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長 康雄  CHO Yasuo

ORCIDORCID連携する *注記
… 別表記

長 康夫  CHO YASUO

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研究者番号 40179966
その他のID
外部サイト
所属 (現在) 2025年度: 東北大学, 未来科学技術共同研究センター, 特任教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2024年度: 東北大学, 未来科学技術共同研究センター, 特任教授
2022年度: 東北大学, 未来科学技術共同研究センター, 特任教授
2001年度 – 2021年度: 東北大学, 電気通信研究所, 教授
2006年度: 東北大, 電気通信研究所, 教授
1997年度 – 2000年度: 東北大学, 電気通信研究所, 助教授 … もっと見る
1999年度: 東北大学, 電機通信研究所, 助教授
1996年度: 山口大学, 工学部, 助教授
1993年度 – 1994年度: 山口大学, 工学部, 助教授 隠す
審査区分/研究分野
研究代表者
応用物理学一般 / 電子デバイス・電子機器 / 電子・電気材料工学 / 中区分21:電気電子工学およびその関連分野 / 電子デバイス・機器工学 / 薄膜・表面界面物性 / 工学 / 理工系 / 理工系
研究代表者以外
電子デバイス・機器工学 … もっと見る / 中区分29:応用物理物性およびその関連分野 / 応用物理学一般 / 電子・電気材料工学 / 理工系 隠す
キーワード
研究代表者
走査型非線形誘電率顕微鏡 / ドメイン / 強誘電体 / 強誘電体記録 / 超高密度記録 / 超高密度強誘電体記録 / 原子分解能 / MOS界面 / 界面準位密度 / 時間分解走査型非線形誘電率顕微鏡 … もっと見る / 超高次非線形誘電率顕微鏡法 / 局所DLTS法 / 界面電荷輸送現象 / 1.5Tbit / Scanning Nonlinear Dielectric microscopy / 原子双極子モーメント / 超高次非線形誘電率顕微鏡 法 / 走査型非線形誘電率ポテンショメトリ / 分極ドメイン / 高次非線形誘電率顕微法 / 走査プローブ顕微鏡 / 間分解 SNDM装置 / 走査型非線形誘電率常磁性共鳴顕微鏡 / トラップ / 走査型非線形誘電率ポテン ショメリ / Dit分布観測 / 時間分解SNDM / 超高次SNDM法 / 走査型非線形誘電率顕微鏡法 / 時間分解SNDM法 / 次世代パワー半導体 / 界面順位密度 / パワーデバイス / ワイドギャップ半導体 / 移動度 / MOS界面欠陥 / 走査型非線形誘電率ポテンショメリ / 超高次非線形誘電率顕微鏡 / super high density data storage / data storage / SPM / domain / ferroelectrics / scanning nonlinear dielectric microscopy / 強誘電体記 / Ultra-high density ferroelectric date / Nano-second domain inversion / inchi / Tb記録 / ナノセカンドドメイン反転 / inch^2 / Ultra-high density ferroelectric data storage / Higher order nonlinear dielectric microscopy / Atomic scale resolution / サブナノメータ分解能 / 双極子モーメント / 原子分離能 / Photothermal dielectric microscopy / Dielectric materials / Temperature characteristics / Scanning Electron-Beam Dielectric microscopy / SEM / 誘電率温度係数 / 走査型電子線誘導率顕微鏡 / 光熱誘電率顕微鏡 / 誘電率温度特性 / 走査型電子線誘電率顕微鏡 / ferroelectric recording / ferroelectric domain / nano-meter resolution / Scanning Nonlinear dielectric microscopy / 高分解能 / 局所異方性 / 強誘電分極 / ナノメータ分解能 / 走査型非線形誘電ポテンショメトリ / 走査型非線形誘電ポテンシ ョメトリ / 半導体デバイス計測 / 半導体原子計測 / 半導体計測技術 / 原子分解能SNDM / オペランド計測. / SiCーMOSFET / 太陽電池 / グラフェン / 化合物パワー半導体デバイス / 超高次走査型非線形誘電率顕微鏡 / SNDM / プローブメモリ / 高密度記録 / サブナノスケール分解能 / 温度可変型SNDM / 強誘電分極ドメイン / 動的測定法 / 非線形誘電率顕微鏡 / 非線形定数 / K-dv方程式 / ショックウェーブ / 金属グレーティング導波路 / 弾性表面波 / ソリトン … もっと見る
研究代表者以外
走査型非線形誘電率顕微鏡 / KNbO_3 / 圧電薄膜 / 弾性表面波 / Surface Acoustic Wave / SAWフィルタ / MOSFET / プローブ顕微鏡 / ワイドバンドギャップ半導体 / パワーエレクトロニクス / AlN圧電薄膜 / 分極反転層 / 層厚測定 / 極性反転圧電薄膜 / 極性反転構造 / 走査型非線形誘電率顕微法 / 分極反転 / Scanning nonlinear dielectric microscopy / Materials for SAW devices / Evaluation of single crystal materials / Leaky surface acoustic wave / Damaged surface layer / Standard specimen / LFB ultrasonic material characterization / Ultrasonic microspectroscopy / 走査形非線形誘電率顕微鏡 / V(z)曲線解析法 / LFB超音波顕微鏡 / SAWデバイス用材料 / 単結晶材料評価 / 漏洩弾性表面波 / 表面加工層 / 標準試料 / LFB超音波材料解析システム / 超音波マイクロスペクトロスコピー / Piezoelectric Thin Film / SAW Filter / ニオブ酸カリウム / Mobile Communication / Spread Spectrum Communication / Wide Band Filters / Piezoelectric Single Crystals / Elastic Convolver / Zero TCF Substrate / KNbO_3 single crystal / 弾性表面波コンボルバ / 超高結合材料 / 零温度係数基板 / KNbO3単結晶 / 非線形誘電率顕微鏡 / スペクトル拡散通信 / 広帯域フィルタ / 単結晶育成 / 弾性表面波コンボルバー / 零温度特性基板 / KNbO_3単結晶 / 強誘電分極 / 強誘電体記録 / ペロブスカイト酸化物トラシジスタ / 成長初期過程 / 新強誘電体探索 / 化学溶液プロセス / 濃度相境界 / モルフォトロピック相境界 / 低温プロセッシング / PZT / 2次相転移点 / 低温プロセス / マルテンサイト型合金 / ケミカルプロセッシング / MFIS-FET / 強誘電体・半導体接合 / MFIS(MFS)構造 / ケミカル・プロセッシング / ドメイン構造観察 / リラクサ強誘電体 / MIFS-FET / 希土類ドープ 隠す
  • 研究課題

    (24件)
  • 研究成果

    (391件)
  • 共同研究者

    (26人)
  •  SNDMを用いた次世代パワーエレクトロニクスの創出に資する革新的評価技術の開発

    • 研究代表者
      山末 耕平
    • 研究期間 (年度)
      2024 – 2027
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 審査区分
      中区分29:応用物理物性およびその関連分野
    • 研究機関
      東北大学
  •  キャリアトラップサイトの原子構造とダイナミクスの解明研究代表者

    • 研究代表者
      長 康雄
    • 研究期間 (年度)
      2021 – 2022
    • 研究種目
      挑戦的研究(萌芽)
    • 審査区分
      中区分21:電気電子工学およびその関連分野
    • 研究機関
      東北大学
  •  界面電荷輸送現象解明のための高機能走査型非線形誘電率顕微鏡群の研究開発研究代表者

    • 研究代表者
      長 康雄
    • 研究期間 (年度)
      2016
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 研究分野
      電子・電気材料工学
    • 研究機関
      東北大学
  •  非線形誘電率顕微鏡法を用いた界面電荷輸送現象における諸問題の起源解明研究代表者

    • 研究代表者
      長 康雄
    • 研究期間 (年度)
      2016 – 2020
    • 研究種目
      基盤研究(S)
    • 研究分野
      電子・電気材料工学
    • 研究機関
      東北大学
  •  走査型非線形誘電率顕微法による極性反転圧電薄膜の層状構造測定法の研究

    • 研究代表者
      小田川 裕之
    • 研究期間 (年度)
      2015 – 2017
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      応用物理学一般
    • 研究機関
      熊本高等専門学校
  •  非線形誘電率顕微鏡を用いた原子双極子モーメントの可視化と原子種の同定研究代表者

    • 研究代表者
      長 康雄
    • 研究期間 (年度)
      2012 – 2014
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      薄膜・表面界面物性
    • 研究機関
      東北大学
  •  非線形誘電率顕微鏡の高機能化及び電子デバイスへの応用研究代表者

    • 研究代表者
      長 康雄
    • 研究期間 (年度)
      2011 – 2015
    • 研究種目
      基盤研究(S)
    • 研究分野
      電子デバイス・電子機器
    • 研究機関
      東北大学
  •  非線形誘電率顕微鏡を用いた次世代超高密度強誘電体記録研究代表者

    • 研究代表者
      長 康雄
    • 研究期間 (年度)
      2006 – 2010
    • 研究種目
      特別推進研究
    • 審査区分
      理工系
      工学
    • 研究機関
      東北大学
  •  1平方インチ当たり10テラビットの記録密度を持つSNDM強誘電体プローブメモリ研究代表者

    • 研究代表者
      長 康雄
    • 研究期間 (年度)
      2006
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 研究分野
      電子デバイス・電子機器
    • 研究機関
      東北大学
  •  強誘電体薄膜の物性制御と次世代メモリデバイスへの応用

    • 研究代表者
      奥山 雅則
    • 研究期間 (年度)
      2004
    • 研究種目
      特定領域研究
    • 審査区分
      理工系
    • 研究機関
      大阪大学
  •  非線形誘電率顕微鏡法を用いた超高密度超高速強誘電体記録研究代表者

    • 研究代表者
      長 康雄
    • 研究期間 (年度)
      2003 – 2005
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 研究分野
      電子デバイス・電子機器
    • 研究機関
      東北大学
  •  非線形誘電率顕微鏡法を用いた電気双極子モーメントメモリー研究代表者

    • 研究代表者
      長 康雄
    • 研究期間 (年度)
      2001 – 2002
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      東北大学
  •  超高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡法を用いた強誘電体中のドメイン構造の解析研究代表者

    • 研究代表者
      長 康雄
    • 研究期間 (年度)
      2000 – 2003
    • 研究種目
      特定領域研究
    • 審査区分
      理工系
    • 研究機関
      東北大学
  •  KNbO_3単結晶を用いたIOGH_2広帯域SAWデバイスと製造プロセスの最適化

    • 研究代表者
      小田川 裕之
    • 研究期間 (年度)
      2000 – 2002
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      東北大学
  •  強誘電体単結晶を用いた双極子記録メディアの基礎的検討

    • 研究代表者
      小田川 裕之
    • 研究期間 (年度)
      2000
    • 研究種目
      萌芽的研究
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      東北大学
  •  走査型非線形誘電率顕微鏡法を用いた単一永久双極子モーメントの可視化研究代表者

    • 研究代表者
      長 康雄
    • 研究期間 (年度)
      2000 – 2001
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      応用物理学一般
    • 研究機関
      東北大学
  •  UMS技術を用いた超高周波SAWデバイス用単結晶基板表面の評価技術の開発

    • 研究代表者
      櫛引 淳一
    • 研究期間 (年度)
      2000 – 2002
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      電子・電気材料工学
    • 研究機関
      東北大学
  •  KNbO_3圧電薄膜の作製と次世代移動体通信用弾性表面波デバイスの研究

    • 研究代表者
      小田川 裕之
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2000
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      東北大学
  •  超高結合弾性表面波デバイスと高度情報通信システムへの応用

    • 研究代表者
      山之内 和彦
    • 研究期間 (年度)
      1998 – 1999
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      東北工業大学
      東北大学
  •  走査型電子線誘電率顕微鏡研究代表者

    • 研究代表者
      長 康雄
    • 研究期間 (年度)
      1998 – 1999
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      応用物理学一般
    • 研究機関
      東北大学
  •  高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡の開発とその強誘電体記録への展開研究代表者

    • 研究代表者
      長 康雄
    • 研究期間 (年度)
      1997 – 1999
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      応用物理学一般
    • 研究機関
      東北大学
  •  非線形誘電率顕微鏡の高分解能化の達成とその誘電体記録への応用研究代表者

    • 研究代表者
      長 康雄
    • 研究期間 (年度)
      1996
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      応用物理学一般
    • 研究機関
      山口大学
  •  機能性材料の非線形特性の動的測定法の確立と非線形性出現機構の解明研究代表者

    • 研究代表者
      長 康雄
    • 研究期間 (年度)
      1994
    • 研究種目
      一般研究(C)
    • 研究分野
      応用物理学一般
    • 研究機関
      山口大学
  •  金属グレーティング導波路上を伝搬するSAWソリトンの実験的検証研究代表者

    • 研究代表者
      長 康雄
    • 研究期間 (年度)
      1993
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      応用物理学一般
    • 研究機関
      山口大学

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すべて 雑誌論文 学会発表 図書 産業財産権

  • [図書] マイクロビームアナリシス・ハンドブック2014

    • 著者名/発表者名
      長 康雄
    • 総ページ数
      708
    • 出版者
      オーム社
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [図書] Innovative Graphene Technologies: Evaluation and Applications Volume 22013

    • 著者名/発表者名
      Shin-ichiro Kobayashi, Yasuo Cho
    • 総ページ数
      540
    • 出版者
      SMITHERS RAPRA TECHNOLOGY LTD.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [図書] Innovative Graphene Technologies: Evaluation and Applications Volume 22013

    • 著者名/発表者名
      Shin-ichiro Kobayashi, Yasuo Cho:
    • 総ページ数
      540
    • 出版者
      SMITHERS RAPRA TECHNOLOGY LTD.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [図書] Polar Oxides - Properties, Characterization, and Imaging2004

    • 著者名/発表者名
      Y.Cho
    • 総ページ数
      387
    • 出版者
      WILEY-VCH Verlag GmbH & Co.KGaA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [雑誌論文] Boxcar averaging scanning nonlinear dielectric microscopy2022

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Nanomaterials

      巻: 12 号: 5 ページ: 794-794

    • DOI

      10.3390/nano12050794

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706, KAKENHI-PROJECT-20H02613
  • [雑誌論文] Nanoscale mapping to assess the asymmetry of local C?V curves obtained from ferroelectric materials2022

    • 著者名/発表者名
      Hiranaga Yoshiomi、Mimura Takanori、Shimizu Takao、Funakubo Hiroshi、Cho Yasuo
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 61 号: SN ページ: SN1014-SN1014

    • DOI

      10.35848/1347-4065/ac7f7a

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18887, KAKENHI-PROJECT-18K04932, KAKENHI-PROJECT-21K18706, KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] Local capacitance-voltage profiling and deep level transient spectroscopy of SiO2/SiC interfaces by scanning nonlinear dielectric microscopy2022

