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井上 智生  INOUE Tomoo

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 40252829
その他のID
外部サイト
所属 (現在) 2025年度: 広島市立大学, 情報科学研究科, 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2024年度: 広島市立大学, 情報科学研究科, 教授
2015年度 – 2018年度: 広島市立大学, 情報科学研究科, 教授
2011年度 – 2013年度: 広島市立大学, 情報科学研究科, 教授
2007年度 – 2009年度: 広島市立大学, 情報科学研究科, 教授
2004年度 – 2005年度: 広島市立大学, 情報科学部, 教授 … もっと見る
2002年度 – 2003年度: 広島市立大学, 情報科学部, 助教授
1999年度 – 2000年度: 広島市立大学, 情報科学部, 助教授
1997年度 – 1998年度: 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助手
1994年度 – 1995年度: 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助手 隠す
審査区分/研究分野
研究代表者
計算機科学 / 計算機システム・ネットワーク / 小区分60040:計算機システム関連 / 計算機システム
研究代表者以外
計算機科学 / 計算機システム・ネットワーク
キーワード
研究代表者
テスト生成 / 高位合成 / 耐故障設計 / 信頼性 / テスト容易化設計 / VLSI-CAD / 安全設計 / エラー・トレラント / 漸次縮退 / 誤りの許容性 … もっと見る / フェール・オペレーショナル / 時間制約 / 組込みLSI / 機能安全 / 高信頼化設計 / ディペンダビリティ / リアルタイム性 / 安全性 / モデルベース設計 / 動作合成 / サイバーフィジカルシステム / 3重系 / 誤り訂正・検出 / バインディング / スケジューリング / コントローラ合成 / 耐過渡故障設計 / 誤り訂正・誤り検出 / 3重系/TMR / 過渡故障 / 高位合成/動作合成 / ソフトエラー / ディペンダブル・コンピューティング / システムオンチップ / システムオンチップ.ディペンダブル・コンピューティング / 設計自動化 / リコンフィギャラブル / プロセッサ / 動的再構成 / テスト実行時間 / テスト / マルチコンテキスト / 粗粒度並列プロセッサ / 動的再構成可能 / スキャン設計 / 最適化 / 大規模集積回路 / 順路回路 / 並列処理 / アルゴリズム / 順序回路 / VLSI CAD … もっと見る
研究代表者以外
Variable-length coding / Reconfigurability / Test cost / Statistical coding / Test data / Decompressor / Data compression / LSI testing / LSIテスター / ハフマン符号 / テストベクトル / 再構成可能 / 圧縮器 / アーキテクチャ / 再構成可能性 / テストコスト / 統計型符号 / テストデータ / 展開器 / データ圧縮 / LSIテスト / CONTROLLER / DATA PATH / REGISTER TRANSFERLEVEL / DATA FLOW GRAPH / VLSITEST / HIGHLEVEL SYNTHESIS / SYNTHESIS FOR TESTABILITY / DESIGN FOR TESTABILITY / スキャン設計 / テスト容易化合物 / コントローラ / データパス / レジスタ転送レベル / データフローグラフ / VLSIテスト / 高位合成 / テスト容易化合成 / テスト容易化設計 / performance analysis / fault parallelizm / multi-processor system / parallel processing / test generation / VLSI circuit / 性能解析 / 故障並列法 / マルチプロセッサシステム / 並列処理 / テスト生成 / 大規模論理回路 隠す
  • 研究課題

    (10件)
  • 研究成果

    (27件)
  • 共同研究者

    (5人)
  •  誤りの許容性に着目したフェール・オペレーショナル・システムの設計研究代表者

    • 研究代表者
      井上 智生
    • 研究期間 (年度)
      2024 – 2026
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分60040:計算機システム関連
    • 研究機関
      広島市立大学
  •  ディペンダブル・サイバーフィジカルシステムを指向した組込みLSIの動作合成法研究代表者

    • 研究代表者
      井上 智生
    • 研究期間 (年度)
      2015 – 2018
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      広島市立大学
  •  マルチサイクル過渡故障に耐性を持つディジタルシステムの動作合成法研究代表者

    • 研究代表者
      井上 智生
    • 研究期間 (年度)
      2011 – 2013
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      広島市立大学
  •  組合せ回路のテスト生成複雑度に基づく上流からのVLSIテスト容易化合成法研究代表者

    • 研究代表者
      井上 智生
    • 研究期間 (年度)
      2007 – 2009
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      広島市立大学
  •  テストデータの圧縮・展開を指向したテストアーキテクチャに関する研究

