- 研究種目
  
  試験研究
- 研究分野
  
  金属物性
- 研究機関
  東京工業大学
表面低温電子顕微鏡法の開発とその固体ガス吸着研究への応用
- 研究代表者
  
  八木克道
- 研究期間 (年度)
  1986 – 1987
- 研究種目
  
  試験研究
- 研究分野
  
  結晶学
- 研究機関
  東京工業大学
極超高真空電子顕微鏡による表面-結晶成長ミクロプロセスの研究
- 研究代表者
  
  高柳邦夫
- 研究期間 (年度)
  1984 – 1986
- 研究種目
  
  一般研究(A)
- 研究分野
  
  結晶学
- 研究機関
  東京工業大学

すべて 2012 2011 2010 2009 2008

すべて雑誌論文学会発表

[雑誌論文] Electron microscopy at a sub-50 pm resolution2011
- 著者名/発表者名
  K.Takayanagi, S.Kim, S.Lee, Y.Oshima, T.Tanaka, Y.Tanishiro, H.Sawada, F.Hosokawa, T.Tomita, T.Kaneyama, Y.Kondo
- 雑誌名
  
  Journal of Electron Microsc
  
  巻: 60 号: suppl 1 ページ: S239-S244
- DOI
  10.1093/jmicro/dfr048
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] Electronmicroscopy ata sub-50 pm resolution2011
- 著者名/発表者名
  K. Takayanagi, S. Kim, S. Lee, Y. Oshima, T. Tanaka, Y. Tanishiro, H. Sawada, F. Hosokawa, T. Tomita, T. Kaneyama and Y. Kondo
- 雑誌名
  
  Journalof ElectronMicrosc
  
  巻: Vol.60
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] Quantitative Annular Dark Field STEM Image of Silicon Crystal using a Large Convergent Electron Probe with a 300-kv Cold Field Emission Gun2010
- 著者名/発表者名
  S.Kim, Y.Oshima, H.sawada, T.Kaneyama, Y.Kondo, M.Takeguchi, Y.Nakayama, Y.Tanishiro, K.Takayanagi
- 雑誌名
  
  Journal of Electron Microscopy
  
  巻: 60 ページ: 109-116
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] Quantita tive Annular Dark Field STEM Image of Silicon Crystal using a Large Conver gent Electron Probe with a 300-kV Col d Field Emission Gun2010
- 著者名/発表者名
  S. Kim, Y. Oshima, H. Sawada, T. Kaneyama, Y. Kondo, M. Takeguchi, Y. Nakayama, Y. Tanishiro, and K. Takayanagi
- 雑誌名
  
  Journal of Elec tron Microscopy
  
  巻: Vol.60 ページ: 109-116
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] Direct Imaging of Lithium Atoms in LiV_2O_4 by a Spherical Aberration Corrected Electron Microscope2010
- 著者名/発表者名
  Y.Oshima, H.Sawada, F.Hosokawa, E.Okunishi, T.Kaneyama, Y.Kondo, S.Niitaka, H.Takagi, Y.Tanishiro, K.Takayanagi
- 雑誌名
  
  Journal of Electron Microscopy
  
  巻: 59 ページ: 457-467
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] Direct Imaging of Lithium Atoms in LiV2O4 by a Spherical Aberration Co rrected Electron Microscope2010
- 著者名/発表者名
  Y. Oshima, H. Sawada, F. Hosokawa, E. Okunishi, T. Kaneyama, Y. Kondo, S. Niitaka, H. Takagi, Y. Tanishiro, and K. Takayanagi
- 雑誌名
  
  Journal of Electron M icroscopy
  
  巻: Vol.59
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] A Dopant Cluster in a Highly Antimony Doped Silicon Crystal2010
- 著者名/発表者名
  S.Kim, Y.Oshima, H.Sawada, N.Hashikawa, K.Asayama, T.Kaneyama, Y.Kondo, Y.Tanishiro, K.Takayanagi
- 雑誌名
  
  Applied Physics.Express
  
  巻: 3
- NAID
  10026586310
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] A Dopant Cluster in a Highly Antimony Doped Si licon Crystal2010
- 著者名/発表者名
  S. Kim, Y. Oshima, H. Sawada, N. Hashikawa, K. Asayama, T. Kaneyama, Y. Kondo, Y. Tanishiro and K. Takayanagi
- 雑誌名
  
  Applied Physics. Expre ss
  
  巻: Vol.3
- NAID
  10026586310
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] STEM imaging of 47-pm-separated atomic columns by a spherical aberration -corrected electron microscope with a 300-kV cold field emission gun2009
- 著者名/発表者名
  H. Sawada, Y. Tanishiro, N. Ohashi, T. Tomita F. Hosokawa, T. Kaneyama, Y. Kondo, K. Takayanagi
- 雑誌名
  
  J. Electron. Microsc 58
  
  ページ: 357-361
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] STEM imaging of 47-pm-separated atomic columns by a spherical aberration-corrected electron microscope with a 300-kV cold field emission gun2009
- 著者名/発表者名
  H.Sawada, Y.Tanishiro, N.Ohashi, T.Tomita F.Hosokawa, T.Kaneyama, Y.Kondo, K.Takayanagi
- 雑誌名
  
  J. Electron. Microsc. 58
  
  ページ: 357-361
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[雑誌論文] Measurement Method of Aberration from Ronchigram by Autocorrelation Function2008
- 著者名/発表者名
  H. Sawada, T. Sannomiya, F. Hosokawa, T. Nakamichi, T. Kaneyama, T. Tomita, Y. Kondo, T. Tanaka, Y. Oshima, Y. Tanishiro, K. Takayanagi
- 雑誌名
  