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Microelectronics Reliability

      巻: 135 ページ: 114588-114588

    • DOI

      10.1016/j.microrel.2022.114588

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706, KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] Surface Potential Fluctuations of SiO2/SiC Interfaces Investigated by Local Capacitance-Voltage Profiling Based on Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2022

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Materials Science Forum

      巻: 1062 ページ: 335-340

    • DOI

      10.4028/p-2t7zak

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706, KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] Microscopic Evaluation of Al2O3/p-Type Diamond (111) Interfaces Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2022

    • 著者名/発表者名
      Yu Ogata, Kohei Yamasue, Xufang Zhang,Tsubasa Matsumoto, Norio Tokuda and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Materials Science Forum

      巻: 1062 ページ: 298-303

    • DOI

      10.4028/p-n0z51t

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706, KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] High-precision local C?V mapping for ferroelectrics using principal component analysis2021

    • 著者名/発表者名
      Hiranaga Yoshiomi、Mimura Takanori、Shimizu Takao、Funakubo Hiroshi、Cho Yasuo
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 60 号: SF ページ: SFFB09-SFFB09

    • DOI

      10.35848/1347-4065/ac13d9

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K04932, KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [雑誌論文] Simulation of nanoscale domain growth for ferroelectric recording2021

    • 著者名/発表者名
      Fukuzawa Kenji、Hiranaga Yoshiomi、Cho Yasuo
    • 雑誌名

      AIP Advances

      巻: 11 号: 11 ページ: 115117-115117

    • DOI

      10.1063/5.0074004

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K04932, KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [雑誌論文] Flexoelectric nanodomains in rare-earth iron garnet thin films under strain gradient2021

    • 著者名/発表者名
      Yamahara Hiroyasu、Feng Bin、Seki Munetoshi、Adachi Masaki、Sarker Md Shamim、Takeda Takahito、Kobayashi Masaki、Ishikawa Ryo、Ikuhara Yuichi、Cho Yasuo、Tabata Hitoshi
    • 雑誌名

      Communications Materials

      巻: 2 号: 1 ページ: 95-95

    • DOI

      10.1038/s43246-021-00199-y

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H05651, KAKENHI-PROJECT-21H01614, KAKENHI-PROJECT-21J12725, KAKENHI-PROJECT-19K21962, KAKENHI-PROJECT-20K21073, KAKENHI-PROJECT-21K18706, KAKENHI-PROJECT-19K15022, KAKENHI-PROJECT-18K18850
  • [雑誌論文] Optimization of signal intensity in intermittent contact scanning nonlinear dielectric microscopy2019

    • 著者名/発表者名
      Yamasue K.、Cho Y.
    • 雑誌名

      Microelectronics Reliability

      巻: 100-101 ページ: 113345-113345

    • DOI

      10.1016/j.microrel.2019.06.037

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] Two-dimensional defect mapping of the SiO2/4H-SiC interface2019

    • 著者名/発表者名
      Woerle Judith、Johnson Brett C.、Bongiorno Corrado、Yamasue Kohei、Ferro Gabriel、Dutta Dipanwita、Jung Thomas A.、Sigg Hans、Cho Yasuo、Grossner Ulrike、Camarda Massimo
    • 雑誌名

      Physical Review Materials

      巻: 3 号: 8 ページ: 084602-084602

    • DOI

      10.1103/physrevmaterials.3.084602

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] Carrier distribution imaging using ∂C/∂z-mode scanning nonlinear dielectric microscopy2019

    • 著者名/発表者名
      Hiranaga Yoshiomi、Cho Yasuo
    • 雑誌名

      Review of Scientific Instruments

      巻: 90 号: 8 ページ: 083705-083705

    • DOI

      10.1063/1.5097906

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] Local carrier distribution imaging on few-layer MoS2 exfoliated on SiO2 by scanning nonlinear dielectric microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yamasue Kohei、Cho Yasuo
    • 雑誌名

      Applied Physics Letters

      巻: 112 号: 24 ページ: 243102-243102

    • DOI

      10.1063/1.5032277

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] Scanning probe-type data storage beyond hard disk drive and flash memory2018

    • 著者名/発表者名
      Cho Yasuo、Hong Seungbum
    • 雑誌名

      MRS Bulletin

      巻: 43 号: 5 ページ: 365-370

    • DOI

      10.1557/mrs.2018.98

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] High resolution observation of defects at SiO2/4H-SiC interfaces using time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yamagishi Y.、Cho Y.
    • 雑誌名

      Microelectronics Reliability

      巻: 88-90 ページ: 242-245

    • DOI

      10.1016/j.microrel.2018.07.058

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] Nanoscale linear permittivity imaging based on scanning nonlinear dielectric microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga, Norimichi Chinone and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Nanotechnology

      巻: 29 号: 20 ページ: 205709-205709

    • DOI

      10.1088/1361-6528/aab3c2

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] Quantitative measurement of active dopant density distribution in phosphorus-implanted monocrystalline silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      K. Hirose, K. Tanahashi, H. Takato, and Y. Cho
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett.

      巻: 111 号: 3

    • DOI

      10.1063/1.4994813

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] Two-Dimensional Imaging of Trap Distribution in SiO2/SiC Interface Using Local Deep Level Ttransient Spectroscopy Based on Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Ryoji Kosugi ,Yasunori Tanaka, Shinsuke Harada, Hajime Okumura, and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Materials Science Forum

      巻: 897 ページ: 127-130

    • DOI

      10.4028/www.scientific.net/msf.897.127

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] “Local deep level transient spectroscopy using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy and its application to imaging two-dimensional distribution of SiO2/SiC interface traps2017

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      J. Appl. Phys.

      巻: 122 号: 10

    • DOI

      10.1063/1.4991739

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] Nanosecond microscopy of capacitance at SiO2/4H-SiC interfaces by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      Y. Yamagishi, and Y. Cho
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett.

      巻: 111 号: 16

    • DOI

      10.1063/1.4999794

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] High resolution characterizations of fine structure of semiconductor device and material using scanning nonlinear dielectric microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys.

      巻: 56 号: 10 ページ: 100101-100101

    • DOI

      10.7567/jjap.56.100101

    • NAID

      210000148306

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] Quantitative thickness measurement of polarity-inverted piezoelectric thin-film layer by scanning nonlinear dielectric microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      Hiroyuki Odagawa, Koshiro Terada, Yohei Tanaka, Hiroaki Nishikawa, Takahiko Yanagitani and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 56 号: 10S ページ: 10PF18-10PF18

    • DOI

      10.7567/jjap.56.10pf18

    • NAID

      210000148395

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K04725, KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] Universal Parameter Evaluating SiO2/SiC Interface Quality Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Alpana Nayak, Ryoji Kosugi ,Yasunori Tanaka, Shinsuke Harada, Yuji Kiuchi, Hajime Okumura, and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Materials Science Forum

      巻: 897 ページ: 159-162

    • DOI

      10.4028/www.scientific.net/msf.897.159

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] Dynamic observation of ferroelectric domain switching using scanning nonlinear dielectric microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga, Takanori Mimura, Takao Shimizu, Hiroshi Funakubo, Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 56 号: 10S ページ: 10PF16-10PF16

    • DOI

      10.7567/jjap.56.10pf16

    • NAID

      210000148393

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17K14807, KAKENHI-PROJECT-17J10208, KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] Evaluation of silicon- and carbon-face SiO2/SiC MOS interface quality based on scanning nonlinear dielectric microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Alpana Nayak, Ryoji Kosugi, Yasunori Tanaka, Shinsuke Harada, Hajime Okumura, and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett.

      巻: 111 号: 6

    • DOI

      10.1063/1.4990865

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] Nondestructive and local evaluation of SiO2/SiC interface using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Ryoji Kosugi, Yasunori Tanaka, Shinsuke Harada,Hajime Okumura, and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Materials Science Forum

      巻: 858 ページ: 469-472

    • DOI

      10.4028/www.scientific.net/msf.858.469

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [雑誌論文] Visualization of polarization and two dimensional electron gas distribution in AlGaN/GaN heterostructure using scanning nonlinear dielectric microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Hirose, Norimichi Chinone, and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Materials Science Forum

      巻: 858 ページ: 1182-1185

    • DOI

      10.4028/www.scientific.net/msf.858.1182

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [雑誌論文] Graphene on C-terminated face of 4H-SiC observed by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2016

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Keiichiro Tashima, Maki Suemitsu, and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys.

      巻: 55 号: 8S1 ページ: 08NB02-08NB02

    • DOI

      10.7567/jjap.55.08nb02

    • NAID

      210000146969

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008, KAKENHI-PROJECT-15K04673, KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] Method for measuring polarity-inverted layered structure in dielectric thin films using scanning nonlinear dielectric microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      Hiroyuki Odagawa, Koshiro Terada, Hiroaki Nishikawa, Takahiko Yanagitani, Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Ferroelectrics

      巻: 498(1) 号: 1 ページ: 47-51

    • DOI

      10.1080/00150193.2016.1169493

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K04725, KAKENHI-PROJECT-15K13974
  • [雑誌論文] Visualization of Gate-Bias-Induced Carrier Redistribution in SiC Power DIMOSFET Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES

      巻: 63 号: 8 ページ: 3165-3170

    • DOI

      10.1109/ted.2016.2571780

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008, KAKENHI-PROJECT-16H06360, KAKENHI-PROJECT-14J08084
  • [雑誌論文] Simultaneous observation of two dimensional electron gas and polarization in AlGaN/GaN heterostructure using scanning nonlinear dielectric microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Hirose, Yasunori Goto, Norimichi Chinone, and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys.

      巻: 55 号: 8S1 ページ: 08NB13-08NB13

    • DOI

      10.7567/jjap.55.08nb13

    • NAID

      210000146980

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008, KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] Local deep level transient spectroscopy using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      N. Chinone, R.Kosugi ,Y. Tanaka, S. Harada, H. Okumura, and Y. Cho
    • 雑誌名

      Microelectronics Reliability

      巻: 64 ページ: 566-569

    • DOI

      10.1016/j.microrel.2016.07.088

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008, KAKENHI-PROJECT-16H06360, KAKENHI-PROJECT-14J08084
  • [雑誌論文] High-density ferroelectric recording using a hard disk drive-type data storage system2016

    • 著者名/発表者名
      Tomonori Aoki, Yoshiomi Hiranaga, and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      J. Appl. Phys.

      巻: 119 号: 18 ページ: 184101-184101

    • DOI

      10.1063/1.4948940

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008, KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [雑誌論文] Interfacial charge states in graphene on SiC studied by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2015

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Physical Review Letters

      巻: 114 号: 22 ページ: 226103-226103

    • DOI

      10.1103/physrevlett.114.226103

    • 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K04673, KAKENHI-PROJECT-23000008, KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [雑誌論文] Experimental study of electric dipoles on an oxygen-adsorbed Si(100)-2×1 surface by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy2015

    • 著者名/発表者名
      Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett.

      巻: 107 号: 3

    • DOI

      10.1063/1.4927244

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [雑誌論文] Interfacial capacitance between a ferroelectric Fe3O4 thin film and a semiconducting Nb:SrTiO3 substrate2015

    • 著者名/発表者名
      R. Takahashi,Y. Cho, M. Lippmaa
    • 雑誌名

      J. Appl. Phys

      巻: 117 号: 1 ページ: 014104-014104

    • DOI

      10.1063/1.4905384

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027, KAKENHI-PROJECT-25706022, KAKENHI-PLANNED-26105002, KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [雑誌論文] Scanning nonlinear dielectric potentiometry2015

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Review of Scientific Instruments

      巻: 86 号: 9 ページ: 093704-093704

    • DOI

      10.1063/1.4930181

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K04673, KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [雑誌論文] 走査型非線形誘電率顕微法に・E謔驪ノ性反転層状構造圧電薄膜の層厚の定量測定2015

    • 著者名/発表者名
      寺田浩士朗, 西川宏明, 田中陽平, 小田川裕之, 柳谷隆彦, 長康雄
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術報告

      巻: US2015-62 ページ: 23-26

    • 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K04725
  • [雑誌論文] Visualization and analysis of active dopant distribution in a p-i-n structured amorphous silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy2015

    • 著者名/発表者名
      K. Hirose, N. Chinone, and Y. Cho
    • 雑誌名

      AIP ADVANCES

      巻: 5 号: 9

    • DOI

      10.1063/1.4931028

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [雑誌論文] Nano-Domains and Related Phenomena in Congruent Lithium Tantalate Single Crystals Studied by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      IEEE TRANSACTION ON ULTRASONICS, FERROELECTRICS, AND FREQUENCY CONTROL

      巻: 61 号: 8 ページ: 1368-1378

    • DOI

      10.1109/tuffc.2014.3045

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027, KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [雑誌論文] Cross-sectional dopant profiling and depletion layer visualization of SiC power double diffused metal-oxide-semiconductor field effect transistor using super-higher-order nonlinear dielectric microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      N. Chinone, T.Nakamura, Y. Cho
    • 雑誌名

      J. Appl. Phys

      巻: 116 号: 8

    • DOI

      10.1063/1.4893959

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027, KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [雑誌論文] Investigation of solution-processed bismuth-niobium-oxide films2014

    • 著者名/発表者名
      Satoshi Inoue, Tomoki Ariga, Shin Matsumoto, Masatoshi Onoue, Takaaki Miyasako, Eisuke Tokumitsu, Norimichi Chinone, Yasuo Cho and Tatsuya Shimoda
    • 雑誌名

      J. Appl. Phys.

      巻: 116 号: 15

    • DOI

      10.1063/1.4898323

    • NAID

      120005652019

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24360119, KAKENHI-PROJECT-24656027, KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [雑誌論文] Pb (Zr, Ti)O3 recording media for probe data storage devices prepared by rf magnetron sputtering2014

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga,Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys.