    • 研究代表者
      市原 英行
    • 研究期間 (年度)
      2003 – 2005
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      広島市立大学
  •  再構成可能なプロセッサのテストに関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      井上 智生
    • 研究期間 (年度)
      2002 – 2004
    • 研究種目
      若手研究(B)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      広島市立大学
  •  大規模集積回路に対するテスト容易化設計の最適化技術に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      井上 智生
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2000
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      広島市立大学
  •  大規模順序回路に対するテスト生成の並列処理に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      井上 智生
    • 研究期間 (年度)
      1997 – 1998
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      奈良先端科学技術大学院大学
  •  上流からのVLSIテスト容易化合成に関する基礎研究

    • 研究代表者
      藤原 秀雄
    • 研究期間 (年度)
      1997 – 2000
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      奈良先端科学技術大学院大学
  •  大規模論理回路のテスト生成のための並列処理に関する研究

    • 研究代表者
      藤原 秀雄
    • 研究期間 (年度)
      1994 – 1995
    • 研究種目
      一般研究(C)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      奈良先端科学技術大学院大学

すべて 2018 2017 2016 2013 2012 2011 2010 2009 2007 2005 2004 その他

すべて 雑誌論文 学会発表

  • [雑誌論文] A Heuristic Algorithm for Operational Unit Binding to Synthesize Multi-Cycle Transient Fault Tolerant Datapaths2013

    • 著者名/発表者名
      Tsuyoshi Iwagaki, Tatsuya Nakaso, Ryoko Ohkubo, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue
    • 雑誌名

      Digest of Papers 14th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT)

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23500065
  • [雑誌論文] High- Level Synthesis for Multi-Cycle Transient Fault Tolerant Datapaths2011

    • 著者名/発表者名
      Tomoo Inoue, Hayato Henmi, Yuki Yoshikawa, Hideyuki Ichihara
    • 雑誌名

      Proc. IEEE Int. On-Line Testing Symp. (IOLTS)

      ページ: 13-18

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23500065
  • [雑誌論文] High-Level Synthesis for Multi-Cycle Transient Fault Tolerant Datapaths2011

    • 著者名/発表者名
      Tomoo Inoue, Hayato Henmi, Yuki Yoshikawa, Hideyuki Ichihara
    • 雑誌名

      Proc. IEEE Int. On-Line Testing Symposium 2011

      巻: - ページ: 13-18

    • DOI

      10.1109/iolts.2011.5993804

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23500065
  • [雑誌論文] A Fast Threshold Test Generation Algorithm Based on 5-Valued Logic2010

    • 著者名/発表者名
      井上, 出水, 吉川, 市原
    • 雑誌名

      IEEE Proc.DELTA

      ページ: 345-349

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500048
  • [雑誌論文] 部分スルー可検査性に基づく順序回路のテスト生成法2009

    • 著者名/発表者名
      岡, Ooi, 市原, 井上, 藤原
    • 雑誌名

      電子情報通信学会論文誌D Vol.J92-D, No.12

      ページ: 2207-2216

    • NAID

      110007482414

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500048
  • [雑誌論文] Huffman-Based Test Response Coding2005

    • 著者名/発表者名
      H.Ichihara, M.Shintani, T.Inoue
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Inf. & Syst. E88-D・1

      ページ: 158-161

    • NAID

      110003214149

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15300021
  • [雑誌論文] テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について2005

    • 著者名/発表者名
      新谷道広, 市原英行, 越智正邦, 井上智生
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告 104・629

      ページ: 35-40

    • NAID

      110003318242

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15300021
  • [雑誌論文] 高圧縮可能かつコンパクトなテスト生成について2005

    • 著者名/発表者名
      市原 英行, 井上智生
    • 雑誌名

      電子情報通信学会論文誌D-I J88D-I・6

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15300021
  • [雑誌論文] A Huffman-based coding with efficient test application2005

    • 著者名/発表者名
      M.Shintani, T.Ohara, H.Ichihara, T.Inoue
    • 雑誌名

      Proc.ASP-DAC

      ページ: 75-78

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15300021
  • [雑誌論文] A Test Compression Algorithm for Reducing Test Application Time2004

    • 著者名/発表者名
      M.Shintani, T.Ohara, H.Ichihara, T.Inoue
    • 雑誌名

      5th Workshop on RTL and High Level Testing

      ページ: 53-58

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15300021
  • [雑誌論文] A Test Decompression Scheme for Variable-Length Coding2004

    • 著者名/発表者名
      H.Ichihara, M.Ochi, M.Shintani, T.Inoue
    • 雑誌名

      IEEE Proc.Asian Test Symp.