  Ultramicroscopy 108
  
  ページ: 1467-1475
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] 球面収差補正STEMによるZコントラストイメージング2012
- 著者名/発表者名
  和田麻友香、谷城康眞、高柳邦夫
- 学会等名
  日本物理学会、第67回年次大会
- 発表場所
  関西学院大学
- 年月日
  2012-03-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Z-contrast Imaging by Cs-corrected STEM2011
- 著者名/発表者名
  M.Wada、Y.Tanishiro, K.Takayanagi
- 学会等名
  ISSS-6
- 発表場所
  Tokyo in Japan
- 年月日
  2011-12-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Observation of defects in CuInSe2 by 300kV aberration corrected scanning transmission electron microscope2011
- 著者名/発表者名
  A. Takeshita, T. Tanaka, T. Kubota, H. Miyake, H. Sawada, Y. Kondo, Y. Oshima, Y. Tanishiro and K. Takayanagi
- 学会等名
  APS March Meeting 2011
- 発表場所
  Dallas USA
- 年月日
  2011-03-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] An effect of probe current on ADF image intensity of Si crystal2011
- 著者名/発表者名
  S. Kim, Y. Oshima, Y. Tanishiro and K. Takayanagi
- 学会等名
  APS March Meeting 2011
- 発表場所
  Dallas USA
- 年月日
  2011-03-24
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Z-contrast Imaging by Aberration-Corrected ADF-STEM2011
- 著者名/発表者名
  M.Wada, Y.Tanishiro, K.Takayanagi
- 学会等名
  ALC'11
- 発表場所
  Korea
- 年月日
  2011-05-24
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Surface/interface imaging by ABF-STEM method : Litium ions in diffusion channel of LIB electrode materials2011
- 著者名/発表者名
  S. Lee, Y. Oshima, H. Sawada, F. Hosokawa, E. Okunishi, T. Kaneyama, Y. Kondo, Y. Tanishiro and K. Takayanagi
- 学会等名
  ISSS-6
- 発表場所
  Tokyo Japan
- 年月日
  2011-12-14
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Z-contrast Imaging by Aberration-Corrected ADF-STEM2011
- 著者名/発表者名
  M. Wada, Y. Tanishiro and K. Takayanagi
- 学会等名
  ALC' 11
- 発表場所
  Korea
- 年月日
  2011-05-24
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Z-contrast Imaging by Cs-corrected STEM2011
- 著者名/発表者名
  M. Wada、Y. Tanishiro and K. Takayanagi
- 学会等名
  ISSS-6
- 発表場所
  Tokyo
- 年月日
  2011-12-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Visualization of Lithium Atoms in LiV_2O_4 by a SphericalAberration Corrected Electron Microscope2010
- 著者名/発表者名
  Y.Oshima, H.Sawada, E.Okunishi, Y.Kondo, S.Niitaka, H.Takagi, Y.Tanishiro, K.Takayanagi
- 学会等名
  Microscopy & Microanalysis 2010 Meeting
- 発表場所
  Portland U.S.A
- 年月日
  2010-08-04
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Visualization of Lithium Atoms in LiV2O4 by a Spherical Aberration Corrected Electron Microscope2010
- 著者名/発表者名
  Y. Oshima, H. Sawada, E. Okunishi, Y. Kondo, S. Niitaka, H. Takagi, Y. Tanishiro and K. Takayanagi
- 学会等名
  Microscopy & Microanalysis2010 Meeting
- 発表場所
  Portland U. S. A
- 年月日
  2010-08-04
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Visualization of Lithium Atoms in LiV2O4 using a Spherical Aberration Corrected Electron Microscope2010
- 著者名/発表者名
  Y. Oshima, H. Sawada, Y. Kondo, K. Takayanagi, Y. Tanishiro
- 学会等名
  7th International Microscopy Congress
- 発表場所
  Riode Janeiro Brazil
- 年月日
  2010-09-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004
[学会発表] Visualization of Lithium Atoms in LiV_2O_4 using a Spherical Aberration Corrected Electron Microscope2010
- 著者名/発表者名
  Y.Oshima, H.Sawada, Y.Kondo, K.Takayanagi, Y.Tanishiro
- 学会等名
  17th International Microscopy Congress
- 発表場所
  Rio de Janeiro, BRAZIL
- 年月日
  2010-09-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19101004

1. 高柳邦夫 (80016162)

共同の研究課題数: 8件

共同の研究成果数: 23件
2. 八木克道 (90016072)

共同の研究課題数: 7件

共同の研究成果数: 0件
3. 箕田弘喜 (20240757)

共同の研究課題数: 6件

共同の研究成果数: 0件
4. 山本直紀 (90108184)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 0件
5. 長谷川修司 (00228446)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
6. 井野正三 (70005867)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
7. 大島義文 (80272699)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
8. 田中崇之 (10367120)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
9. 長尾忠昭 (40267456)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
10. 平山博之 (60271582)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
11. HENZLER M.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
12. 岩槻正志

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
13. 近藤行人

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
14. 原田嘉晏

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
15. HORNVON Hoeg

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
16. HORN V.HOEGEN M.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
17. HORN von Hoe

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
18. HENZLER M

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
19. YAGI Kastumichi

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件

谷城 康眞 TANISHIRO Yasumasa

谷城 康真 TANISHIRO Masaetsu

研究課題

研究成果

共同研究者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

超イオン伝導体走査探針による金属原子の連続付加による表面加工研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

双探針STM法の開発とその表面物性研究への応用研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

超薄膜シリコンの物性と構造のRHEED・電気伝導度測定法による研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

谷城康眞 TANISHIRO Yasumasa

谷城康真 TANISHIRO Masaetsu