      巻: 53 号: 9S ページ: 09PA05-09PA05

    • DOI

      10.7567/jjap.53.09pa05

    • NAID

      210000144474

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027, KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [雑誌論文] Improved study of electric dipoles on the Si(100)-2x1 surface by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      M. Suzuki, K. Yamasue, M. Abe, Y. Sugimoto, and Y. Cho
    • 雑誌名

      Applied Physics Letters

      巻: 105 号: 10 ページ: 1016031-3

    • DOI

      10.1063/1.4895031

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14F03355, KAKENHI-PROJECT-24656027, KAKENHI-PUBLICLY-26110516, KAKENHI-PROJECT-26600015, KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [雑誌論文] Nano-Domains and Related Phenomena in Congruent Lithium Tantalate Single Crystals Studied by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control

      巻: Vol.61

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [雑誌論文] Charge gradient microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Seungbum Hong , Sheng Tong , Woon lk Park , Yoshiomi Hiranaga , Yasuo Cho, Andreas Roelofs
    • 雑誌名

      Proc. Natl. Acad. Sci. USA

      巻: 111 号: 18 ページ: 6566-6569

    • DOI

      10.1073/pnas.1324178111

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027, KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [雑誌論文] Atomic-dipole-moment induced local surface potential on Si(111)-(7x7) surface studied by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      K. Yamasue, M. Abe, Y. Sugimoto, and Y. Cho
    • 雑誌名

      Applied Physics Letters

      巻: 105 号: 12 ページ: 1216011-5

    • DOI

      10.1063/1.4896323

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14F03355, KAKENHI-PROJECT-24656027, KAKENHI-PUBLICLY-26110516, KAKENHI-PROJECT-26600015, KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [雑誌論文] Electrical conduction in nanodomains in congruent lithium tantalate single crystal2013

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett.

      巻: 104 号: 4

    • DOI

      10.1063/1.4863754

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008, KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [雑誌論文] High resolution imaging in cross-section of a metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor using super-higher-order nonlinear dielectric microscopy2013

    • 著者名/発表者名
      N. Chinone, K. Yamasue, K. Honda, Y. Cho
    • 雑誌名

      Journal of Physics : Conference Series

      巻: 471 ページ: 012023-012023

    • DOI

      10.1088/1742-6596/471/1/012023

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008, KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [雑誌論文] Measurements of Nonlinear Dielectric Constants of Pb(Zr,Ti)O3 Thin Films Using a Dynamic Measuring Method2013

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys.

      巻: 52 号: 9S1 ページ: 09KA08-09KA08

    • DOI

      10.7567/jjap.52.09ka08

    • NAID

      210000142824

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008, KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [雑誌論文] Simultaneous measurement of tunneling current and atomic dipole moment on Si(111) -(7×7) surface by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy2013

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 雑誌名

      J. Appl. Phys.

      巻: 113 号: 1

    • DOI

      10.1063/1.4772705

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008, KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [雑誌論文] Atomic dipole moment distribution on a hydrogen-adsorbed Si(111) - (7×7) surface observed by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy2013

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Mizuno, Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett.

      巻: 103 号: 10

    • DOI

      10.1063/1.4820348

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008, KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [雑誌論文] Visualization of Electrons Localized in Metal-Oxide-Nitride-Oxide-Semiconductor Flash Memory Thin Gate Films by Detecting High-Order Nonlinear Permittivity Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2012

    • 著者名/発表者名
      Koichiro Honda, Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Express

      巻: Vol.5 号: 3 ページ: 036602-036602

    • DOI

      10.1143/apex.5.036602

    • NAID

      10030511604

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008, KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [雑誌論文] Scanning nonlinear dielectric microscopy observation of accumulated charges in metal-SiO2-SiN-SiO2-Si flash memory by detecting higher-order nonlinear permittivity2012

    • 著者名/発表者名
      Koichiro Honda
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett.

      巻: Vol.101 号: 24

    • DOI

      10.1063/1.4769352

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008, KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [雑誌論文] Atomic Scale Imaging of TiO2(100) Reconstructed Surfaces by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2012

    • 著者名/発表者名
      Nobuhiro Sawai
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl Phys.

      巻: Vol.51 号: 12R ページ: 121801-121801

    • DOI

      10.1143/jjap.51.121801

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008, KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [雑誌論文] Observation of Nanoscale Ferroelectric Domains Using Super-Higher-Order Nonlinear Dielectric Microscopy2012

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Kohei Yamasue, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys

      巻: Vol.51 号: 9S1 ページ: 09LE07-09LE07

    • DOI

      10.1143/jjap.51.09le07

    • NAID

      210000141273

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008, KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [雑誌論文] Scanning nonlinear dielectric microscopy2011

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      J. Mater. Res.

      巻: Vol.26 号: 16 ページ: 2007-2016

    • DOI

      10.1557/jmr.2011.219

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [雑誌論文] Ferroelectric Data Recording Using Servo-Controlled Tracking Technique2010

    • 著者名/発表者名
      K. Tanaka and Y. Cho
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys

      巻: Vol.49

    • NAID

      210000069223

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [雑誌論文] Actual information storage with a recording density of 4 Tbit/in.^2 in a ferroelectric recording medium2010

    • 著者名/発表者名
      K. Tanaka and Y. Cho
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett

      巻: Vol.97 ページ: 92901-92901

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [雑誌論文] Nanodomain Formation on Ferroelectrics and Development of Hard-Disk-Drive-Type Ferroelectric Data Storage Devices2009

    • 著者名/発表者名
      Y. Hiranaga, T. Uda, Y. Kurihashi, H. Tochishita, M. Kodota and Y. Cho
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys.

      巻: Vol.48

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [雑誌論文] Dependence of long term stability on the initial radius of small inverted domains formed on congruent single-crystal LiTaO_32009

    • 著者名/発表者名
      N. Odagawa and Y. Cho
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett

      巻: Vol.95 ページ: 142907-142907

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [雑誌論文] Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Nano-Science and Technology for Next Generation High Density Ferroelectric Data Storage2008

    • 著者名/発表者名
      K. TANAKA, Y. KURIHASHI, T. UDA, Y. DAIMON, N. ODAGAWA, R. HIROSE, Y. HIRANAGA, and Y. CHO
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys

      巻: Vol.47 ページ: 3311-3311

    • NAID

      40016057191

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [雑誌論文] The influence of 180° ferroelectric domain wall width on the thresho ld field for wall motion2008

    • 著者名/発表者名
      Samrat Choudhury
    • 雑誌名

      Journal of Applied Physics 104

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [雑誌論文] Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Nano-Science and Technology for Next Generation High Density Ferroelectric Data Storage2008

    • 著者名/発表者名
      Kenkou TANAKA, Yuichi KURIHASHI, Tomoya UDA, Yasuhiro DAIMON, Nozomi ODAGAWA, Ryusuke HIROSE, Yoshiomi HIRANAGA, and Yasuo CHO
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys Vol.47, No.5

      ページ: 3311-3325

    • NAID

      40016057191

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [雑誌論文] Cross- sectional observation of nanodomain dots formed in both congruent and stoichiometric LiTaO3 crystals2007

    • 著者名/発表者名
      Yasuhiro Daimon and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett. Vol.90

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [雑誌論文] Atomic Dipole Moment Distribution of Si Atoms on a Si (111)-(7×7) Surface Studied Using Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Physical Review Letters 99

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [雑誌論文] Novel HDD-type SNDM Ferroelectric Data Storage System Aimed at High-Speed Data Transfer with Single Probe Operation2007

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga, Tomoya Uda, Yuichi Kurihashi, Kenkou Tanaka, and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      IEEE TRANSACTION ON ULTRASONICS, FERROELECTRICS, AND FREQUENCY CONTROL Vol.54, No.12

      ページ: 2523-2528

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [雑誌論文] Scanning Nonlinear Dielectric Microscope with Super High Resolution2007

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys 46

      ページ: 4428-4434

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [雑誌論文] Atomic Dipole Moment Distribution of Si Atoms on a Si(111)-(7×7) Surface Studied Using Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho and Ryusuke Hirose
    • 雑誌名

      Physical Review Letters Vol.99, No.18

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [雑誌論文] Atomic Dipole Moment Distribution of Si Atoms on a Si(111)-(7×7) Surface Studied Using Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      Y. Cho and R. Hirose
    • 雑誌名

      Physical Review Letters

      巻: Vol.99 ページ: 186101-186101

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [雑誌論文] Nanoscale Ferroelectric Information Storage Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Journal of Nanoscience and Nanotechnology 7・1

      ページ: 105-116

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [雑誌論文] Novel HDD-type SNDM Ferroelectric Data Storage System Aimed at High-Speed Data Transfer with Single Probe Operation2007

    • 著者名/発表者名
      Y. Hiranaga, T. Uda, Y. Kurihashi, K. Tanaka, and Y. Cho
    • 雑誌名

      IEEE TRANSACTION ON ULTRASONICS, FERROELECTRICS, AND FREQUENCY CONTROL

      巻: Vol.54 ページ: 2523-2523

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [雑誌論文] Observation of [110] surface band within {101} a-domain of heteroepitaxial PbTiO_3 thin film fabricated by hydrothermal epitaxy2006

    • 著者名/発表者名
      S.K.Choi
    • 雑誌名

      Appl.Phys.Lett. Vol.88

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [雑誌論文] Wall behavior of nanodomains as a function of their initial state2006

    • 著者名/発表者名
      Nozomi Odagawa and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett. Vol.89

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [雑誌論文] Nanodomain manipulation for ultrahigh density ferroelectric data storage2006

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Nanotechnology 17・7

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [雑誌論文] Nanodomain manipulation for ultrahigh density ferroelectric data storage2006

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Nanotechnology Vol.17

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [雑誌論文] Long-term- retention characteristics of small inverted dots formed on congruent single-crystal LiTaO_32006

    • 著者名/発表者名
      Nozomi Odagawa and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett. Vol.89

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [雑誌論文] Observation of [110] surface band within {101} a-domain of heteroepitaxial PbTiO_3 thin film fabricated by hydrothermal epitaxy2006

    • 著者名/発表者名
      S.K.Choi
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett. 88・5

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [雑誌論文] Nanodomain manipulation for ultrahigh density ferroelectric data storage2006

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Nanotechnology 17・7

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [雑誌論文] Ultrahigh-Density Ferroelectric Data Storage Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2005

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys Vol.44

      ページ: 5339-5343

    • NAID

      10016676620

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [雑誌論文] Ultrahigh-Density Ferroelectric Data Storage Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2005

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys 44・7B

      ページ: 5339-5343

    • NAID

      10016676620

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [雑誌論文] Ultrahigh-Density Ferroelectric Data Storage Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2005

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys 44・7B

      ページ: 5339-5343

    • NAID

      10016676620

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [雑誌論文] Realization of 10 Tbit/in.^2 memory density and subnanosecond domain switching time in ferroelectric data storage2005

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Appl.Phys.Lett 87・23

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [雑誌論文] 非線形誘電率顕微鏡と次世代超高密度強誘電体記録2005

    • 著者名/発表者名
      長 康雄
    • 雑誌名

      電子情報通信学会論文誌C J88-C・1

      ページ: 1-12

    • NAID

      110003207329

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [雑誌論文] Realization of 10 Tbit/in^2. memory density and subnanosecond domain switching time in ferroelectric data storage2005

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Appl.Phys.Lett. Vol.87

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [雑誌論文] Scanning Nonlinear Dielectric Microscope and Its Application to Next Generation Super High-Density Ferroelectric Data Storage2005

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Denshi Joho Tushin Gakkai Ronbunshi Vol.J.88-C

      ページ: 1-12

    • NAID

      110003207329

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [雑誌論文] Realization of 10 Tbit/in.2 memory density and subnanosecond domain switching time in ferroelectric data storage2005

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett. 87・23

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [雑誌論文] Hydrothermally Deposited PbTiO3 Epitaxial Thin Film2005

    • 著者名/発表者名
      T.Morita, Y.Cho
    • 雑誌名

      Journal of Korean Physical Society 46・1

      ページ: 10-14

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-12134204
  • [雑誌論文] Fundamental Study on Ferroelectric Data Storage with the Density Above 1 Tbit/inch^2 Using Congruent Lithium Tantalate2004

    • 著者名/発表者名
      YASUO CHO
    • 雑誌名

      Integrated Ferroelectrics 61

      ページ: 77-81

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [雑誌論文] Fundamental Study on Ferroelectric Data Storage with the Density Above 1 Tbit/inch^2 Using Congruent Lithium Tantalate2004

    • 著者名/発表者名
      YASUO CHO
    • 雑誌名

      Integrated Ferroelectrics Vol.61

      ページ: 77-81

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [雑誌論文] Terabit inch^<-2> ferroelectric data storage using scanning nonlinear dielectric microscopy nanodomain engineering system2003

    • 著者名/発表者名
      Y.Cho
    • 雑誌名

      Nanotechnology Vol.14

      ページ: 637-642

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [雑誌論文] Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy : "Overview -A High Resolution Tool for Observing Ferroelectric Domains and Nano-domain Engineering-"2003

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Journal of the Korean Ceramic Society Vol.40

      ページ: 1047-1057

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [雑誌論文] Terabit inch-2 ferroelectric data storage using scanning nonlinear dielectric microscopy nanodomain engineering system2003

    • 著者名/発表者名
      Y.Cho
    • 雑誌名

      Nanotechnology 14

      ページ: 637-642

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [雑誌論文] Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy : "Overview-A High Resolution Tool for Observing Ferroelectric Domains and Nano-domain Engineering-2003

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Journal of the Korean Ceramic Society 40・11

      ページ: 1047-1057

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [産業財産権] PCT/JP2023/ 94962023

    • 発明者名
      長 康雄
    • 権利者名
      国立大学法人東北大学
    • 産業財産権種類
      特許
    • 出願年月日
      2023
    • 外国
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [産業財産権] 誘電体再生装置および誘電体記録再生装置2023

    • 発明者名
      長 康雄
    • 権利者名
      国立大学法人東北大学
    • 産業財産権種類
      特許
    • 出願年月日
      2023
    • 外国
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [産業財産権] 強誘電体薄膜製造方法、電圧印加エッチング装置、強誘電体結晶薄膜基板及び強誘電体結晶ウェハ2010

    • 発明者名
      長康雄, 尾上篤
    • 権利者名
      長尾康雄, パイオニア株式会社
    • 取得年月日
      2010-12-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [産業財産権] DATA RTECORDING/REPRODUCING APPARATUS AND METHOD USING NEEDLE-SHAPED MEMBER2008

    • 発明者名
      Ysuo Cho, Atsudhi Onoe
    • 権利者名
      Yasuo Cho, Pioneer Corporation
    • 取得年月日
      2008-06-10
    • 外国
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [産業財産権] 誘電体記録再生ヘッド及び誘電体記録再生装置2007

    • 発明者名
      長康雄, 尾上篤
    • 権利者名
      長康雄, パイオニア株式会社
    • 取得年月日
      2007-05-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [産業財産権] 探針空隙制御方法、及び、記録再生装置2005

    • 発明者名
      長 康雄
    • 権利者名
      東北大学
    • 産業財産権番号
      2005-079716
    • 出願年月日
      2005-03-18
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [産業財産権] 誘電体記録・再生装置及び記録方法ならびにその電極2005

    • 発明者名
      長 康雄
    • 権利者名
      東北大学
    • 産業財産権番号
      2005-081209
    • 出願年月日
      2005-03-22
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15206036
  • [学会発表] Correlation analysis on local capacitance-voltage profiles of a SiO2/SiC interface observed by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy2023