      ページ: 426-431

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15300021
  • [雑誌論文] 部分スルー可検査性に基づく順序回路のテスト生成法

    • 著者名/発表者名
      岡伸也, Ooi Chia Yee, 市原英行, 井上智生, 藤原秀雄
    • 雑誌名

      電子情報通信学会論文誌D Vol.J92-D,No.12

    • NAID

      110007482414

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500048
  • [学会発表] MATLAB/Simulink を用いた自動運転システムの性能低下故障に関する考察2018

    • 著者名/発表者名
      行廣 和倫,岩垣 剛,市原 英行,井上 智生
    • 学会等名
      電子情報通信学会 機能集積情報システム研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00081
  • [学会発表] Zynq を用いた相互再構成型耐故障システムの実装2017

    • 著者名/発表者名
      塩山 創,岩垣 剛,市原 英行,井上 智生
    • 学会等名
      第62回 電子情報通信学会 機能集積情報システム研究会
    • 発表場所
      湘南工科大学
    • 年月日
      2017-03-03
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00081
  • [学会発表] 精度切り替え可能な演算回路の設計とその応用について2017

    • 著者名/発表者名
      川嶋 聖也,岩垣 剛,市原 英行,井上 智生
    • 学会等名
      第62回 電子情報通信学会 機能集積情報システム研究会
    • 発表場所
      湘南工科大学
    • 年月日
      2017-03-03
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00081
  • [学会発表] 自動追従制御機構のサイバーフィジカルモデルとその実装2016

    • 著者名/発表者名
      三藤 泰武,川嶋 聖也,岩垣 剛,市原 英行,井上 智生
    • 学会等名
      第59回 電子情報通信学会 機能集積情報システム研究会
    • 発表場所
      長崎大学 文教キャンパス
    • 年月日
      2016-03-04
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00081
  • [学会発表] ディペンダビリティを考慮したサイバーフィジカルシステムのモデル化について2016

    • 著者名/発表者名
      石森 裕太郎,川嶋 聖也,三藤 泰武,岩垣 剛,市原 英行,井上 智生
    • 学会等名
      第59回 電子情報通信学会 機能集積情報システム研究会
    • 発表場所
      長崎大学 文教キャンパス
    • 年月日
      2016-03-04
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K00081
  • [学会発表] 耐マルチサイクル過渡故障を指向した高位合成におけるコントローラの設計について2013

    • 著者名/発表者名
      石森裕太郎, 中祖達也, 岩垣剛, 市原英行, 井上智生
    • 学会等名
      信学技報 (DC2013-34)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23500065
  • [学会発表] 耐マルチサイクル過渡故障を指向した高位合成におけるコントローラの設計について2013

    • 著者名/発表者名
      石森裕太郎, 中祖達也, 岩垣剛, 市原英行, 井上智生
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      鹿児島県文化センター
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23500065
  • [学会発表] A Heuristic Algorithm for Operational Unit Binding to Synthesize Multi-Cycle Transient Fault Tolerant Datapaths2013

    • 著者名/発表者名
      Tsuyoshi Iwagaki, Tatsuya Nakaso, Ryoko Ohkubo, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue
    • 学会等名
      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Taiwan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23500065
  • [学会発表] 耐過渡故障データパス合成における演算器バインディングのためのヒューリスティックアルゴリズム2012

    • 著者名/発表者名
      中祖達也, 大窪凉子, 岩垣剛, 市原英行, 井上智生
    • 学会等名
      デザインガイア2012 -VLSI設計の新しい大地-
    • 発表場所
      九州大学医学部百年講堂
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23500065
  • [学会発表] 耐過渡故障データパス合成における演算器バインディングのためのヒューリスティックアルゴリズム2012

    • 著者名/発表者名
      中祖達也, 大窪凉子, 岩垣剛, 市原英行, 井上智生
    • 学会等名
      信学技報(DC2012-50)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23500065
  • [学会発表] スイッチの機能を考慮した部分スルー可検査性に関する考察2010

    • 著者名/発表者名
      岡伸也, 吉川祐樹, 市原英行, 井上智生
    • 学会等名
      信学技法(ディペンダブルコンピューティング研究会)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500048
  • [学会発表] Test Generation and DFT Based on Partial Thru Testability2009

    • 著者名/発表者名
      Nobuya Oka, Chia Yee Ooi, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      Proc. European Test Symposium
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500048
  • [学会発表] An Extended Class of Acyclically Testable Circuits2007

    • 著者名/発表者名
      岡, ウイ, 市原, 井上, 藤原
    • 学会等名
      Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      北京(中国)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500048
  • [学会発表] An Extended Class of Acyclically Testable Circuits2007

    • 著者名/発表者名
      Nobuya Oka, Chia Yee Ooi, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      Dig. of Papers of 8th Workshop on RTL and High-Level Testing (WRTLT '07)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500048
  • [学会発表] スト生成のための最適スルー木集合構成法2007

    • 著者名/発表者名
      森永広介, 岡伸也, 吉川祐樹, 市原英行, 井上智生
    • 学会等名
      信学技法
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500048
  • 1.  市原 英行 (50326427)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 14件
  • 2.  吉川 祐樹 (50453212)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 3件
  • 3.  藤原 秀雄 (70029346)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 4.  増澤 利光 (50199692)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 5.  井上 美智子 (30273840)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

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