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue and Yasuo Cho
    • 学会等名
      7th IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing(EDTM) Conference 2023
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Correlation analysis on local capacitance-voltage profiles of a SiO2/SiC interface observed by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy2023

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue and Yasuo Cho
    • 学会等名
      7th IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing(EDTM) Conference
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Statistical analysis of local C-V map data for ferroelectric thin films2022

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho
    • 学会等名
      7th International Symposium on Dielectric Materials and Applications (ISyDMA’7)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Microscopic carrier distribution imaging of black silicon solar cell by scanning nonlinear dielectric microscopy” the 33rd International Photovoltaic Science and Engineering Conference (PVSEC-33)2022

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho, Beniamino Iandolo, Ole Hansen
    • 学会等名
      the 33rd International Photovoltaic Science and Engineering Conference (PVSEC-33)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Real-space analysis on surface potential fluctuations of Al2O3/GaN interfaces by scanning nonlinear dielectric microscopy2022

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue and Yasuo Cho
    • 学会等名
      International Workshop on Nitride Semiconductor(IWN2022)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Scanning Nonlinear Dielectric Microscopic Investigation of Mechanically Exfoliated WSe2/SiO2 and Suspended WSe22022

    • 著者名/発表者名
      Koki Takano, Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiaki Kato and Yasuo Cho
    • 学会等名
      2022 MRS Fall Meeting & Exhibit
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Experimental research on curved photovoltaic modules : effects of hot spots, interconnect schemes and curvature on electrical PV performance2022

    • 著者名/発表者名
      Sachiko Jonai, Haruto Morishita, Yasuo Cho, Diego Bronneberg, Martin Huijzer, Angele Reinders
    • 学会等名
      the 33rd International Photovoltaic Science and Engineering Conference (PVSEC-33)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Statistical analysis of local C-V map data for ferroelectric thin films2022

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho
    • 学会等名
      7th International Symposium on Dielectric Materials and Applications (ISyDMA’7)
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Real-space analysis on surface potential fluctuations of Al2O3/GaN interfaces by scanning nonlinear dielectric microscopy2022

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue and Yasuo Cho
    • 学会等名
      International Workshop on Nitride Semiconductor(IWN2022)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Microscopic carrier distribution imaging of black silicon solar cell by scanning nonlinear dielectric microscopy2022

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho, Beniamino Iandolo, Ole Hansen
    • 学会等名
      The 33rd International Photovoltaic Science and Engineering Conference (PVSEC-33)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Scanning Nonlinear Dielectric Microscopic Investigation of Mechanically Exfoliated WSe2/SiO2 and Suspended WSe22022

    • 著者名/発表者名
      Koki Takano, Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiaki Kato and Yasuo Cho
    • 学会等名
      2022 MRS Fall Meeting & Exhibit
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Local Capacitance-Voltage Profiling on MoS2/SiO2 and MoS2/h-BN/SiO2 by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Assisted with an Insulating Tip2022

    • 著者名/発表者名
      Taiyo Ishizuka, Kohei Yamasue, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      EDTM 2022
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Quantitative measurement of active dopant density distribution in black silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy2022

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho, Beniamino Iandolo, Ole Hansen
    • 学会等名
      49th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC 49)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Comparative study on carrier distribution of mechanically exfoliated WSe2/SiO2 and suspended WSe2 by scanning nonlinear dielectric microscopy2022

    • 著者名/発表者名
      Koki Takano, Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiro Kaneko and Yasuo Cho
    • 学会等名
      THE 22ND INTERNATIONAL VACUUM CONGRESS IVC-22
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Quantitative measurement of active dopant density distribution in black silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy2022

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho, Beniamino Iandolo, Ole Hansen
    • 学会等名
      49th IEEE Photovoltaic Specialists Conference
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Carrier Profile Mapping in a 3D Flash Memory Cell using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2022

    • 著者名/発表者名
      Jun Hirota, Ken Hoshino, Kohei Yamasue, and Yasuo Cho.
    • 学会等名
      EDTM 2022
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Experimental research on curved photovoltaic modules : effects of hot spots, interconnect schemes and curvature on electrical PV performance2022

    • 著者名/発表者名
      Sachiko Jonai, Haruto Morishita, Yasuo Cho, Diego Bronneberg
    • 学会等名
      The 33rd International Photovoltaic Science and Engineering Conference (PVSEC-33)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Comparative study on carrier distribution of mechanically exfoliated WSe2/SiO2 and suspended WSe2 by scanning nonlinear dielectric microscopy2022

    • 著者名/発表者名
      Koki Takano, Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiro Kaneko and Yasuo Cho
    • 学会等名
      THE 22ND INTERNATIONAL VACUUM CONGRESS IVC-22
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] A Scanning Nonlinear Dielectric Microscopic Investigation of Al2O3/Diamond MOS Interfaces2021

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho, Yu Ogata, Kohei Yamasue, Xufang Zhang, Tsubasa Matsumoto, Norio Tokuda
    • 学会等名
      2021 MRS Fall Meeting & Exhibit
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Scanning Nonlinear Dielectric Microscopic Investigation of Active Dopant Density Distribution in Black Silicon Solar Cell2021

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho, Beniamino Iandolo, Ole Hansen
    • 学会等名
      2021 MRS Fall Meeting & Exhibit
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Nanoscale characterization techniques for ultra-thin van der Waals semiconductors based on scanning nonlinear dielectric microscopy2021

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      The 5th international symposium on“Elucidation of Next Generation Functional Materials・Surface and Interface Properties”
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Nanoscale study on surface potential fluctuations of SiO2/SiC interfaces by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy2021

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      52th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Local Capacitance-Voltage Profiling and Deep Level Transient Spectroscopy of SiO2/SiC Interfaces by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2021

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      IPFA2021
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Microscopic Carrier Distribution Imaging of Atomically-Thin van der Waals Semiconductors by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2021

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho, Kohei Yamasue
    • 学会等名
      Microscopic Carrier Distribution Imaging of Atomically-Thin van der Waals Semiconductors by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Nanoscale capacitance-voltage profiling of DC bias induced stress on a high-κ/SiO2/Si gate stack2021

    • 著者名/発表者名
      Koharu Suzuki, Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ESREF2021
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Simultaneous interface defect density and differential capacitance imaging by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy2021

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ISTFA 2021
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Nanoscale Domain Dynamics Characterization Using Local C-V Mapping2021

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho
    • 学会等名
      The Sixth International Symposium on Dielectric Materials and Applications
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Surface potential fluctuations of SiO2/SiC interfaces investigated by local capacitance-voltage profiling based on time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy2021

    • 著者名/発表者名
      K. YAMASUE, Y. CHO
    • 学会等名
      ECSCRM 2021
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Recording Medium Design Aiming at Realizing Ferroelectric Probe Data Storage2021

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho
    • 学会等名
      The Sixth International Symposium on Dielectric Materials and Applications
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Local capacitance-voltage profiling and high voltage stress effect study of SiO2/SiC structures by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy2021

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Koharu Suzuki, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ESREF2021
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] Nanoscale evaluation of Al2O3/diamond MOS interfaces using time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy2021

    • 著者名/発表者名
      Y. OGATA, K. YAMASUE, X. ZHANG, T. MATSUMOTO, N. TOKUDA, Y. CHO
    • 学会等名
      ECSCRM 2021
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18706
  • [学会発表] High-Resolution Observation of Ferroelectric Domains Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy With Ultra Sharp Diamond Probe2019

    • 著者名/発表者名
      Tomotaka Ishida, Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho
    • 学会等名
      Asia-Pacific PFM 2019
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Improvement of Signal-to-Noise Ratio in Carrier Distribution Imaging in Intermittent Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Based on Boxcar Integration2019

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue and Yasuo Cho
    • 学会等名
      8th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Unintentional doping effects on atomically-thin Nb-doped MoS2 observed by scanning nonlinear dielectric microscopy2019

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue and Yasuo Cho
    • 学会等名
      International Symposium for Testing and Failure Analysis 2019
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] A New Evaluation Technique for Interface Defect Density on High-κ/SiO2/Si and SiO2/Si Gate Stacks using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2019

    • 著者名/発表者名
      K. Suzuki, K. Yamasue, and Y. Cho
    • 学会等名
      50th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Flexoelectricity and magnetism in strain-gradient rare-earth iron garnet thin films2019

    • 著者名/発表者名
      Hiroyasu Yamahara, Sarker Md Shamim, Munetoshi Seki, Yasuo Cho, Hitoshi Tabata
    • 学会等名
      26th International Workshop on Oxide Electronics
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Optimization of signal intensity in intermittent contact scanning nonlinear dielectric microscopy2019

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue and Yasuo Cho
    • 学会等名
      The 30th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Carrier Distribution Investigation of Potential-Induced Degradation in Monocrystalline Silicon Solar Cell Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2019

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      he 29th International PV Science and Engineering Conference
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Influence of non-uniform interface defect distribution on channel mobility in SiC MOSFETs investigated by local deep level transient spectroscopy and device simulation2019

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue Yuji Yamagishi, Yasuo Cho
    • 学会等名
      International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2019
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] High Resolution Mapping of Defects at SiO2/SiC Interfaces by Local-DLTS Based on Time Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2019

    • 著者名/発表者名
      Yuji Yamagishi and Yasuo Cho
    • 学会等名
      The International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Surface dipole induced potentials on metals observed by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2019

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue and Yasuo Cho
    • 学会等名
      The 17th International Conference on the Formation of Semiconductor Interfaces
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] ∂C/∂z-Mode Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy for Linear Permittivity Imaging2019

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho
    • 学会等名
      Asia-Pacific PFM 2019
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Boxcar averaging based scanning nonlinear dielectric microscopy and its application to carrier distribution imaging on 2D semiconductors2019

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2019 International Integrated Reliability Workshop
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] A study on evaluation of interface defect density on high-κ/SiO2/Si and SiO2/Si gate stacks using scanning nonlinear dielectric microscopy2019

    • 著者名/発表者名
      Koharu Suzuki, Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2019 International Integrated Reliability Workshop
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Nanoscale carrier distribution imaging on atomically-thin layered semiconductors by scanning nonlinear dielectric microscop2019

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue and Yasuo Cho
    • 学会等名
      The 4th international symposium on “Elucidation of Property of Next Generation Functional Materials and Surface/Interface
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] 2D Interface Defect Density Evaluation on Macrostepped SiO2/SiC Using Local Deep Level Transient Spectroscopy Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2019

    • 著者名/発表者名
      A. Hosaka, K. Yamasue, J. Woerle, G. Ferro, U. Grossner, M. Camarda, and Y. Cho
    • 学会等名
      50th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Unintentional n-Type Doping on Single Layer Nb-Doped MoS2 Observed by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2019

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue and Yasuo Cho
    • 学会等名
      2019 MRS Fall Meeting & Exhibit
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] High Resolution Observation of Subsurface Defects at SiO2/4H-SiC Interfaces by Local Deep Level Transient Spectroscopy Based on Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2019

    • 著者名/発表者名
      Y. Yamagishi and Y. Cho
    • 学会等名
      IRPS 2019
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Spatially Resolved Defect Mapping of the SiO2/4H-SiC Interface2019

    • 著者名/発表者名
      Judith Woerle, Brett Johnson, Corrado Bongiorno, Kohei Yamasue, Gabriel Ferro, Dipanwita Dutta, Yasuo Cho, Ulrike Grossner, Massimo Camarda
    • 学会等名
      International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2019
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] High resolution characterizations of fine structure of electric devices and materials using scanning nonlinear dielectric microscopy2019

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      High Frequency Scanning Probe Microscopy Workshop
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Carrier profiling of the 10-nm-order structure in a 3D Flash memory cell using scanning nonlinear dielectric microscopy2019

    • 著者名/発表者名
      Jun Hirota, Ken Hoshino, Tsukasa Nakai, Kohei Yamasue, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      International Symposium for Testing and Failure Analysis 2019
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Spatially-resolved evaluation of interface defect density on macrostepped SiO2/SiC using local deep level transient spectroscopy2019

    • 著者名/発表者名
      Anna Hosaka, Kohei Yamasue, Judith Woerle, Gabriel Ferro, Ulrike Grossner, Massimo Camarda, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2019 International Integrated Reliability Workshop
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Novel carrier measurement methodology for floating gate of sub-20 nm node flash memory using scanning nonlinear dielectric microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Jun Hirota, Yuji Yamagishi, Shiro Takeno and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ISTFA 2018
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Quantitative Evaluation of Carrier Distribution in Silicon Solar Cell Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      IPFA 2018
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] ∂C/∂z-Mode Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy for Local Permittivity Imaging2018

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ECAPD-2018
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Scanning nonlinear dielectric microscopy study on nanoscale carrier distribution in two dimensional semiconductors2018

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ICN+T2018
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Charge State Evaluation of Passivation Layers for Silicon Solar Cells by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      K. Kakikawa, Y. Yamagishi, H. Takato, K. Tanahashi and Y. Cho
    • 学会等名
      IRPS2018
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] High Resolution Mapping of Subsurface Defects at SiO2/SiC Interfaces by Local Deep Level Transient Spectroscopy Based on Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Y. Yamagishi and Y. Cho
    • 学会等名
      SISC 2018
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Imaging of nanoscale linear permittivity by using ∂C/∂z-mode scanning nonlinear dielectric microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho
    • 学会等名
      Electroceramics XVI
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] High resolution observation of defects at SiO2/4H-SiC interfaces by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yuji Yamagishi, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ESREF2018
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Development of time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy and its application to local deep level transient spectroscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yuji Yamagishi and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ICN+T2018
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Local deep level transient spectroscopy imaging for MOS interface trap distribution2018

    • 著者名/発表者名
      N. Chinone and Y. Cho
    • 学会等名
      PCSI45
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] ∂C/∂z-mode scanning nonlinear dielectric microscopy for imaging nanoscale linear permittivity2018

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ICN+T2018
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Measurement Method of Depth Profile in Polarity-Inverted Layered Structure Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy with Soft Probe tip2018

    • 著者名/発表者名
      Hiroyuki Odagawa, Yohei Tanaka, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ECAPD-2018
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] HDD Type High Speed Data Readout Demonstrations in Ferroelectric Data Storage Using Pb(Zr,Ti)O3 Recording Medium2018

    • 著者名/発表者名
      R. M. ABEYSINGHE, Y. HIRANAGA and Y. CHO
    • 学会等名
      2018 ISAF-FMA-AMF-AMEC-PFM Joint Conference
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Evaluation of Local Charge State in Al2O3 Passivation Layers of Silicon Solar Cells Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      K. Kakikawa, Y. Yamagishi, K. Tanahashi, H. Takato and Y. Cho
    • 学会等名
      ACSIN-14 & ICSPM26
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Nanoscale Permittivity Imaging Using ∂C/∂z-mode Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Y. Hiranaga and Y. Cho
    • 学会等名
      ACSIN-14 & ICSPM26
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] DC bias dependent nanoscale carrier distribution on a few-layer WSe2 on SiO2 observed by scanning nonlinear dielectric microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiro Kaneko and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ECOSS34
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Nanoscale Linear Permittivity Imaging Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho
    • 学会等名
      IUMRS-ICEM 2018
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Scanning nonlinear dielectric microscopy in peak-force tapping mode and its application to transition metal dichalcogenides2018

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ISPM2018
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Improved readout speed in ferroelectric probe data storage with large nonlinear permittivity media2018

    • 著者名/発表者名
      Reshan Maduka Abeysinghe, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ECAPD-2018
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Few-layer WSe2 on SiO2 Observed by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy and Electrostatic Force Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      K. Yamasue, T. Kato, T. Kaneko and Y. Cho
    • 学会等名
      ACSIN-14 & ICSPM26
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Nanoscale carrier distribution imaging of layered semiconductor materials using scanning nonlinear dielectric microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      K. Yamasue and Y. Cho
    • 学会等名
      PCSI45
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Electric Field Effects on Few-Layer WSe2/SiO2 Investigated by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiro Kaneko and Yasuo Cho
    • 学会等名
      2018 MRS Fall Meeting & Exhibit
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Local Evaluation of Al2O3 Passivation Layers for Crystalline Silicon Solar Cells by Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Kento Kakikawa, Yuji Yamagishi, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, Yasuo Cho
    • 学会等名
      World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC7)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] ∂C/∂z-mode SNDM for imaging nanoscale linear permittivity2018

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi HIRANAGA and Yasuo CHO
    • 学会等名
      The 3rd International Symposium on“Recent Trends in the Elucidation and Function Discovery of Next Generation Functional Materials of Surface / Interface Properties”
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] High-resolution observation of defects at nitride SiO2/4H-SiC interfaces by local deep level transient spectroscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Y. Yamagishi, K. Yamasue and Y. Cho
    • 学会等名
      ECSCRM2018
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Nanoscale Linear Permittivity Measurement Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho
    • 学会等名
      Third International Symposium on Dielectric Materials and Applications
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Quantitative measurement of active dopant density distribution in textured emitter of phosphorus-implanted monocrystalline silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      TechConnect World 2018
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Local Permittivity Measurement Using ∂C/∂z-Mode Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Y. HIRANAGA and Y. CHO
    • 学会等名
      2018 ISAF-FMA-AMF-AMEC-PFM Joint Conference
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] High-Resolution Observation of Defects at SiO2/SiC Interfaces by Local Deep Level Transient Spectroscopy Based on Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yuji Yamagishi and Yasuo Cho
    • 学会等名
      2018 MRS Fall Meeting & Exhibit
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] High resolution mapping of subsurface defects at SiO2/SiC interfaces by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yuji Yamagishi, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ISTFA 2018
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Nanoscale Linear Dielectric Constant Imaging Using ∂C/∂z -Mode Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho
    • 学会等名
      2018 MRS Fall Meeting & Exhibit
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Local Evaluation of Non-Uniform Charge Distribution in Al2O3 Passivation Layers for Silicon Solar Cells Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Kento Kakikawa, Yuji Yamagishi, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      2018 MRS Fall Meeting & Exhibit
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Quantitative imaging of carrier distribution in silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ISTFA 2018
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Nondestructive Measurements of Double-Layered Piezoelectric Polarity-Inverted Structure Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Hiroyuki Odagawa, Yohei Tanaka, Yasuo Cho
    • 学会等名
      Third International Symposium on Dielectric Materials and Applications
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Quantitative Imaging of MOS Interface Trap Distribution by Using Local Deep Level Transient Spectroscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone and Yasuo Cho
    • 学会等名
      IPFA 2018
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Visualization of Traps at SiO2/SiC Interfaces near the Conduction Band by Local Deep Level Transient Spectroscopy at Low Temperatures2017

    • 著者名/発表者名
      T. Abe, Y. Yamagishi and Y. Cho
    • 学会等名
      ICSPM25
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Quantitative Analysis of Active Dopant Distribution and Estimation of Effective Diffusivity in Phosphorus-Implanted Emitter of Si Solar Cell Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      IEEE PVSC-44
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Local deep level transient spectroscopy for two-dimensional MOS interface characterization based on scanning nonlinear dielectric microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      N. Chinone, and Y. Cho
    • 学会等名
      16th International Conference on the Formation of Semiconductor Interfaces(icsfi2017)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Quantitative Measurement of Active Dopant Density Distribution and Evaluation of Effective Diffusivities in Phosphorus-Implanted Monocrystalline Silicon Solar Cell Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      2017 MRS Fall Meeting & Exhibit
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] DC bias dependence of local deep level transient spectroscopy signal and quantitative two-dimensional imaging of SiO2/SiC interface trap density2017

    • 著者名/発表者名
      N. Chinone, R. Kosugi, Y. Tanaka, S. Harada, H. Okumura,and Y. Cho
    • 学会等名
      ICSCRM 2017
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Ferroelectric Probe Data Storage Using HfO2-Based Thin-Film Recording Media2017

    • 著者名/発表者名
      Y. Hiranaga, T. Mimura, T. Shimizu, H. Funakubo and Y. Cho
    • 学会等名
      2017 Joint IEEE ISAF-IWATMD-PFM
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Quantitative imaging of MOS interface trap using local deep level transient spectroscopy based on scanning nonlinear dielectric microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      N. Chinone,and Y. Cho
    • 学会等名
      48th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Improvement of Local Deep Level Transient Spectroscopy for Microscopic Evaluation of SiO2/4H-SiC Interfaces2017

    • 著者名/発表者名
      Yuji Yamagishi and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ICSCRM 2017
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Two‐dimensional imaging of MOS interface trap using local deep level transient spectroscopy based on scanning nonlinear dielectric microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      N. Chinone,and Y. Cho
    • 学会等名
      DRIP XVII
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Local Deep Level Transient Spectroscopy Imaging on Trap Distribution in SiC MOS Interface Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      N. Chinone, and Y. Cho
    • 学会等名
      The 19th International Scanning Probe Microscopy Conference
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] EVALUATION OF EFFECTIVE DIFFUSIVITIES AND THREE-DIMENSIONAL SIMULATION OF CARRIER DISTRIBUTION IN PHOSPHORUS-IMPLANTED EMITTER OF SI SOLAR CELL USING SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC MICROSCOPY2017

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      PVSEC-27
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Atomic resolution imaging and carrier type determination of Molybdenum disulfide by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ECOSS 33
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Imaging of MOS Interface Trap Distribution using Local Deep Level Transient Spectroscopy Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      N. Chinone,and Y. Cho
    • 学会等名
      AVS 64th International Symposium & Exhibition
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Quantitative thickness measurement in polarity-inverted piezoelectric layered thin film using scanning nonlinear dielectric microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      H. Odagawa, K. Terada, H. Nishikawa, Y. Tanaka, T. Yanagitani and Y. Cho
    • 学会等名
      2017 Joint IEEE ISAF - IWATMD - PFM (26th International Symposium on Applications of Ferroelectrics (ISAF))
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K04725
  • [学会発表] Quantitative Imaging of SiO2/SiC Interface Trap Density Using Local Deep Level Transient Spectroscopy2017

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Ryoji Kosugi, Yasunori Tanaka, Shinsuke Harada, Hajime Okumura, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2017 MRS Fall Meeting & Exhibit
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Local Carrier Distribution Imaging of Two-Dimensional Semiconductors by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      K. Yamasue and Y. Cho
    • 学会等名
      ICSPM25
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Dynamic Observation of Nanoscale Domain Switching Behaviors in Ferroelectric HfO2 films Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      Y. Hiranaga, T. Mimura, T. Shimizu, H. Funakubo and Y. Cho
    • 学会等名
      2017 Joint IEEE ISAF-IWATMD-PFM
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] “Atomic Resolution Imaging of MoS2 by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      K.Yamasue and Y. Cho
    • 学会等名
      The 19th International Scanning Probe Microscopy Conference
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Local evaluation of Al2O3 passivation layers crystalline silicon solar cells by super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      K. Kakikawa, Y. Yamagishi, H. Takato, K. Tanahashi and Y. Cho
    • 学会等名
      ICSPM25
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Local Carrier and Charge Distribution Imaging on Molybdenum Disulfide by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      K. Yamasue and Y. Cho
    • 学会等名
      ISSS-8 2017
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Measurement Method of Multi-layer Piezoelectric Polarity-inverted Structure Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      H. Odagawa, Y. Tanaka, T. Yanagitani, and Y. Cho
    • 学会等名
      2017 Joint IEEE ISAF-IWATMD-PFM
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Local Deep Level Transient Spectroscopy Imaging Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      The 2nd International Symposium on “Recent Trends in Analysis Techniques for Functional Materials and Devices”
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] DC bias dependence of local deep level transient spectroscopy spectrum and quantitative two-dimensional imaging of SiO2/SiC interface trap density2017

    • 著者名/発表者名
      N. Chinone, R. Kosugi, S. Harada, Y. Tanaka, H. Okumura,and Y. Cho
    • 学会等名
      ESREF 2017
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Local deep level transient spectroscopy for two-dimensional trap distribution in MOS interface using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      The 20th Microscopy of Semi Conducting Materials
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Proposal of Local Deep Level Transient Spectroscopy Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy and 2-Dimensional Imaging of Trap Distribution in SiO2 /SiC Interface2016

    • 著者名/発表者名
      N. Chinone, R.Kosugi ,Y. Tanaka, S. Harada, H. Okumura, and Y. Cho
    • 学会等名
      IPFA 2016
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Nanoscaled Permittivity Distribution Imaging Using an SNDM Probe2016

    • 著者名/発表者名
      Y. Hiranaga, N. Chinone, K. Hirose, and Y. Cho
    • 学会等名
      2016 Joint ISAF/ECAPD/PFM Conference
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Quantitative Analysis of Two-dimensional Carrier Concentration in Phosphorus-implanted Emitter Solar Cell using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      PVSEC26
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Two-dimensional imaging of trap distribution in SiO2 /SiC interface using local deep level transient spectroscopy based on super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      N. Chinone, R.Kosugi ,Y. Tanaka, S. Harada, H. Okumura, and Y. Cho
    • 学会等名
      ecscrm2016
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Quantitative Thickness Measurement in Layered Polarity-Inverted Piezoelectric Thin Films Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      Koshiro Terada, Hiroaki Nishikawa, Yohei Tanaka1, Hiroyuki Odagawa1, Takahiko Yanagitani, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      The 3rd International Conference of Global Network for Innovative Technology
    • 発表場所
      Penang, Malaysia
    • 年月日
      2016-01-27
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K04725
  • [学会発表] Polarization Charge Density Measurement by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Potentiometry2016

    • 著者名/発表者名
      K. Yamasue, and Y. Cho
    • 学会等名
      ICSPM24
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Two-Dimensional Characterization of Phosphorus-Implanted Emitter and Phosphorus-Diffused Emitter of Silicon Solar Cell Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      K. Hirose, N. Chinone & Y. Cho
    • 学会等名
      EU PVSEC 2016
    • 発表場所
      Munich, Germany
    • 年月日
      2016-06-20
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Two-dimensional Analysis of Carrier Distribution in Phosphorus-Implanted Emitter and Phosphorus-Diffused Emitter using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, Norimichi Chinone, Yasuo Cho
    • 学会等名
      43rd IEEE Photovoltaic Specialists Conference
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Ferroelectric Nanodomain Observation in Yttrium-Doped HfO2 Thin Films Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      Z. Chen, Y. Hiranaga, T. Shimizu, K. Katayama, T. Mimura, H. Funakubo, and Y. Cho
    • 学会等名
      2016 Joint ISAF/ECAPD/PFM Conference
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Surface polarization measurement on a reconstructed Si(111) surface by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2016

    • 著者名/発表者名
      K. Yamasue, and Y. Cho
    • 学会等名
      NC-AFM 2016
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Surface polarization on a Si(111) reconstructed surface measured by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2016

    • 著者名/発表者名
      K. Yamasue, and Y. Cho
    • 学会等名
      ecoss32
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] urface polarization on a Si(111) reconstructed surface measured by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2016

    • 著者名/発表者名
      K. Yamasue, and Y. Cho
    • 学会等名
      ecoss32
    • 発表場所
      Grenoble, France
    • 年月日
      2016-08-28
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Local deep level transient spectroscopy using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Ryoji Kosugi, Yasunori Tanaka, Shinske Harada, Hajime Okumura, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ESREF2016
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Universal parameter evaluating SiO2 /SiC interface quality based on scanning nonlinear dielectric microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      N. Chinone, A. Nayak, R.Kosugi ,Y. Tanaka, S. Harada, Y. Kiuchi, H. Okumura, and Y. Cho
    • 学会等名
      ecscrm2016
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Quantitative thickness measurement in polarity-inverted piezoelectric layered thin film using scanning nonlinear dielectric microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      H. Odagawa, K. Terada, H. Nishikawa, Y. Tanaka, T. Yanagitani, and Y. Cho
    • 学会等名
      2016 Joint ISAF/ECAPD/PFM Conference
    • 発表場所
      Darmstadt, Germany
    • 年月日
      2016-08-21
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Quantitative thickness measurement in polarityinverted piezoelectric layered thin film using scanning nonlinear dielectric microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      Hiroyuki Odagawa, Koshiro Terada, Hiroaki Nishikawa, Yohei Tanaka, Takahiko Yanagitani and Yasuo Cho
    • 学会等名
      2016 Joint IEEE International Symposium on the Applications of Ferroelectrics, European Conference on Applications of Polar Dielectrics & Workshop on Piezoresponse Force Microscopy (ISAF/ECAPD/PFM)
    • 発表場所
      Darmstadt, Germany
    • 年月日
      2016-08-21
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K04725
  • [学会発表] Surface polarization measurement on a reconstructed Si(111) surface by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2016

    • 著者名/発表者名
      K. Yamasue, and Y. Cho
    • 学会等名
      NC-AFM 2016
    • 発表場所
      Nottingham,UK
    • 年月日
      2016-07-25
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Two-dimensional local deep level transient spectroscopy imaging using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      N. Chinone, R.Kosugi ,Y. Tanaka, S. Harada, H. Okumura, and Y. Cho
    • 学会等名
      ISTFA2016
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] TWO-DIMENSIONAL CHARACTERIZATION OF PHOSPHORUS-IMPLANTED EMITTER AND PHOSPHORUS-DIFFUSED EMITTER OF SILICON SOLAR CELL USING SUPER-HIGHER-ORDER SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC MICROSCOPY2016

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Hirose,Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, Norimichi Chinone and Yasuo Cho
    • 学会等名
      32nd European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Two-dimensional Analysis of Carrier Distribution in Phosphorus-Implanted Emitter and Phosphorus-Diffused Emitter using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, Norimichi Chinone, Yasuo Cho
    • 学会等名
      43rd IEEE Photovoltaic Specialists Conference
    • 発表場所
      PORTLAND , U.S.A
    • 年月日
      2016-06-05
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Universal Parameter Characterizing SiO2/SiC Interface Quality Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Alpana Nayak, Ryoji Kosugi, Yasuonori Tanaka, Shinsuke Harada, Yuji Kiuchi, Hajime Okumura, Yasuo Cho
    • 学会等名
      016 MRS fall meeting
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Local deep level Transient Spectroscopy Imaging for Characterization of Two-Dimensional Trap Distribution in SiO2/SiC Interface Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Ryoji Kosugi, Yasuonori Tanaka, Shinsuke Harada, Hajime Okumura, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2016 MRS fall meeting
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] An Universal Parameter Showing SiO2/SiC Interface Quality of Both Silicon and Carbon-face based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Alpana Nayak, Ryoji Kosugi ,Yasunori Tanaka, Shinsuke Harada, Yuji Kiuchi, Hajime Okumura, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ISCSI-VII/ ISTDM 2016
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Quantitative thickness measurement in polarity-inverted piezoelectric layered thin film using scanning nonlinear dielectric microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      H. Odagawa, K. Terada, H. Nishikawa, Y. Tanaka, T. Yanagitani, and Y. Cho
    • 学会等名
      2016 Joint ISAF/ECAPD/PFM Conference
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Ferroelectric Nanodomain Observation in Yttrium-Doped HfO2 Thin Films Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      Z. Chen, Y. Hiranaga, T. Shimizu, K. Katayama, T. Mimura, H. Funakubo, and Y. Cho
    • 学会等名
      2016 Joint ISAF/ECAPD/PFM Conference
    • 発表場所
      Darmstadt, Germany
    • 年月日
      2016-08-21
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Two-Dimensional Characterization of Phosphorus-Implanted Emitter and Phosphorus-Diffused Emitter of Silicon Solar Cell Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      K. Hirose, N. Chinone & Y. Cho
    • 学会等名
      EU PVSEC 2016
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06360
  • [学会発表] Two-Dimensional Characterization of Active Dopant Distribution in a p-i-n Structured Amorphous Silicon Solar Cell Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2016

    • 著者名/発表者名
      K. Hirose, N. Chinone & Y. Cho
    • 学会等名
      EU PVSEC 2016
    • 発表場所
      Munich, Germany
    • 年月日
      2016-06-20
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC POTENTIOMETRY:NEW STRATEGY FOR MESURING DIPOLE-INDUCED POTENTIALS IN ATOIMIC SCALE2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Cho, K. Yamasue
    • 学会等名
      ISPM Conference 2015
    • 発表場所
      RIO DE JANEIRO, Brazil
    • 年月日
      2015-06-21
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Simultaneous Imaging of Atomically Resolved Topography and Potential of Graphene on C-Terminated Face of SiC Using Scanning Nonlinear Dielectric Potentiometry2015

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2015 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      2015-11-29
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Method for Measuring Polarity-Inverted Layered Structure in Dielectric Thin Films Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscocpy2015

    • 著者名/発表者名
      Hiroyuki Odagawa, Koshiro Terada, Hiroaki Nishikawa, TakahikoYanagitani abd Yasuo Cho
    • 学会等名
      13th European Meeting on Ferroelectricity (EMF2015)
    • 発表場所
      Porto, Portugal
    • 年月日
      2015-06-28
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K04725
  • [学会発表] Visualization of Carrier Distribution in Operated SiC Power-MOSFET Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2015

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2015 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      2015-11-29
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Gate-bias dependent carrier distribution visualization in SiC power-MOSFET using super-higher-order SNDM2015

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Yasuo Cho
    • 学会等名
      EMN CANCUN MEETING 2015
    • 発表場所
      Cancun,Mexico
    • 年月日
      2015-06-08
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Investigation of Oxygen Adsorbed Si(100)-(2x1) Surface Using Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2015

    • 著者名/発表者名
      Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2015 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      2015-11-29
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy study of oxygen-adsorption on a Si(100)-(2×1) surface2015

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Masataka Suzuki, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ECOSS-31
    • 発表場所
      Barcelona, Spain
    • 年月日
      2015-08-31
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Nondestructive and local evaluation of SiO2/SiC interface using superhigher-order scanning nonlinear dielectric microscopy2015

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Ryoji Kosugi, Yasunori Tanaka, Shinsuke Harada, Hajime Okumura, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ICSCRM 2015
    • 発表場所
      Giardini Naxos, Italy
    • 年月日
      2015-10-04
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Oxygen adsorption on a Si(100)-(2×1) surface studied by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy2015

    • 著者名/発表者名
      M. Suzuki, K. Yamasue, and Y. Cho
    • 学会等名
      nc AFM 2015
    • 発表場所
      Cassis, France
    • 年月日
      2015-09-07
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] 走査型非線形誘電率顕微法による層状極性反転圧電膜の層厚の定量測定2015

    • 著者名/発表者名
      寺田浩士朗, 西川宏明, 田中陽平, 小田川裕之, 柳谷隆彦, 長康雄
    • 学会等名
      超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム(USE2015)
    • 発表場所
      つくば
    • 年月日
      2015-11-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K04725
  • [学会発表] Dopant Profiling Analysis of P-I-N Structure in Thin-Film Amorphous Silicon Solar Cell Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2015

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Hirose, Norimichi Chinone, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2015 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      2015-11-29
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] wo dimensional electron gas and polarization measurement in AlGaN/GaN heterostructure using scanning nonlinear dielectric microscopy2015

    • 著者名/発表者名
      K. Hirose, Y. Goto, N. Chinone, and Y. Cho
    • 学会等名
      ICSPM23
    • 発表場所
      ヒルトンニセコビレッジホテル,北海道虻田郡ニセコ町, Japan
    • 年月日
      2015-12-10
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Hard-Disk-Drive-Type Ferroelectric Data Recording with Memory Density over 1 Tbit/inch2 Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2015

    • 著者名/発表者名
      Tomonori Aoki, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2015 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      2015-11-29
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Observation of graphene on C-terminated face of SiC using noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2015

    • 著者名/発表者名
      K. Yamasue, H. Fukidome, K. Funakubo, M. Suemitsu, and Y. Cho
    • 学会等名
      nc AFM 2015
    • 発表場所
      Cassis, France
    • 年月日
      2015-09-07
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Polarization and Two Dimensional Electron Gas Visualization in AlGaN/GaN Heterostructure2015

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Hirose, Norimichi Chinone, Yasunori Goto, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2015 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      2015-11-29
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Negligible Covalent Bonding in Proper Ferroelectric Ferromagnet: Strained La2NiMnO6 Thin Film2015

    • 著者名/発表者名
      Ryota Takahashi, Isao Ohkubo, Kunihiko Yamauchi, Miho Kitamura, Yasunari Sakurai, Masaharu Oshima, Tamio Oguchi, Yasuo Cho, Mikk Lippmaa
    • 学会等名
      2015 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      2015-11-29
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Carrier redistribution analysis of gate-biased SiC power-MOSFET using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy2015

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ISTFA 2015
    • 発表場所
      Portland, USA
    • 年月日
      2015-11-01
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Graphene on C-terminated Face of 4H-SiC Observed by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Potentiometry2015

    • 著者名/発表者名
      K. Yamasue, H. Fukidome, K. Tashima, M. Suemitsu, Y. Cho
    • 学会等名
      ICSPM23
    • 発表場所
      ヒルトンニセコビレッジホテル,北海道虻田郡ニセコ町, Japan
    • 年月日
      2015-12-10
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Observation of polarization and two dimensional electron gas in AlGaN/GaN heterostructure using scanning nonlinear dielectric microscopy2015

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Hirose, Norimichi Chinone and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ISTFA 2015
    • 発表場所
      Portland, USA
    • 年月日
      2015-11-01
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Data Bit Recording with a Density Exceeding 1 Tbit/inch2 Using an HDD-Type Ferroelectric Probe Data Storage Unit2015

    • 著者名/発表者名
      T. Aoki, Y. Hiranaga, and Y. Cho
    • 学会等名
      2015 JOINT ISAF-ISIF-PFM CONFERENCE
    • 発表場所
      SINGAPORE
    • 年月日
      2015-05-24
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Visualization of gate-bias dependent carrier distribution in SiC power-MOSFET using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy2015

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ESREF 2015
    • 発表場所
      Toulouse, France
    • 年月日
      2015-10-05
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Charge Gradient Microscopy:Electromechanical Charge Scraping at the Nanoscale2015

    • 著者名/発表者名
      S. Hong, S. Tong, Y. Choi, W. Park, Y. Hiranaga, Y. Cho, A. Roelofs
    • 学会等名
      EMA2015
    • 発表場所
      Orlando, Florida
    • 年月日
      2015-01-21
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Charge Gradient Microscopy : Electromechanical Charge Scraping and Refill of Screening Charges2015

    • 著者名/発表者名
      Seungbum Hong, Sheng Tong, Yoon-Young Choi, Woon Ik Park, Liliana Stan, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho,Andreas Roelofs
    • 学会等名
      MMC 2015
    • 発表場所
      Manchester, UK
    • 年月日
      2015-06-29
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] HYDROGEN-INTERCALATED GRAPHENE ON SiC STUDIED BY NONCONTACT SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC POTENTIOMETRY2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Cho, K. Yamasue, H. Fukidome,K. Funakubo, M. Suemitsu
    • 学会等名
      ISPM Conference 2015
    • 発表場所
      RIO DE JANEIRO, Brazil
    • 年月日
      2015-06-21
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Method for Measuring Polarity-Inverted Layered Structure in Dielectric Thin Films Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2015

    • 著者名/発表者名
      H.Odagawa, K.Terada, H.Nishikawa, T.Yanagitani, and Y. Cho
    • 学会等名
      13th EUROPEAN MEETING ON FERROELECTRICITY
    • 発表場所
      PORTO, PORTUGAL
    • 年月日
      2015-06-28
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Local and Nondestructive Evaluation of SiO2/SiC Interface Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2015

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Ryoji Kosugi, Yasuonori Tanaka, Shinsuke Harada, Hajime Okumura, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2015 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      2015-11-29
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Graphene on C-terminated face of 4H-SiC studied by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry2015

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ECOSS-31
    • 発表場所
      Barcelona, Spain
    • 年月日
      2015-08-31
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Effect of Ion Beam Irradiation on Recording Media of Ferroelectric Probe Data Storage2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Hiranaga, Y. T. Chen, and Y. Cho
    • 学会等名
      2015 JOINT ISAF-ISIF-PFM CONFERENCE
    • 発表場所
      SINGAPORE
    • 年月日
      2015-05-24
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Read/Write Demonstration of Ferroelectric Probe Data Storage with a Density Exceeding 1 Tbit/inch22015

    • 著者名/発表者名
      T. Aoki, Y. Hiranaga, and Y. Cho
    • 学会等名
      13th EUROPEAN MEETING ON FERROELECTRICITY
    • 発表場所
      PORTO, PORTUGAL
    • 年月日
      2015-06-28
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Surface Analytical Study on Ferroelectric Recording Media Using XPS and SNDM2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Hiranaga, Y. T. Chen, and Y. Cho
    • 学会等名
      13th EUROPEAN MEETING ON FERROELECTRICITY
    • 発表場所
      PORTO, PORTUGAL
    • 年月日
      2015-06-28
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Visualization of polarization and two dimensional electron gas distribution in AlGaN/GaN heterostructure using scanning nonlinear dielectric microscopy2015

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Hirose, Norimichi Chinone, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ICSCRM 2015
    • 発表場所
      Giardini Naxos, Italy
    • 年月日
      2015-10-04
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Measurement of Nonlinear Dielectric Constants of PZT Thin Films used in Ferroelectric Probe Data Storage Technology2014

    • 著者名/発表者名
      Y. Hiranaga and Y. Cho
    • 学会等名
      2014 Joint IEEE ISAF-IWATMD-PFM
    • 発表場所
      PennState(State college), USA
    • 年月日
      2014-05-12
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] High resolution imaging of dopant and depletion layer distribution in SiC power MOSFET using super-higher-order nonlinear dielectric microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Takashi Nakamura, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ESREF2014
    • 発表場所
      Berlin, Germany
    • 年月日
      2014-09-29
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Conduction in nanodomain inversion dots in congruent lithium tantalate single crystal2014

    • 著者名/発表者名
      Y. Cho
    • 学会等名
      ECAPD 2014
    • 発表場所
      Vilnius, Lithuania
    • 年月日
      2014-07-07
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Pyroelectric Detection of Spontaneous Polarization in Multiferroic La2NiMnO6 Thin Films2014

    • 著者名/発表者名
      Ryota Takahashi, Isao Ohkubo, Miho Kitamura, Masaharu Oshima, Yasuo Cho, Mikk Lippmaa
    • 学会等名
      2014 MRS Spring Meeting
    • 発表場所
      San Francisco, USA
    • 年月日
      2014-04-21
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Simultaneous Observation of Topography and Electric Dipole Moments on Si(100)-2×1 Surface Using Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2014 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      2014-11-30
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Investigation of Hydrogen-Intercalated Graphene on 4H-SiC(0001) by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ECOSS30
    • 発表場所
      Antalya, TURKEY
    • 年月日
      2014-08-31
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] A Novel Method for Simultaneous Measurement of Topography and Dipole-Induced Local Surface Potential Based on Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      K. Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ICN+T 2014
    • 発表場所
      Vail, Colorado, USA
    • 年月日
      2014-07-20
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] A New Atomically Resolved Potentiometry for Dipole-Induced Local Surface Potential Based on Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ECOSS30
    • 発表場所
      Antalya, TURKEY
    • 年月日
      2014-08-31
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Charge gradient microscopy: high-speed visualization of polarization charges using a nanoscale probe2014

    • 著者名/発表者名
      eungbum Hong, Sheng Tong, Woon Ik Park, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho, and Andreas Roelofs
    • 学会等名
      Nanoscale Spectroscopy and Nanotechnology 8
    • 発表場所
      Chicago, USA
    • 年月日
      2014-07-28
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] High-Resolution Imaging of Hydrogen-Intercalated Graphene on 4H-SiC(0001) Using Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, H. Fukidome, K. Funakubo, M. Suemitsu, Y. Cho
    • 学会等名
      ICN+T 2014
    • 発表場所
      Vail, Colorado, USA
    • 年月日
      2014-07-20
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Measurement of Polarization Structure in Layered Piezoelectric Thin Films Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      H. Odagawa, T. Yanagitani, Y. Cho
    • 学会等名
      ECAPD 2014
    • 発表場所
      Vilnius, Lithuania
    • 年月日
      2014-07-07
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Dipole-Induced Potential Measurement Using Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2014 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      2014-11-30
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Study of Electric Dipole Moment Distribution on Si(100)-2×1 Surface by Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Masataka Suzuki, K. Yamasue, M. Abe, Y. Sugimoto, Y. Cho
    • 学会等名
      ICN+T 2014
    • 発表場所
      Vail, Colorado, USA
    • 年月日
      2014-07-20
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Charge Gradient Microscopy: A Method to Image Ferroelectric and Piezoelectric Domains2014

    • 著者名/発表者名
      Andreas Roelofs, Sheng Tong, Woon Ik Park, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho, Seungbum Hong
    • 学会等名
      2014 MRS Spring Meeting
    • 発表場所
      San Francisco, USA
    • 年月日
      2014-04-21
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Comparative Study on Pristine and Hydrogen-Intercalated Graphene on 4H-SiC(0001) Surface Using Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2014 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      2014-11-30
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Investigation of electric dipole moments on Si(100)-2×1 surface using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ECOSS30
    • 発表場所
      Antalya, TURKEY
    • 年月日
      2014-08-31
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Evaluation of Power SiC -MOSFET Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy : Imaging of Carrier Distribution and Depletion Layer2014

    • 著者名/発表者名
      N. Chinone, T. Nakamura, Y. Cho
    • 学会等名
      ISTFA 2014
    • 発表場所
      Houston, Texas
    • 年月日
      2014-11-09
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Atomic dipole moment induced variation of local surface potential on Si(111)-(7×7) surface studied by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy2013

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue , Yasuo Cho
    • 学会等名
      19th International Vacuum Congress
    • 発表場所
      Paris, France
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Bias voltage dependence of atomic dipole moment and topography on hydrogen-adsorbed Si(111)-(7×7) surface studied by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy2013

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Daisuke Mizuno, Yasuo Cho
    • 学会等名
      NC-AFM 2013
    • 発表場所
      University of Maryland College Park, Maryland, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Current Conduction around Nanodomain Inversion Dot in Lithium Tantalate Single Crystal Studied by Using C-AFM and SNDM2013

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      2013 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Site specific measurement of surface potential shift on Si(111)-(7x7) surface by noncontact scanning nonliear dielectric microscopy2013

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho
    • 学会等名
      NC-AFM 2013
    • 発表場所
      University of Maryland College Park, Maryland, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Conduction in Nanodomains in Lithium Tantalate Single Crystal2013

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      ICSS 2013
    • 発表場所
      Las Vegas Nevada, USA
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Investigation of physical and electrical properties of hydrogen-adsorbed Si(111)-7×7 surface by using noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy2013

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Mizuno, Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      18th Microscopy of Semiconducting Materials Meeting
    • 発表場所
      University of Oxford, UK
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Observation of atomic dipole moment on hydrogen and oxygen adsorbed Si(111)-7×7 surfaces by using noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy2013

    • 著者名/発表者名
      Y. Cho, D. Mizuno, K. Yamasue
    • 学会等名
      19th International Vacuum Congress
    • 発表場所
      Paris, France
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Site Specific Measurement of Atomic Dipole Moment Induced Local Surface Potentials on Si(111)-(7×7) Surface by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2013

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2013 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Effectiveness of the scanning nonlinear dielectric microscopy on the failure analysis of semiconductor devices2013

    • 著者名/発表者名
      Koichiro Honda, Yasuo Cho
    • 学会等名
      24th European Symposium on Reliability of Electron Devices
    • 発表場所
      Arcachon, France
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] CURRENT CONDUCTION AROUND NANODOMAIN INVERSION DOT IN LITHIUM TANTALATE SINGLE CRYSTAL2013

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      13th International Meeting on Ferroelectricity
    • 発表場所
      Krakow, Poland
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Site-specific Measurement of Atomic Dipole Moment Induced Surface Potential on Si(111)-(7×7) by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2013

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue , Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ACSIN-12 & ICSPM21
    • 発表場所
      Tsukuba, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] High Resolution Visualization of Carrier Distribution in SiC-MOSFET Using Super-Higher-Order Nonlinear Dielectric Microscopy2013

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Takashi Nakamura, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2013 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] High resolution imaging of cross section of metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor using super-higher-order nonlinear dielectric microscopy2013

    • 著者名/発表者名
      N.Chinone, K.Yamasue, K.Honda,Y.Cho
    • 学会等名
      18th Microscopy of Semiconducting Materials Meeting
    • 発表場所
      University of Oxford, UK
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Nano -Domains and Their Related Phenomena in LiTaO3 Single Crystal Studied by Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2013

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      2013 Joint UFFC, EFTF and PFM Symposium
    • 発表場所
      Prague, Czech Republic
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Interfacial Capacitance between an Fe3 O4 Film and a Nb:TiO3 Substrate2013

    • 著者名/発表者名
      Ryota Takahashi, Yasuo Cho, Mikk Lippmaa
    • 学会等名
      2013 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Atomic electric dipole moment visualization using scanning nonlinear dielectric microscopy2012

    • 著者名/発表者名
      Y. CHO
    • 学会等名
      11th International Symposium on Ferroic Domains and Micro-to Nanoscopic Structures
    • 発表場所
      Ekaterinburg, Russia
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Atomic electric dipole moment visualization using scanning nonlinear dielectric microscopy2012

    • 著者名/発表者名
      Y. CHO
    • 学会等名
      11th International Symposium on Ferroic Domains and Micro-to Nanoscopic Structures
    • 発表場所
      Ekaterinburg, Russia
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Observation of Threshold Voltage Distribution of Transistors in a Metal-SiO2-SiN-SiO2-semiconductor Flash Memory Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2012

    • 著者名/発表者名
      Koichiro Honda, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2012 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Scanning nonlinear dielectric microscopy nano science and technology2012

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      2012 EMN Fall Meeting
    • 発表場所
      Las Vegas, USA
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Super Higher Order Nonlinear Dielectric Microscopy with Super High Resolution2012

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Kohei Yamasue, Yoshiomi Hiranaga Koichiro Honda, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2012 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Atomic electric dipole moment visualization using scanning nonlinear dielectric microscopy2012

    • 著者名/発表者名
      Y. CHO
    • 学会等名
      11th International Symposium on Ferroic Domains and Micro to Nanoscopic Structures
    • 発表場所
      Ekaterinburg, Russia
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Observation of dipole moments on hydrogen-adsorbed Si(111)-(7×7) surface by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy2012

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Mizuno, Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      15th International Conference on non-contact Atomic Force Microscopy
    • 発表場所
      Cesky Krumlov, Czech Republic
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Super-higher order nonlinear dielectric microscopy studies on ferroelectric materials and semiconductor devices2012

    • 著者名/発表者名
      N.CHINONE, K. YAMASUE, Y. HIRANAGA, K.HONDA, Y. CHO
    • 学会等名
      International Conference on Nanoscience + Technology 2012
    • 発表場所
      Paris, FRANCE
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Atomic dipole moments on hydrogen-adsorbed Si(111)-7×7 surface observed by using noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy2012

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Mizuno, Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      The 20th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    • 発表場所
      Naha, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Super-higher order nonlinear dielectric microscopy studies on ferroelectric materials and semiconductor devices2012

    • 著者名/発表者名
      N.CHINONE, K. YAMASUE, Y. HIRANAGA, K.HONDA, Y. CHO
    • 学会等名
      International Conference on Nanoscience + Technology 2012
    • 発表場所
      Paris, FRANCE
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Scanning nonlinear dielectric microscopy nano science and technology2012

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      2012 EMN Fall Meeting
    • 発表場所
      Las Vegas, USA
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Non-contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Studies of Atomic Dipole Moments on Hydrogen-adsorbed Si(111)-7×7 Surface2012

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Mizuno, Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2012 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Resolution improvement of scanning nonlinear dielectric microscopy by measuring the super higher-order nonlinear dielectric constants2012

    • 著者名/発表者名
      N.Chinone, K. Yamasue, Y. Hiranaga, K.Honda, Y. Cho
    • 学会等名
      The 15th European Microscopy Congress
    • 発表場所
      Manchester, UK
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Atomic dipole moments on hydrogen-adsorbed Si(111)-7×7 surface observed by using noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy2012

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Mizuno, Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      The 20th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    • 発表場所
      Naha, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Simultaneous imaging of current and local dipole moments of Si(111)-(7×7) surface by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy2012

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      15th International Conference on non-contact Atomic Force Microscopy
    • 発表場所
      Cesky Krumlov, Czech Republic
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Resolution improvement of scanning nonlinear dielectric microscopy by measuring the super higher-order nonlinear dielectric constants2012

    • 著者名/発表者名
      N.Chinone, K. Yamasue, Y. Hiranaga, K.Honda, Y. Cho
    • 学会等名
      The 15th European Microscopy Congress
    • 発表場所
      Manchester, UK
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Simultaneous imaging of current and local dipole moments of Si(111)-(7×7) surface by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy2012

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      15th International Conference on non-contact Atomic Force Microscopy
    • 発表場所
      Cesky Krumlov, Czech Republic
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Observing of charges stored in metal-oxide-nitride-oxide semiconductor flash memory by using higher order nonlinear dielectric microscopy2012

    • 著者名/発表者名
      K. Honda, T. Iwai, Y. Cho
    • 学会等名
      The 15th European Microscopy Congress
    • 発表場所
      Manchester, UK
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Super Higher Order Nonlinear Dielectric Microscopy with Super High Resolution2012

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Kohei Yamasue, Yoshiomi Hiranaga Koichiro Honda, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2012 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Non-contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Studies of Atomic Dipole Moments on Hydrogen-adsorbed Si(111)-7×7 Surface2012

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Mizuno, Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2012 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Observing of charges stored in metal-oxide-nitride-oxide semiconductor flash memory by using higher order nonlinear dielectric microscopy2012

    • 著者名/発表者名
      K. Honda, T. Iwai, Y. Cho
    • 学会等名
      The 15th European Microscopy Congress
    • 発表場所
      Manchester, UK
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Observation of dipole moments on hydrogen-adsorbed Si(111)-(7×7) surface by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy2012

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Mizuno, Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      15th International Conference on non-contact Atomic Force Microscopy
    • 発表場所
      Cesky Krumlov, Czech Republic)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Scanning nonlinear dielectric microscopy nano science and technology2012

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      2012 EMN Fall Meeting
    • 発表場所
      Las Vegas, USA
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Observation of Threshold Voltage Distribution of Transistors in a Metal-SiO2-SiN-SiO2-semiconductor Flash Memory Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy”2012

    • 著者名/発表者名
      Koichiro Honda, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2012 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Scanning nonlinear dielectric microscopy with high resolution and its application to next generation high density ferroelectric data storage2011

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      E-MRS ICAM IUMRS 2011 Spring Meeting
    • 発表場所
      Nice, France
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Ferroelectric Super-High Density Data Storage Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2010

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      The 3^<rd> International Symposium on Innovations in Advanced Materials for Optics & Electronics
    • 発表場所
      Toyama (Japan)
    • 年月日
      2010-10-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2010

    • 著者名/発表者名
      Y.Cho
    • 学会等名
      2010 MRS Fall Meeting
    • 発表場所
      Boston (U.S.A.)
    • 年月日
      2010-12-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2010

    • 著者名/発表者名
      Y. Cho
    • 学会等名
      2010 MRS Fall Meeting
    • 発表場所
      Boston
    • 年月日
      2010-12-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Ferroelectric Super-High Density Data Storage Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2010

    • 著者名/発表者名
      Y. Cho, K. Tanaka, and Y. Hiranaga
    • 学会等名
      The 3^<rd> International Symposium on Innovations in Advanced Materials for Optics & Electronics
    • 発表場所
      Toyama
    • 年月日
      2010-10-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] 非接触一走査型非線形誘電率顕微鏡によるSi(110)-16x2構造の観察2009

    • 著者名/発表者名
      長侑平
    • 学会等名
      第56回応用物理学関係連合講演会
    • 発表場所
      つくば
    • 年月日
      2009-03-31
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Scanning nonlinear dielectric microscopy with super high resolution2008

    • 著者名/発表者名
      Y. Cho, R. Hirose, S. Kobayashi and N. Kin
    • 学会等名
      第27回電子材料シンポジウム
    • 発表場所
      伊豆市
    • 年月日
      2008-07-09
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Next Generation Ferroelectric high Density Data Storage Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2008

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho, Yoshiomi Hiranaga, Kenkou Tanaka, Yuichi Kurihashi, and Tomoya Uda
    • 学会等名
      The 2nd IEEE Nanotechnology Materials and Devices Conference, Abstract
    • 発表場所
      Kyoto, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Nanoscience and Technology for Next Generation High Density Ferroelectric Data Storage2008

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      2008 MRS Spring Meeting
    • 発表場所
      San Francisco, USA
    • 年月日
      2008-03-24
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Nano Science and Technology for Next Generation High Density Ferroelectric Data Storage2008

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho, Kenkou Tanaka, Yuichi Kurihashi, Tomoya Uda, Yasuhiro Daimon, Nozomi Odagawa, Ryusuke Hirose and Yoshiomi Hiranaga
    • 学会等名
      20th International Symposium on Integrated Ferroelectrics
    • 発表場所
      Biopolis, Singapore
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Nano Science and Technology for Nest Generation High Density Ferroelectric Data Storage2008

    • 著者名/発表者名
      Y. Cho, K. Tanaka, Y. Kurihashi, T. Uda, Y. Daimon, N. Odagawa, R. Hirose and Y. Hiranaga
    • 学会等名
      20^<th> International Symposium on Integrated Ferroelectrics
    • 発表場所
      Singapore
    • 年月日
      2008-06-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Scanning nonlinear dielectric microscopy with super high resolution2008

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      27th Electric Materials Symposium
    • 発表場所
      修善寺
    • 年月日
      2008-07-09
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Next Generation Ferroelectric high Density Data Storage Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2008

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      The 2nd IEEE Nanotechnology Materials and Devices Conference
    • 発表場所
      Kyoto, Japan
    • 年月日
      2008-10-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Nanoscience and Technology for Next Generation High Density Ferroelectric Data Storage2008

    • 著者名/発表者名
      Y. Cho
    • 学会等名
      2008 MRS Spring Meeting
    • 発表場所
      San Francisco
    • 年月日
      2008-03-24
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Next Generation Ferroelectric high Density Data Storage Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2008

    • 著者名/発表者名
      Y. Cho, Y. Hiranaga, K. Tanaka, Y. Kurihashi, and T. Uda
    • 学会等名
      The 2nd IEEE Nanotechnology Materials and Devices Conference
    • 発表場所
      Kyoto
    • 年月日
      2008-10-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Nano Science and Technology for Next Generation High Density Ferroelectric DataStorae2008

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      20^<th> International Symposium on Integrated Fe rroelectrics
    • 発表場所
      Singapore 「Bio Poeis」
    • 年月日
      2008-06-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Scanning nonlinear dielectric microscopy with atomic resolution2007

    • 著者名/発表者名
      Y. Cho
    • 学会等名
      13^<th> US-Japan Seminar on Dielectric and Piezoelectric Ceramics
    • 発表場所
      Awaji Island
    • 年月日
      2007-11-04
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Recent progress on ultra high density SNDM ferroelectric probe memory2007

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      Materials Today Asia, Abstract
    • 発表場所
      Beijing, China
    • 年月日
      2007-09-03
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Cross-sectional observation of nano-domain dots formed in lithium tantalite single crystal2007

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      International Conference on Nanoscience and Technology 2007
    • 発表場所
      Stockholm, Sweden
    • 年月日
      2007-07-03
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Recent progress on ultra high density SNDM ferroelectric probe memory2007

    • 著者名/発表者名
      Y. Cho, Y. Hiranaga, K. Tanaka, N. Odagaw, T. Uda, Y. Kurihashi
    • 学会等名
      Materials Today Aisa
    • 発表場所
      Beijing
    • 年月日
      2007-09-03
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Nanoscale Structure of a Ferroelectric Domain Wall using Scanning Probe Microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      L. Tian, S. Kalinin, E. Eliseev, A. Mozorovska, N. Odagawa, Y. Cho and V. Gopalan
    • 学会等名
      2007 MRS Fall Meeting
    • 発表場所
      Boston
    • 年月日
      2007-11-28
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Electric dipole moment observation of single si atom on Si (111)7×7 surface using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      International Conference on Nanoscience and Technology 2007
    • 発表場所
      Stockholm, Sweden
    • 年月日
      2007-07-03
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Atomic dipole moment observation of Si (111) 7x7 surface using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      The 10th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy
    • 発表場所
      Antalya, Turkey
    • 年月日
      2007-09-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Non-Contact Probe Control and High-Speed Writing for Rotated-Disk-Type Ferroelectric Data Storage Devices2007

    • 著者名/発表者名
      Y. Hiranaga, T. Uda, Y. Kurihashi, K. Tanaka, N. Odagawa and Y. Cho
    • 学会等名
      The 16th IEEE International Symposium on the Applications of Ferroelectrics, Proceedings
    • 発表場所
      Nara, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Atomic Dipole Moment Distributions on Semiconductor and Insulator Surface Studied using Non-contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      2007 MRS Fall Meeting
    • 発表場所
      Boston, U.S.A.
    • 年月日
      2007-11-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18002005
  • [学会発表] Observation of atomic dipole moment on hydrogen and oxygen adsorbed Si(111)-7×7 surfaces by using noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy

    • 著者名/発表者名
      Y. Cho, D. Mizuno, K. Yamasue
    • 学会等名
      19th International Vacuum Congress
    • 発表場所
      Paris, France
    • 年月日
      2013-09-09 – 2013-09-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] High-Resolution Imaging of Hydrogen-Intercalated Graphene on 4H-SiC(0001) Using Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, H. Fukidome, K. Funakubo, M. Suemitsu, Y. Cho
    • 学会等名
      ICN+T 2014
    • 発表場所
      Vail, Colorado
    • 年月日
      2014-07-20 – 2014-07-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] A Novel Method for Simultaneous Measurement of Topography and Dipole-Induced Local Surface Potential Based on Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

    • 著者名/発表者名
      K. Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ICN+T 2014
    • 発表場所
      Vail, Colorado
    • 年月日
      2014-07-20 – 2014-07-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Measurement of Polarization Structure in Layered Piezoelectric Thin Films Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

    • 著者名/発表者名
      H. Odagawa, T. Yanagitani, Y. Cho
    • 学会等名
      ECAPD 2014
    • 発表場所
      Vilnius, Lithuania
    • 年月日
      2014-07-07 – 2014-07-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Atomic dipole moment induced variation of local surface potential on Si(111)-(7×7) surface studied by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue , Yasuo Cho
    • 学会等名
      19th International Vacuum Congress
    • 発表場所
      Paris, France
    • 年月日
      2013-09-09 – 2013-09-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Dipole-Induced Potential Measurement Using Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2014 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston
    • 年月日
      2014-11-30 – 2014-12-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] High Resolution Visualization of Carrier Distribution in SiC-MOSFET Using Super-Higher-Order Nonlinear Dielectric Microscopy

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Takashi Nakamura, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2013 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      2013-12-01 – 2013-12-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Conduction in nanodomain inversion dots in congruent lithium tantalate single crystal

    • 著者名/発表者名
      Y. Cho
    • 学会等名
      ECAPD 2014
    • 発表場所
      Vilnius, Lithuania
    • 年月日
      2014-07-07 – 2014-07-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Charge gradient microscopy: high-speed visualization of polarization charges using a nanoscale probe

    • 著者名/発表者名
      Seungbum Hong, Sheng Tong, Woon Ik Park, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho, Andreas Roelofs
    • 学会等名
      Nanoscale Spectroscopy and Nanotechnology 8
    • 発表場所
      Chicago
    • 年月日
      2014-07-28 – 2014-07-31
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] High resolution imaging of dopant and depletion layer distribution in SiC power MOSFET using super-higher-order nonlinear dielectric microscopy

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Takashi Nakamura, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ESREF2014
    • 発表場所
      Berlin
    • 年月日
      2014-09-29 – 2014-10-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Site-specific Measurement of Atomic Dipole Moment Induced Surface Potential on Si(111)-(7×7) by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue , Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ACSIN-12 & ICSPM21
    • 発表場所
      Tsukuba, Japan
    • 年月日
      2013-11-04 – 2013-11-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Investigation of physical and electrical properties of hydrogen-adsorbed Si(111)-7×7 surface by using noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Mizuno, Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      18th Microscopy of Semiconducting Materials Meeting
    • 発表場所
      University of Oxford, UK
    • 年月日
      2013-04-07 – 2013-04-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Site Specific Measurement of Atomic Dipole Moment Induced Local Surface Potentials on Si(111)-(7× 7) Surface by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2013 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      2013-12-01 – 2013-12-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Measurement of Nonlinear Dielectric Constants of PZT Thin Films used in Ferroelectric Probe Data Storage Technology

    • 著者名/発表者名
      Y. Hiranaga, Y. Cho
    • 学会等名
      2014 Joint IEEE ISAF-IWATMD-PFM
    • 発表場所
      State College
    • 年月日
      2014-05-12 – 2014-05-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy study of graphene on 4H-SiC(0001) and its hydrogen-intercalation

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, Yasuo Cho
    • 学会等名
      NC-AFM 2014
    • 発表場所
      Tsukuba
    • 年月日
      2014-08-04 – 2014-08-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Conduction in Nanodomains in Lithium Tantalate Single Crystal

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      ICSS 2013
    • 発表場所
      Las Vegas Nevada, USA
    • 年月日
      2013-12-15 – 2013-12-18
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Pyroelectric Detection of Spontaneous Polarization in Multiferroic La2NiMnO6 Thin Films

    • 著者名/発表者名
      Ryota Takahashi, Isao Ohkubo, Miho Kitamura, Masaharu Oshima, Yasuo Cho, Mikk Lippmaa
    • 学会等名
      2014 MRS Spring Meeting
    • 発表場所
      San Francisco
    • 年月日
      2014-04-21 – 2014-04-25
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Investigation of electric dipole moments on Si(100)-2×1 surface using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy

    • 著者名/発表者名
      Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ecoss30
    • 発表場所
      Antalya, TURKEY
    • 年月日
      2014-08-31 – 2014-09-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Simultaneous Observation of Topography and Electric Dipole Moments on Si(100)-2×1 Surface Using Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

    • 著者名/発表者名
      Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2014 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston
    • 年月日
      2014-11-30 – 2014-12-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] A New Atomically Resolved Potentiometry for Dipole-Induced Local Surface Potential Based on Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ecoss30
    • 発表場所
      Antalya, TURKEY
    • 年月日
      2014-08-31 – 2014-09-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Investigation of Hydrogen-Intercalated Graphene on 4H-SiC(0001) by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ecoss30
    • 発表場所
      Antalya, TURKEY
    • 年月日
      2014-08-31 – 2014-09-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Evaluation of Power SiC -MOSFET Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy : Imaging of Carrier Distribution and Depletion Layer

    • 著者名/発表者名
      N. Chinone, T. Nakamura, and Y. Cho
    • 学会等名
      ISTFA 2014
    • 発表場所
      Houston
    • 年月日
      2014-11-09 – 2014-11-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Interfacial Capacitance between an Fe3 O4 Film and a Nb:TiO3 Substrate

    • 著者名/発表者名
      Ryota Takahashi, Yasuo Cho, Mikk Lippmaa
    • 学会等名
      2013 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      2013-12-01 – 2013-12-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Site specific measurement of surface potential shift on Si(111)-(7x7) surface by noncontact scanning nonliear dielectric microscopy

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho
    • 学会等名
      NC-AFM 2013
    • 発表場所
      University of Maryland College Park, Maryland, USA
    • 年月日
      2013-08-05 – 2013-08-09
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Charge Gradient Microscopy: A Method to Image Ferroelectric and Piezoelectric Domains

    • 著者名/発表者名
      Andreas Roelofs, Sheng Tong, Woon Ik Park, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho, Seungbum Hong
    • 学会等名
      2014 MRS Spring Meeting
    • 発表場所
      San Francisco
    • 年月日
      2014-04-21 – 2014-04-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Current Conduction around Nanodomain Inversion Dot in Lithium Tantalate Single Crystal Studied by Using C-AFM and SNDM

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      2013 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      2013-12-01 – 2013-12-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] CURRENT CONDUCTION AROUND NANODOMAIN INVERSION DOT IN LITHIUM TANTALATE SINGLE CRYSTAL

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      13th International Meeting on Ferroelectricity
    • 発表場所
      Krakow, Poland
    • 年月日
      2013-09-02 – 2013-09-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] High resolution imaging of cross section of metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor using super-higher-order nonlinear dielectric microscopy

    • 著者名/発表者名
      N.Chinone, K.Yamasue, K.Honda,Y.Cho
    • 学会等名
      18th Microscopy of Semiconducting Materials Meeting
    • 発表場所
      University of Oxford, UK University of Oxford, UK Prague, Czech Republic University of Maryland College Park, Maryland, USA 発
    • 年月日
      2013-04-07 – 2013-04-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Comparative Study on Pristine and Hydrogen-Intercalated Graphene on 4H-SiC(0001) Surface Using Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2014 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston
    • 年月日
      2014-11-30 – 2014-12-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Effectiveness of the scanning nonlinear dielectric microscopy on the failure analysis of semiconductor devices

    • 著者名/発表者名
      Koichiro Honda, Yasuo Cho
    • 学会等名
      24th European Symposium on Reliability of Electron Devices
    • 発表場所
      Arcachon, France
    • 年月日
      2013-09-30 – 2013-10-04
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Charge Gradient Microscopy:Electromechanical Charge Scraping at the Nanoscale

    • 著者名/発表者名
      S. Hong, S. Tong, Y. Choi, W. Park, Y. Hiranaga, Y. Cho, A. Roelofs
    • 学会等名
      EMA2015
    • 発表場所
      Orlando,Florida
    • 年月日
      2015-01-21 – 2015-01-23
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Bias voltage dependence of atomic dipole moment and topography on hydrogen-adsorbed Si(111)-(7× 7) surface studied by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Daisuke Mizuno, Yasuo Cho
    • 学会等名
      NC-AFM 2013
    • 発表場所
      University of Maryland College Park, Maryland, USA
    • 年月日
      2013-08-05 – 2013-08-09
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • [学会発表] Observation of electric dipole moments on Si(100)-2×1 surface by using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy

    • 著者名/発表者名
      Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho
    • 学会等名
      NC-AFM 2014
    • 発表場所
      Tsukuba
    • 年月日
      2014-08-04 – 2014-08-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Surface potentiometry based on scanning nonlinear dielectric microscopy

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      NC-AFM 2014
    • 発表場所
      Tsukuba
    • 年月日
      2014-08-04 – 2014-08-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy for Visualization of Dopant Distribution in Amorphous Silicon Solar Cells

    • 著者名/発表者名
      K. Hirose, N. Chinone, Y. Cho
    • 学会等名
      ICSPM22
    • 発表場所
      Izu Atagawa
    • 年月日
      2014-12-11 – 2014-12-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Study of Electric Dipole Moment Distribution on Si(100)-2×1 Surface by Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

    • 著者名/発表者名
      Masataka Suzuki, K. Yamasue, M. Abe, Y. Sugimoto, Y. Cho
    • 学会等名
      ICN+T 2014
    • 発表場所
      Vail, Colorado
    • 年月日
      2014-07-20 – 2014-07-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24656027
  • [学会発表] Nano -Domains and Their Related Phenomena in LiTaO3 Single Crystal Studied by Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 学会等名
      2013 Joint UFFC, EFTF and PFM Symposium
    • 発表場所
      Prague, Czech Republic
    • 年月日
      2013-07-21 – 2013-07-25
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23226008
  • 1.  小田川 裕之 (00250845)
    共同の研究課題数: 9件
    共同の研究成果数: 8件
  • 2.  山末 耕平 (70467455)
    共同の研究課題数: 5件
    共同の研究成果数: 78件
  • 3.  平永 良臣 (70436161)
    共同の研究課題数: 4件
    共同の研究成果数: 52件
  • 4.  山之内 和彦 (00006230)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 0件
  • 5.  廣瀬 龍介 (60422143)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 7件
  • 6.  金 暢大 (80418269)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 1件
  • 7.  高野 剛 (50085411)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 8.  櫛引 淳一 (50108578)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 9.  松本 泰 (20312598)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 10.  高長 和泉 (30323059)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 11.  荒川 元孝 (00333865)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 12.  大原 鉱也 (70400421)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 13.  奥山 雅則 (60029569)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 14.  石橋 善弘 (00023052)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 15.  藤村 紀文 (50199361)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 16.  安田 直彦 (90021625)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 17.  清水 勝 (30154305)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 18.  目黒 敏靖 (50182150)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 19.  森田 剛 (60344735)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 20.  柳谷 隆彦 (10450652)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 8件
  • 21.  畑野 秀樹
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 22.  宮下 雅仁
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 23.  杉本 宜昭
    共同の研究課題数: 0件
    共同の研究成果数: 2件
  • 24.  徳光 永輔
    共同の研究課題数: 0件
    共同の研究成果数: 1件
  • 25.  清水 荘雄
    共同の研究課題数: 0件
    共同の研究成果数: 1件
  • 26.  田畑 仁
    共同の研究課題数: 0件
    共同の研究成果数: 1件

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